JPH0750004A - 磁気ヘッドの製造方法 - Google Patents

磁気ヘッドの製造方法

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JPH0750004A
JPH0750004A JP33625493A JP33625493A JPH0750004A JP H0750004 A JPH0750004 A JP H0750004A JP 33625493 A JP33625493 A JP 33625493A JP 33625493 A JP33625493 A JP 33625493A JP H0750004 A JPH0750004 A JP H0750004A
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JP
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magnetic
thin film
gap
metal
mirror
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JP33625493A
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English (en)
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Tadashi Saito
正 斎藤
Takashi Sugano
丘 菅野
Shinji Takahashi
伸司 高橋
Toshinobu Watanabe
利信 渡辺
Hideto Sagawa
秀人 佐川
Yasuharu Koike
康晴 小池
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Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 酸化物磁性材料よりなる磁気コア基板の一主
面に磁気ギャップのトラック幅を規制するトラック幅規
制溝を形成し、前記トラック幅規制溝が形成された磁気
コア基板上に金属磁性薄膜を被着形成し、磁気コア基板
上の金属磁性薄膜の表面を鏡面加工し、一対の磁気コア
基板を前記鏡面加工した金属磁性薄膜同士が対向するよ
うにギャップ材を介して接合一体化する。なお、上記鏡
面加工を行う際、スラリーとして、油性スラリー、或い
はSiO2 系研磨材と、増粘剤を20容量%以上,50
容量%以下含有するスラリーを用いても良い。 【効果】 磁気ヘッドの磁気ギャップのエッジ部からの
漏洩磁界が小さくなり、サイドイレーズの発生が抑えら
れ、再生特性が良好となり、生産性も大きく向上する。
また、このようなことから上記磁気ヘッドを用いれば高
密度記録化が達成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばビデオテープレ
コーダ等に搭載される高密度記録用磁気ヘッドを製造す
る磁気ヘッドの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ビデオテープレコーダー(VTR)等の
磁気記録再生装置に組み込まれる磁気ヘッドとしては、
例えば単結晶フェライトや多結晶フェライト,単結晶フ
ェライトと多結晶フェライトの接合材等の酸化物磁性材
料によって磁気コア半体を構成したものが一般的であ
る。また、上記磁気記録再生装置においては、高画質化
等を目的として情報信号の短波長記録化が進められてお
り、これに対応したメタルテープや蒸着テープ等の高抗
磁力磁気記録媒体用の磁気ヘッドとして磁気コア半体に
金属磁性体を用いた磁気ヘッドが種々開発されている。
このような磁気ヘッドの代表的なものとしては、フェラ
イト等の酸化物磁性材料よりなる磁気コア基板と金属磁
性体の複合型の磁気ヘッド、いわゆるメタル・イン・ギ
ャップ(Metal in gap)ヘッド(以下、M
IGヘッドと略する。)が挙げられる。
【0003】上記MIGヘッドは、フェライト等の酸化
物磁性材料よりなる磁気コア基板の対向面に金属磁性薄
膜が被着形成された一対の磁気コア半体が、上記金属磁
性薄膜同士を突き合わせるようにして接合一体化された
ものであり、当該金属磁性薄膜の突合わせ面間には磁気
ギャップ(フロントギャップ及びバックギャップ)が形
成されている。この時、磁気コア基板の対向面の磁気ギ
ャップに相当する位置には磁気ギャップと平行なギャッ
プ形成面が形成されており、上記ギャップ形成面の両端
には、磁気ギャップのトラック幅を規制するトラック幅
規制溝が設けられている。従って、磁気コア基板の対向
面にその形状に沿って被着形成される金属磁性薄膜は、
ギャップ形成面上において磁気ギャップと平行となる。
また、上記トラック幅規制溝により一対の磁気コア半体
間に形成される溝部には融着ガラスが充填され、一対の
磁気コア半体は接合一体化されている。
【0004】そして、上記のようなMIGヘッドは、次
に示されるような方法によって製造される。先ず、フェ
ライト等の酸化物磁性材料よりなる一対の磁気コア基板
の一主面に、トラック幅規制溝を形成する。次いで、上
記磁気コア基板のトラック幅規制溝形成面に金属磁性薄
膜をスパッタリング,蒸着等の真空薄膜形成法によって
形成し、一対の磁気コア半体を形成する。そして、上記
一対の磁気コア基板に形成されるトラック幅規制溝同士
の位置合わせを行い、各金属磁性薄膜を対向するように
突き合わせ、融着ガラスを溶融充填して一対の磁気コア
半体の接合を行い、MIGヘッドを完成する。このと
き、金属磁性薄膜の突き合わせ面間には、磁気ギャップ
(フロントギャップ,バックギャップ)が形成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な磁気記録再生装置においては、更なる高密度記録化が
要求されており、これを達成する手段として記録トラッ
クの狭トラック化が検討されている。そこで、上記のよ
うなMIGヘッドにおいても、これに対応すべく、磁気
ギャップの挟トラック化が進められており、例えば磁気
ギャップのトラック幅を15μm以下とし、トラックピ
ッチが12μm以下となるような高密度記録を行ってい
る。
【0006】ところが、上記のようなMIGヘッドにお
いて磁気ギャップの挟トラック化を行うと、特にガード
バンドレス記録を採用した場合において、記録時に隣接
トラックの一部に重ね書きを行ってしまう、いわゆるサ
イドイレーズが発生しやすく、再生特性が低下しやす
い。このような傾向は、上記のように磁気ヘッドの磁気
ギャップのトラック幅を15μm以下とし、トラックピ
ッチが12μm以下となるような高密度記録を行った場
合に特に顕著である。
【0007】上記MIGヘッドを形成する際には、前述
のように、先ず磁気コア基板上にトラック幅規制溝を形
成し、この上に金属磁性薄膜をスパッタリング,蒸着等
の真空薄膜形成法によって形成して磁気コア半体を形成
するが、この際、金属磁性薄膜のエッジ部にはダレが発
生してしまう。この後、上記金属磁性薄膜を対向するよ
うに突き合わせ、一対の磁気コア半体の接合を行い、M
IGヘッドを完成させると、該MIGヘッドにおいて
は、図21に示すように金属磁性薄膜105,106の
エッジ部105a1 ,105a2 及び106a1 ,10
6a2 にダレが生じていることから、その突き合わせ面
105a,106a間に形成される磁気ギャップG1
エッジ部Ge1 ,Ge2 が開いた状態となる。従って、
上記MIGヘッドを用いて記録を行うと、エッジ部Ge
1 ,Ge2 からの漏洩磁界が大きくなり、サイドイレー
ズが発生しやすく、サイドイレーズ幅も増長してしま
う。当然のことながら、高密度記録化のために上記のよ
うな挟トラック化を行った場合においては、サイドイレ
ーズの影響は大きく、その再生特性を大きく低下させる
こととなる。
【0008】そこで、本発明は従来の実情に鑑みて提案
されたものであり、磁気ギャップのエッジ部からの漏洩
磁界が小さく、サイドイレーズの発生が抑えられ、再生
特性が良好で、高密度記録化が達成される磁気ヘッドを
製造することを可能とする磁気ヘッドの製造方法を提供
することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに本発明の磁気ヘッドの製造方法は、酸化物磁性材料
よりなる磁気コア基板の一主面に磁気ギャップのトラッ
ク幅を規制するトラック幅規制溝を形成する工程と、前
記トラック幅規制溝が形成された磁気コア基板上に金属
磁性薄膜を被着形成する工程と、磁気コア基板上の金属
磁性薄膜の表面を鏡面加工する工程と、一対の磁気コア
基板を前記鏡面加工した金属磁性薄膜同士が対向するよ
うにギャップ材を介して接合一体化する工程を有するこ
とを特徴とするものである。
【0010】また、本発明の磁気ヘッドの製造方法にお
いては、磁気コア基板上の金属磁性薄膜の表面を鏡面加
工する際、油性スラリー、或いは、SiO2 系研磨材
と、増粘剤を20容量%以上,50容量%以下含有する
スラリーを用いても良い。
【0011】
【作用】本発明の磁気ヘッドの製造方法においては、磁
気コア基板の一主面にトラック幅規制溝を設け、その上
に金属磁性薄膜を被着形成した後、上記金属磁性薄膜の
表面に鏡面加工を行っていることから、金属磁性薄膜の
形成時に発生するエッジ部のダレが除去され、この後、
このような一対の磁気コア基板を金属磁性薄膜が対向す
るように接合一体化していることから、上記金属磁性薄
膜間に形成される磁気ギャップのエッジ部が明確化さ
れ、エッジ部からの漏洩磁界が小さくなる。
【0012】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。
【0013】実施例1 先ず、本実施例の磁気ヘッドの製造方法によって製造さ
れる磁気ヘッドについて説明する。上記磁気ヘッドは図
1に示すように、フェライト等の酸化物磁性材料よりな
る磁気コア基板3,4の対向面に金属磁性薄膜5,6が
被着形成された一対の磁気コア半体1,2が、上記金属
磁性薄膜5,6を突き合わせるようにして接合一体化さ
れたものであり、当該金属磁性薄膜5,6の突合わせ面
間には記録再生として動作する磁気ギャップg1 (フロ
ントギャップ)と記録再生として動作しない磁気ギャッ
プg2 (バックギャップ)が形成されている。
【0014】このとき、図2に示すように、磁気コア基
板3,4の対向面の磁気ギャップg 1 ,g2 に相当する
位置には磁気ギャップg1 ,g2 と平行なギャップ形成
面3a,4aが形成されており(図2中には磁気ギャッ
プg1 のみを示す。)、その両端には、磁気ギャップg
1 ,g2 のトラック幅を規制するためのトラック幅規制
溝7,8が設けられている。すなわち、磁気コア基板
3,4の対向面にその形状に沿って被着形成される金属
磁性薄膜5,6は、ギャップ形成面3a,4a上におい
て磁気ギャップg1 と平行となる。また、トラック幅規
制溝7,8によって磁気コア基板3,4のギャップ形成
面3a,4aの幅が規制されていることから、金属磁性
薄膜5,6の突き合わせ面の幅も自ずから規制されるこ
ととなる。従って、金属磁性薄膜5,6の突き合わせ面
間に形成される磁気ギャップg1 ,g2 のトラック幅T
wも規制されることとなる。(図2には磁気ギャップg
1 のみを示す。)なお、本実施例においては、トラック
幅Twが15μm以下であるものとする。
【0015】また、磁気ギャップg1 (フロントギャッ
プ)側及び磁気ギャップg2 (バックギャップ)側のト
ラック幅規制溝7,8により形成される溝部には融着ガ
ラス9,10が充填され、磁気コア半体1,2は接合一
体化されている。
【0016】さらに、磁気コア基板3,4にはコイルを
巻回するための巻線溝11,12及びこれらと相対向す
る位置に巻線補助溝13,14が設けられている。そし
て、この磁気ヘッドにおいては、磁気記録媒体に対する
当たりを確保するために磁気記録媒体と摺接する磁気記
録媒体摺動面に段差が設けられている。
【0017】次いで、本実施例の磁気ヘッドの製造方法
について説明する。先ず、図3に示されるように、フェ
ライト等の酸化物磁性材料よりなるブロック16を用意
し、研削盤により面出しを行い、そのギャップ形成面1
6aに磁気コア基板の突き合わせ面の幅、すなわち後工
程において形成される磁気ギャップg1 のトラック幅T
wを規制するためのトラック幅規制溝17を機械加工に
より複数形成する。このとき、トラック幅規制溝17の
形状は、断面略半円形状とし、図2中θで示す上記磁気
ギャップg1 のエッジ部の開き角が90゜以上となるよ
うにする。なお、本実施例においては、エッジ部の開き
角θを120゜とするために、図4に示すように、ブロ
ック16のギャップ形成面16aと垂直な線aと断面略
半円形状のトラック幅規制溝17の開口部近傍の接線b
のなす角が30゜となるように砥石成形を行い、溝入れ
を行ってトラック幅規制溝を設けた。
【0018】上記のようにブロック16としては、フェ
ライト等の酸化物磁性材料が用いられるが、このような
酸化物磁性材料としては、Mn−Zn系フェライト,M
n−Ni系フェライトの単結晶或いは多結晶、或いはこ
れらの接合材等が挙げられる。なお、本実施例において
は、Mn−Zn系フェライトの単結晶を用いた。
【0019】次いで、図5に示すように、コイルを巻装
するための断面略台形形状の巻線溝18、ガラス融着接
合を行うための断面略コ字状をなすガラス溝19をトラ
ック幅規制溝17と直交するように機械加工によって形
成し、ブロック16のギャップ形成面16aをポリッシ
ング等により鏡面に仕上げる。このとき、巻線溝18の
一方の側面18aは、後工程において形成される磁気ギ
ャップg1 (フロントギャップ)深さ(デプス)を規制
することとなるため傾斜面とする。なお、巻線溝18の
他方の側面18bは、傾斜面または垂直面のいずれでも
良い。
【0020】そして、上記ブロック16の所定の位置で
切断し、図6に示すような一対のブロック半体(図中に
は一方のブロック半体20のみを示す。)を形成する。
【0021】次いで、図7に示すようにトラック幅規制
溝17,巻線溝18,ガラス溝19の形成された上記ブ
ロック半体20のギャップ形成面20aに、金属磁性薄
膜21をスパッタリング法,蒸着法等の真空薄膜形成法
により形成する。この際、金属磁性薄膜21とブロック
半体20の付着力を向上させるために、図8に示すよう
に、これらの間に下地膜22を介在させても良い。
【0022】上記金属磁性薄膜21としては、センダス
ト(Fe−Al−Si)及びこれにO,Tiを添加した
結晶質磁性金属膜、Fe−Ru−Ga−Si及びこれに
O,Nを添加した結晶質磁性金属膜、或いはFe系,C
o系の微結晶磁性金属膜が挙げられ、これらの合金膜,
積層膜を用いても良い。また、下地膜22としては、S
iO2 ,Ta25 等の酸化物膜、Si34 等の窒化
物膜、Cr,Al,Pt等の金属膜が挙げられ、これら
の積層膜を用いても良い。なお、本実施例においては、
金属磁性薄膜21としてFe−Ru−Ga−Si膜を形
成し、下地膜22としてCr膜を形成した。
【0023】また、本実施例においては上記金属磁性薄
膜21の上に図示しない反応防止膜を設けても良く、該
反応防止膜によって金属磁性薄膜21と後工程の磁気コ
ア半体ブロックの接合工程において溶融充填される融着
ガラスの反応を防ぐ構造としても良い。上記反応防止膜
としては、SiO2 ,Zr23 ,Ta25 等の酸化
物膜、Si34 等の窒化物膜、Cr,Al,Pt等の
金属膜が挙げられ、これらの積層膜を用いても良い。な
お、本実施例においては、反応防止膜としてCr膜を形
成した。
【0024】ところで、上述のように、単にスパッタリ
ング法等によって形成される金属磁性薄膜21において
は、図8に示すように、エッジ部21a1 ,21a2
図中に示すようなダレが発生しやすい。従って、上記金
属磁性薄膜21に加工を施すことなく、この状態のまま
磁気コア半体ブロックとし、これら磁気コア半体ブロッ
ク同士の接合を行って磁気ヘッドを形成すると、該磁気
ヘッドにおいては、図21に示したように、磁気ギャッ
プG1 のエッジ部Ge1 ,Ge2 からの漏洩磁界が大き
なものとなり、サイドイレーズが大きくなり、その再生
特性が大きく低下することとなり好ましくない。
【0025】また、図8に示すように、単にスパッタリ
ング法等によって形成される金属磁性薄膜21の突き合
わせ面21aの突き合わせ幅W1 は所定のトラック幅T
wと必ずしも一致するものではなく、この状態のまま磁
気コア半体ブロック同士の接合を行うことは、形成され
る磁気ギャップg1 のトラック幅Twの精度の点からも
好ましくない。さらに、上記のようにスパッタリング法
等によって形成される金属磁性薄膜21の表面には異常
突起が形成される、介在物が付着することがあり、この
状態のまま磁気コア半体ブロック同士の接合を行うこと
は、磁気ギャップ部の製造不良を起こし易く、この点か
らも好ましくない。
【0026】そこで、本実施例の磁気ヘッドの製造方法
においては、ギャップ形成面20a上に被着形成された
金属磁性薄膜21の表面(反応防止膜を設けた場合にお
いては、反応防止膜表面も含む)を鏡面加工して磁気コ
ア半体ブロックを得る。すなわち、金属磁性薄膜21表
面の図9中破線で示す部分を鏡面加工し、図中一点鎖線
の位置まで除去することによって、エッジ部21b1
21b2 が鋭角な形状であり、その幅W2 が所定のトラ
ック幅Twと一致する突き合わせ面21bを有する磁気
コア半体ブロックを得る。
【0027】このとき、鏡面加工は、ポリッシング等の
手法により行えば良い。鏡面加工を行う装置としては、
図10に示すような加工装置が挙げられる。上記加工装
置は、回転軸O1 を中心に図中矢印M1 方向に回転する
定盤41と、被加工物42を固定して保持する固定ホル
ダー43と、内部にスラリー44を有し、スラリー44
を噴霧する噴霧装置45により構成される。
【0028】すなわち、上記加工装置においては、被加
工物42の鏡面加工面42aが定盤41の加工面41a
に対向するように被加工物42を固定ホルダー43によ
り保持し、定盤41,被加工物42間に噴霧装置45に
よりスラリー44を噴霧しながら定盤41を回転させる
ことにより、被加工物42の鏡面加工面42aの鏡面加
工を行う。
【0029】なお、上記定盤41としては錫定盤等が挙
げられ、使用されるスラリー44としては、溶媒として
水溶性或いは油性溶剤を用い、これに研磨材を分散させ
たものが挙げられる。上記水溶性溶剤としては、水酸化
ナトリウム水溶液,H2 O,H22 ,KOH,HCl
等が挙げられる。そして、これに酸化防止剤、不揮発
剤、研磨材の分散性を向上させる活性剤,増粘剤等の添
加剤を添加したものがより好ましい。一方、油性溶剤と
しては、基油を石油系(JIS 1種,2種 1〜6
号)とした溶剤等が挙げられる。そして、これに油性
剤、酸化防止剤、研磨材の分散性を向上させる活性剤等
の添加剤を添加したものがより好ましい。さらに、研磨
材としては、ダイヤモンド,SiC,SiO2 系砥粒、
Al23 ,MgO等の粒径1μm以下の微細砥粒が挙
げられる。なお、本実施例においては、定盤41として
錫定盤を使用し、スラリー44として水溶性溶剤にダイ
ヤモンドを分散させたものを使用した。
【0030】さらに、上記のように金属磁性薄膜21上
に反応防止膜を形成する構成とした場合においては、鏡
面加工によってギャップ形成面20a上の反応防止膜は
除去され、金属磁性薄膜21の融着ガラスと接する部分
のみに反応防止膜を残すこととなり、反応防止膜のギャ
ップ長精度に対する影響が無くなる。
【0031】次に、図11に示すように、上記のように
して得られた磁気コア半体ブロック23とこれと同様に
形成される磁気コア半体ブロック24の接合を行う。こ
の際、各磁気コア半体ブロック半体23,24の突き合
わせ面には、所定のギャップ長を形成できるような図示
しないギャップ膜がそれぞれ形成されている。なお、磁
気コア半体ブロック23,24の接合を行うにあたって
は、図11中に示すように、それぞれに形成される金属
磁性薄膜21,28を対向させて突き合わせ面とし、ト
ラック幅規制溝17,25、巻線溝18,26、ガラス
溝19,27の位置合わせを行った上で、巻線溝18,
26、ガラス溝19,27間に融着ガラス29,30を
配し、図中に示すように溶融充填して磁気半体コアブロ
ック23,24を接合する。そして、金属磁性薄膜2
1,28の突き合わせ面間には、磁気ギャップg1 (フ
ロントギャップ)及び図示しない磁気ギャップg2 (バ
ックギャップ)が形成される。
【0032】最後に、磁気コア半体ブロック23,24
の巻線溝18,26に相対向する位置に巻線補助溝を形
成し、これらの磁気記録媒体摺動面に円筒研削を施し、
所定のアジマス角に傾斜させ、当たり幅加工を行い、所
定のチップ厚に切断して図1に示すような磁気ヘッドを
完成する。
【0033】従って、本実施例においては、突き合わせ
面のエッジ部が明確化されている金属磁性膜21,28
を有する磁気コア半体ブロック23,24を接合させる
こととなり、金属磁性薄膜21,28の突き合わせ面間
に形成される磁気ギャップg 1 のエッジ部が明確化され
る。すなわち、本実施例により製造された磁気ヘッドに
おいては、記録時におけるエッジ部からの漏洩磁界を小
さくすることができ、サイドイレーズを防ぎ、再生時に
良好な再生特性を得ることができ、高密度記録化を達成
することができる。また、本実施例においては、金属磁
性薄膜21,28の突き合わせ面が平坦化されることか
ら磁気ギャップ部の製造不良が発生しにくく、生産性が
大きく向上される。さらに、本実施例においては、突き
合わせ面の突き合わせ幅を所定のトラック幅と一致させ
ていることから、磁気ギャップのトラック幅精度を大き
く向上させることができ、生産性を大きく向上させるこ
とができる。
【0034】次に、本実施例によって製造された磁気ヘ
ッドと従来の磁気ヘッドのイレーズ量を比較した。従来
の磁気ヘッドを製造するにあたっては、本実施例の磁気
ヘッドの製造方法に沿った方法で製造を行い、金属磁性
薄膜形成後の鏡面加工を省いた方法で製造を行った。上
記イレーズ量は、次のようにして測定した。すなわち、
磁気記録装置として記録された信号のトラックピッチが
10μmとなるように改造された8mm用ビデオテープ
レコーダ(商品名:Hi8)を用い、磁気記録媒体とし
て(Hi8用)蒸着テープを使用し、上記2種類の磁気
ヘッドによって記録を行った際のイレーズ量をビッター
パターンで測定した。
【0035】その結果、本実施例によって製造された磁
気ヘッドにおいては、図12に示すように、図中Tpで
示されるAチャンネル,Bチャンネルの記録信号のトラ
ックピッチ10μmに対して図中E1 で示される0.5
μm以内のイレーズ量が測定された。一方、従来の磁気
ヘッドにおいては、図13に示すように、図中Tpで示
されるAチャンネル,Bチャンネルの記録信号のトラッ
クピッチ10μmに対して図中E2 で示される約2μm
のイレーズ量が測定された。従って、本実施例によって
製造された磁気ヘッドにおいては、磁気ギャップのエッ
ジ部が明確化されていることから該エッジ部からの記録
時の漏洩磁界が小さく、その結果サイドイレーズが防止
されていることが確認された。すなわち、本実施例によ
って製造された磁気ヘッドにおいては、再生特性が良好
なものとなると思われ、高密度記録化を達成できる。ま
た、上記の磁気ヘッドのように磁気ギャップのトラック
幅Twが15μm以下であるものにおいては、サイドイ
レーズ減少の効果は非常に高い。
【0036】さらに、上記2種類の磁気ヘッドにおい
て、製造歩留りを比較したところ、従来の磁気ヘッドに
比べ、本実施例によって製造される磁気ヘッドの方が、
20%向上していた。これは、前述したように、金属磁
性薄膜表面に形成される異常突起物及び金属磁性薄膜表
面に付着する介在物が鏡面加工によって除去されるこ
と、また金属磁性薄膜の形成によって磁気コア基板に反
りが生じていても、鏡面加工によって磁気コア半体ブロ
ックの突き合わせ面が平坦化されることによって、磁気
ギャップ部に製造不良が発生しにくくなるためであるた
めと考えられる。従って、本実施例の磁気ヘッドの製造
方法においては、生産性が大きく向上されていることが
確認された。
【0037】実施例2 実施例1においては、金属磁性薄膜の表面を鏡面加工す
る際、スラリーとして水溶性溶剤にダイヤモンドを分散
させた水溶性スラリーを用いたが、このようにスラリー
として水溶性のものを使用すると、加工面の表面粗さが
高くなり易く、図14に示すように加工面の金属磁性薄
膜21,28及びこの上に形成されるギャップ膜31,
32のエッジ部21e,28e,31e,32eのバ
リ、金属磁性薄膜のスクラッチが生じ、製造歩留りが低
下する、或いは、加工負荷による金属磁性薄膜の膜剥離
やトラック欠けが生じ、後工程において形成される磁気
ギャップのギャップ長精度の低下が生じるといった不都
合が発生し易い。
【0038】そこで、本実施例の磁気ヘッドの製造方法
は、金属磁性薄膜の表面を鏡面加工する際、油性スラリ
ーを使用することを特徴とする。なお、本実施例におい
ては、マシン油を基油とし、油性剤,酸化防止剤を加え
た油性溶剤を溶媒とし、研磨材として粒径0.25μm
のダイヤモンドを用いた油性スラリーを使用した。本実
施例においては、油性スラリーを使用していることか
ら、加工面の表面粗さが低くなり、加工面の金属磁性薄
膜及びこの上に形成されるギャップ膜のエッジ部のバ
リ、金属磁性薄膜のスクラッチが生じ難く、製造歩留り
が向上され、加工負荷による金属磁性薄膜の膜剥離やト
ラック欠けが生じ難くなり、後工程において形成される
磁気ギャップのギャップ長精度が向上される。
【0039】そこで、上記のような本実施例の効果を確
認すべく、以下のような実験を行った。先ず、図10に
示すような加工装置を使用し、実施例1のように水溶性
スラリーを用いて金属磁性薄膜の鏡面加工を行った場合
と本実施例のように油性スラリーを用いて金属磁性薄膜
の鏡面加工を行った場合の加工面の表面粗さを比較した
ところ、前者においてはJIS B−0601に規定さ
れる最大高さRmax が10nmとなり、後者においては
5nmとなり、油性スラリーを使用すると、表面粗さを
低くすることが可能であることが確認された。また、本
実施例のように、油性スラリーを使用すると、加工面の
金属磁性薄膜にスクラッチやエッジ部のバリが発生しな
いことも確認された。
【0040】次に、実施例1のように水溶性スラリーを
用いた場合と本実施例のように油性スラリーを用いた場
合の金属磁性薄膜の膜剥離及びトラック欠けの発生率に
ついて調査したところ、前者においては、膜剥離が8
%,トラック欠けが10%、後者においては、膜剥離が
0%,トラック欠けが2%であった。従って、本実施例
のように油性スラリーを使用することにより、加工負荷
を低減し、これによる膜剥離やトラック欠けの発生を低
減でき、本実施例によれば、製造歩留りが向上されるこ
とが確認された。
【0041】さらに、本実施例により製造された磁気ヘ
ッド、実施例1により製造された磁気ヘッド、従来の磁
気ヘッドにおける磁気ギャップのギャップ長精度を比較
した。すなわち、それぞれの磁気ヘッドにおいてギャッ
プ長精度が±10nm以上のものを不良品とし、その発
生率を比較した。その結果、本実施例により製造された
磁気ヘッドにおいては1%以下であり、実施例1により
製造された磁気ヘッドにおいては2%以下であり、従来
の磁気ヘッドにおいては10〜12%であった。
【0042】この結果から、本実施例及び実施例1によ
り製造された磁気ヘッドにおいては、金属磁性薄膜表面
に鏡面加工を施しているために、前述のように、金属磁
性薄膜の表面に形成される異常突起物及び付着する介在
物が除去され、ギャップ長精度が向上していることが確
認された。また、本実施例において製造される磁気ヘッ
ドにおいては、上述のように実施例1において製造され
る磁気ヘッドよりも金属磁性薄膜の表面粗さが低く、ス
クラッチも発生していないために更にギャップ長精度が
向上していることが確認された。
【0043】そして、本実施例により製造される磁気ヘ
ッドの特性を確認すべく、実施例1と同様に、本実施例
によって製造された磁気ヘッドのイレーズ量を測定し
た。その結果、本実施例によって製造された磁気ヘッド
においては、図15に示すように、図中Tpで示される
Aチャンネル,Bチャンネルの記録信号のトラックピッ
チ10μmに対して図中E3 で示される0.3μm以内
のイレーズ量が測定された。この結果から、本実施例に
より製造される磁気ヘッドにおいては、実施例1により
製造される磁気ヘッドのように金属磁性薄膜及びギャッ
プ膜のエッジ部にバリが生じておらず、イレーズ量を更
に減少させることが可能であり、再生特性が更に向上さ
れていることが確認された。そして、本実施例により製
造される磁気ヘッドを用いれば、更なる高密度記録化が
達成されるものと思われる。
【0044】実施例3 実施例2においては、金属磁性薄膜の表面を鏡面加工す
る際、油性スラリーを使用したが、このように油性スラ
リーを使用すると、実施例2中に述べたように良好な製
造歩留り,ギャップ長精度,再生特性を得ることが可能
であるものの、加工面の金属磁性薄膜中に若干の変質層
が残留し易く、上記金属磁性薄膜の軟磁特性が劣化する
虞がある。
【0045】そこで、本実施例の磁気ヘッドの製造方法
は、金属磁性薄膜の表面を鏡面加工する際、SiO2
研磨材と、増粘剤を20容量%以上,50容量%以下含
有するスラリーを用いることを特徴とする。なお、上記
SiO2 系研磨材としては、粒径が50nm〜100n
m程度のものが凝集の点から好ましい。本実施例におい
ては、溶媒として化学的な研磨効果を期待できる水酸化
ナトリウム水溶液に増粘剤としてグリセリンを25容量
%添加したものを用い、研磨材として粒径100nm以
下のSiO2 を用いた。
【0046】本実施例においては、上記のようなスラリ
ーを使用していることから、実施例2と同様に加工面の
粗さが低くなり、金属磁性薄膜のスクラッチが生じにく
く、製造歩留りが向上し、加工負荷による金属磁性薄膜
の膜剥離やトラック欠けが生じにくく、後工程において
形成される磁気ギャップのギャップ長精度が向上され
る。また、本実施例においては、加工面の金属磁性薄膜
の変質層が生じにくいため、金属磁性薄膜の軟磁特性が
劣化しにくく、製造される磁気ヘッドの再生特性を更に
向上させることが可能である。
【0047】次に、上記のような本実施例の効果を確認
すべく、以下のような実験を行った。先ず、本実施例に
従って金属磁性薄膜の鏡面加工を行った場合の表面粗さ
を調査したところ、最大高さRmax が5nmであり、実
施例2と同等の結果を得ることができた。すなわち、本
実施例においても、スラリーとして上記のようなものを
使用していることから、実施例2と同様に、表面粗さを
低くすることが可能であることが確認された。また、本
実施例においても、加工面の金属磁性薄膜にスクラッチ
が発生しないことも確認された。
【0048】ただし、本実施例に従って金属磁性薄膜の
鏡面加工を行う際には、実施例1,2とは異なり、いわ
ゆるフロートポリッシュにて鏡面加工を行った。そし
て、これを適用した加工装置としては、図16に示すよ
うなものが挙げられる。上記加工装置は、回転軸O2
中心に図中矢印M2 方向に回転する定盤51と、被加工
物52を固定して保持する固定ホルダー53と、定盤5
1の外周部に設けられて定盤51とともにスラリー54
を充填する容器56を構成する側壁55により構成され
るものである。
【0049】すなわち、上記加工装置においては、被加
工物52の鏡面加工面52aが定盤51の加工面51a
に対向するように被加工物52を固定ホルダー53によ
り保持し、容器56内にスラリー54を充填し、容器5
6内のスラリー54に被加工物52を浸漬させ、被加工
物を浮上させた状態で定盤51を回転させることによ
り、被加工物52の鏡面加工面52aの鏡面加工を行
う。
【0050】さらに、上記のような本実施例に従って鏡
面加工を行った金属磁性薄膜表面と、実施例2中に示し
た実施例1,実施例2に従って鏡面加工を行った金属磁
性膜表面の研磨痕の有無を走査型電子顕微鏡により観察
した。各試料の断面及び表面を図17〜図19に模式的
に示す。すなわち、本実施例によるものを図17に示
し、実施例1によるものを図18に示し、実施例2によ
るものを図19に示す。なお、各図ともに図中円内に表
面の拡大図を示す。これらの結果から、図18に示すよ
うな最大高さRmax の大きい実施例1によるものには研
磨痕も多く、図17,19に示すような最大高さRmax
の小さい本実施例及び実施例2によるものには研磨痕が
少ないことがわかった。さらに、本実施例と実施例2に
よるものを比較したところ、両者の最大高さRmax は同
等であるが、本実施例によるものにおいては研磨痕が見
られなかった。従って、本実施例のように研磨材として
SiO2 を使用すると、研磨痕が発生しにくいことがわ
かった。
【0051】さらにまた、スラリー中の増粘剤の添加量
が鏡面加工を行った金属磁性薄膜表面の研磨痕に及ぼす
影響についても調査した。すなわち、増粘剤であるグリ
セリンの添加量を10容量%から70容量%まで変化さ
せてスラリーを作製し、それぞれを用いて金属磁性薄膜
に鏡面加工を行った場合の金属磁性薄膜表面の単位面積
当たりでの研磨痕の数を調査した。結果を図20に示
す。図20中横軸はグリセリン添加量を示し、縦軸は単
位面積当たりでの研磨痕の数を示す。図20の結果を見
てわかるように、グリセリンの添加量を20容量%〜5
0容量%とした場合に研磨痕の数が著しく減少し、増粘
剤の添加量をこの範囲とすることが好ましいことがわか
った。
【0052】従って、本実施例のように、スラリーとし
て、SiO2 系研磨材と、増粘剤を20容量%以上,5
0容量%以下含有するものを用いれば、実施例2と同様
に最大高さRmax を低くすることが可能である上、鏡面
加工を行った金属磁性薄膜表面の研磨痕の発生を抑える
ことが可能であることが確認された。
【0053】次に、本実施例に従って金属磁性薄膜の鏡
面加工を行った場合の金属磁性薄膜の膜剥離及びトラッ
ク欠けの発生率の調査を行ったところ、膜剥離が0%,
トラック欠けが1%であった。この結果と実施例2で述
べた結果から、本実施例においてもスラリーとして上記
のようなものを使用していることから、実施例2と同様
に、加工負荷が低減され、これによる膜剥離やトラック
欠けの発生が低減され、本実施例によれば、製造歩留り
が向上されることが確認された。
【0054】さらに、本実施例により製造される磁気ヘ
ッドのギャップ長精度を実施例2で述べた方法で調査し
たところ、1%以下であり、実施例2と同様の結果を
得、上述のように、金属磁性薄膜の表面粗さが低く、ス
クラッチも発生していないために良好なギャップ長精度
が達成されることが確認された。
【0055】そして、本実施例により製造される磁気ヘ
ッドの特性を確認すべく、実施例1と同様に、本実施例
によって製造された磁気ヘッドのイレーズ量を測定し
た。その結果、本実施例によって製造された磁気ヘッド
においては、実施例2と同様に0.3μm以内のイレー
ズ量が測定された。従って、本実施例により製造される
磁気ヘッドにおいても、実施例2により製造される磁気
ヘッドのように金属磁性薄膜及びギャップ膜のエッジ部
にバリが生じておらず、イレーズ量を更に減少させるこ
とが可能であり、再生特性が更に向上されていることが
確認された。そして、本実施例により製造される磁気ヘ
ッドを用いれば、更なる高密度記録化が達成されるもの
と思われる。
【0056】さらにまた、本実施例及び実施例1,2に
従って鏡面加工を行った場合の研磨レートについての調
査も行った。その結果、本実施例によるものにおいては
0.1μm/min、実施例1によるものにおいては
0.5μm/min、実施例2によるものにおいては
0.4μm/minという結果が得られ、本実施例によ
れば金属磁性薄膜の膜厚をサブミクロン単位でコントロ
ールすることが可能であることがわかった。
【0057】そして、本実施例により製造される磁気ヘ
ッドと実施例2により製造される磁気ヘッドの電磁変換
特性についても調査した。すなわち、記録に10MHz
のORCを用い、Vr=7.5m/secとし、記録波
形は矩形波を用い、磁気記録媒体として(Hi8用)蒸
着テープを用いた場合の再生出力(15MHz)を測定
した。その結果、本実施例により製造される磁気ヘッド
においては2dB、実施例2により製造される磁気ヘッ
ドにおいては0dBという結果が得られた。従って、本
実施例により製造される磁気ヘッドにおいては、金属磁
性薄膜の表面粗さが低く、研磨痕が極少ないこと、実施
例2により製造した磁気ヘッドのように金属磁性薄膜の
加工面に変質層が生じにくいため、金属磁性薄膜の軟磁
特性が劣化しにくいことから、再生特性が更に向上して
いることが確認された。そして、本実施例により製造さ
れる磁気ヘッドを用いれば、更なる高密度記録化が達成
されるものと思われる。
【0058】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の磁気ヘッドの製造方法においては、酸化物磁性材料
よりなる磁気コア基板の一主面に磁気ギャップのトラッ
ク幅を規制するトラック幅規制溝を設け、その上に金属
磁性薄膜を被着形成した後、金属磁性薄膜の表面に鏡面
加工を行っていることから、金属磁性薄膜の形成時に発
生するエッジ部のダレが除去され、上記一対の磁気コア
基板を金属磁性薄膜が対向するように接合一体化してい
ることから、上記金属磁性薄膜間に形成される磁気ギャ
ップのエッジ部が明確化され、製造される磁気ヘッドの
エッジ部からの漏洩磁界が小さくなる。従って、上記磁
気ヘッドにおいてはサイドイレーズの発生が抑えられ、
再生特性が向上する。また、このことから該磁気ヘッド
を用いれば、高密度記録化を達成することも可能とな
る。さらに、鏡面加工によって金属磁性薄膜表面が平坦
化されることから、磁気ギャップ部の製造不良が発生し
にくく、製造歩留りが向上し、生産性が大きく向上す
る。
【0059】また、本発明の磁気ヘッドの製造方法にお
いては、磁気コア基板上の金属磁性薄膜の表面を鏡面加
工する際、油性スラリー、或いは、SiO2 系研磨材
と、増粘剤を20容量%以上,50容量%以下含有する
スラリーを用いても良く、製造される磁気ヘッドにおい
ては更なる高密度記録化が達成され、ギャップ長精度や
製造歩留りを更に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の磁気ヘッドの製造方法によって製造
される磁気ヘッドを示す斜視図である。
【図2】実施例1の磁気ヘッドの製造方法によって製造
される磁気ヘッドの磁気ギャップ近傍を示す要部拡大平
面図である。
【図3】実施例1の磁気ヘッドの製造方法を工程順に示
すものであり、ブロックにトラック幅規制溝を形成する
工程を示す斜視図である。
【図4】トラック幅規制溝部分を示す要部拡大側面図で
ある。
【図5】ブロックに巻線溝,ガラス溝を形成する工程を
示す斜視図である。
【図6】ブロックを一対のブロック半体に切断する工程
を示す斜視図である。
【図7】ブロック半体に金属磁性薄膜を形成する工程を
示す斜視図である。
【図8】ブロック半体に形成される金属磁性薄膜近傍を
示す要部拡大側面図である。
【図9】金属磁性薄膜に鏡面加工を施す工程を示す要部
拡大側面図である。
【図10】鏡面加工を行う加工装置の一構成例を模式的
に示す要部拡大断面図である。
【図11】一対の磁気コア半体ブロックを接合する工程
を示す斜視図である。
【図12】実施例1により製造される磁気ヘッドによっ
て記録を行った場合の記録パターンを示す模式図であ
る。
【図13】従来の磁気ヘッドによって記録を行った場合
の記録パターンを示す模式図である。
【図14】実施例1により製造される磁気ヘッドの磁気
ギャップ近傍部を示す要部拡大平面図である。
【図15】実施例2により製造される磁気ヘッドによっ
て記録を行った場合の記録パターンを示す模式図であ
る。
【図16】鏡面加工を行う加工装置の他の構成例を模式
的に示す要部拡大断面図である。
【図17】実施例3に従って鏡面加工を行った金属磁性
薄膜の断面及び表面を示す模式図である。
【図18】実施例1に従って鏡面加工を行った金属磁性
薄膜の断面及び表面を示す模式図である。
【図19】実施例2に従って鏡面加工を行った金属磁性
薄膜の断面及び表面を示す模式図である。
【図20】スラリー中のグリセリン添加量と金属磁性薄
膜表面の単位面積当たりでの研磨痕の数の関係を示す図
である。
【図21】従来の磁気ヘッドの磁気ギャップ近傍部を示
す要部拡大平面図である。
【符号の説明】
1,2・・・・磁気コア半体 3,4・・・・磁気コア基板 5,6,21・・・・金属磁性薄膜 7,8,17・・・・トラック幅規制溝 20・・・ブロック半体 21a,21b・・・・突き合わせ面 21a1 ,21a2 ,21b1 ,21b2 ,Ge1 ,G
2 ・・・・エッジ部 g1 ,G1 ・・・・磁気ギャップ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡辺 利信 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 佐川 秀人 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 小池 康晴 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 酸化物磁性材料よりなる磁気コア基板の
    一主面に磁気ギャップのトラック幅を規制するトラック
    幅規制溝を形成する工程と、 前記トラック幅規制溝が形成された磁気コア基板上に金
    属磁性薄膜を被着形成する工程と、 磁気コア基板上の金属磁性薄膜の表面を鏡面加工する工
    程と、 一対の磁気コア基板を前記鏡面加工した金属磁性薄膜同
    士が対向するようにギャップ材を介して接合一体化する
    工程を有することを特徴とする磁気ヘッドの製造方法。
  2. 【請求項2】 磁気コア基板上の金属磁性薄膜の表面を
    鏡面加工する際、油性スラリーを用いることを特徴とす
    る請求項1記載の磁気ヘッドの製造方法。
  3. 【請求項3】 磁気コア基板上の金属磁性薄膜の表面を
    鏡面加工する際、SiO2 系研磨材と、増粘剤を20容
    量%以上,50容量%以下含有するスラリーを用いるこ
    とを特徴とする請求項1記載の磁気ヘッドの製造方法。
JP33625493A 1993-05-31 1993-12-28 磁気ヘッドの製造方法 Pending JPH0750004A (ja)

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JP5-152864 1993-05-31
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