JPH063416B2 - 穀粒の品質判定装置 - Google Patents
穀粒の品質判定装置Info
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- JPH063416B2 JPH063416B2 JP61276722A JP27672286A JPH063416B2 JP H063416 B2 JPH063416 B2 JP H063416B2 JP 61276722 A JP61276722 A JP 61276722A JP 27672286 A JP27672286 A JP 27672286A JP H063416 B2 JPH063416 B2 JP H063416B2
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- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 25
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 235000021329 brown rice Nutrition 0.000 description 39
- 235000013339 cereals Nutrition 0.000 description 36
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 12
- 238000004513 sizing Methods 0.000 description 7
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 6
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 241000209094 Oryza Species 0.000 description 2
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は穀粒の品質判定装置に係り、特に測定された
試料中の整粒の肌ずれ状態を判定して品質判定の精度を
向上させ得る穀粒の品質判定装置に関する。
試料中の整粒の肌ずれ状態を判定して品質判定の精度を
向上させ得る穀粒の品質判定装置に関する。
〔従来の技術〕 穀粒の品質判定装置は、玄米等の試料の一粒毎に光を照
射してその光の状態、例えば透過光や反射光などを検出
し、この検出値たる光量により整粒や未熟粒あるいは胴
割れ粒等の品質の判定を行うものである。例えば各玄米
一粒毎に光を照射し、検出部たる受光素子により透過光
量や反射光量を検出して品質の判定を行っている。ある
いは、各玄米一粒毎にスリットや小孔から光を部分的に
照射し、透過光量を検出して品質の判定を行っている。
射してその光の状態、例えば透過光や反射光などを検出
し、この検出値たる光量により整粒や未熟粒あるいは胴
割れ粒等の品質の判定を行うものである。例えば各玄米
一粒毎に光を照射し、検出部たる受光素子により透過光
量や反射光量を検出して品質の判定を行っている。ある
いは、各玄米一粒毎にスリットや小孔から光を部分的に
照射し、透過光量を検出して品質の判定を行っている。
ところで、籾は籾摺機によって玄米にされるが、籾摺機
のロール間隔の調整不良等の要因で玄米に肌ずれが生ず
る弊害がある。また、籾の大きさにもバラツキがあり、
効率よく籾摺作業を果すためには、籾摺を丹念に行うの
で、品質判定項目中の形質における試料の肌ずれが生じ
易い弊害がある。このように玄米に肌ずれが生ずると、
玄米の保管性に大きく影響し、保管中の水分の吸湿及び
かびの侵入口となり、品質の低下を招く不都合があっ
た。
のロール間隔の調整不良等の要因で玄米に肌ずれが生ず
る弊害がある。また、籾の大きさにもバラツキがあり、
効率よく籾摺作業を果すためには、籾摺を丹念に行うの
で、品質判定項目中の形質における試料の肌ずれが生じ
易い弊害がある。このように玄米に肌ずれが生ずると、
玄米の保管性に大きく影響し、保管中の水分の吸湿及び
かびの侵入口となり、品質の低下を招く不都合があっ
た。
ところが、玄米の肌ずれは品質上重要な項目であるにも
拘らず、肌ずれ状態を目視によって測定していたので、
判定のために多大な労力が必要になるとともに、処理時
間が長くなり、しかも判定精度が低下するという不都合
がある。
拘らず、肌ずれ状態を目視によって測定していたので、
判定のために多大な労力が必要になるとともに、処理時
間が長くなり、しかも判定精度が低下するという不都合
がある。
そこでこの発明の目的は、上述の不都合を除去すべく、
試料の測定作業が完了した際に試料の検出値の基準分布
と測定された試料中の整粒の検出値の分布とを比較し測
定された試料中の整粒の肌ずれ状態を測定すべく制御す
る制御部を設けることにより、試料の品質判定の精度を
向上させるとともに、品質判定項目中の形質における試
料の肌ずれの判定労力を低減し、また、籾摺作業や保管
時において品質劣化が生ずるのを未然に防止し得る穀粒
の品質判定装置を実現するにある。
試料の測定作業が完了した際に試料の検出値の基準分布
と測定された試料中の整粒の検出値の分布とを比較し測
定された試料中の整粒の肌ずれ状態を測定すべく制御す
る制御部を設けることにより、試料の品質判定の精度を
向上させるとともに、品質判定項目中の形質における試
料の肌ずれの判定労力を低減し、また、籾摺作業や保管
時において品質劣化が生ずるのを未然に防止し得る穀粒
の品質判定装置を実現するにある。
この目的を達成するためにこの発明は、移送される試料
の各試料一粒毎に光を照射して光の状態を検出しこの検
出値により前記各試料一粒毎の品質を判定する穀粒の品
質判定装置において、前記試料の測定作業が完了した際
に前記試料の検出値の基準分布と前記測定された試料中
の整粒の検出値の分布とを比較し前記測定された試料中
の整粒の肌ずれ状態を判定すべく制御する制御部を設け
たことを特徴とする。
の各試料一粒毎に光を照射して光の状態を検出しこの検
出値により前記各試料一粒毎の品質を判定する穀粒の品
質判定装置において、前記試料の測定作業が完了した際
に前記試料の検出値の基準分布と前記測定された試料中
の整粒の検出値の分布とを比較し前記測定された試料中
の整粒の肌ずれ状態を判定すべく制御する制御部を設け
たことを特徴とする。
この発明の構成によれば、試料は一粒毎に測定され、そ
して制御部は試料の測定作業が完了した際に試料の検出
値の基準分布と測定された試料中の整粒の検出値の分布
とを比較し測定された試料中の整粒の肌ずれ状態を判定
する。これにより、試料の品質判定の精度を向上させ、
また、従来の如き品質判定項目中の形質における試料の
肌ずれを目視により測定した場合に比し、判定労力を頗
る低減することができ、しかも籾摺作業や保管時におい
て品質劣化が生ずるのを未然に防止する。
して制御部は試料の測定作業が完了した際に試料の検出
値の基準分布と測定された試料中の整粒の検出値の分布
とを比較し測定された試料中の整粒の肌ずれ状態を判定
する。これにより、試料の品質判定の精度を向上させ、
また、従来の如き品質判定項目中の形質における試料の
肌ずれを目視により測定した場合に比し、判定労力を頗
る低減することができ、しかも籾摺作業や保管時におい
て品質劣化が生ずるのを未然に防止する。
以下図面に基づいてこの発明の実施例を詳細且つ具体的
に説明する。
に説明する。
第１〜５図は、この発明の実施例を示すものである。第
１、２図において、２は穀粒の品質判定装置、４は試料
である例えば玄米Ｓを各玄米一粒毎に所定位置に保持し
て移送する円板、６は玄米Ｓを矢印ａ方向に移送すべく
円板４を回転させるモータ、８は光の照射および光量検
出の機能を果すべく照射手段および検出手段を内装した
ヘッド、１０は演算処理の機能を果すべくマイクロコン
ピュータなどから構成される制御部である。
１、２図において、２は穀粒の品質判定装置、４は試料
である例えば玄米Ｓを各玄米一粒毎に所定位置に保持し
て移送する円板、６は玄米Ｓを矢印ａ方向に移送すべく
円板４を回転させるモータ、８は光の照射および光量検
出の機能を果すべく照射手段および検出手段を内装した
ヘッド、１０は演算処理の機能を果すべくマイクロコン
ピュータなどから構成される制御部である。
品質判定装置２は、モータ６により回転される円板４の
試料用孔１２に供給された各玄米Ｓを一粒毎に保持して
矢印ａ方向に移送し、ヘッド８により各玄米Ｓ一粒毎に
光を照射して光の状態、例えば透過光や反射光等を検出
し、制御部１０によりこの検出値たる光量より各玄米Ｓ
一粒毎に品質を検出するものである。なお、符号１４
は、検出時期を特定するためのタイミング孔である。
試料用孔１２に供給された各玄米Ｓを一粒毎に保持して
矢印ａ方向に移送し、ヘッド８により各玄米Ｓ一粒毎に
光を照射して光の状態、例えば透過光や反射光等を検出
し、制御部１０によりこの検出値たる光量より各玄米Ｓ
一粒毎に品質を検出するものである。なお、符号１４
は、検出時期を特定するためのタイミング孔である。
光の照射および光量検出の機能を果すべく照射手段およ
び検出手段を内装したヘッド８は、第３図の如く構成さ
れている。円板４は、試料用孔１２とタイミング孔１４
とを穿設した基板１６と、試料用孔１２からの小粒の玄
米Ｓの落下を防止しかつ照射される光を透過させる透明
板１８とを積層して成る。この円板４の基板１６側に
は、試料用孔１２の全面に光を照射するように照射手段
たる光源２０を設けている。この光源２０と対向し円板
４の透明板１８側で且つ検出された玄米Ｓが移動する位
置側には、各玄米Ｓの一粒毎の透過光量を検出する検出
手段たる透過光量センサ２２を設ける。この透過光量セ
ンサ２２は、透明板１８側において、玄米Ｓを透過する
光を透過光量として検出する。また、光源２０を設けた
基板１６側には、各玄米Ｓの一粒毎の反射光量を検出す
る検出手段たる反射光量センサ２４を設ける。この反射
光量センサ２４は、玄米Ｓの肌ずれにより反射する反射
光量を検出する。
び検出手段を内装したヘッド８は、第３図の如く構成さ
れている。円板４は、試料用孔１２とタイミング孔１４
とを穿設した基板１６と、試料用孔１２からの小粒の玄
米Ｓの落下を防止しかつ照射される光を透過させる透明
板１８とを積層して成る。この円板４の基板１６側に
は、試料用孔１２の全面に光を照射するように照射手段
たる光源２０を設けている。この光源２０と対向し円板
４の透明板１８側で且つ検出された玄米Ｓが移動する位
置側には、各玄米Ｓの一粒毎の透過光量を検出する検出
手段たる透過光量センサ２２を設ける。この透過光量セ
ンサ２２は、透明板１８側において、玄米Ｓを透過する
光を透過光量として検出する。また、光源２０を設けた
基板１６側には、各玄米Ｓの一粒毎の反射光量を検出す
る検出手段たる反射光量センサ２４を設ける。この反射
光量センサ２４は、玄米Ｓの肌ずれにより反射する反射
光量を検出する。
これら各光量センサ２２、２４の検出する各光量は、前
記制御部１０に入力される。制御部１０は、反射光量と
透過光量とより各玄米Ｓ一粒毎に穀粒状態に判別し、こ
れら各穀粒状態と併せて反射光量と透過光量とより各玄
米Ｓの一粒毎の品質を判定するとともに、玄米Ｓの測定
作業が完了した際には玄米Ｓの検出値、例えば透過率の
基準分布（第５図の実線Ａで示す）と前記測定された玄
米Ｓ中の整粒の検出値の分布（第５図の破線ｙで示す）
とを比較し前記測定された整粒の肌ずれ状態を判定する
ものである。なお、符号Ｘは玄米Ｓの移送方向、Ｂは未
熟粒の透過率の基準分布、Ｃは死米の透過率の基準分布
である。
記制御部１０に入力される。制御部１０は、反射光量と
透過光量とより各玄米Ｓ一粒毎に穀粒状態に判別し、こ
れら各穀粒状態と併せて反射光量と透過光量とより各玄
米Ｓの一粒毎の品質を判定するとともに、玄米Ｓの測定
作業が完了した際には玄米Ｓの検出値、例えば透過率の
基準分布（第５図の実線Ａで示す）と前記測定された玄
米Ｓ中の整粒の検出値の分布（第５図の破線ｙで示す）
とを比較し前記測定された整粒の肌ずれ状態を判定する
ものである。なお、符号Ｘは玄米Ｓの移送方向、Ｂは未
熟粒の透過率の基準分布、Ｃは死米の透過率の基準分布
である。
次に、この実施例の作用を説明する。
円板４の試料用孔１２は供給され一粒毎に矢印ａ方向に
移送される各玄米Ｓは、ヘッド８位置において光源２０
により上方から光を照射される。照射された光は、玄米
Ｓに肌ずれが生じていない場合に玄米Ｓを透過して透過
光量センサ２２に至るとともに、玄米Ｓに肌ずれが生じ
ている場合にはこの肌ずれにより反射して反射光量セン
サ２４に至る。つまり、透過光量センサ２２は玄米Ｓを
透過する透過光量を検出する一方、反射光量センサ２４
は玄米Ｓの肌ずれによって反射する反射光量を検出す
る。このとき、制御部１０は、透過光量センサ２２の透
過光量の値と反射光量センサ２４からの反射光量の値と
により各玄米Ｓ一粒毎に品質を判定するとともに、測定
作業が完了した際に玄米Ｓの整粒の検出値である透過率
の分布を検出し、玄米Ｓの検出値の基準分布と測定され
た整粒の検出値の分布とを比較し測定された整粒の肌ず
れ状態を判定する。詳述すれば、第５図に示す如く、玄
米Ｓの検出値である透過率の基準分布（実線Ａで示す）
に対し測定された玄米Ｓ中の整粒の検出値である透過率
の分布（破線ｙで示す）とを比較し、両分布が合致せ
ず、すれているので、制御部１０は玄米Ｓが肌ずれであ
ることを判定する。つまり、整粒の検出された分布が基
準分布からどの位ずれているかによって、肌ずれ程度を
検出することが可能である。
移送される各玄米Ｓは、ヘッド８位置において光源２０
により上方から光を照射される。照射された光は、玄米
Ｓに肌ずれが生じていない場合に玄米Ｓを透過して透過
光量センサ２２に至るとともに、玄米Ｓに肌ずれが生じ
ている場合にはこの肌ずれにより反射して反射光量セン
サ２４に至る。つまり、透過光量センサ２２は玄米Ｓを
透過する透過光量を検出する一方、反射光量センサ２４
は玄米Ｓの肌ずれによって反射する反射光量を検出す
る。このとき、制御部１０は、透過光量センサ２２の透
過光量の値と反射光量センサ２４からの反射光量の値と
により各玄米Ｓ一粒毎に品質を判定するとともに、測定
作業が完了した際に玄米Ｓの整粒の検出値である透過率
の分布を検出し、玄米Ｓの検出値の基準分布と測定され
た整粒の検出値の分布とを比較し測定された整粒の肌ず
れ状態を判定する。詳述すれば、第５図に示す如く、玄
米Ｓの検出値である透過率の基準分布（実線Ａで示す）
に対し測定された玄米Ｓ中の整粒の検出値である透過率
の分布（破線ｙで示す）とを比較し、両分布が合致せ
ず、すれているので、制御部１０は玄米Ｓが肌ずれであ
ることを判定する。つまり、整粒の検出された分布が基
準分布からどの位ずれているかによって、肌ずれ程度を
検出することが可能である。
この結果、測定された試料中の整粒を更に肌ずれ状態に
よって品質判定することができるので、品質判定の精度
を向上させ、また形質の判定時における労力を頗る低減
し得る。また、籾摺作業においては、玄米Ｓの肌ずれが
多い場合に籾摺を抑制し、品質劣化を未然に防止する。
また、肌ずれ状態を客観的に検出し得るので、保管時に
おいて肌ずれ程度を考慮して保管し得るので、玄米Ｓの
品質劣化を未然に防止する。
よって品質判定することができるので、品質判定の精度
を向上させ、また形質の判定時における労力を頗る低減
し得る。また、籾摺作業においては、玄米Ｓの肌ずれが
多い場合に籾摺を抑制し、品質劣化を未然に防止する。
また、肌ずれ状態を客観的に検出し得るので、保管時に
おいて肌ずれ程度を考慮して保管し得るので、玄米Ｓの
品質劣化を未然に防止する。
以上詳細な説明から明らかなようにこの発明によれば、
試料の測定作業が完了した際に試料の検出値の基準分布
と測定された試料中の整粒の検出値の分布とを比較し測
定された試料中の整粒と肌ずれ状態を判定すべく制御す
る制御部を設けることにより、測定された試料中の整粒
の肌ずれ状態を判定し、試料の品質判定の精度を向上す
るとともに、試料の肌ずれの品質判定の労力を低減し、
また、穀粒の品質区分の細分化を図り得る。また、籾摺
作業において籾摺状態を抑制し、肌ずれが生ずるのを未
然に防止するとともに、保管時において品質劣化が生ず
るのを未然に防止し得る。
試料の測定作業が完了した際に試料の検出値の基準分布
と測定された試料中の整粒の検出値の分布とを比較し測
定された試料中の整粒と肌ずれ状態を判定すべく制御す
る制御部を設けることにより、測定された試料中の整粒
の肌ずれ状態を判定し、試料の品質判定の精度を向上す
るとともに、試料の肌ずれの品質判定の労力を低減し、
また、穀粒の品質区分の細分化を図り得る。また、籾摺
作業において籾摺状態を抑制し、肌ずれが生ずるのを未
然に防止するとともに、保管時において品質劣化が生ず
るのを未然に防止し得る。
第１〜５図はこの発明の実施例を示し、第１図は品質判
定装置の平面図、第２図は品質判定装置の側面図、第３
図はヘッドの概略説明図、第４図は死米と未熟粒と整粒
との基準分布を示す図、第５図は整粒の基準分布と整粒
の肌ずれにより検出された分布とを示す図である。 図において、２は品質判定装置、４は円板、８はヘッ
ド、１０は制御部、１２は試料用孔、２０は光源、２２
は透過光量センサ、そして２４は反射光量センサであ
る。
定装置の平面図、第２図は品質判定装置の側面図、第３
図はヘッドの概略説明図、第４図は死米と未熟粒と整粒
との基準分布を示す図、第５図は整粒の基準分布と整粒
の肌ずれにより検出された分布とを示す図である。 図において、２は品質判定装置、４は円板、８はヘッ
ド、１０は制御部、１２は試料用孔、２０は光源、２２
は透過光量センサ、そして２４は反射光量センサであ
る。
Claims (1)
- 【請求項１】移送される試料の各試料一粒毎に光を照射
して光の状態を検出しこの検出値により前記各試料一粒
毎の品質を判定する穀粒の品質判定装置において、前記
試料の測定作業が完了した際に前記試料の検出値の基準
分布と前記測定された試料中の整粒の検出値の分布とを
比較し前記測定された試料中の整粒の肌ずれ状態を判定
すべく制御する制御部を設けたことを特徴とする穀粒の
品質判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61276722A JPH063416B2 (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | 穀粒の品質判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61276722A JPH063416B2 (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | 穀粒の品質判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63132141A JPS63132141A (ja) | 1988-06-04 |
| JPH063416B2 true JPH063416B2 (ja) | 1994-01-12 |
Family
ID=17573422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61276722A Expired - Lifetime JPH063416B2 (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | 穀粒の品質判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063416B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE522755C2 (sv) | 2001-08-17 | 2004-03-02 | Foss Tecator Ab | Anordning och metod för bestrålning av små partiklar för analys av partiklarnas kvalitet |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61114786A (ja) * | 1984-11-08 | 1986-06-02 | 株式会社 サタケ | 色彩選別機の光電検出装置 |
-
1986
- 1986-11-21 JP JP61276722A patent/JPH063416B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63132141A (ja) | 1988-06-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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