JPH09181129A - Ｔａｂテープのｉｃチップ検出回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＴＡＢテープ１に形成される極挟幅のＩＣチ
ップ１Ａを検出する回路を提供する。 【解決手段】 光検出器２・３はＴＡＢテープ１に形成
されたＩＣチップ１Ａを含む遮光体の有無を検出する。
カウンタ２Ａ・３Ａは、光検出器２・３の検出信号を受
信し、ＴＡＢテープ１が１ピッチ走行する間の前記遮光
体の個数を計数する。メモリ４Ａは入力手段５０により
前記遮光体の規定個数が書き込みされる。比較手段２Ｂ
・３Ｂは、メモリ５Ａの規定個数値を読み込み、前記規
定個数値とカウンタ２Ａ・３Ａの計数値とを照合するこ
とによりＩＣチップ１Ａの有無を判別できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ＴＡＢテープの
ＩＣチップ検出回路についてのものである。前記検出回
路は、例えば、ＴＡＢハンドラに使用される。この発明
によるＩＣチップ検出回路は、ＴＡＢテープに形成され
るＩＣチップの有無を正確に検出する。

【０００２】

【従来の技術】ＴＡＢハンドラは、リールに巻かれたＴ
ＡＢテープを測定部まで自動的に逐次搬送する。前記測
定部では、ＴＡＢの電気的特性をＩＣテスタにより測定
する。ＩＣテスタの測定結果をＴＡＢハンドラは受信
し、ＴＡＢを選別する。

【０００３】次に、従来技術によるＴＡＢハンドラの構
成を図３により説明する。図３の１はＴＡＢテープ、２
と３は光検出器、４はプッシャ、５Ａと５Ｂはスプロケ
ット、６はパンチユニット、７はカメラ、８は画像処理
ユニット、９は制御ユニット、１０はＴＡＢハンドラ、
１２は供給リール、１３は収容リールである。

【０００４】図３では、供給リール１２はＴＡＢテープ
１を装着する。収容リール１３は電気試験または分類識
別されたＴＡＢテープ１を巻きとる。プッシャ４はＴＡ
Ｂテープ１を押下することによりＴＡＢをプローバ（図
示せず）に接触導通させる。前記プローバは図示しない
ＩＣテスタに接続される。

【０００５】スプロケット５Ａとスプロケット５Ｂは同
期して回転することにより、ＴＡＢテープ１を１ピッチ
分移送する。パンチユニット６は、電気試験の結果によ
りＴＡＢテープ１のＴＡＢに識別穴をあける。または、
ＩＣチップを打ち抜く。カメラ７はＴＡＢの画像を撮像
する。画像処理ユニット８は、カメラ７の画像データを
受信して画像処理し、測定時のＴＡＢを位置制御する。

【０００６】光検出器２は測定部の前段に配置され、光
検出器３はパンチユニット６の後段に配置される。光検
出器２は、ＴＡＢテープ１のＩＣチップの有無を検出
し、前記対象ＴＡＢの測定の可否を判断する。光検出器
３は、ＴＡＢテープ１のＩＣチップの有無を検出し、前
記対象ＴＡＢのパンチユニット６での打ち抜き結果を検
証する。

【０００７】次に、光検出器２と光検出器３の作用を説
明する。ＴＡＢの検査工程は様々であるが、ＴＡＢハン
ドラで選別したＴＡＢテープを再選別する場合がある。
光検出器２は前述の工程のためのものであり、光検出器
２でＩＣチップが無いと判断されたＴＡＢ（すなわち、
初回選別でＩＣチップが打ち抜かれたＴＡＢ）は、測定
部を通過して、収容リール１３に卷き取られる。

【０００８】ＩＣテスタでの試験結果とパンチユニット
６の動作が一致しているかを、光検出器３は検証する。
ＩＣテスタで不良と判定されてＴＡＢは、通常は、パン
チユニット６でＩＣチップが打ち抜かれる。光検出器３
が前記不良ＴＡＢのＩＣチップを検出したときは、ＴＡ
Ｂハンドラは警報を発生し、停止する。同様に、光検出
器３が良品ＴＡＢのＩＣチップを検出しないときは、Ｔ
ＡＢハンドラは警報を発生し、停止する。

【０００９】図４は光検出器２の構成図である。検出体
２０はコの字状に形成され、検出体２０の先端部の下部
には投光器２１が取り付けられ、検出体２０の先端部の
上部には受光器２２が取り付けられる。

【００１０】図４では、検出体２０に形成された溝にＴ
ＡＢテープ１が走行し、ＩＣチップを検出する。検出体
２０は移動体２３に保持され、ＴＡＢテープ１の走行方
向に対して横切る形で前後進することにより検出位置を
調整する。移動体２３は検出体２０をＴＡＢテープ１の
走行方向と平行に移動する。

【００１１】なお、光検出器３の構成は光検出器２と同
じであるので、以下、特に必要が無い場合を除き、その
説明を省略する。光検出器２・３は図４で示される構成
であり、図３のＴＡＢハンドラ１０はＴＡＢテープ１の
幅が異なる場合も対応できる。ＴＡＢテープ１の幅が変
わると、ＴＡＢ試験装置の稼動に先立ち、光検出器２・
３のＩＣチップの検出位置が調整される。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】図５は光検出器２の上
面図である。図５に示されるように、透明体のフィルム
であるＴＡＢテープ１に繰り返し形成された遮光体であ
るＩＣチップ１Ａが光検出器２の検出光を遮光すること
により、ＩＣチップ１Ａの存在を確認している。なお、
ＴＡＢハンドラ１０はＴＡＢテープ１を１ピッチづつ走
行させる。

【００１３】図５におけるＩＣチップ１Ａの幅Ｗが１mm
以下のものも、近年では出現している。前述の挟幅のＩ
ＣチップをもつＴＡＢテープは、図４における光検出器
の位置調整が困難になる。また、図４の検出手段では、
例えば、ＴＡＢテープの振動でＩＣチップ１Ａの存在を
誤認識する。ＩＣチップのより正確な検出手段が求めら
れている。

【００１４】この発明は、光検出器の検出点下にＴＡＢ
の区切りが位置するようＴＡＢテープを制御し、ＴＡＢ
テープが１ＴＡＢ分走行する間の遮光体の通過個数を前
記光検出器で計数し、前記通過個数値と規定個数値と比
較照合し、ＩＣチップの有無をすることにより、光検出
器の調整を容易にし、ＴＡＢテープの揺れに影響され
ず、多種類のＴＡＢに対応できるＴＡＢテープのＩＣチ
ップ検出回路の提供を目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】この目的を解決するため
に、この発明は、ＴＡＢテープに形成されたＩＣチップ
を含む遮光体の有無を検出する光検出器と、前記光検出
器の検出信号を受信し、前記ＴＡＢテープが１ピッチ走
行する間の前記遮光体の通過個数を計数するカウンタ
と、入力手段により前記遮光体の規定個数が書き込みさ
れるメモリとを備え、比較手段は前記メモリの規定個数
値を読み込み、前記規定個数値と前記カウンタの計数値
とを照合することによりＩＣチップの有無を判別する。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の一実施の形態を図１の構成図により説明する。なお、
図１において、図３および図４で重複する符号は同一の
ものであるので、説明を省略する。

【００１７】図１において、２４と３４は受光回路、２
Ａと３Ａはカウンタ、２Ｂと３Ｂは比較手段、４Ａはメ
モリであり、４０はＩＣチップ検出回路、５０は入力手
段である。ＩＣチップ検出回路４０はカウンタ２Ａ・２
Ｂと、比較手段２Ｂ・３Ｂと、メモリ４Ａで構成され
る。なお、ＩＣチップ検出回路４０内の構成品は図示さ
れないＣＰＵの指令により動作する。また、前記ＣＰＵ
はシーケンシャルプログラムに基づき指令する。

【００１８】図１では、受光器２２・３２の出力はそれ
ぞれ、受光回路２４・３４に入力される。受光回路２４
・３４は前記出力を増幅後、反転出力に変換し、ＴＡＢ
テープ１の遮光出力をデジタル値に変換し、それぞれカ
ウンタ２Ａ・３Ａに出力する。

【００１９】カウンタ２Ａ・３ＡはＴＡＢテープ１が１
ピッチ（１ＴＡＢ分）走行する間の遮光体の通過個数を
計数し、前記計数値を比較手段２Ｂ・３Ｂに送出する。
なお、ＴＡＢテープ１が１ピッチ走行後はカウンタ２Ａ
・３Ａの計数値はリセット信号Ｒによりクリアされる。

【００２０】入力手段５０は、例えば、装置のパネルに
設けられたテンキーであり、予め前記遮光体の規定個数
がテンキーで入力され、その規定個数値がメモリ４Ａに
書き込まれる。

【００２１】比較手段２Ｂ・３Ｂはメモリ４Ａの規定個
数値を読み込み、前記規定個数値とカウンタ２Ａ・２Ｂ
のそれぞれの計数値とを照合することによりＩＣチップ
１Ａの有無を判別する。

【００２２】次に、この発明の作用を図２により説明す
る。図２アは、挟幅のＩＣチップ１Ａが形成されるＴＡ
Ｂテープの平面図である。図２イは光検出器２・３によ
る反転出力波形図である。

【００２３】図２アに示されるように、ＩＣチップ１Ａ
の前後には矩形の面パターン１Ｂが形成されている。面
パターン１Ｂの前後にはレジスト１Ｃが形成されてい
る。ＩＣチップ１Ａ、面パターン１Ｂ、レジスト１Ｃは
遮光体となる。また、図２アにおいて、デバイスＡはＩ
Ｃチップ１Ａが打ち抜かれており、デバイスＢはＩＣチ
ップ１Ａが存続している。

【００２４】図２アのＴＡＢテープ１をＡ点から１デバ
イス分走行させると、光検出器２・３による検出波形は
図２イのようになる。光検出器２・３が遮光体を検出し
たときは、検出出力は反転出力として「ハイ」になり、
カウンタ２Ａ・２Ｂに通過数として計数する。

【００２５】デバイスＡは遮光体の通過計数値が「４」
であり、デバイスＢは遮光体の通過計数値が「５」であ
る。予め、メモリ４Ａに格納された規定個数値「５」を
比較手段２Ｂ・３Ｂで読み取り、照合し、規定個数値が
通過計数値と一致すれば、ＩＣチップ１Ａが存在し、規
定個数値が通過計数値と一致しなければ、ＩＣチップ１
Ａが無いことが識別できる。

【００２６】

【発明の効果】この発明によれば、ＴＡＢテープを搬送
するＴＡＢ搬送機構において、ＴＡＢテープの揺れに影
響されること無く、挟幅のＩＣチップの有無を正確に判
別できる。さらに、光検出器の調整が容易になる。ま
た、ＴＡＢテープの種類が変更されても、設定入力を変
更することにより、容易に対応することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施の形態によるＩＣチップ検出
回路の構成図である。

【図２】図１の作用説明図である。

【図３】従来技術によるＴＡＢハンドラの構成図であ
る。

【図４】図３の光検出器２の構成図である。

【図５】光検出器２の上面図である。

【符号の説明】

１ ＴＡＢテープ １Ａ ＩＣチップ ２ 光検出器 ２Ａ カウンタ ２Ｂ 比較手段 ３ 光検出器 ３Ａ カウンタ ３Ｂ 比較手段 ４Ａ メモリ ４０ ＩＣチップ検出回路 ５０ 入力手段

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＴＡＢテープに形成されたＩＣチップを
   含む遮光体の有無を検出する光検出器と、 前記光検出器の検出信号を受信し、前記ＴＡＢテープが
   １ピッチ走行する間の前記遮光体の個数を計数するカウ
   ンタと、 入力手段により前記遮光体の規定個数が書き込みされる
   メモリとを備え、 比較手段は前記メモリの規定個数値を読み込み、前記規
   定個数値と前記カウンタの計数値とを照合することによ
   りＩＣチップの有無を判別することを特徴とするＴＡＢ
   テープのＩＣチップ検出回路。