JPH07312329A - 密着強化処理装置および密着強化処理方法 - Google Patents

密着強化処理装置および密着強化処理方法

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JPH07312329A
JPH07312329A JP6103987A JP10398794A JPH07312329A JP H07312329 A JPH07312329 A JP H07312329A JP 6103987 A JP6103987 A JP 6103987A JP 10398794 A JP10398794 A JP 10398794A JP H07312329 A JPH07312329 A JP H07312329A
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JP
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substrate
adhesion
vapor
closed space
cover
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Application number
JP6103987A
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English (en)
Inventor
Tadao Okamoto
伊雄 岡本
Hidekazu Wada
英一 和田
Makoto Mori
誠 森
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 密着強化剤の塗布処理終了後にその蒸気が装
置外部に漏れることを良好に防止することが可能な密着
強化処理装置および密着強化処理方法を提供する。 【構成】 プレート10に対しチャンバ20が昇降可能
となっており、チャンバ20が降下すると、プレート1
0とで密閉空間S1が形成されるとともに、カバー40
とプレート10とで空間S2が形成される。空間S2には
HMDS供給ユニット50からHMDS蒸気が供給され
る。密閉空間S1には、排気ユニット30が接続されて
おり、空間S2に供給された密着強化剤の蒸気をカバー
40の開口41を介し密閉空間S1から排気する。その
ため、密着強化処理装置の外部への当該蒸気の漏れが良
好に防止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶用ガラス角型基
板、半導体ウエハ、カラーフィルタ用基板などの各種基
板の表面にフォトレジストなど所定の塗布液を塗布する
前に、その塗布液と基板との密着性を強化するために所
定の密着強化剤を基板表面に塗布する密着強化処理装置
および密着強化処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図8は、従来の密着強化処理装置を示す
斜視図である。この密着強化処理装置1は、同図に示す
ように、プレート型オーブン2a,2b,2cに連設さ
れており、図示を省略する搬送機構によりオーブン2b
による前処理が完了した基板が搬送されてくると、その
基板表面に密着強化剤を塗布する。さらに詳しく説明す
ると、この密着強化処理装置1は、プレート型オープン
2a,2b,2cと同様に載置された基板を加熱する加
熱プレート3と、上下方向に移動自在なチャンバ4とを
備えており、チャンバ4を上方に退避させた状態(同図
の1点鎖線)で搬送機構からの基板をプレート3上に搭
載可能となっている。この密着強化処理装置1では、プ
レート3上に基板が載置されるとその基板がプレートに
よって加熱されるとともに、チャンバ4がプレート3上
に降下され、プレート3とチャンバ4とで密閉空間が形
成される。その後で、当該密閉空間に密着強化剤、例え
ばヘキサメチルジシラザン(以下「HMDS」という)
の蒸気を供給して基板にHMDSを塗布する。こうし
て、密着強化処理装置1による密着強化処理が施された
基板は、再度搬送機構により次のオーブン2cに搬送さ
れる。
【0003】また、同図に示すように、密着強化処理装
置1およびプレート型オーブン2a,2b,2cの間に
は、排気装置5が設けられている。各排気装置5は排気
ブロック6の上面にスリット7が形成されており、当該
スリット7を介して密着強化処理装置1およびプレート
型オーブン2a,2b,2cの周囲を排気するようにな
っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、密着強化処
理装置1による密着強化処理が完了し、基板を次のオー
ブン2cに搬送する際には、チャンバ4を上昇させる必
要があり、このときに密閉空間内に残存していたHMD
Sが密着強化処理装置1の周囲全体に広がる。密閉空間
から漏れたHMDSの一部は排気装置5によって排気さ
れるものの、その排気効率が悪く、排気装置5により捕
捉できなかったHMDSについては密着強化処理装置1
の周囲に配置された装置に飛散して種々の不具合を発生
させる。例えば、HMDSが周辺装置の紫外線ランプや
ステッパレンズなどに飛散すると、当該飛散位置でシリ
コンの結晶が形成され、紫外線の露光不足を招くといっ
た問題が生じる。また、当該結晶は、パーティクルとな
って製品の歩留り低下の原因ともなる。
【0005】また、HMDSの供給量が多すぎると、基
板表面にHMDSが過剰に塗布されてしまい、後で基板
表面にフォトレジストなど所定の塗布液を塗布すると、
その塗布液がはじかれてしまうという問題があるが、従
来の密着強化処理装置では当該問題を有効に防止するこ
とができなかった。
【0006】本発明は、上述のような問題に鑑みてなさ
れたものであって、密着強化剤の塗布処理終了後にその
蒸気が装置外部に漏れることを良好に防止することが可
能な密着強化処理装置を提供することを第1の目的とす
る。
【0007】また、本発明は、密着強化剤の塗布処理に
要する時間を短縮させることが可能な密着強化処理装置
及び密着強化処理方法を提供することを第2の目的とす
る。
【0008】さらに、本発明は、基板に密着強化剤が過
剰に塗布されるのを防止することが可能な密着強化処理
方法を提供することを第3の目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
に密着強化剤の蒸気を供給して基板表面に密着強化剤を
塗布する密着強化処理装置であって、上記目的を達成す
るため、基板が載置され、載置された基板を支持する基
板支持手段と、前記基板支持手段に支持された基板を包
含する密閉空間を形成するチャンバ手段と、前記密閉空
間に密着強化剤の蒸気を供給する密着強化剤供給手段
と、前記密閉空間に供給された密着強化剤の蒸気を排気
する排気手段と、を有している。
【0010】請求項2の発明は、前記密着強化剤供給手
段によって前記密閉空間の上部から下方に向けて密着強
化剤の蒸気を吐出し、前記基板支持手段に載置された基
板に当該蒸気を供給するように構成するとともに、前記
排気手段に前記密閉空間の上部に負圧を与え、前記密閉
空間内に存在する密着強化剤の蒸気を前記密閉空間の上
部に向けて吸引する吸引手段を設けている。
【0011】請求項3の発明は、前記基板支持手段上に
載置された基板の上方位置に配設された整流手段をさら
に備え、前記密着強化剤供給手段から前記密閉空間に吐
出された密着強化剤の蒸気を前記整流手段を介して前記
基板に供給するようにしている。
【0012】請求項4の発明は、前記密閉空間内で前記
基板支持手段上の基板を覆うように前記基板支持手段上
に配置されたカバーをさらに備え、前記密着強化剤供給
手段からの密着強化剤の蒸気を前記チャンバ手段と前記
カバーとの間に導入し、前記カバーの側面に形成された
開口を介して前記基板に導くとともに、前記排気手段は
前記カバーの上部と連結され、前記カバーと前記基板支
持手段とで囲まれた空間に存在する前記密着強化剤の蒸
気を排気するようにしている。
【0013】請求項5の発明は、前記密着強化剤供給手
段によって前記密閉空間の一側方から密着強化剤の蒸気
を前記基板支持手段上に載置された基板に向けて供給す
るように構成するとともに、前記排気手段に前記基板を
挟んで前記一側方と対向する前記密閉空間の他側方から
密着強化剤の蒸気を吸引除去する吸引手段を設けてい
る。
【0014】請求項6の発明は、密着強化剤の蒸気と置
換可能な気体を前記密閉空間に供給する置換気体供給手
段をさらに備えている。
【0015】請求項7の発明は、基板に密着強化剤の蒸
気を供給して基板表面に密着強化剤を塗布する密着強化
処理方法であって、上記第2の目的を達成するため、基
板を密閉空間内に載置して密着強化剤の蒸気を供給する
と同時に、前記密閉空間内を排気している。
【0016】請求項8の発明は、基板に密着強化剤の蒸
気を供給して基板表面に密着強化剤を塗布する密着強化
処理方法であって、上記第3の目的を達成するため、基
板を密閉空間内に載置して密着強化剤の蒸気を供給し、
前記基板の表面に触れた密着強化剤の蒸気を強制的に前
記密閉空間より排出している。
【0017】
【作用】請求項1の発明では、基板支持手段とチャンバ
手段とで密閉空間が形成され、当該密閉空間に密着強化
剤の蒸気を供給することで基板表面に密着強化剤が塗布
される。また、前記密閉空間に供給された密着強化剤の
蒸気は排気手段により前記密閉空間から排気される。そ
のため、密着強化処理装置の外部への当該蒸気の漏れが
良好に防止される。
【0018】請求項2の発明では、前記密着強化剤供給
手段からの密着強化剤の蒸気が前記密閉空間の上部から
下方に向けて吐出され、前記基板支持手段に載置された
基板に供給される。一方、吸引手段により前記密閉空間
の上部に負圧が与えられ、前記密閉空間内に残存する密
着強化剤の蒸気が前記密閉空間の上部に向けて吸引除去
される。
【0019】請求項3の発明では、前記基板支持手段上
に載置された基板の上方位置に整流手段が配設され、前
記密着強化剤供給手段から前記密閉空間に吐出された密
着強化剤の蒸気が前記整流手段を介して前記基板に均一
に供給される。
【0020】請求項4の発明では、前記密閉空間内で前
記基板支持手段上の基板を覆うように前記基板支持手段
上にカバーが配置される。そして、前記密着強化剤供給
手段からの密着強化剤の蒸気が前記チャンバ手段と前記
カバーとの間に導入され、さらに前記カバーの側面に形
成された開口を介して前記基板に供給される。一方、前
記排気手段が前記カバーの上部と連結され、前記カバー
と前記基板支持手段とで囲まれた空間に残存する密着強
化剤の蒸気を排気する。
【0021】請求項5の発明では、前記密閉空間の一側
方から密着強化剤の蒸気が前記基板支持手段上に載置さ
れた基板に向けて供給されるとともに、前記基板を挟ん
で前記一側方と対向する前記密閉空間の側方から密着強
化剤の蒸気が吸引除去される。
【0022】請求項6の発明では、置換気体供給手段か
ら密着強化剤の蒸気と置換可能な気体が前記密閉空間に
供給され、前記密閉空間内からの密着強化剤が効果的に
排出される。
【0023】請求項7の発明では、基板が密閉空間内に
載置され、前記密閉空間に密着強化剤の蒸気が供給され
て前記基板の表面に密着強化剤が塗布される。また、そ
れと同時に、前記密閉空間内の密着強化剤の蒸気が排気
される。
【0024】請求項8の発明では、基板の表面に触れた
密着強化剤の蒸気が強制的に密閉空間より排出されるた
め、密着強化剤が前記基板に過剰に塗布されるのが効果
的に防止される。
【0025】
【実施例】図1は、この発明にかかる密着強化処理装置
の一実施例を示す断面図である。この密着強化処理装置
では、プレート10にプッシャーピン(図示省略)が設
けられており、このプッシャーピンの昇降動作によって
プレート10からの液晶用ガラス角型基板W(以下「基
板Wという」)の上昇およびプレート10への基板Wの
載置が可能となっている。また、プレート10には吸着
孔が設けられており、基板Wを真空吸着してプレート1
0上に保持することができるようになっている。
【0026】このプレート10の上方部でチャンバ20
が上下方向Zに昇降自在となっており、図示を省略する
チャンバ駆動機構によりチャンバ20を降下させると、
プレート10とで密閉空間S1が形成される(図1参
照)。また、このチャンバ20の下方外周縁部には、化
学薬品に対し耐久性を有する材料、例えばテフロン(ト
リフルオロエチレンのDu Pont社商標)製のパッキン2
1が取り付けられており、密閉空間S1の密閉性が高め
られている。このチャンバ20の上部には排気口22が
形成されている。そして、この排気口22に排気ユニッ
ト30が接続されており、密閉空間S1内を排気可能と
なっている。
【0027】図2は排気ユニット30の構成を示す図で
ある。同図に示すように、排気ユニット30は、チャン
バ20の排気口22に連結された排気管31と、アスピ
レータ32と、エアーバルブ33とを備えており、エア
ー供給源(図示省略)からのエアーをエアーバルブ33
を介してアスピレータ32の一方端に導入すると、アス
ピレータ32内で負圧が発生し、同時に排気管31を介
して連通された密閉空間S1に負圧が与えられ、当該密
閉空間S1が排気され、エアー供給源からのエアーとと
もにアスピレータ32の他方端から工場内に予め設置さ
れている排気ライン(図示省略)に送られる。したがっ
て、エアーバルブ33の開閉を制御することで、適宜密
閉空間S1内を排気可能となっている。なお、密閉空間
S1内を排気する手段については、上記のように構成さ
れた排気ユニット30に限定されるものではなく、他の
排気手段、例えば排気ポンプなどを用いることができ
る。
【0028】図1に戻って、チャンバ20の内部には、
カバー40が設けられており、チャンバ20と一体的に
上下方向に昇降する。そして、チャンバ20が降下した
状態で、カバー40はプレート10に載置された基板W
を覆うようにしてプレート10上に配置され、密閉空間
S1内で空間S2を形成する。なお、カバー40の下方側
面部には開口41が形成されており、この開口41を介
して両空間S1,S2が相互に連通されている。
【0029】このカバー40の上部には、HMDS蒸気
を供給するためのHMDS供給ユニット50および窒素
ガスを供給するための窒素ガス供給ユニット60とが接
続されている。
【0030】図3は、HMDS供給ユニット50および
窒素ガス供給ユニット60の構成を示す図である。同図
に示すように、HMDS供給ユニット50は、HMDS
配管51と、エアーバルブ52と、フィルタ53と、H
MDSバブリングタンク54と、流量計55とで構成さ
れている。この実施例では、エアーバルブ52を開く
と、フィルタ53を介してHMDSが貯留されているH
MDSバブリングタンク54内に適当な気体、例えば窒
素ガスが供給されてHMDS蒸気を発生させることがで
きるようになっている。また、こうして発生したHMD
S蒸気は流量計55を経由し、HMDS配管51にそっ
てカバー40の内部に形成される空間S2に吐出され
る。
【0031】なお、図4に示すように、HMDSバブリ
ングタンク54と流量計55との間にジョイント56を
設けるとともに、そのジョイント56とHMDSバブリ
ングタンク54との間にエアーバルブ57を介挿すると
ともに、エアーバルブ58を介してジョイント56側に
窒素ガスを供給するようにすれば、上記のようにしてH
MDS蒸気をカバー40側に供給した後、エアーバルブ
57を閉じる一方、エアーバルブ58を開くことでHM
DS配管51に窒素ガスを供給してパージ処理を行うこ
とができる。
【0032】窒素ガス供給ユニット60は、図3に示す
ように、窒素ガス供給源(図示省略)からの窒素ガスを
エアーバルブ61,流量計62を通過し、窒素ガス配管
63にそって空間S2に吐出可能となっている。したが
って、エアーバルブ61の開閉動作に応じて窒素ガス供
給源からの窒素ガスが窒素ガス配管63を介して空間S
2に吐出される。
【0033】再度、図1に戻って、カバー40の内部に
は、ステンレス製の板材に複数の孔71を穿設してなる
整流板70が固定されており、この整流板70によって
空間S2がHMDS導入空間(上部空間)とHMDS処
理空間(下部空間)とに仕切られている。したがって、
HMDS供給ユニット50のエアーバルブ52(図3)
を開くと、HMDS蒸気がHMDS導入空間に導入さ
れ、整流板70によって整流された後、各孔71からH
MDS処理空間に流れ込み、上方から下方に向けて基板
Wの表面に均一に供給される。この実施例のように整流
板70を設けることにより、基板WへのHMDS蒸気の
均一供給が可能となり、基板WにHMDSをより均一に
塗布することができる。
【0034】また、窒素ガス供給ユニット60のエアー
バルブを開くと、上記HMDSの場合と同様に、整流板
70を介して基板W側に供給される。
【0035】なお、図1に示すように、この実施例にか
かる密着強化処理装置の両サイドには、従来例と同様
に、排気装置5およびオーブン2b,2cがそれぞれ配
置されている。また、図示を省略する搬送機構によりオ
ーブン2b−密着強化処理装置−オーブン2cの順序で
基板Wを搬送可能となっている。
【0036】次に、上記のように構成された密着強化処
理装置の動作について図5を参照しつつ説明する。
【0037】オーブン2bでの処理が完了すると、搬送
機構により基板Wをオーブン2bから密着強化処理装置
に搬送する。このとき、プッシャーピン、チャンバ20
はともに上昇しており、搬送機構からの基板Wの受取が
可能な状態になっている。
【0038】基板Wの受取が完了すると(時刻t0)、
プッシャーピンを降下させて基板Wをプレート10上に
載置すると同時に、真空吸着を作動させて基板Wをプレ
ート10上に吸着保持する。また、チャンバ20につい
ても降下させて図1に示すように密閉空間S1を形成す
る。なお、この時刻t0では、HMDS蒸気および窒素
ガスの供給は停止させ、またエアーバルブ33を閉じて
排気ユニット30による密閉空間S1内の排気も停止さ
せておく。
【0039】そして、時刻t0から時刻t1までの間(時
間T3)、この状態を維持して、プレート10からの熱
により基板Wを加熱し、その温度を上昇させる。
【0040】時刻t1になると、HMDS供給ユニット
50からHMDS蒸気を吐出させて、HMDSの塗布処
理を開始する。この実施例では、HMDS蒸気の吐出開
始と同時に、窒素ガス供給ユニット60から窒素ガスを
吐出させて基板Wへの気流を形成している。このため、
この窒素ガスの流れによって、HMDS蒸気が空間S2
内に淀むのを防止することができ、HMDS蒸気をより
効率的に基板Wの表面に運ぶことができる。ただし、基
板WへのHMDS塗布処理にとって、この窒素ガスの供
給は必須構成ではなく、任意の構成である。
【0041】また、この実施例では、HMDS蒸気の吐
出開始と同時に、エアーバルブ33を開いて、排気ユニ
ット30による排気を開始する。この排気開始により、
密閉空間S1の上部に負圧がかかり、HMDS蒸気およ
び窒素ガスが、矢印FLで示すように、カバー40の開
口41を通過し、さらに排気口22を介して排気ユニッ
ト30側に排気される。このように、HMDS蒸気によ
る塗布処理と並行してHMDS蒸気の排出を行うことに
より、一度基板基板表面にふれたHMDS蒸気が強制的
に基板Wの近傍から排気され、基板Wの表面にHMDS
が過剰に塗布されるのを効果的に防止することができ
る。その結果、HMDSの過剰塗布によりフォトレジス
ト(塗布液)が基板基板Wの表面からはじかれるなどの
不具合を防止することができる。
【0042】そして、時刻t2になるまで、つまり時間
T4の間、HMDS蒸気を吐出し続けて、基板表面への
HMDSの塗布を行い、時刻t2でHMDS供給ユニッ
ト50からのHMDS蒸気の吐出を停止する。この実施
例では、HMDS蒸気の吐出の停止後も、時刻t3まで
窒素ガス供給ユニット60から窒素ガスを吐出し続け、
窒素ガスによって空間S2に残存するHMDS蒸気を排
気ユニット30側に排出する。このため、装置内でのH
MDS蒸気の残存をほとんどゼロにすることができる。
【0043】時刻t3になると、窒素ガス供給ユニット
60からの窒素ガスの吐出を停止させると同時に、基板
Wを次のオーブン2cに搬送するための準備を行う。す
なわち、真空吸着を解除するとともに、プッシャーピン
およびチャンバ20を上昇させる。
【0044】なお、このとき、排気ユニット30につい
ては時刻t4まで、つまり時間T6の間、作動させた状態
のままにしておく。その理由は、排気ユニット30を作
動させておくことで、チャンバ20を上昇させた際に、
チャンバ20周辺の空気がチャンバ20内部に吸い込ま
れ、仮にチャンバ20内にHMDS蒸気が残存していた
としても、その空気流れに沿って排気ユニット30側に
排気され、その結果、装置周辺にHMDS蒸気が拡散す
るのをより効果的に防止することができるからである。
【0045】時刻t4になると、排気ユニット30を停
止させるとともに、搬送機構のオープンアームを閉じて
プッシャーピンから基板Wを受取り、次のオーブン2c
に搬送する。
【0046】上記した一連の動作を繰り返すことで、連
続して、密着強化処理装置からのHMDS蒸気の漏れを
効果的に防止しながら基板Wの表面にHMDSを塗布す
ることができる。
【0047】以上、実施例に即して本発明を説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、様
々な変形が可能である。
【0048】上記では、常圧でHMDS蒸気を装置内に
供給して基板WにHMDSを塗布する常圧密閉方式の密
着強化処理装置に本発明を適用した場合について説明し
たが、本発明の適用対象は当該方式の装置に限定される
ものではなく、HMDS蒸気の供給前に装置内を減圧す
る減圧密閉方式の装置にも適用することができる。
【0049】また、上記実施例では、基板Wの上方より
HMDS蒸気を供給する一方、カバー40の開口41を
通過し、チャンバ20とカバー40との間を通って排気
ユニット30側に排気するようにしているが、この関係
を逆転させてもよい。すなわち、図6に示すように、チ
ャンバ20の上外周縁部にHMDS配管51を、また上
中央部に窒素ガス配管63をそれぞれ接続し、チャンバ
20とカバー40との間を通過し、同図の矢印FLのよ
うに基板Wの側面からHMDS蒸気を供給する一方、排
気ユニット30をカバー40の上部に接続して基板W側
から上方向に流れるHMDSおよび窒素ガスを排気する
ようにしてもよい。
【0050】また、カバー40や整流板70は必須構成
ではなく、必要に応じて設ければよい。
【0051】また、HMDS蒸気の供給方向や排気方向
については、上記実施例に限定されるものでなく、例え
ば図7に示すように、チャンバ20の一側面部にHMD
S配管51および窒素ガス配管63を接続して、基板W
に向けてHMDS蒸気を供給するとともに、基板Wを挟
んでHMDS配管51および窒素ガス配管63と対向し
てチャンバ20の側面部に排気管31を接続してHMD
S蒸気を排気ユニット30に吸引排気するようにしても
よい。
【0052】
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明によれ
ば、基板支持手段とチャンバ手段とで形成される密閉空
間を供給された密着強化剤の蒸気を排気手段により前記
密閉空間から排気するようにしているので、密着強化処
理装置の外部への当該蒸気の漏れを良好に防止すること
ができる。
【0053】また、請求項2の発明によれば、前記密着
強化剤供給手段からの密着強化剤の蒸気を前記密閉空間
の上部から下方に向けて吐出して、基板に密着強化剤を
塗布する一方、吸引手段により前記密閉空間の上部に負
圧を与え、前記密閉空間内に残存する密着強化剤の蒸気
を前記密閉空間の上部に向けて吸引除去しているので、
短時間で密着強化剤の塗布処理を行うことができる。
【0054】また、請求項3の発明によれば、前記基板
支持手段上に載置された基板の上方位置に整流手段を配
設したため、前記密着強化剤供給手段から前記密閉空間
に吐出された密着強化剤の蒸気を前記整流手段を介して
前記基板に均一に供給することができ、密着強化剤を前
記基板の表面に良好に塗布することができる。
【0055】また、請求項4の発明によれば、前記密閉
空間内で前記基板支持手段上の基板を覆うように前記基
板支持手段上にカバーを配置することで、前記密着強化
剤供給手段からの密着強化剤の蒸気を前記チャンバ手段
ーと前記カバーとの間に導入し、さらに前記カバーの側
面に設けられた開口を介して前記基板に供給するととも
に、前記排気手段を前記カバーの上部と連結して前記カ
バーと前記基板支持手段とで囲まれた空間に残存する密
着強化剤の蒸気を排気するようにしているので、短時間
で密着強化剤の塗布処理を行うことができる。
【0056】また、請求項5の発明によれば、前記密閉
空間の一側方から密着強化剤の蒸気を前記基板支持手段
上に載置された基板に向けて供給するとともに、前記基
板を挟んで前記一側方と対向する前記密閉空間の側方か
ら密着強化剤の蒸気を吸引除去しているので、密着強化
剤の基板への塗布と同時に、前記密閉空間内に残存する
密着強化剤の蒸気を排気することができ、短時間で密着
強化剤の塗布処理を行うことができる。
【0057】また、請求項6の発明によれば、置換気体
供給手段から密着強化剤の蒸気と置換可能な気体を前記
密閉空間に供給しているので、前記密閉空間内からの密
着強化剤を効果的に排出することができる。
【0058】また、請求項7の発明によれば、密閉空間
を排気することで当該密閉空間に供給された密着強化剤
の蒸気を取り除いているため、密着強化処理装置の外部
への当該蒸気の漏れを良好に防止することができる。
【0059】さらに、請求項8の発明によれば、基板の
表面に触れた密着強化剤の蒸気を強制的に密閉空間より
排出するため、密着強化剤が前記基板に過剰に塗布され
るのを効果的に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかる密着強化処理装置の一実施例
を示す断面図である。
【図2】排気ユニットの構成を示す図である。
【図3】HMDS供給ユニットおよび窒素ガス供給ユニ
ットの構成を示す図である。
【図4】HMDS供給ユニットの変形例を示す図であ
る。
【図5】図1の密着強化処理装置の動作を示すタイミン
グチャートである。
【図6】この発明にかかる密着強化処理装置の別の実施
例を示す断面図である。
【図7】この発明にかかる密着強化処理装置のさらに別
の実施例を示す断面図である。
【図8】従来の密着強化処理装置を示す斜視図である。
【符号の説明】
10 プレート 20 チャンバ 30 排気ユニット 40 カバー 50 HMDS供給ユニット 60 窒素ガス供給ユニット 70 整流板 80 隙間 S1 密閉空間 S2 空間

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に密着強化剤の蒸気を供給して基板
    表面に密着強化剤を塗布する密着強化処理装置におい
    て、 基板が載置され、載置された基板を支持する基板支持手
    段と、 前記基板支持手段に支持された基板を包含する密閉空間
    を形成するチャンバ手段と、 前記密閉空間に密着強化剤の蒸気を供給する密着強化剤
    供給手段と、 前記密閉空間に供給された密着強化剤の蒸気を排気する
    排気手段と、を有することを特徴とする密着強化処理装
    置。
  2. 【請求項2】 前記密着強化剤供給手段は前記密閉空間
    の上部から下方に向けて密着強化剤の蒸気を吐出し、前
    記基板支持手段に載置された基板に当該蒸気を供給する
    とともに、 前記排気手段は前記密閉空間の上部に負圧を与え、前記
    密閉空間内に存在する密着強化剤の蒸気を前記密閉空間
    の上部に向けて吸引する吸引手段を備えた請求項1記載
    の密着強化処理装置。
  3. 【請求項3】 前記基板支持手段上に載置された基板の
    上方位置に配設された整流手段をさらに備え、 前記密着強化剤供給手段から前記密閉空間に吐出された
    密着強化剤の蒸気を前記整流手段を介して前記基板に供
    給する請求項2記載の密着強化処理装置。
  4. 【請求項4】 前記密閉空間内で前記基板支持手段上の
    基板を覆うように前記基板支持手段上に配置されたカバ
    ーをさらに備え、 前記密着強化剤供給手段からの密着強化剤の蒸気を前記
    チャンバ手段と前記カバーとの間に導入し、前記カバー
    の側面に形成された開口を介して前記基板に導くととも
    に、 前記排気手段は前記カバーの上部と連結され、前記カバ
    ーと前記基板支持手段とで囲まれた空間に存在する前記
    密着強化剤の蒸気を排気する請求項1記載の密着強化処
    理装置。
  5. 【請求項5】 前記密着強化剤供給手段は前記密閉空間
    の一側方から密着強化剤の蒸気を前記基板支持手段上に
    載置された基板に向けて供給するとともに、 前記排気手段は前記基板を挟んで前記一側方と対向する
    前記密閉空間の他側方から密着強化剤の蒸気を吸引除去
    する吸引手段を有する請求項1記載の密着強化処理装
    置。
  6. 【請求項6】 密着強化剤の蒸気と置換可能な気体を前
    記密閉空間に供給する置換気体供給手段をさらに備えた
    請求項1記載の密着強化処理装置。
  7. 【請求項7】 基板に密着強化剤の蒸気を供給して基板
    表面に密着強化剤を塗布する密着強化処理方法におい
    て、 基板を密閉空間内に載置して密着強化剤の蒸気を供給す
    ると同時に、前記密閉空間内を排気することを特徴とす
    る密着強化処理方法。
  8. 【請求項8】 基板に密着強化剤の蒸気を供給して基板
    表面に密着強化剤を塗布する密着強化処理方法におい
    て、 基板を密閉空間内に載置して密着強化剤の蒸気を供給
    し、前記基板の表面に触れた密着強化剤の蒸気を強制的
    に前記密閉空間より排出することを特徴とする密着強化
    処理方法。
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