JPH0635181Y2 - 超音波探触子装置 - Google Patents
超音波探触子装置Info
- Publication number
- JPH0635181Y2 JPH0635181Y2 JP1988159248U JP15924888U JPH0635181Y2 JP H0635181 Y2 JPH0635181 Y2 JP H0635181Y2 JP 1988159248 U JP1988159248 U JP 1988159248U JP 15924888 U JP15924888 U JP 15924888U JP H0635181 Y2 JPH0635181 Y2 JP H0635181Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ultrasonic probe
- frame
- inspected
- probe device
- shaft
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は複数個の超音波探触子を用いた超音波探触子
装置の改良に関するものである。
装置の改良に関するものである。
一般的に超音波探触子装置の多くは被検材の表面に対し
探触子面の角度を一定に保つ必要が有る。また，搬送ラ
インを搬送されてくる被検材を自動的にかつ搬送ライン
上で検査あるいは測定（以下探傷という）する場合は，
超音波探触子を被検材面に自動的に倣わせることも必要
となる。
探触子面の角度を一定に保つ必要が有る。また，搬送ラ
インを搬送されてくる被検材を自動的にかつ搬送ライン
上で検査あるいは測定（以下探傷という）する場合は，
超音波探触子を被検材面に自動的に倣わせることも必要
となる。
第３図は従来の超音波探触子装置の構成図（被検材に対
向する超音波探触子装置を被検材の探傷面に平行な上方
から見た図）である。
向する超音波探触子装置を被検材の探傷面に平行な上方
から見た図）である。
第３図において，（１）は被検材，（２）は超音波探触
子装置，（３）は超音波探触子，（４）は上記超音波探
触子（３）を千鳥状に取付けたブロツク，（５）は被検
材搬送方向に直交する方向に設けられた第一の軸，
（６）は上記ブロツク（４）と，矢印A,A′方向のみ回
転可能に上記第一の軸（５）で結合された第一のフレー
ム，（７）は被検材搬送方向に平行する方向に設けられ
た第二の軸，（８）は上記第一フレーム（６）と矢印B,
B′方向のみ回転可能に上記第二の軸（７）で結合され
た第二のフレームである。
子装置，（３）は超音波探触子，（４）は上記超音波探
触子（３）を千鳥状に取付けたブロツク，（５）は被検
材搬送方向に直交する方向に設けられた第一の軸，
（６）は上記ブロツク（４）と，矢印A,A′方向のみ回
転可能に上記第一の軸（５）で結合された第一のフレー
ム，（７）は被検材搬送方向に平行する方向に設けられ
た第二の軸，（８）は上記第一フレーム（６）と矢印B,
B′方向のみ回転可能に上記第二の軸（７）で結合され
た第二のフレームである。
なお第二のフレーム（８）は紙面上方でつながつており
一体なものである。
一体なものである。
上記のように構成されているのでブロツク（４）は第一
の軸（５）と第二の軸（７）とにより，被検材（１）の
探傷面のいずれの方向のうねりに対しても倣えるように
なつている。
の軸（５）と第二の軸（７）とにより，被検材（１）の
探傷面のいずれの方向のうねりに対しても倣えるように
なつている。
第４図は第３図の被検材（１）と超音波探触子装置
（２）とを矢印Ｃ方向から見た図面である。ただし第４
図において，第二のフレーム（８）と第二の軸（７）は
同図では図示されていない。
（２）とを矢印Ｃ方向から見た図面である。ただし第４
図において，第二のフレーム（８）と第二の軸（７）は
同図では図示されていない。
第４図においては（９）はブロツク（４）の被検材
（１）との接触面に設けられたシユウで，シユウ（９）
は直接あるいは接触媒質（10）を介して被検材（１）と
接している。
（１）との接触面に設けられたシユウで，シユウ（９）
は直接あるいは接触媒質（10）を介して被検材（１）と
接している。
上記のような従来の超音波探触子装置においては被検材
が第４図の被検材（１）の面のように平面ではなく丸味
を帯びていると，超音波探触子（３）の被検材（１）と
の対向面と，被検材（１）の面とは平行ではなく，所定
範囲内の任意の角度を有することになるとともに接触媒
質（10）のＥの部分のように，接触媒質（10）の被検材
（１）と超音波探触子（３）の面との間のギヤツプが大
きくなり，そのため超音波探触子（３）による探傷性能
が低下することになる。
が第４図の被検材（１）の面のように平面ではなく丸味
を帯びていると，超音波探触子（３）の被検材（１）と
の対向面と，被検材（１）の面とは平行ではなく，所定
範囲内の任意の角度を有することになるとともに接触媒
質（10）のＥの部分のように，接触媒質（10）の被検材
（１）と超音波探触子（３）の面との間のギヤツプが大
きくなり，そのため超音波探触子（３）による探傷性能
が低下することになる。
このような丸味を有する被検材としてはビレツト材や厚
鋼板の端部に多く，一体のブロツク（４）あるいは，シ
ユウ（９）が複数個の超音波探触子を内蔵する場合は，
超音波探触子装置（２）の被検材（１）との対向面の面
積が大きくなり，被検材（１）の面の丸味などに倣いき
れなくなるという課題があつた。
鋼板の端部に多く，一体のブロツク（４）あるいは，シ
ユウ（９）が複数個の超音波探触子を内蔵する場合は，
超音波探触子装置（２）の被検材（１）との対向面の面
積が大きくなり，被検材（１）の面の丸味などに倣いき
れなくなるという課題があつた。
この考案はこのような課題を解消する目的でなされたも
ので，複数個の超音波探触子の内，隣り合う超音波探触
子を一組とし，被検材に対し直角な第一の回転軸を有
し，なおかつ上記回転軸の端部を被検材に対し平行な第
二の回転軸を介し，第一のフレームに結合することによ
り被検材表面の凹凸やコーナー部の丸味に対して超音波
探触子の上，下動及び回転により，被検材表面に倣うこ
とが可能な超音波探触子装置を得ることを目的とする。
ので，複数個の超音波探触子の内，隣り合う超音波探触
子を一組とし，被検材に対し直角な第一の回転軸を有
し，なおかつ上記回転軸の端部を被検材に対し平行な第
二の回転軸を介し，第一のフレームに結合することによ
り被検材表面の凹凸やコーナー部の丸味に対して超音波
探触子の上，下動及び回転により，被検材表面に倣うこ
とが可能な超音波探触子装置を得ることを目的とする。
この考案に係る超音波探触子装置は複数個の超音波探触
子を内蔵した複数個のホルダを被検材搬送方向に直交お
よび平行する方向にそれぞれ設けた二軸に対しそれぞれ
独立に回転自由度をもたせて第一のフレームに取付け、
その第一のフレームを被検材搬送方向と平行する方向に
設けた軸に対し回転自由度をもたせて第二のフレームに
取付けるようにしたものである。
子を内蔵した複数個のホルダを被検材搬送方向に直交お
よび平行する方向にそれぞれ設けた二軸に対しそれぞれ
独立に回転自由度をもたせて第一のフレームに取付け、
その第一のフレームを被検材搬送方向と平行する方向に
設けた軸に対し回転自由度をもたせて第二のフレームに
取付けるようにしたものである。
この考案においては超音波探触子が被検材に直角及び平
行な回転軸で，上，下ならびに回転自由度を有している
ため，被検材表面の凹凸に対し，超音波探触子が上，下
及び回転することによつて倣うことができる。
行な回転軸で，上，下ならびに回転自由度を有している
ため，被検材表面の凹凸に対し，超音波探触子が上，下
及び回転することによつて倣うことができる。
第１図〜第２図はこの考案の超音波探触子装置を示す図
である。
である。
図に示した超音波探触子装置（２）において（３）は超
音波探触子，（11）は上記超音波探触子（３）を内蔵し
た複数個のホルダ、（12）は上記各ホルダ（11）を独立
して第一のフレーム（６）に対して矢印A,A′方向に回
転させるための軸であり、この軸（12）は被検材搬送方
向に直交する方向に設けられている。（13）は上記軸
（12）を第一のフレーム（６）に対してDD′方向に回転
させるためのピンであり、このピン（13）は被検材搬送
方向に平行する方向に設けられている。（14）はスプリ
ング，（15）は上記スプリング（14）に予圧を与えるブ
ラケツトである。
音波探触子，（11）は上記超音波探触子（３）を内蔵し
た複数個のホルダ、（12）は上記各ホルダ（11）を独立
して第一のフレーム（６）に対して矢印A,A′方向に回
転させるための軸であり、この軸（12）は被検材搬送方
向に直交する方向に設けられている。（13）は上記軸
（12）を第一のフレーム（６）に対してDD′方向に回転
させるためのピンであり、このピン（13）は被検材搬送
方向に平行する方向に設けられている。（14）はスプリ
ング，（15）は上記スプリング（14）に予圧を与えるブ
ラケツトである。
この考案は〜複数個のホルダ（11）を被検材搬送方向に
直交および平行する方向にそれぞれ設けた軸（12），ピ
ン（13）に対しそれぞれ独立に回転自由度をもたせて第
一のフレーム（６）に取付け、その第一のフレーム
（６）を被検材搬送方向と平行する方向に設けた軸
（７）に対し回転自由度をもたせて第二のフレーム
（８）に取付けることにより第１図をＣ方向から見た図
面（第２図）で示されるように，超音波探触子（３）の
各面との間の距離Ｈはほぼ一定に保れ易くなる。
直交および平行する方向にそれぞれ設けた軸（12），ピ
ン（13）に対しそれぞれ独立に回転自由度をもたせて第
一のフレーム（６）に取付け、その第一のフレーム
（６）を被検材搬送方向と平行する方向に設けた軸
（７）に対し回転自由度をもたせて第二のフレーム
（８）に取付けることにより第１図をＣ方向から見た図
面（第２図）で示されるように，超音波探触子（３）の
各面との間の距離Ｈはほぼ一定に保れ易くなる。
さらに被検材（１）が高速で搬送される場合は被検材
（１）の振動が大きくなり，単に超音波探触子装置
（２）の自重のみでは倣いきれないので，エアーシリン
ダ等で超音波探触子装置を被検材（１）に押付けている
が，上記軸（12）及びピン（13）を有することにより，
上記エアーシリンダ等の押付力が超音波探触子（３）に
それぞれ均等に作用するため，探傷性能が向上するとと
もに，上記シユウ（９）の偏摩耗防止にもつながる。
（１）の振動が大きくなり，単に超音波探触子装置
（２）の自重のみでは倣いきれないので，エアーシリン
ダ等で超音波探触子装置を被検材（１）に押付けている
が，上記軸（12）及びピン（13）を有することにより，
上記エアーシリンダ等の押付力が超音波探触子（３）に
それぞれ均等に作用するため，探傷性能が向上するとと
もに，上記シユウ（９）の偏摩耗防止にもつながる。
この考案による超音波探触子装置を使用することによ
り，表面形状の悪い被検材に超音波探触子を精度よく倣
わせることが可能となり，探傷の精度が向上する。
り，表面形状の悪い被検材に超音波探触子を精度よく倣
わせることが可能となり，探傷の精度が向上する。
第１図及び第２図はこの考案の一実施例を示すための
図，第3,第４図は従来の超音波探触子装置を示す図であ
る。 図において（１）は被検材，（２）は超音波探触子装
置，（３）は超音波探触子，（６）は第一のフレーム，
（７）は第二の軸，（８）は第二のフレーム，（９）は
シユウ，（10）は接触媒質，（11）はホルダ，（12）は
軸，（13）はピン，（14）はスプリング，（15）はブラ
ケツトである。 なお，図中同一あるいは相当部分には同一符号を示して
ある。
図，第3,第４図は従来の超音波探触子装置を示す図であ
る。 図において（１）は被検材，（２）は超音波探触子装
置，（３）は超音波探触子，（６）は第一のフレーム，
（７）は第二の軸，（８）は第二のフレーム，（９）は
シユウ，（10）は接触媒質，（11）はホルダ，（12）は
軸，（13）はピン，（14）はスプリング，（15）はブラ
ケツトである。 なお，図中同一あるいは相当部分には同一符号を示して
ある。
Claims (1)
- 【請求項１】搬送ライン上を搬送される被検材に対向し
て配置された複数個の超音波探触子と、上記超音波探触
子を内蔵し、相互いに対向して配置された複数個のホル
ダと、上記複数個のホルダを被検材搬送方向に直交およ
び平行する方向にそれぞれ設けた二軸に対し、それぞれ
独立に回転自由度をもたせて取付けた第一のフレーム
と、上記第一のフレームを被検材搬送方向と平行する方
向に設けた軸に対し回転自由度をもたせて取付けた第二
のフレームと、上記複数個の超音波探触子を被検材に対
し押し付ける押し付け機構とを具備したことを特徴とす
る超音波探触子装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988159248U JPH0635181Y2 (ja) | 1988-12-07 | 1988-12-07 | 超音波探触子装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988159248U JPH0635181Y2 (ja) | 1988-12-07 | 1988-12-07 | 超音波探触子装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0279457U JPH0279457U (ja) | 1990-06-19 |
| JPH0635181Y2 true JPH0635181Y2 (ja) | 1994-09-14 |
Family
ID=31440293
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988159248U Expired - Lifetime JPH0635181Y2 (ja) | 1988-12-07 | 1988-12-07 | 超音波探触子装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0635181Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016027321A (ja) * | 2014-07-03 | 2016-02-18 | Ｊｆｅエンジニアリング株式会社 | 超音波検査方法および探触子設置治具 |
| WO2024204568A1 (ja) * | 2023-03-31 | 2024-10-03 | 三菱重工業株式会社 | エンドエフェクタ、探傷システム、および検査対象の検査方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5856967U (ja) * | 1981-10-12 | 1983-04-18 | 三菱電機株式会社 | 検査装置 |
| JPS61147964U (ja) * | 1985-03-07 | 1986-09-12 |
-
1988
- 1988-12-07 JP JP1988159248U patent/JPH0635181Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0279457U (ja) | 1990-06-19 |
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