JPH0644032B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、通常に設定されている入力端子に対して供
給される信号によって、ユーザの使用する通常モードと
共に、テストモードが設定制御できるようにする半導体
集積回路装置に関する。

［背景技術］ 半導体集積回路装置を構成する１チップに集積される回
路機能数は、非常に増加する傾向にあるものであるが、
これらの回路機能は、それぞれ設定されたテストパター
ンによってその回路動作状態を評価する必要がある。

このような集積回路装置の評価を実行するには、この集
積回路装置に対して特別に設定されるテストモード設定
指令を与え、設定されたテストパターンによって回路機
能の動作状態を確認するものである。

具体的には、この集積回路装置に対して特別にテストモ
ード用の入力端子を設定し、この特別の入力端子に対し
てテストモード設定指令を与えるようにしている。

しかしながら、集積回路装置にあっては上述したように
多数の回路機能が設定されているものであり、これら回
路機能にそれぞれ対応する状態で多数の入出力端子が存
在する。したがって、これに対してさらにテストモード
用の通常には使用されない端子を設定することは、この
集積回路装置の設計上で大きな問題となる。

このような点を考慮して、例えば特開昭５５−１１００
６７号公報、特公昭５９−２８９８６号公報等に示され
るように、入力端子に対して例えば通常の電源電圧を越
える特別の電源電圧を印加設定し、この特別の電圧信号
によってテストモードを起動するようにすることが考え
られている。

しかしながら、このように高電圧信号によってテストモ
ードが設定することができたとしても、このような手段
によってテストモードが確実に設定されたか否かをテス
トすることができない。すなわち、上記テストモード設
定指令となる高電圧信号は、通常モードで使用される入
力端子から供給されるものどあるが、この高電圧信号を
供給する端子に関するテストは実行できないものであ
る。

［発明が解決しようとする問題点］ この発明は上記のような点に鑑みなされたもので、通常
モードで使用される入力端子を用いてテストモードの設
定指令が行われ、特別のテスト用端子を設定することな
く回路機能のテストが実行されるようにするものであ
り、この場合上記テストモードの設定指令を行なった入
力端子のテストも効果的に実行されるようにした半導体
集積回路装置を提供しようとするものである。

［問題点を解決するための手段］ すなわち、この発明に係る半導体集積回路装置は、例え
ば２組の入力端子に対してそれぞれ通常モードで使用さ
れる電源電圧より高い電圧の入力を検出する高電圧検出
回路を接続設定し、上記入力端子の少なくとも一方に高
電圧が入力されたことを検出させるようにすると共に、
この電圧検出回路の少なくとも一方の高電圧入力検出信
号によってテストモード設定指令が発生されるようにす
る。そして、このとき上記高電圧の入力された端子以外
の入力端子に対して、テスト用の入力信号が供給される
ようにするものである。

［作用］ 上記のように構成される半導体集積回路装置にあって
は、上記高電圧検出回路の接続設定される入力端子の少
なくとも１つに対して、通常モードにおける電源電圧よ
り高い電圧信号を供給設定することによって、この半導
体集積回路装置のテストモードが起動されるようにな
る。したがって、このテストモードの起動設定される状
態では、上記高電圧信号を供給設定した端子以外の入力
端子のテストが実行されるようになるものであり、上記
高電圧を供給した入力端子のテストも、他の高電圧検出
回路の接続された入力端子に対して高電圧信号を供給す
ることによって、実行されるようになる。

［発明の実施例］ 以下、図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。
第１図はその構成を説明するもので、入力端子11a およ
び11b は、この半導体集積回路装置に設定されるもので
あり、それぞれ通常モードにおいて異なる外部との接続
端子として使用される。

すなわち、この入力端子11a および11b に対しては、そ
れぞれ入力信号ＡおよびＢが供給されるようになるもの
であり、これら入力信号は、それぞれインバータ12a お
よび12b 、さらに13a および13b を直列に介してこの半
導体集積回路の内部回路に駆動信号として供給されるよ
うになっている。

また、上記入力端子11a および11b に対しては、それぞ
れ高電圧検出回路14a および14b が接続設定されてい
る。この高電圧検出回路14a および14b は、それぞれこ
の半導体集積回路装置の通常モード動作時の電源電圧を
越える高電圧信号が、入力端子11a および11b に対して
供給されたときにこれを検出するものであり、この高電
圧検出回路14a および14b からの高電圧検出信号は、ノ
ア回路15に対して供給する。すなわち、入力端子11a お
よび11b の両方あるいはいずれか一方に、上記電源電圧
を越える高電圧信号が供給されると、上記ノア回路15の
出力がローレベルとなり、インバータ16を介してテスト
モード設定指令信号が出力されるようになるものであ
る。

すなわち、入力端子11a および11b の両方あるいは一方
に対して、この半導体集積回路装置の通常モードのとき
の電源電圧を越える電圧が供給設定されると、テストモ
ード設定指令が発生されるようになるものであり、この
とき入力されるテストパターン等によって内部回路機能
のテストが実行されるようになる。

例えば、入力端子11b に対して高電圧信号が供給される
ようになると、高電圧検出回路14b から検出信号が発生
され、この検出信号がノア回路15およびインバータ16を
介してテストモード設定指令信号として内部回路に対し
て供給されるようになる。そして、このとき入力端子11
a に対してテストパターン等の入力信号が供給設定され
るようにすると、この入力信号はインバータ12a および
13a を介して内部回路に対して供給されるようになり、
この入力端子11a のテストが実行されるようになる。

すなわち、上記入力端子11a および11b は、テト端子兼
用の入力端子となるものであり、第２図はこのようなテ
スト端子兼用の入力端子のテストモードにおける動作の
流れを示している。まず、ステップ101 および102 にお
いては、高電圧検出回路14a および14b の出力を監視し
て、入力端子11a および11b に対する入力信号電圧が高
電圧信号であったか否かを判定する。そして、入力端子
11a および11b の入力信号が両方とも高電圧信号、ある
いはその一方が高電圧信号であった場合には、ステップ
103 に進み、テストモードを設定させる指令信号を発生
する。また、上記ステップ101 および102 で、高電圧検
出回路14a および14b からの出力信号によって、入力端
子11a および11b に対する入力信号が共に高電圧信号で
はないと判定された場合にはステップ104 に進み、通常
モードが設定されるようにする。

そして、上記ステップ103 でテストモードが設定指令さ
れる状態となったならば、次のステップ105 で高電圧検
出回路14a および14b の検出信号に基づいて、入力端子
11a および11b のいずれに高電圧信号が入力されたかを
判定する。このステップ105 で、入力端子11a に対する
信号Ａが高電圧信号であると判定されたならばステップ
106 に進み、また入力端子11b に対する信号Ｂが高電圧
信号であると判定されたならばステップ107 進む。そし
て、このステップ106 および107 においては、それぞれ
入力端子11b および11a をテストモードに設定するもの
であり、このテストモードに設定された入力端子に供給
される入力信号によって、その入力端子のテストが実行
されるようになるものである。

すなわち、例えば入力端子11a に対してテストモードを
起動するための高電圧信号を供給設定した場合には、他
の入力端子11b に対しては、上記テストモード指令以外
の電圧信号を設定することが可能となるものであり、こ
の入力端子11b に入力された信号はインバータ12b およ
び13b を介して内部への入力信号として使用されるよう
になる。したがって、この入力端子11b のテストが可能
となる。同様に、入力端子11b に対して高電圧信号を供
給した場合には、入力端子11b のテストが可能となるも
のである。

上記実施例では、テストモードを起動するために、通常
モードで使用される電圧を越える高電圧信号を利用して
いるものであるが、これは通常使用される負電圧を越え
て低い負電圧信号を供給するようにしてもよいものであ
り、この場合には高電圧検出回路14a および14b の代わ
りに、それぞれ負電圧検出回路を用いるようにすればよ
い。要するに、この集積回路装置で通常に使用される電
源電圧とは異なる電圧の信号をテストモード起動用とし
て使用すればよいものであり、高電圧検出回路14a 、14
b の代わりにこの特定される電圧信号を検出する回路を
用い、この検出回路の検出信号によってテストモード指
令信号が発生されるようにすればよいものである。

［発明の効果］ 以上のようにこの発明に係る半導体集積回路装置にあっ
ては、通常に使用されている入力端子がテストモード起
動用に兼用されるようになるものであり、特にテストモ
ード設定用の端子を設定する必要がなく、端子数の軽減
に効果的である。しかも、このテストモード起動用の信
号の供給される端子も、それ自体の機能テストが可能と
されるものであり、この集積回路装置の検査が効果的に
実現されるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例に係る半導体集積回路の特
に入力端子に関連する部分を説明する回路構成図、第２
図は上記実施例におけるテストモード設定状態を説明す
るフローチャートである。 11a 、11b ……入力端子、12a 、12b 、13a 、13b 、16
……インバータ、14a 、14b ……高電圧検出回路、15…
…ノア回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の入力端子の中の少なくとも２組の入
   力端子に対してそれぞれ接続するように構成され、通常
   モードで使用される電圧範囲より外れた特定される電圧
   を検出する、少なくとも２組の電圧検出回路と、 この複数の電圧検出回路の中の少なくとも１つの回路で
   の上記特定される電圧の入力検出で、テストモードの設
   定を指令する手段と、 この手段でテストモードが指令設定された状態で、上記
   特定される電圧の印加設定された入力端子以外の端子か
   らの入力信号に基づきテストモードを設定する手段と、 を具備したことを特徴とする半導体集積回路装置。