JPH07321130A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH07321130A JPH07321130A JP13246594A JP13246594A JPH07321130A JP H07321130 A JPH07321130 A JP H07321130A JP 13246594 A JP13246594 A JP 13246594A JP 13246594 A JP13246594 A JP 13246594A JP H07321130 A JPH07321130 A JP H07321130A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate electrode
- fet
- gate
- stage
- field effect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】小型化、組立ての簡便化が可能な構造のUHF
帯の高周波電力増幅器に用いる電界効果トランジスタを
含んだ半導体装置において、入出力間の不要な結合が少
なく、安定に動作する電界効果トランジスタの構成を提
供する。 【構成】半導体基板10の一主面上の複数の領域にそれ
ぞれ設けられ、複数のゲート電極指21,31からなる
ゲート電極を有し、外部回路により縦続接続される複数
の電界効果トランジスタ20,30を含む半導体装置に
おいて、前記領域間の前記一主面上に溝11が設けられ
ている。
帯の高周波電力増幅器に用いる電界効果トランジスタを
含んだ半導体装置において、入出力間の不要な結合が少
なく、安定に動作する電界効果トランジスタの構成を提
供する。 【構成】半導体基板10の一主面上の複数の領域にそれ
ぞれ設けられ、複数のゲート電極指21,31からなる
ゲート電極を有し、外部回路により縦続接続される複数
の電界効果トランジスタ20,30を含む半導体装置に
おいて、前記領域間の前記一主面上に溝11が設けられ
ている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、UHF帯(0.3〜3
GHz)の多段高周波電力増幅器に用いる電界効果トラ
ンジスタの構造に関する。
GHz)の多段高周波電力増幅器に用いる電界効果トラ
ンジスタの構造に関する。
【0002】
【従来の技術】移動体通信などに用いられるUHF帯の
高周波電力増幅器として、GaAs電界効果トランジス
タ(FET)を用いたソース接地回路を多段に接続した
ものが用られている。GaAsFETは、UHF帯での
電力増幅に際して優れた利得がえられるが、1段増幅の
みでは必要な出力電力が得られない場合に2段以上の多
段に縦続接続して用いられる。この場合、FET間の接
続、および、入出力とのインピーダンス整合のために整
合回路が必要となる。また、GaAsFETの出力電力
は、そのゲート幅に比例するため、数百mW以上の出力
電力を得るためには、通常数mm以上のゲート幅が必要
となる。このような長いゲート幅を得るために、ゲート
電極を複数のゲート電極指に分割し、それらを並列に接
続したくし型構造とよばれるFETの平面構造が用いら
れている。
高周波電力増幅器として、GaAs電界効果トランジス
タ(FET)を用いたソース接地回路を多段に接続した
ものが用られている。GaAsFETは、UHF帯での
電力増幅に際して優れた利得がえられるが、1段増幅の
みでは必要な出力電力が得られない場合に2段以上の多
段に縦続接続して用いられる。この場合、FET間の接
続、および、入出力とのインピーダンス整合のために整
合回路が必要となる。また、GaAsFETの出力電力
は、そのゲート幅に比例するため、数百mW以上の出力
電力を得るためには、通常数mm以上のゲート幅が必要
となる。このような長いゲート幅を得るために、ゲート
電極を複数のゲート電極指に分割し、それらを並列に接
続したくし型構造とよばれるFETの平面構造が用いら
れている。
【0003】このようなUHF帯の高周波電力増幅器に
対して、小型化、組立ての簡便化などが望まれている。
しかしながら、従来の構造では、FETの前後にインピ
ーダンス整合のための整合回路が必要となり、特にUH
F帯では分布定数回路を用いているため、小型化には限
界があった。また、パッケージに収められていないFE
Tを用いることで小型化を図ることもできるが、この場
合、FETが、特にGaAsFETでは、半導体チップ
自体が破損しやすく組立て工程が難しくなっていた。他
方、半導体基板上にFETと整合回路を集積したMMI
C(MicrowaveMonolithic Integrated Circuit)が知ら
れている。しかし、UHF帯では、整合回路の寸法が相
対的に大きくなり、基板面積が大きくなるため、高コス
トとなり、また、組立て調整も困難であり、量産工程に
適するものではない。
対して、小型化、組立ての簡便化などが望まれている。
しかしながら、従来の構造では、FETの前後にインピ
ーダンス整合のための整合回路が必要となり、特にUH
F帯では分布定数回路を用いているため、小型化には限
界があった。また、パッケージに収められていないFE
Tを用いることで小型化を図ることもできるが、この場
合、FETが、特にGaAsFETでは、半導体チップ
自体が破損しやすく組立て工程が難しくなっていた。他
方、半導体基板上にFETと整合回路を集積したMMI
C(MicrowaveMonolithic Integrated Circuit)が知ら
れている。しかし、UHF帯では、整合回路の寸法が相
対的に大きくなり、基板面積が大きくなるため、高コス
トとなり、また、組立て調整も困難であり、量産工程に
適するものではない。
【0004】このような問題を解決するために、一つの
半導体基板上に縦続に接続されるFETを独立に複数個
設けた特殊なFET(以下、縦続多段FETという)を
用いた増幅器が検討されている。この縦続多段FETお
よびそれを用いた増幅器の一例を図4を用いて説明す
る。縦続多段FET1は、前段FET20と後段FET
30が同一基板上に設けられ、パッケージに収められて
いる。前段FET20の前段ドレイン端子3と後段FE
T30の後段ゲート端子4はパッケージの一辺に隣接し
て設けられており、前段FET20の前段ゲート端子2
と後段FET30の後段ドレイン端子5はその一辺に対
向する他辺に近接して設けられており、前段FET20
と後段FET30に共通する共通ソース端子6はパッケ
ージの裏面に設けられている。図示した電力増幅回路4
0は、縦続多段FET1と誘電体基板41上の入力整合
回路50、段間整合回路60および出力整合回路70と
から構成されている。
半導体基板上に縦続に接続されるFETを独立に複数個
設けた特殊なFET(以下、縦続多段FETという)を
用いた増幅器が検討されている。この縦続多段FETお
よびそれを用いた増幅器の一例を図4を用いて説明す
る。縦続多段FET1は、前段FET20と後段FET
30が同一基板上に設けられ、パッケージに収められて
いる。前段FET20の前段ドレイン端子3と後段FE
T30の後段ゲート端子4はパッケージの一辺に隣接し
て設けられており、前段FET20の前段ゲート端子2
と後段FET30の後段ドレイン端子5はその一辺に対
向する他辺に近接して設けられており、前段FET20
と後段FET30に共通する共通ソース端子6はパッケ
ージの裏面に設けられている。図示した電力増幅回路4
0は、縦続多段FET1と誘電体基板41上の入力整合
回路50、段間整合回路60および出力整合回路70と
から構成されている。
【0005】電力増幅回路40の入力信号は、入力整合
回路50を介して前段FET20に入力される。すなわ
ち、電力増幅回路40の入力信号は、入力特性インピー
ダンスに整合した入力ストリップライン51に入力さ
れ、入力整合用ストリップライン52を介して前段ゲー
ト端子2に導かれる。入力整合用ストリップライン52
の一端は、直流カット用コンデンサ53を介して入力ス
トリップライン51に接続され、また、バイアス供給用
ストリップライン54の一端に接続されている。バイア
ス供給用ストリップライン54の他端は、誘電体基板4
1上の接地面42にバイパスコンデンサ55を介して接
地され、前段FET20のゲートバイアス電圧が供給さ
れる。これら入力整合用ストリップライン52、バイア
ス供給用ストリップライン54などにより入力特性イン
ピーダンスと前段FET20の入力とを整合している。
なお、図示されていないが、縦続多段FET1の共通ソ
ース端子6は、誘電体基板41の裏面の裏面接地板48
に接続されている。
回路50を介して前段FET20に入力される。すなわ
ち、電力増幅回路40の入力信号は、入力特性インピー
ダンスに整合した入力ストリップライン51に入力さ
れ、入力整合用ストリップライン52を介して前段ゲー
ト端子2に導かれる。入力整合用ストリップライン52
の一端は、直流カット用コンデンサ53を介して入力ス
トリップライン51に接続され、また、バイアス供給用
ストリップライン54の一端に接続されている。バイア
ス供給用ストリップライン54の他端は、誘電体基板4
1上の接地面42にバイパスコンデンサ55を介して接
地され、前段FET20のゲートバイアス電圧が供給さ
れる。これら入力整合用ストリップライン52、バイア
ス供給用ストリップライン54などにより入力特性イン
ピーダンスと前段FET20の入力とを整合している。
なお、図示されていないが、縦続多段FET1の共通ソ
ース端子6は、誘電体基板41の裏面の裏面接地板48
に接続されている。
【0006】前段FET20の出力信号は、段間整合回
路60を介して後段FET30に入力される。すなわ
ち、前段FET20の出力信号は前段ドレイン端子3か
ら出力され、段間整合用ストリップライン62を介し
て、後段ゲート端子4に導かれる。段間整合用ストリッ
プライン62は、その中間に配置された整合用コンデン
サ63により直流的には分離され、ぞれぞれに、バイア
ス供給用ストリップライン64、66の一端が接続され
ている。バイアス供給用ストリップライン64、66の
他端は、誘電体基板41上の接地面43、44にバイパ
スコンデンサ65、67を介して接地され、前段FET
20のドレイン電圧、および、後段FET30のゲート
バイアス電圧が供給される。
路60を介して後段FET30に入力される。すなわ
ち、前段FET20の出力信号は前段ドレイン端子3か
ら出力され、段間整合用ストリップライン62を介し
て、後段ゲート端子4に導かれる。段間整合用ストリッ
プライン62は、その中間に配置された整合用コンデン
サ63により直流的には分離され、ぞれぞれに、バイア
ス供給用ストリップライン64、66の一端が接続され
ている。バイアス供給用ストリップライン64、66の
他端は、誘電体基板41上の接地面43、44にバイパ
スコンデンサ65、67を介して接地され、前段FET
20のドレイン電圧、および、後段FET30のゲート
バイアス電圧が供給される。
【0007】後段FET30の出力信号は出力整合回路
70を経て、電力増幅回路40の出力として得られる。
すなわち、後段FET30の出力信号は後段ドレイン端
子5から出力され、出力整合用ストリップライン72を
介して、出力特性インピーダンスに整合した出力ストリ
ップライン71から電力増幅回路40の出力が得られ
る。出力整合用ストリップライン72と誘電体基板41
上の接地面45、46の間には整合用コンデンサ78、
79が配置される。出力整合用ストリップライン72の
一端は、直流カット用コンデンサ73を介して出力スト
リップライン71に接続され、また、バイアス供給用ス
トリップライン74の一端に接続されている。バイアス
供給用ストリップライン74の他端は、誘電体基板41
上の接地面45にバイパスコンデンサ75を介して接地
され、後段FET20のドレイン電圧が供給される。こ
れら出力整合用ストリップライン72、バイアス供給用
ストリップライン74などにより後段FET30の出力
と出力特性インピーダンスとを整合している。
70を経て、電力増幅回路40の出力として得られる。
すなわち、後段FET30の出力信号は後段ドレイン端
子5から出力され、出力整合用ストリップライン72を
介して、出力特性インピーダンスに整合した出力ストリ
ップライン71から電力増幅回路40の出力が得られ
る。出力整合用ストリップライン72と誘電体基板41
上の接地面45、46の間には整合用コンデンサ78、
79が配置される。出力整合用ストリップライン72の
一端は、直流カット用コンデンサ73を介して出力スト
リップライン71に接続され、また、バイアス供給用ス
トリップライン74の一端に接続されている。バイアス
供給用ストリップライン74の他端は、誘電体基板41
上の接地面45にバイパスコンデンサ75を介して接地
され、後段FET20のドレイン電圧が供給される。こ
れら出力整合用ストリップライン72、バイアス供給用
ストリップライン74などにより後段FET30の出力
と出力特性インピーダンスとを整合している。
【0008】以上の増幅器においては、2段の増幅回路
を構成するFET素子が1つの半導体基板上に設けら
れ、かつ、前段の出力を後段の入力に隣接して設けてい
るので、この段間を整合する回路を1つのFET素子に
隣接して設けることができる。このため、2つの別々の
FET素子の間に整合回路を設けていないので増幅器の
小型化が可能となり、実装も容易となる。
を構成するFET素子が1つの半導体基板上に設けら
れ、かつ、前段の出力を後段の入力に隣接して設けてい
るので、この段間を整合する回路を1つのFET素子に
隣接して設けることができる。このため、2つの別々の
FET素子の間に整合回路を設けていないので増幅器の
小型化が可能となり、実装も容易となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
縦続多段FETにおいて、前段の出力と後段の入力を接
近させると、必然的に前段の入力と後段の出力が接近す
ることとなる。このため、多段増幅回路の入力側と出力
側が接近して、電気的に結合が生じ、不要なフィードバ
ックがかかる、動作が不安定となるなどの問題がある。
本発明はこのような課題を解決したもので、本発明の目
的は、小型化、組立ての簡便化が可能な構造のUHF帯
の高周波電力増幅器に用いる電界効果トランジスタを含
んだ半導体装置において、入出力間の不要な結合が少な
く、安定に動作する電界効果トランジスタの構成を提供
することにある。
縦続多段FETにおいて、前段の出力と後段の入力を接
近させると、必然的に前段の入力と後段の出力が接近す
ることとなる。このため、多段増幅回路の入力側と出力
側が接近して、電気的に結合が生じ、不要なフィードバ
ックがかかる、動作が不安定となるなどの問題がある。
本発明はこのような課題を解決したもので、本発明の目
的は、小型化、組立ての簡便化が可能な構造のUHF帯
の高周波電力増幅器に用いる電界効果トランジスタを含
んだ半導体装置において、入出力間の不要な結合が少な
く、安定に動作する電界効果トランジスタの構成を提供
することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、半導体基板の
一主面上の複数の領域にそれぞれ設けられ、複数のゲー
ト電極指からなるゲート電極を有し、外部回路により縦
続接続される複数の電界効果トランジスタを含む半導体
装置において、前記領域間の前記一主面上に溝が設けら
れている、または/および、一の前記電界効果トランジ
スタに含まれるゲート電極指と他の前記電界効果トラン
ジスタに含まれるゲート電極指の延びている方向が直交
しているものである。半導体基板の一主面上の複数の領
域にそれぞれ設けられ、複数のゲート電極指からなるゲ
ート電極を有し、外部回路により縦続接続される複数の
電界効果トランジスタを含む半導体装置において、少な
くとも2つの前記電界効果トランジスタのソース電極が
前記半導体基板内部に設けられた導電部分を介して前記
半導体基板の他の主面上の裏面電極に接続されているこ
と、または、前記電界効果トランジスタのソース電極が
前記一主面上で相互に接続されておらず、それぞれ独立
した配線により前記外部回路に接続されるように設けら
れていることが望ましい。
一主面上の複数の領域にそれぞれ設けられ、複数のゲー
ト電極指からなるゲート電極を有し、外部回路により縦
続接続される複数の電界効果トランジスタを含む半導体
装置において、前記領域間の前記一主面上に溝が設けら
れている、または/および、一の前記電界効果トランジ
スタに含まれるゲート電極指と他の前記電界効果トラン
ジスタに含まれるゲート電極指の延びている方向が直交
しているものである。半導体基板の一主面上の複数の領
域にそれぞれ設けられ、複数のゲート電極指からなるゲ
ート電極を有し、外部回路により縦続接続される複数の
電界効果トランジスタを含む半導体装置において、少な
くとも2つの前記電界効果トランジスタのソース電極が
前記半導体基板内部に設けられた導電部分を介して前記
半導体基板の他の主面上の裏面電極に接続されているこ
と、または、前記電界効果トランジスタのソース電極が
前記一主面上で相互に接続されておらず、それぞれ独立
した配線により前記外部回路に接続されるように設けら
れていることが望ましい。
【0011】さらに、前記半導体基板がGaAsからな
り、前記ゲート電極、ドレイン電極およびソース電極が
ショットキー接合型電界効果トランジスタを構成するこ
とが望ましい。前記ゲート電極指の延びている方向が直
交とは、その角度が90度のみではなく80〜100度
でもよい。
り、前記ゲート電極、ドレイン電極およびソース電極が
ショットキー接合型電界効果トランジスタを構成するこ
とが望ましい。前記ゲート電極指の延びている方向が直
交とは、その角度が90度のみではなく80〜100度
でもよい。
【0012】
【作用及び効果】上記構成を用いると、FETが設けら
れた領域間の半導体基板のおもて面上に溝が設けられて
いるため、FET間の基板表面の電気的な、特に容量的
な結合を低減できる。または/加えて、ゲート電極指の
延びている方向が直交しているため、FET間の基板表
面の電気的な、特に電磁誘導的な結合を低減できる。し
たがって、小型化、組立ての簡便化が可能な構造の増幅
器に用いる電界効果トランジスタにおいて、入出力間の
不要な結合が少なく、安定な動作が可能となる。
れた領域間の半導体基板のおもて面上に溝が設けられて
いるため、FET間の基板表面の電気的な、特に容量的
な結合を低減できる。または/加えて、ゲート電極指の
延びている方向が直交しているため、FET間の基板表
面の電気的な、特に電磁誘導的な結合を低減できる。し
たがって、小型化、組立ての簡便化が可能な構造の増幅
器に用いる電界効果トランジスタにおいて、入出力間の
不要な結合が少なく、安定な動作が可能となる。
【0013】さらに、ソース電極を半導体基板内部に設
けられたビアホールとよばれる導電部分を介して裏面電
極に接続することにより、外部回路に接続するための配
線が半導体基板表面上で交差することなく、電気的な結
合が少なくなるとともに、機械的にも安定なものとな
る。また、ソース電極が半導体基板表面上で相互に接続
されておらず、それぞれ独立した配線により外部回路に
接続することにより、増幅器の設計条件に応じて各段の
ソース電極にそれぞれ異なる回路要素を付加することが
できるため、多段の増幅器を目的に応じて安定に動作さ
せることができる。
けられたビアホールとよばれる導電部分を介して裏面電
極に接続することにより、外部回路に接続するための配
線が半導体基板表面上で交差することなく、電気的な結
合が少なくなるとともに、機械的にも安定なものとな
る。また、ソース電極が半導体基板表面上で相互に接続
されておらず、それぞれ独立した配線により外部回路に
接続することにより、増幅器の設計条件に応じて各段の
ソース電極にそれぞれ異なる回路要素を付加することが
できるため、多段の増幅器を目的に応じて安定に動作さ
せることができる。
【0014】したがって、本発明による半導体装置を用
いれば、増幅器への半導体装置の実装が簡単であり、増
幅器の小型化が可能となり、同時に、安定に動作させる
ことができる。加えて、半導体装置の基板面積は、2つ
の素子を分けた場合に比べて小さくすることが可能であ
り、半導体装置の低コスト化が可能である。
いれば、増幅器への半導体装置の実装が簡単であり、増
幅器の小型化が可能となり、同時に、安定に動作させる
ことができる。加えて、半導体装置の基板面積は、2つ
の素子を分けた場合に比べて小さくすることが可能であ
り、半導体装置の低コスト化が可能である。
【0015】さらに、半導体基板がGaAsからなり、
FET素子がショットキー接合型電界効果トランジスタ
を構成する場合には、UHF帯において高い増幅利得が
得られ、基板面積の低減による低コスト化の効果が顕著
である。また、整合回路が分布定数回路を含む場合に
は、実装面積が比較的大きくなるUHF帯において有用
である。
FET素子がショットキー接合型電界効果トランジスタ
を構成する場合には、UHF帯において高い増幅利得が
得られ、基板面積の低減による低コスト化の効果が顕著
である。また、整合回路が分布定数回路を含む場合に
は、実装面積が比較的大きくなるUHF帯において有用
である。
【0016】
【実施例1】本発明の第1の実施例であるGaAs電界
効果トランジスタをその平面図である図1に基いて説明
する。半絶縁性GaAsからなる半導体基板10上に約
1GHzの信号を増幅する2段電力増幅器の前段を構成
する前段FET20と、後段を構成する後段FET30
が形成されている。この前段FET20、後段FET3
0は、インピーダンス整合をとり縦続に接続することに
より、前段FET20入力7dBmで、後段FET30
出力31dBm、電力利得24dBを得ることができる
ように設計されている。
効果トランジスタをその平面図である図1に基いて説明
する。半絶縁性GaAsからなる半導体基板10上に約
1GHzの信号を増幅する2段電力増幅器の前段を構成
する前段FET20と、後段を構成する後段FET30
が形成されている。この前段FET20、後段FET3
0は、インピーダンス整合をとり縦続に接続することに
より、前段FET20入力7dBmで、後段FET30
出力31dBm、電力利得24dBを得ることができる
ように設計されている。
【0017】前段FET20は、半導体基板10の右側
に配置され、イオン注入法により形成された能動層領域
21上のゲート電極となる10本のゲート電極指22
と、それをはさむドレイン電極23およびソース電極2
4から構成される。ゲート電極指22、ドレイン電極2
3およびソース電極24はそれぞれの引き出し領域であ
るゲートパッド25、ドレインパッド26およびソース
パッド27に接続されている。また、同様に後段FET
30は、半導体基板10の左側に配置され、イオン注入
法により形成された能動層領域31上のゲート電極とな
る34本のゲート電極指32と、それをはさむドレイン
電極33およびソース電極34から構成される。ゲート
電極指32、ドレイン電極33およびソース電極34は
それぞれの引き出し領域であるゲートパッド35、ドレ
インパッド36およびソースパッド37に接続されてい
る。前段のゲート電極指22の長さは0.2mmであ
り、前段FET20のゲート幅は2.0mmとなり、後
段のゲート電極指32の長さは約0.35mmであり、
後段FET30のゲート幅は12mmとなる。
に配置され、イオン注入法により形成された能動層領域
21上のゲート電極となる10本のゲート電極指22
と、それをはさむドレイン電極23およびソース電極2
4から構成される。ゲート電極指22、ドレイン電極2
3およびソース電極24はそれぞれの引き出し領域であ
るゲートパッド25、ドレインパッド26およびソース
パッド27に接続されている。また、同様に後段FET
30は、半導体基板10の左側に配置され、イオン注入
法により形成された能動層領域31上のゲート電極とな
る34本のゲート電極指32と、それをはさむドレイン
電極33およびソース電極34から構成される。ゲート
電極指32、ドレイン電極33およびソース電極34は
それぞれの引き出し領域であるゲートパッド35、ドレ
インパッド36およびソースパッド37に接続されてい
る。前段のゲート電極指22の長さは0.2mmであ
り、前段FET20のゲート幅は2.0mmとなり、後
段のゲート電極指32の長さは約0.35mmであり、
後段FET30のゲート幅は12mmとなる。
【0018】なお、ゲート電極指22、32は、ゲート
長0.8μmであり、蒸着により形成されたTi金属層
からなり、能動領域21、31とショットキー接合を形
成する。ドレイン電極23、33およびソース電極2
4、34は、能動領域21、31とオーミックコンタク
トするAuGe/Ni/Auの連続蒸着により形成され
た金属層からなり、同時に、この金属層はゲートパッド
25、35、ドレインパッド26、36およびソースパ
ッド27、37を構成する。ゲート電極指22、32と
ゲートパッド25、35とは、蒸着により形成されたM
o/Au金属層からなるゲートバス28、38により接
続されている。ソース電極24、34は、エアーブリッ
ジによりゲートバス28、38と空中で交差してソース
パッド27、37と接続されているが、他のワイヤ配
線、絶縁層を介した多層配線などにより半導体基板10
の主面上で接続することもできる。
長0.8μmであり、蒸着により形成されたTi金属層
からなり、能動領域21、31とショットキー接合を形
成する。ドレイン電極23、33およびソース電極2
4、34は、能動領域21、31とオーミックコンタク
トするAuGe/Ni/Auの連続蒸着により形成され
た金属層からなり、同時に、この金属層はゲートパッド
25、35、ドレインパッド26、36およびソースパ
ッド27、37を構成する。ゲート電極指22、32と
ゲートパッド25、35とは、蒸着により形成されたM
o/Au金属層からなるゲートバス28、38により接
続されている。ソース電極24、34は、エアーブリッ
ジによりゲートバス28、38と空中で交差してソース
パッド27、37と接続されているが、他のワイヤ配
線、絶縁層を介した多層配線などにより半導体基板10
の主面上で接続することもできる。
【0019】半導体基板10の主面は、長方形であり、
一方の長辺12、それに対向する他の長辺13、そし
て、短辺15、それに対向する他の短辺16で区切られ
ている。ゲート電極指22、32は、長辺12に垂直な
方向、すなわち、短辺15に平行な方向に延びており、
半導体基板10の中央部に配置されている。ドレイン電
極23、33およびソース電極24、34は、ゲート電
極指22、32をはさむように隣接して長辺12に垂直
な方向にストリップ状に延びている。前段FET20の
ゲートパッド25は、ゲート電極指22と他の長辺13
の間に配置され、そのドレインパッド26は、ゲート電
極指22と長辺12の間に配置されている。後段FET
30のゲートパッド35は、ゲート電極指32と長辺1
2の間に配置され、そのドレインパッド36は、ゲート
電極指32と他の長辺13の間に配置されている。そし
て、ソースパッド27、37はそれぞれゲートパッド2
5、35を囲むように配置されている。
一方の長辺12、それに対向する他の長辺13、そし
て、短辺15、それに対向する他の短辺16で区切られ
ている。ゲート電極指22、32は、長辺12に垂直な
方向、すなわち、短辺15に平行な方向に延びており、
半導体基板10の中央部に配置されている。ドレイン電
極23、33およびソース電極24、34は、ゲート電
極指22、32をはさむように隣接して長辺12に垂直
な方向にストリップ状に延びている。前段FET20の
ゲートパッド25は、ゲート電極指22と他の長辺13
の間に配置され、そのドレインパッド26は、ゲート電
極指22と長辺12の間に配置されている。後段FET
30のゲートパッド35は、ゲート電極指32と長辺1
2の間に配置され、そのドレインパッド36は、ゲート
電極指32と他の長辺13の間に配置されている。そし
て、ソースパッド27、37はそれぞれゲートパッド2
5、35を囲むように配置されている。
【0020】前段FET20と後段FET30の間のソ
ース電極27、37の間の領域に溝11が設けられてい
る。この溝11は、幅:30μm、深さ:20μmであ
り、短辺15に平行方向に設けられている。この溝11
によりゲート電極指22、ゲートパッド25とドレイン
電極33、ドレインパッド36間の電気的な結合を弱め
ることができる。この溝11は、幅および深さが半導体
基板10の厚さの0.2〜0.4倍程度が望ましく、
0.2倍程度以下では電気的な結合を充分に弱めること
ができず、また、0.4倍程度以上では半導体基板10
の機械的強度が弱まるため、取扱いが困難となる。な
お、溝11を半導体基板10の何れかの辺に平行な方向
とすることで、半導体基板10の切断時に溝11を同時
に作製することが可能となり、作製が容易である。
ース電極27、37の間の領域に溝11が設けられてい
る。この溝11は、幅:30μm、深さ:20μmであ
り、短辺15に平行方向に設けられている。この溝11
によりゲート電極指22、ゲートパッド25とドレイン
電極33、ドレインパッド36間の電気的な結合を弱め
ることができる。この溝11は、幅および深さが半導体
基板10の厚さの0.2〜0.4倍程度が望ましく、
0.2倍程度以下では電気的な結合を充分に弱めること
ができず、また、0.4倍程度以上では半導体基板10
の機械的強度が弱まるため、取扱いが困難となる。な
お、溝11を半導体基板10の何れかの辺に平行な方向
とすることで、半導体基板10の切断時に溝11を同時
に作製することが可能となり、作製が容易である。
【0021】本実施例1による電界効果トランジスタを
前述の図4に示した増幅回路に用い、前段ゲート端子
2、後段ゲート端子4、前段ドレイン端子3および後段
ドレイン端子5として、ゲートパッド25、35および
ドレインパッド26、36をそれぞれ用いることによ
り、増幅器の小型化、実装の簡便化が可能となるのみで
はなく、前段FET20のゲートと後段FET30のド
レイン間の電気的な結合を低く抑えることができるの
で、増幅器の動作が安定なものとなる。また、ソースパ
ッド27、37は独立したボンデイングワイヤにより誘
電体基板41上の接地面に接続されている。このボンデ
イングワイヤの長さを調節することにより、前段FET
20と後段FET30のソース電極と接地間に接続する
インダクタンス量を組立て時に調整することができる。
これにより、FET素子間のばらつきや増幅回路の使用
目的に応じて調整することが可能となる。
前述の図4に示した増幅回路に用い、前段ゲート端子
2、後段ゲート端子4、前段ドレイン端子3および後段
ドレイン端子5として、ゲートパッド25、35および
ドレインパッド26、36をそれぞれ用いることによ
り、増幅器の小型化、実装の簡便化が可能となるのみで
はなく、前段FET20のゲートと後段FET30のド
レイン間の電気的な結合を低く抑えることができるの
で、増幅器の動作が安定なものとなる。また、ソースパ
ッド27、37は独立したボンデイングワイヤにより誘
電体基板41上の接地面に接続されている。このボンデ
イングワイヤの長さを調節することにより、前段FET
20と後段FET30のソース電極と接地間に接続する
インダクタンス量を組立て時に調整することができる。
これにより、FET素子間のばらつきや増幅回路の使用
目的に応じて調整することが可能となる。
【0022】
【実施例2】本発明の第2の実施例であるGaAs電界
効果トランジスタをその平面図である図2(a)および
断面図である図2(b)に基いて説明する。第2の実施
例は、ソース電極24、34およびソースパッド27、
37がビアホール29、39により半導体基板10の裏
面電極19に接続されている点を除いて第1の実施例と
同様であり、同様の部分の説明を省略する。ビアホール
29、39は、表面側の電極が全て形成された後、半導
体基板10の裏面を薄く研磨し、ソースパッド27、3
7が形成されている領域を裏面側からドライエッチング
などにより直径50μmの貫通孔を設け、その後、この
貫通孔内を電解めっきにより金(Au)などの良電導性
の金属を充填することにより作製される。その際、同時
に裏面電極19を設けることもできる。裏面電極19は
半導体基板10の裏面全面に設けられており、前段FE
T20と後段FET30に共通である。
効果トランジスタをその平面図である図2(a)および
断面図である図2(b)に基いて説明する。第2の実施
例は、ソース電極24、34およびソースパッド27、
37がビアホール29、39により半導体基板10の裏
面電極19に接続されている点を除いて第1の実施例と
同様であり、同様の部分の説明を省略する。ビアホール
29、39は、表面側の電極が全て形成された後、半導
体基板10の裏面を薄く研磨し、ソースパッド27、3
7が形成されている領域を裏面側からドライエッチング
などにより直径50μmの貫通孔を設け、その後、この
貫通孔内を電解めっきにより金(Au)などの良電導性
の金属を充填することにより作製される。その際、同時
に裏面電極19を設けることもできる。裏面電極19は
半導体基板10の裏面全面に設けられており、前段FE
T20と後段FET30に共通である。
【0023】本実施例2による電界効果トランジスタを
前述の図4に示した増幅回路に用い、前段ゲート端子
2、後段ゲート端子4、前段ドレイン端子3および後段
ドレイン端子5として、ゲートパッド25、35および
ドレインパッド26、36をそれぞれ用いることによ
り、増幅器の小型化、実装の簡便化が可能となるのみで
はなく、ソース電極24、34をビアホール29、39
により裏面電極19に接続することにより、不要なイン
ダクタンス分がソース・接地間に挿入されることがな
く、比較的高い周波数で優れた高周波特性を得ることが
できる。半導体基板10上にソースを接続するためのボ
ンデイングワイヤを配置する必要がないので、配置上の
制限がなく、各電極間の電気的な結合を避けることがで
き、かつ、機械的にも安定な構造となる。
前述の図4に示した増幅回路に用い、前段ゲート端子
2、後段ゲート端子4、前段ドレイン端子3および後段
ドレイン端子5として、ゲートパッド25、35および
ドレインパッド26、36をそれぞれ用いることによ
り、増幅器の小型化、実装の簡便化が可能となるのみで
はなく、ソース電極24、34をビアホール29、39
により裏面電極19に接続することにより、不要なイン
ダクタンス分がソース・接地間に挿入されることがな
く、比較的高い周波数で優れた高周波特性を得ることが
できる。半導体基板10上にソースを接続するためのボ
ンデイングワイヤを配置する必要がないので、配置上の
制限がなく、各電極間の電気的な結合を避けることがで
き、かつ、機械的にも安定な構造となる。
【0024】
【実施例3】本発明の第3の実施例であるGaAs電界
効果トランジスタをその平面図である図3に基いて説明
する。第3の実施例は、前段FET20を構成する各電
極が90度回転して配置されており、溝11が設けられ
ていない点を除いて第1の実施例と同様であり、同様の
部分の説明を省略する。前段FET20のゲート電極指
22は長辺12に平行な方向に、後段FET30のゲー
ト電極指32は長辺12に垂直な方向にそれぞれ延びて
いる。ドレイン電極23、33およびソース電極24、
34は、ゲート電極指22、32をはさむように隣接し
てストリップ状に延びている。前段FET20のゲート
パッド25は、ゲート電極指22と短辺15の間に配置
され、そのドレインパッド26は、ゲート電極指22と
後段FET30のゲート電極指23の間に配置されてい
る。後段FET30のゲートパッド35は、ゲート電極
指32と長辺12の間に配置され、そのドレインパッド
36は、ゲート電極指32と他の長辺13の間に配置さ
れている。
効果トランジスタをその平面図である図3に基いて説明
する。第3の実施例は、前段FET20を構成する各電
極が90度回転して配置されており、溝11が設けられ
ていない点を除いて第1の実施例と同様であり、同様の
部分の説明を省略する。前段FET20のゲート電極指
22は長辺12に平行な方向に、後段FET30のゲー
ト電極指32は長辺12に垂直な方向にそれぞれ延びて
いる。ドレイン電極23、33およびソース電極24、
34は、ゲート電極指22、32をはさむように隣接し
てストリップ状に延びている。前段FET20のゲート
パッド25は、ゲート電極指22と短辺15の間に配置
され、そのドレインパッド26は、ゲート電極指22と
後段FET30のゲート電極指23の間に配置されてい
る。後段FET30のゲートパッド35は、ゲート電極
指32と長辺12の間に配置され、そのドレインパッド
36は、ゲート電極指32と他の長辺13の間に配置さ
れている。
【0025】本実施例3による電界効果トランジスタを
前述の図4に示した増幅回路に用い、前段ゲート端子
2、後段ゲート端子4、前段ドレイン端子3および後段
ドレイン端子5として、ゲートパッド25、35および
ドレインパッド26、36をそれぞれ用いることによ
り、増幅器の小型化、実装の簡便化が可能となるのみで
はなく、ゲート電極指22、32を直交させ、かつ前段
FET20のゲートと後段FET30のドレイン間の距
離を遠ざけることができるので、電気的な結合を低く抑
えることができ、増幅器の動作が安定なものとなる。こ
の場合、実施例1と同様に溝11を設けることにより、
さらに電気的な結合を低くすることもできる。ソース電
極24、34を独立したボンデイングワイヤにより誘電
体基板41上の接地面に接続するが、ビアホール29、
39により裏面電極19に接続することもできる。
前述の図4に示した増幅回路に用い、前段ゲート端子
2、後段ゲート端子4、前段ドレイン端子3および後段
ドレイン端子5として、ゲートパッド25、35および
ドレインパッド26、36をそれぞれ用いることによ
り、増幅器の小型化、実装の簡便化が可能となるのみで
はなく、ゲート電極指22、32を直交させ、かつ前段
FET20のゲートと後段FET30のドレイン間の距
離を遠ざけることができるので、電気的な結合を低く抑
えることができ、増幅器の動作が安定なものとなる。こ
の場合、実施例1と同様に溝11を設けることにより、
さらに電気的な結合を低くすることもできる。ソース電
極24、34を独立したボンデイングワイヤにより誘電
体基板41上の接地面に接続するが、ビアホール29、
39により裏面電極19に接続することもできる。
【0026】なお、以上の実施例では、パッケージに収
められていないGaAs電界効果トランジスタを用いて
説明したが、取扱いを簡便にするためにセラミックスな
どのパッケージに収められていても同様な構成を採用で
きることは明らかである。また、ソース電極、ドレイン
電極、ゲート電極指の長さ、幅、本数、構成材料など
は、多段増幅器を構成するように適宜選択しうる。
められていないGaAs電界効果トランジスタを用いて
説明したが、取扱いを簡便にするためにセラミックスな
どのパッケージに収められていても同様な構成を採用で
きることは明らかである。また、ソース電極、ドレイン
電極、ゲート電極指の長さ、幅、本数、構成材料など
は、多段増幅器を構成するように適宜選択しうる。
【図1】本発明の第1の実施例による溝付きのGaAs
電界効果トランジスタの構造を示す平面図である。
電界効果トランジスタの構造を示す平面図である。
【図2】本発明の第2の実施例によるビアホール接続の
GaAs電界効果トランジスタの構造を示す平面図
(a)および断面図(b)である。
GaAs電界効果トランジスタの構造を示す平面図
(a)および断面図(b)である。
【図3】本発明の第3の実施例によるゲート電極指が直
交するGaAs電界効果トランジスタの構造を示す平面
図である。
交するGaAs電界効果トランジスタの構造を示す平面
図である。
【図4】縦続多段FETを用いた電力増幅回路の構造を
示す平面図である。
示す平面図である。
10 半導体基板 11 溝 12 長辺 13 他の長辺 15 短辺 16 他の短辺 19 裏面電極 20 前段FET 30 後段FET 21,31 能動層領域 22,32 ゲート電極指 23,33 ドレイン電極 24,34 ソース電極 25,35 ゲートパッド 26,36 ドレインパッド 27,37 ソースパッド 28,38 ゲートバス 29,39 ビアホール
フロントページの続き (72)発明者 江島 正憲 埼玉県戸田市新曽南三丁目17番35号 株式 会社ジャパンエナジ−内
Claims (5)
- 【請求項1】 半導体基板の一主面上の複数の領域にそ
れぞれ設けられ、複数のゲート電極指からなるゲート電
極を有し、外部回路により縦続接続される複数の電界効
果トランジスタを含む半導体装置において、前記領域間
の前記一主面上に溝が設けられていることを特徴とする
半導体装置。 - 【請求項2】 半導体基板の一主面上の複数の領域にそ
れぞれ設けられ、複数のゲート電極指からなるゲート電
極を有し、外部回路により縦続接続される複数の電界効
果トランジスタを含む半導体装置において、一の前記電
界効果トランジスタに含まれるゲート電極指と他の前記
電界効果トランジスタに含まれるゲート電極指の延びて
いる方向が直交していることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項3】 前記領域間の前記一主面上に溝が設けら
れていることを特徴とする請求項2記載の半導体装置。 - 【請求項4】 少なくとも2つの前記電界効果トランジ
スタのソース電極が前記半導体基板内部に設けられた導
電部分を介して前記半導体基板の他の主面上の裏面電極
に接続されていることを特徴とする請求項1ないし3記
載の半導体装置。 - 【請求項5】 前記電界効果トランジスタのソース電極
が前記一主面上で相互に接続されておらず、それぞれ独
立した配線により前記外部回路に接続されるように設け
られていることを特徴とする請求項1ないし3記載の半
導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13246594A JPH07321130A (ja) | 1994-05-24 | 1994-05-24 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13246594A JPH07321130A (ja) | 1994-05-24 | 1994-05-24 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07321130A true JPH07321130A (ja) | 1995-12-08 |
Family
ID=15082014
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13246594A Pending JPH07321130A (ja) | 1994-05-24 | 1994-05-24 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07321130A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008228347A (ja) * | 2008-05-26 | 2008-09-25 | Renesas Technology Corp | 高周波電力増幅器モジュール |
| JP2010161348A (ja) * | 2008-12-10 | 2010-07-22 | Toshiba Corp | 高周波半導体装置 |
| US8295057B2 (en) | 1998-07-06 | 2012-10-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor device |
| JP2017228966A (ja) * | 2016-06-23 | 2017-12-28 | 株式会社東芝 | 高周波半導体増幅器 |
-
1994
- 1994-05-24 JP JP13246594A patent/JPH07321130A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8295057B2 (en) | 1998-07-06 | 2012-10-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor device |
| JP2008228347A (ja) * | 2008-05-26 | 2008-09-25 | Renesas Technology Corp | 高周波電力増幅器モジュール |
| JP2010161348A (ja) * | 2008-12-10 | 2010-07-22 | Toshiba Corp | 高周波半導体装置 |
| JP2017228966A (ja) * | 2016-06-23 | 2017-12-28 | 株式会社東芝 | 高周波半導体増幅器 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5760650A (en) | Coplanar waveguide amplifier | |
| EP0015709B1 (en) | Constructional arrangement for semiconductor devices | |
| JPH0514069A (ja) | 高出力電界効果トランジスタ増幅器 | |
| JP2003115732A (ja) | 半導体装置 | |
| JP3004882B2 (ja) | スパイラルインダクタ、マイクロ波増幅回路およびマイクロ波増幅装置 | |
| JP4094904B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JP2755250B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH05335487A (ja) | 伝送回路素子 | |
| JPH07240645A (ja) | マイクロ波集積回路 | |
| JPH0775295B2 (ja) | 高周波トランジスタの整合回路 | |
| JP2737874B2 (ja) | 半導体線路変換装置 | |
| JPH0575314A (ja) | マイクロ波集積回路素子 | |
| JP2001345606A (ja) | Mmic増幅器 | |
| JPH04287507A (ja) | 電界効果トランジスタ増幅器 | |
| JPH0775293B2 (ja) | 高周波トランジスタの整合回路 | |
| JPH04261206A (ja) | 増幅器 | |
| JPH07226489A (ja) | マイクロ波半導体装置 | |
| JP3667136B2 (ja) | 高周波電力増幅器モジュール | |
| JPS5811746B2 (ja) | 超高周波トランジスタ増幅器 | |
| JPH0821803B2 (ja) | 高周波トランジスタの整合回路 | |
| JPH11204728A (ja) | 高周波半導体装置 | |
| JP4153898B2 (ja) | 高周波電力増幅器モジュール | |
| JPS6043021B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH0457124B2 (ja) | ||
| JPH0754889B2 (ja) | Fet多段増幅器 |