JPH09225409A - 揺動選別装置の穀粒検出装置 - Google Patents
揺動選別装置の穀粒検出装置Info
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- JPH09225409A JPH09225409A JP3363596A JP3363596A JPH09225409A JP H09225409 A JPH09225409 A JP H09225409A JP 3363596 A JP3363596 A JP 3363596A JP 3363596 A JP3363596 A JP 3363596A JP H09225409 A JPH09225409 A JP H09225409A
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Landscapes
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Combined Means For Separation Of Solids (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】籾・玄米判別センサでの籾検出を正確にする。
【解決手段】揺動選別板2の籾・玄米の境界位置を籾・
玄米判別センサ6で検出し、この境界検出に関連して玄
米仕切板4を調節制御する装置において、前記揺動選別
板2の排出側2b側を横方向に往復移動しながら、水分
吸収波長光及び参照波長光を板面に分布している穀粒に
照射する。すると、その2波長のピ−ク検出電圧値を穀
粒検出情報とし、前記ピ−ク検出電圧値のピ−ク電圧値
検出位置を取り出して、選別板の検出情報か籾・玄米の
穀粒検出情報かを判別する。そして、前記穀粒検出情報
から選別板検出情報を除外して、籾・玄米の比率を算出
する。 【効果】選別板検出デ−タを除外して正確な籾・玄米の
判別をすることができると共に、デ−タ処理を簡素化で
きて、処理能力の向上を図ることができる。
玄米判別センサ6で検出し、この境界検出に関連して玄
米仕切板4を調節制御する装置において、前記揺動選別
板2の排出側2b側を横方向に往復移動しながら、水分
吸収波長光及び参照波長光を板面に分布している穀粒に
照射する。すると、その2波長のピ−ク検出電圧値を穀
粒検出情報とし、前記ピ−ク検出電圧値のピ−ク電圧値
検出位置を取り出して、選別板の検出情報か籾・玄米の
穀粒検出情報かを判別する。そして、前記穀粒検出情報
から選別板検出情報を除外して、籾・玄米の比率を算出
する。 【効果】選別板検出デ−タを除外して正確な籾・玄米の
判別をすることができると共に、デ−タ処理を簡素化で
きて、処理能力の向上を図ることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、揺動選別装置の
穀粒検出装置に関するものである。
穀粒検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】揺動選別板の縦方向の高位の供給側から
低位の排出側へ向けて混合米を流動しながら横方向に斜
上下の往復揺動をして、横方向高位の揺上側に玄米を,
低位の揺下側に籾を、これらの中間部に未選別の混合米
をそれぞれ偏流分布しながら選別する揺動選別装置にお
いて、揺動選別板の板面に流動している選別穀粒の籾・
玄米分布境界位置を籾・玄米判別センサで検出する装置
は公知である。
低位の排出側へ向けて混合米を流動しながら横方向に斜
上下の往復揺動をして、横方向高位の揺上側に玄米を,
低位の揺下側に籾を、これらの中間部に未選別の混合米
をそれぞれ偏流分布しながら選別する揺動選別装置にお
いて、揺動選別板の板面に流動している選別穀粒の籾・
玄米分布境界位置を籾・玄米判別センサで検出する装置
は公知である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の籾・玄米判別セ
ンサを改良して、穀粒検出と選別板面検出との誤検出を
防止して正確に籾・玄米の別を検出すると共に、その検
出処理を簡素化しようとするものである。
ンサを改良して、穀粒検出と選別板面検出との誤検出を
防止して正確に籾・玄米の別を検出すると共に、その検
出処理を簡素化しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明は、このような
従来技術のもつ問題点を解決するために、次の技術的手
段を講じた。即ち、この発明は、揺動選別板2の縦方向
の高位の供給側2aから低位の排出側2bへ向けて混合
米を流動しながら横方向に斜上下の往復揺動をして、横
方向の高位の揺上側2cに玄米を,低位の揺下側2dに
籾を、これらの中間部に未選別の混合米をそれぞれ偏流
分布しながら選別する揺動選別装置1と、前記揺動選別
板2の排出側2bに配置されている玄米仕切板4と、前
記揺動選別板2の排出側2b側を横方向に往復移動しな
がら水分吸収波長光及び参照波長光を照射して板面に分
布している穀粒の籾・玄米の別を検出する籾・玄米判別
センサ6と、前記籾・玄米判別センサ6の2波長のピ−
ク電圧を検出するピ−ク検出回路と、前記籾・玄米判別
センサ6の2波長の検出電圧のピ−ク位置検出,単波長
のピ−ク検出及び選別板基準値から選別板面の検出デ−
タか穀粒の検出デ−タかを判定する選別板・穀粒判定手
段と、前記ピ−ク検出回路の検出デ−タから前記選別板
・穀粒判定手段の選別板検出情報を除外して籾・玄米比
率を算出する籾・玄米比率算出手段と、からなる揺動選
別装置の穀粒検出装置の構成としたものである。
従来技術のもつ問題点を解決するために、次の技術的手
段を講じた。即ち、この発明は、揺動選別板2の縦方向
の高位の供給側2aから低位の排出側2bへ向けて混合
米を流動しながら横方向に斜上下の往復揺動をして、横
方向の高位の揺上側2cに玄米を,低位の揺下側2dに
籾を、これらの中間部に未選別の混合米をそれぞれ偏流
分布しながら選別する揺動選別装置1と、前記揺動選別
板2の排出側2bに配置されている玄米仕切板4と、前
記揺動選別板2の排出側2b側を横方向に往復移動しな
がら水分吸収波長光及び参照波長光を照射して板面に分
布している穀粒の籾・玄米の別を検出する籾・玄米判別
センサ6と、前記籾・玄米判別センサ6の2波長のピ−
ク電圧を検出するピ−ク検出回路と、前記籾・玄米判別
センサ6の2波長の検出電圧のピ−ク位置検出,単波長
のピ−ク検出及び選別板基準値から選別板面の検出デ−
タか穀粒の検出デ−タかを判定する選別板・穀粒判定手
段と、前記ピ−ク検出回路の検出デ−タから前記選別板
・穀粒判定手段の選別板検出情報を除外して籾・玄米比
率を算出する籾・玄米比率算出手段と、からなる揺動選
別装置の穀粒検出装置の構成としたものである。
【0005】
【作用】揺動選別板2に籾・玄米の混合米を供給し、縦
方向高位の供給側2aから低位の排出側2bへ向けて流
動させながら、横方向に斜上下の往復揺動をすると、揺
動選別板2の揺上側2cには玄米が偏流分布し、揺下側
2dには籾が偏流分布し、これらの中間部には未選別の
混合米が偏流分布しながら選別される。このような揺動
選別板2の板面上の選別穀粒に、籾・玄米判別センサ6
から水分吸収波長光及び参照波長光を照射し、その反射
光量が受光部で受光され、電圧値に変換される。
方向高位の供給側2aから低位の排出側2bへ向けて流
動させながら、横方向に斜上下の往復揺動をすると、揺
動選別板2の揺上側2cには玄米が偏流分布し、揺下側
2dには籾が偏流分布し、これらの中間部には未選別の
混合米が偏流分布しながら選別される。このような揺動
選別板2の板面上の選別穀粒に、籾・玄米判別センサ6
から水分吸収波長光及び参照波長光を照射し、その反射
光量が受光部で受光され、電圧値に変換される。
【0006】2波長の検出電圧値からピ−クホ−ルド回
路6dで2波長のピ−ク電圧値が測定されて、制御部1
2に入力され、また、2波長の検出電圧値のピ−ク位置
がピ−ク位置検出回路6eで検出される。例えば、受光
部(参照波長光)6c(または、水分吸収波長の単一波
長光)からの単波長の検出電圧値,選別板基準設定器6
hからの選別板基準値を比較して、選別板検出か穀粒検
出かの別が判定される。しかして、前記2波長のピ−ク
電圧値の検出デ−タから、選別板検出情報に対応するピ
−ク電圧値が除外されて、籾・玄米の比率が算出され
る。
路6dで2波長のピ−ク電圧値が測定されて、制御部1
2に入力され、また、2波長の検出電圧値のピ−ク位置
がピ−ク位置検出回路6eで検出される。例えば、受光
部(参照波長光)6c(または、水分吸収波長の単一波
長光)からの単波長の検出電圧値,選別板基準設定器6
hからの選別板基準値を比較して、選別板検出か穀粒検
出かの別が判定される。しかして、前記2波長のピ−ク
電圧値の検出デ−タから、選別板検出情報に対応するピ
−ク電圧値が除外されて、籾・玄米の比率が算出され
る。
【0007】
【発明の効果】この発明は、前記のように、籾・玄米判
別センサ6の2波長の検出電圧値のなかから、ピ−ク電
圧値及びピ−ク電圧値検出位置を取り出して、選別板の
検出情報か籾・玄米の穀粒検出情報かの判別処理のタイ
ミングとしているため、選別板検出デ−タを籾検出デ−
タと誤検出するのを防止して、正確な籾・玄米の判別を
することができると共に、デ−タ処理を簡素化できて、
処理能力の向上を図ることができる。
別センサ6の2波長の検出電圧値のなかから、ピ−ク電
圧値及びピ−ク電圧値検出位置を取り出して、選別板の
検出情報か籾・玄米の穀粒検出情報かの判別処理のタイ
ミングとしているため、選別板検出デ−タを籾検出デ−
タと誤検出するのを防止して、正確な籾・玄米の判別を
することができると共に、デ−タ処理を簡素化できて、
処理能力の向上を図ることができる。
【0008】
【実施例】以下、図面に示すこの発明の実施例について
説明する。図1に示すように、揺動選別装置1の揺動選
別板2は、縦方向一側の供給側2aを高位に、縦方向他
側の排出側2bを低位になるように傾斜し、また、横方
向一側の高位側を揺上側2cとし、横方向他側の低位側
を揺下側2dとし、揺動装置(図示省略)で横方向に斜
上下の往復揺動をし、供給ホッパ3から揺動選別板2に
混合米が供給される構成である。そして、揺動選別板2
の排出側2bに対向して、選別済み穀粒を仕切る玄米仕
切板4及び籾仕切板5を配置している。
説明する。図1に示すように、揺動選別装置1の揺動選
別板2は、縦方向一側の供給側2aを高位に、縦方向他
側の排出側2bを低位になるように傾斜し、また、横方
向一側の高位側を揺上側2cとし、横方向他側の低位側
を揺下側2dとし、揺動装置(図示省略)で横方向に斜
上下の往復揺動をし、供給ホッパ3から揺動選別板2に
混合米が供給される構成である。そして、揺動選別板2
の排出側2bに対向して、選別済み穀粒を仕切る玄米仕
切板4及び籾仕切板5を配置している。
【0009】しかして、揺動選別板2に供給された混合
米は、縦方向の供給側2aから排出側2bに向けて流動
する間に、横方向の斜上下の往復揺動を受けて、小形で
比重の重い玄米は、揺上側2cに偏流分布し、大形で比
重の軽い籾は、揺下側2dに偏流分布し、これらの中間
部には未選別の混合米が偏流分布しつつ選別され、玄米
仕切板4及び籾仕切板5で仕切られて取り出される。
米は、縦方向の供給側2aから排出側2bに向けて流動
する間に、横方向の斜上下の往復揺動を受けて、小形で
比重の重い玄米は、揺上側2cに偏流分布し、大形で比
重の軽い籾は、揺下側2dに偏流分布し、これらの中間
部には未選別の混合米が偏流分布しつつ選別され、玄米
仕切板4及び籾仕切板5で仕切られて取り出される。
【0010】揺動選別板2の排出側2bの上方位置に対
向して、籾・玄米の分布境界位置を検出する籾・玄米判
別センサ6が配置されていて、この籾・玄米判別センサ
6のセンサ支持部は、ネジ棒で構成されているセンサ移
動手段8により、揺上側2cから揺下側2dにかけて往
復動自在に支持されていて、センサ調節モ−タ9の正転
あるいは逆転により、往復移動できる構成である。
向して、籾・玄米の分布境界位置を検出する籾・玄米判
別センサ6が配置されていて、この籾・玄米判別センサ
6のセンサ支持部は、ネジ棒で構成されているセンサ移
動手段8により、揺上側2cから揺下側2dにかけて往
復動自在に支持されていて、センサ調節モ−タ9の正転
あるいは逆転により、往復移動できる構成である。
【0011】なお、この籾・玄米判別センサ6は、揺動
選別板2から流下する穀粒を検出する構成としてもよ
い。前記玄米仕切板4は、ネジ棒で構成されている仕切
板移動手段10に移動自在に支持されていて、仕切板調
節モ−タ11の正逆転により、揺動選別板2の最揺上側
2c位置から揺下側2dの籾仕切板5に接近する位置ま
で、往復動できる構成である。
選別板2から流下する穀粒を検出する構成としてもよ
い。前記玄米仕切板4は、ネジ棒で構成されている仕切
板移動手段10に移動自在に支持されていて、仕切板調
節モ−タ11の正逆転により、揺動選別板2の最揺上側
2c位置から揺下側2dの籾仕切板5に接近する位置ま
で、往復動できる構成である。
【0012】前記籾・玄米判別センサ6は、この実施例
では次のように構成されている。発光部から水分により
吸収される波長域を含む近赤外光を穀粒に照射し、穀粒
からの反射光を光学フィルタ部で受光し、前記水分によ
り吸収される波長域のみが光学フィルタ部を通過して、
赤外線検出素子部である受光部に送られ、赤外線検出素
子部で前記波長域の近赤外光の多少に応じて大小の電圧
に変換されて、CPU内臓の制御部12の判別部に送ら
れ、所定の判別しきい値で籾・玄米に判別される構成で
ある。なお、検出波長域は前記赤外光に限られるもので
はなく、水分により吸収される波長光及び参照波長光の
透過光量あるいは反射光量の大小により、籾・玄米の判
別をする構成でもよい。
では次のように構成されている。発光部から水分により
吸収される波長域を含む近赤外光を穀粒に照射し、穀粒
からの反射光を光学フィルタ部で受光し、前記水分によ
り吸収される波長域のみが光学フィルタ部を通過して、
赤外線検出素子部である受光部に送られ、赤外線検出素
子部で前記波長域の近赤外光の多少に応じて大小の電圧
に変換されて、CPU内臓の制御部12の判別部に送ら
れ、所定の判別しきい値で籾・玄米に判別される構成で
ある。なお、検出波長域は前記赤外光に限られるもので
はなく、水分により吸収される波長光及び参照波長光の
透過光量あるいは反射光量の大小により、籾・玄米の判
別をする構成でもよい。
【0013】CPU内臓の制御部12には、入力インタ
−フエイス(図示省略)を経由して、次のようにセンサ
群及びスイッチ群が接続されている。即ち、籾・玄米判
別センサ6,籾・玄米判別センサ6の移動位置を検出す
るセンサ位置センサ13,玄米仕切板4の移動位置を検
出する仕切板位置センサ14、籾・玄米判別センサ6の
最揺下側2d位置への移動を検出するセンサ原点位置ス
イッチ(揺下側)15a,籾・玄米判別センサ6の最揺
上側2c位置への移動を検出するセンサ原点位置スイッ
チ(揺上側)15b,玄米仕切板4の最揺上側2c位置
への移動を検出する仕切板原点位置スイッチ(揺上側)
16a,玄米仕切板4の最揺下側2d位置への移動を検
出する仕切板原点位置スイッチ(揺下側)16bが、夫
れ夫れ制御部12に接続されている。また、制御部12
には出力インタ−フエイス(図示省略)を介して、セン
サ調節モ−タ9,仕切板調節モ−タ11が接続されてい
る。
−フエイス(図示省略)を経由して、次のようにセンサ
群及びスイッチ群が接続されている。即ち、籾・玄米判
別センサ6,籾・玄米判別センサ6の移動位置を検出す
るセンサ位置センサ13,玄米仕切板4の移動位置を検
出する仕切板位置センサ14、籾・玄米判別センサ6の
最揺下側2d位置への移動を検出するセンサ原点位置ス
イッチ(揺下側)15a,籾・玄米判別センサ6の最揺
上側2c位置への移動を検出するセンサ原点位置スイッ
チ(揺上側)15b,玄米仕切板4の最揺上側2c位置
への移動を検出する仕切板原点位置スイッチ(揺上側)
16a,玄米仕切板4の最揺下側2d位置への移動を検
出する仕切板原点位置スイッチ(揺下側)16bが、夫
れ夫れ制御部12に接続されている。また、制御部12
には出力インタ−フエイス(図示省略)を介して、セン
サ調節モ−タ9,仕切板調節モ−タ11が接続されてい
る。
【0014】次に、制御部12の制御内容について説明
する。 まず、籾・玄米判別センサ6の光量調節制御が行なわ
れ、玄米が所定の検出電圧値になるように調節される。
する。 まず、籾・玄米判別センサ6の光量調節制御が行なわ
れ、玄米が所定の検出電圧値になるように調節される。
【0015】即ち、まず、籾・玄米判別センサ6を最揺
上2c側へ移動し、センサ原点位置スイッチ(揺上側)
15bがONし、最揺上側2cへの移動が終了する。次
いで、籾・玄米判別センサ6は最揺上側2cから順次揺
下側2dへ移動しつつ、籾・玄米判別センサ6の検出電
圧値Vが制御部12に読み込まれ、最揺上側2cの玄米
の検出電圧値が所定値になるよう光量調節が行われる。
上2c側へ移動し、センサ原点位置スイッチ(揺上側)
15bがONし、最揺上側2cへの移動が終了する。次
いで、籾・玄米判別センサ6は最揺上側2cから順次揺
下側2dへ移動しつつ、籾・玄米判別センサ6の検出電
圧値Vが制御部12に読み込まれ、最揺上側2cの玄米
の検出電圧値が所定値になるよう光量調節が行われる。
【0016】次いで、籾・玄米判別センサ6の境界位
置検出制御に移行する。籾・玄米判別センサ6の検出電
圧値から、所定時間内において所定粒数の籾電圧値を検
出したか否が測定され、測定デ−タが制御基準値と比較
されて、籾検出電圧値の粒数が多い(あるいは少ない)
ときには、籾・玄米判別センサ6を所定距離揺上側2c
(あるいは揺下側2d)へ移動しつつ検出作業を継続
し、籾検出電圧値の粒数が制御基準値の範囲内になつた
位置を、籾・玄米の分布境界位置とする。次いで、この
籾・玄米の分布境界検出位置に基づき、玄米仕切板4の
移動位置が演算されて、移動指令が出され、玄米仕切板
4は移動する。
置検出制御に移行する。籾・玄米判別センサ6の検出電
圧値から、所定時間内において所定粒数の籾電圧値を検
出したか否が測定され、測定デ−タが制御基準値と比較
されて、籾検出電圧値の粒数が多い(あるいは少ない)
ときには、籾・玄米判別センサ6を所定距離揺上側2c
(あるいは揺下側2d)へ移動しつつ検出作業を継続
し、籾検出電圧値の粒数が制御基準値の範囲内になつた
位置を、籾・玄米の分布境界位置とする。次いで、この
籾・玄米の分布境界検出位置に基づき、玄米仕切板4の
移動位置が演算されて、移動指令が出され、玄米仕切板
4は移動する。
【0017】次に、図3〜図5に基づき、籾・玄米判別
センサ6の水分測定に関連する籾摺ロ−ルの間隙制御に
ついて説明する。この実施例は、前記の実施例の他に、
揺動選別板2における揺下側2dで且つ排出側2bの部
位には、被選別穀粒が揺下側2dまで分布しているか否
かを検出できる揺下側穀粒分布センサ20を設け、この
揺下側穀粒分布センサ20を入力インタ−フエイスを経
由して制御部12に接続している。
センサ6の水分測定に関連する籾摺ロ−ルの間隙制御に
ついて説明する。この実施例は、前記の実施例の他に、
揺動選別板2における揺下側2dで且つ排出側2bの部
位には、被選別穀粒が揺下側2dまで分布しているか否
かを検出できる揺下側穀粒分布センサ20を設け、この
揺下側穀粒分布センサ20を入力インタ−フエイスを経
由して制御部12に接続している。
【0018】また、揺動選別装置1の近傍には、籾摺部
21を並設している。この籾摺部21は、一対の籾摺ロ
−ル21a,21b、一対の籾摺ロ−ル21a,21b
のロ−ル間隙を調節するロ−ル間隙調節手段21c、籾
ホッパ21d、籾供給調節弁21e、ロ−ル間隙調節モ
−タ22等で構成されている。また、籾摺部21で籾摺
された摺落米は、搬送装置(図示省略)を経て揺動選別
装置1に供給される。摺落米は搬送過程でサンプリング
されて脱ぷ率センサ23に供給される構成である。そし
て、脱ぷ率センサ23及びオペレ−タが制御基準値とな
る脱ぷ率を設定する脱ぷ率設定手段24が、入力インタ
−フエイスを経由して制御部12に接続されており、制
御部12からの指令信号がロ−ル間隙調節モ−タ22に
出力される構成である。
21を並設している。この籾摺部21は、一対の籾摺ロ
−ル21a,21b、一対の籾摺ロ−ル21a,21b
のロ−ル間隙を調節するロ−ル間隙調節手段21c、籾
ホッパ21d、籾供給調節弁21e、ロ−ル間隙調節モ
−タ22等で構成されている。また、籾摺部21で籾摺
された摺落米は、搬送装置(図示省略)を経て揺動選別
装置1に供給される。摺落米は搬送過程でサンプリング
されて脱ぷ率センサ23に供給される構成である。そし
て、脱ぷ率センサ23及びオペレ−タが制御基準値とな
る脱ぷ率を設定する脱ぷ率設定手段24が、入力インタ
−フエイスを経由して制御部12に接続されており、制
御部12からの指令信号がロ−ル間隙調節モ−タ22に
出力される構成である。
【0019】脱ぷ率センサ23にサンプル粒が供給され
ると、籾・玄米の別が検出され、その検出デ−タが制御
部12に送られて、脱ぷ率が算出される。次いで、脱ぷ
率設定手段24で設定された設定脱ぷ率と算出脱ぷ率と
が比較されて、算出脱ぷ率が高い(あるいは低い)とき
には、籾摺ロ−ル21a,21bのロ−ル間隙を開調節
(あるいは閉調節)し、算出脱ぷ率が設定脱ぷ率の範囲
内のときには、ロ−ル間隙をそのままに保持する自動制
御がなされる。
ると、籾・玄米の別が検出され、その検出デ−タが制御
部12に送られて、脱ぷ率が算出される。次いで、脱ぷ
率設定手段24で設定された設定脱ぷ率と算出脱ぷ率と
が比較されて、算出脱ぷ率が高い(あるいは低い)とき
には、籾摺ロ−ル21a,21bのロ−ル間隙を開調節
(あるいは閉調節)し、算出脱ぷ率が設定脱ぷ率の範囲
内のときには、ロ−ル間隙をそのままに保持する自動制
御がなされる。
【0020】次に、水分測定に関連する籾摺ロ−ルの間
隙制御について、図5のフロ−に基づき説明する。本制
御がスタ−トすると、揺下側穀粒分布センサ20により
揺下側に穀粒が分布しているか否かが検出され、穀粒の
分布が検出されると、揺動選別板2の全幅に穀粒が分布
している状態と判定する。次いで、籾・玄米判別センサ
6を揺上側2cへ移動し、揺上側2cの玄米分布流域に
発光部から水分吸収波長光を照射し、受光部に反射光量
が受光されて電圧値に変換され、検出電圧値が制御部1
2に入力され、検出電圧値の大小により、穀粒水分値の
高低を測定する。次いで、測定水分値に基づき、所定の
計算式(例えば、y=b−ax、y:上限脱ぷ率、a:
設定脱ぷ率、b:係数、x:測定水分値)により、当該
水分値に対する上限脱ぷ率(Du)が算出されて記憶さ
れる。
隙制御について、図5のフロ−に基づき説明する。本制
御がスタ−トすると、揺下側穀粒分布センサ20により
揺下側に穀粒が分布しているか否かが検出され、穀粒の
分布が検出されると、揺動選別板2の全幅に穀粒が分布
している状態と判定する。次いで、籾・玄米判別センサ
6を揺上側2cへ移動し、揺上側2cの玄米分布流域に
発光部から水分吸収波長光を照射し、受光部に反射光量
が受光されて電圧値に変換され、検出電圧値が制御部1
2に入力され、検出電圧値の大小により、穀粒水分値の
高低を測定する。次いで、測定水分値に基づき、所定の
計算式(例えば、y=b−ax、y:上限脱ぷ率、a:
設定脱ぷ率、b:係数、x:測定水分値)により、当該
水分値に対する上限脱ぷ率(Du)が算出されて記憶さ
れる。
【0021】次いで、脱ぷ率設定手段24によりオペレ
−タの調節設定した設定脱ぷ率(Dr)が検出され、次
いで、脱ぷ率センサ23の検出結果から測定脱ぷ率(D
d)が測定される。次いで、前記上限脱ぷ率(Du)と
測定脱ぷ率(Dd)とが比較され、両者が等しい場合に
は、次の行程に移行して、設定脱ぷ率(Dr)と測定脱
ぷ率(Dd)とが比較され、等しい場合には、初めの行
程に復帰する。
−タの調節設定した設定脱ぷ率(Dr)が検出され、次
いで、脱ぷ率センサ23の検出結果から測定脱ぷ率(D
d)が測定される。次いで、前記上限脱ぷ率(Du)と
測定脱ぷ率(Dd)とが比較され、両者が等しい場合に
は、次の行程に移行して、設定脱ぷ率(Dr)と測定脱
ぷ率(Dd)とが比較され、等しい場合には、初めの行
程に復帰する。
【0022】また、上限脱ぷ率(Du)と測定脱ぷ率
(Dd)とが比較されて、等しくない場合において、上
限脱ぷ率(Du)が測定脱ぷ率より低いときには、ロ−
ル間隙開指令が出されて、ロ−ル間隙が開調節される。
また、上限脱ぷ率(Du)が測定脱ぷ率より高いときに
は、次の行程に移行して、設定脱ぷ率(Dr)と測定脱
ぷ率(Dd)とが比較されて、設定脱ぷ率(Dr)が測
定脱ぷ率(Dd)に等しくなく、且つ、設定脱ぷ率(D
r)が測定脱ぷ率(Dd)より高いときには、ロ−ル間
隙の閉調節指令が出されて、ロ−ル間隙が閉調節され、
また、等しくなく、且つ、設定脱ぷ率(Dr)が測定脱
ぷ率(Dd)より低いときには、ロ−ル間隙の開調節指
令が出されて、ロ−ル間隙が開調節される。
(Dd)とが比較されて、等しくない場合において、上
限脱ぷ率(Du)が測定脱ぷ率より低いときには、ロ−
ル間隙開指令が出されて、ロ−ル間隙が開調節される。
また、上限脱ぷ率(Du)が測定脱ぷ率より高いときに
は、次の行程に移行して、設定脱ぷ率(Dr)と測定脱
ぷ率(Dd)とが比較されて、設定脱ぷ率(Dr)が測
定脱ぷ率(Dd)に等しくなく、且つ、設定脱ぷ率(D
r)が測定脱ぷ率(Dd)より高いときには、ロ−ル間
隙の閉調節指令が出されて、ロ−ル間隙が閉調節され、
また、等しくなく、且つ、設定脱ぷ率(Dr)が測定脱
ぷ率(Dd)より低いときには、ロ−ル間隙の開調節指
令が出されて、ロ−ル間隙が開調節される。
【0023】前記のように、玄米の水分を測定して、当
該含水率の穀粒を籾摺しても、籾摺ロ−ルでの肌摺れの
生じない上限脱ぷ率を設定し、それ以上の脱ぷ率となる
ことを防止しているので、玄米の品質低下を防止しなが
ら、高能率で籾摺作業を行うことができる。
該含水率の穀粒を籾摺しても、籾摺ロ−ルでの肌摺れの
生じない上限脱ぷ率を設定し、それ以上の脱ぷ率となる
ことを防止しているので、玄米の品質低下を防止しなが
ら、高能率で籾摺作業を行うことができる。
【0024】次に、図6及び図7に示す籾・玄米判別セ
ンサ6の実施例について説明する。揺動選別板2で水分
の高い混合米を選別すると、穀粒層の間から選別板面が
露出する。籾・玄米判別センサ6から水分吸収波長光及
び参照波長光を照射し穀粒を検出すると、板面露出部分
を籾と誤って検出し、正確に籾・玄米の判別ができない
ことがある。また、板面の露出面積は、0.03〜4m
m2と大きく変化するため、測定面積の平均反射光量か
ら籾を検出するセンサにあっては、微小な板面露出部分
については、籾か板面かの判定が不可能となるのが実状
である。そこでこの籾・玄米判別センサ6は、このよう
な問題点を解消しようとするものである。
ンサ6の実施例について説明する。揺動選別板2で水分
の高い混合米を選別すると、穀粒層の間から選別板面が
露出する。籾・玄米判別センサ6から水分吸収波長光及
び参照波長光を照射し穀粒を検出すると、板面露出部分
を籾と誤って検出し、正確に籾・玄米の判別ができない
ことがある。また、板面の露出面積は、0.03〜4m
m2と大きく変化するため、測定面積の平均反射光量か
ら籾を検出するセンサにあっては、微小な板面露出部分
については、籾か板面かの判定が不可能となるのが実状
である。そこでこの籾・玄米判別センサ6は、このよう
な問題点を解消しようとするものである。
【0025】図6に示すように、籾・玄米判別センサ6
の発光部6aから穀粒に水分吸収波長光及び参照波長光
を照射すると、水分吸収波長光の反射光量はフィルタを
経由して、受光部(水分吸収波長光)6bに受光され、
参照波長光の反射光量はフィルタで反射して受光部(参
照波長光)6cに受光される。そして、2波長の検出電
圧値は2波長演算回路6iに入力されて2波長比が演算
されて、演算デ−タはピ−クホ−ルド回路6dを経由し
て制御部12に入力されて記憶される。また、2波長の
演算デ−タは、ピ−ク位置検出回路6eを経由してアン
ド回路6fに入力される。
の発光部6aから穀粒に水分吸収波長光及び参照波長光
を照射すると、水分吸収波長光の反射光量はフィルタを
経由して、受光部(水分吸収波長光)6bに受光され、
参照波長光の反射光量はフィルタで反射して受光部(参
照波長光)6cに受光される。そして、2波長の検出電
圧値は2波長演算回路6iに入力されて2波長比が演算
されて、演算デ−タはピ−クホ−ルド回路6dを経由し
て制御部12に入力されて記憶される。また、2波長の
演算デ−タは、ピ−ク位置検出回路6eを経由してアン
ド回路6fに入力される。
【0026】受光部(参照波長光)6cで受光された参
照波長光の単波長の検出電圧値は、比較器6gに入力さ
れて、選別板基準設定器6hからの選別板基準値と比較
処理されて、検出電圧値が選別板基準値に達する選別板
の検出であり場合には、前記アンド回路6fに入力さ
れ、前記ピ−ク位置検出回路6eからの出力とでH出力
となり、制御部12に選別板検出情報が入力される構成
である。なお、前記の単短波長の処理に際しては、水分
吸収波長光を選択してもよい。
照波長光の単波長の検出電圧値は、比較器6gに入力さ
れて、選別板基準設定器6hからの選別板基準値と比較
処理されて、検出電圧値が選別板基準値に達する選別板
の検出であり場合には、前記アンド回路6fに入力さ
れ、前記ピ−ク位置検出回路6eからの出力とでH出力
となり、制御部12に選別板検出情報が入力される構成
である。なお、前記の単短波長の処理に際しては、水分
吸収波長光を選択してもよい。
【0027】次に、検出電圧値の処理内容を図7のタイ
ムチャ−トに基づき説明する。2波長比の演算デ−タが
ピ−クホ−ルド回路6dに入力されると、図7(1)に
示すように、2波長のピ−ク電圧値が測定され、制御部
12に入力される。また、ピ−ク位置検出回路6eに入
力された2波長比の演算デ−タにより、ピ−ク位置が検
出されて、図7(2)に示すように波形の整形がされて
アンド回路6fに入力される。
ムチャ−トに基づき説明する。2波長比の演算デ−タが
ピ−クホ−ルド回路6dに入力されると、図7(1)に
示すように、2波長のピ−ク電圧値が測定され、制御部
12に入力される。また、ピ−ク位置検出回路6eに入
力された2波長比の演算デ−タにより、ピ−ク位置が検
出されて、図7(2)に示すように波形の整形がされて
アンド回路6fに入力される。
【0028】また、受光部(参照波長光)6cからの単
波長の検出電圧値は、比較器6gに入力されて、選別板
基準設定器6hからの選別板基準値と比較されて、図7
(3)に示すように、検出電圧値と選別板基準値とが比
較されて、選別板の検出値であるか穀粒の検出値である
かの判定がなされて、アンド回路6fに入力される。次
いで、アンド回路6fで双方の信号が処理されて、選別
板検出電圧値のときにはH出力となって、選別板検出情
報が制御部12に割込み入力され、ピ−クホ−ルド回路
6dからの検出電圧値を選別板検出情報と判定して、検
出デ−タから除外される。しかして、選別板検出情報の
割込み入力のないときは、穀粒検出情報と判定して、ピ
−クホ−ルド回路6dからの検出電圧値は所定の籾・玄
米判別しきい値と比較されて、籾・玄米の別が判定さ
れ、所定粒数になると、籾・玄米の比率が算出される。
波長の検出電圧値は、比較器6gに入力されて、選別板
基準設定器6hからの選別板基準値と比較されて、図7
(3)に示すように、検出電圧値と選別板基準値とが比
較されて、選別板の検出値であるか穀粒の検出値である
かの判定がなされて、アンド回路6fに入力される。次
いで、アンド回路6fで双方の信号が処理されて、選別
板検出電圧値のときにはH出力となって、選別板検出情
報が制御部12に割込み入力され、ピ−クホ−ルド回路
6dからの検出電圧値を選別板検出情報と判定して、検
出デ−タから除外される。しかして、選別板検出情報の
割込み入力のないときは、穀粒検出情報と判定して、ピ
−クホ−ルド回路6dからの検出電圧値は所定の籾・玄
米判別しきい値と比較されて、籾・玄米の別が判定さ
れ、所定粒数になると、籾・玄米の比率が算出される。
【0029】前記のように、籾・玄米判別センサ6の検
出電圧値のなかから、ピ−ク検出位置に基づく検出情報
を取り出して、選別板基準値と比較し、選別板基準値に
達している場合には、穀粒検出デ−タから除外するの
で、選別板検出デ−タを籾検出デ−タと誤検出するのを
防止し、正確な籾・玄米の判別をすることができる。
出電圧値のなかから、ピ−ク検出位置に基づく検出情報
を取り出して、選別板基準値と比較し、選別板基準値に
達している場合には、穀粒検出デ−タから除外するの
で、選別板検出デ−タを籾検出デ−タと誤検出するのを
防止し、正確な籾・玄米の判別をすることができる。
【0030】次に、図8及び図9の実施例について説明
する。図8について説明すると、図6の実施例の構成
に、単波長の参照波長光の検出回路を増幅回路6iを経
由して、比較器6eに入力する構成とし、また、単波長
の参照波長光の検出電圧値をセンサ汚れ検出回路6jを
経て制御部12に入力し、所定の汚れ基準値と比較し
て、検出電圧値が低いときには、汚れ報知手段25から
汚れ警報を出力する構成である。
する。図8について説明すると、図6の実施例の構成
に、単波長の参照波長光の検出回路を増幅回路6iを経
由して、比較器6eに入力する構成とし、また、単波長
の参照波長光の検出電圧値をセンサ汚れ検出回路6jを
経て制御部12に入力し、所定の汚れ基準値と比較し
て、検出電圧値が低いときには、汚れ報知手段25から
汚れ警報を出力する構成である。
【0031】次に、図9のフロ−に基づいて、制御内容
を説明する。制御がスタ−トすると、アンド回路6fか
らの割込み入力が発生したか否かの判断なされ、割込み
入力があると、籾・玄米の判別しきい値の計算制御か否
かの判定がなされる。そして、籾・玄米のしきい値の計
算制御である場合には、ピ−クホ−ルド回路6dからの
入力が開始され、前記実施例と同様に、増幅回路6i,
比較器6g,選別板基準設定器6hにおける選別板検出
か穀粒検出かの判定がなされつつ、デ−タが取り込まれ
る。しかして、籾・玄米の穀粒数が所定粒数に達したか
否かの判定がなされ、所定粒数に達すると、所定の計算
式により籾・玄米を仕切るしきい値が算出される。
を説明する。制御がスタ−トすると、アンド回路6fか
らの割込み入力が発生したか否かの判断なされ、割込み
入力があると、籾・玄米の判別しきい値の計算制御か否
かの判定がなされる。そして、籾・玄米のしきい値の計
算制御である場合には、ピ−クホ−ルド回路6dからの
入力が開始され、前記実施例と同様に、増幅回路6i,
比較器6g,選別板基準設定器6hにおける選別板検出
か穀粒検出かの判定がなされつつ、デ−タが取り込まれ
る。しかして、籾・玄米の穀粒数が所定粒数に達したか
否かの判定がなされ、所定粒数に達すると、所定の計算
式により籾・玄米を仕切るしきい値が算出される。
【0032】また、しきい値の計算制御でない場合に
は、前記実施例と同様に、玄米仕切板4の仕切り位置制
御に移行し、ピ−クホ−ルド回路6dからのデ−タ入力
が開始され、籾・玄米の判別がなされ、検出電圧値が前
記計算されたしきい値以上のときには籾と判定し、籾検
出デ−タが記憶される。次いで、単波長の参照波長光の
検出電圧値が、センサ汚れ検出回路6jを経て制御部1
2に入力され、所定の汚れ基準値と比較されて、検出電
圧値が低いときには、籾・玄米判別センサ6の検出面に
汚れが発生していると判定し、汚れ報知手段25から汚
れ警報を出力し、オペレ−タに知らせる。なお、水分吸
収波長光で汚れを検出してもよい。
は、前記実施例と同様に、玄米仕切板4の仕切り位置制
御に移行し、ピ−クホ−ルド回路6dからのデ−タ入力
が開始され、籾・玄米の判別がなされ、検出電圧値が前
記計算されたしきい値以上のときには籾と判定し、籾検
出デ−タが記憶される。次いで、単波長の参照波長光の
検出電圧値が、センサ汚れ検出回路6jを経て制御部1
2に入力され、所定の汚れ基準値と比較されて、検出電
圧値が低いときには、籾・玄米判別センサ6の検出面に
汚れが発生していると判定し、汚れ報知手段25から汚
れ警報を出力し、オペレ−タに知らせる。なお、水分吸
収波長光で汚れを検出してもよい。
【0033】前記のように構成したので、籾・玄米判別
センサ6の一つのの検出信号のピ−ク位置検出に基づ
き、選別板の検出情報か籾・玄米の穀粒検出情報かの判
別、籾・玄米判別センサ6の汚れの有無を判定する情報
処理のタイミングとしているため、デ−タ処理を簡素化
できて、処理能力の向上を図ることができる。次に、図
10〜12図に基づき、クロロフィルで吸収される波長
域の電磁波を籾米に照射し、籾米表面のクロロフィルに
より吸収(あるいは反射)された光量を受光して電圧値
に変換し、所定のしきい値で仕切ることにより、整粒の
籾米と未熟米の籾米とを判別するセンサ、及び、このセ
ンサを利用した籾摺選別機等の制御について説明する。
センサ6の一つのの検出信号のピ−ク位置検出に基づ
き、選別板の検出情報か籾・玄米の穀粒検出情報かの判
別、籾・玄米判別センサ6の汚れの有無を判定する情報
処理のタイミングとしているため、デ−タ処理を簡素化
できて、処理能力の向上を図ることができる。次に、図
10〜12図に基づき、クロロフィルで吸収される波長
域の電磁波を籾米に照射し、籾米表面のクロロフィルに
より吸収(あるいは反射)された光量を受光して電圧値
に変換し、所定のしきい値で仕切ることにより、整粒の
籾米と未熟米の籾米とを判別するセンサ、及び、このセ
ンサを利用した籾摺選別機等の制御について説明する。
【0034】未熟米判別センサ26は、発光部からクロ
ロフィルにより吸収される波長域の電磁波を籾米に照射
し、籾米表面のクロロフィルで吸収された反射光量(あ
るいは透過光量)を受光部で受光し、受光した光量を電
圧値に変換して、所定のしきい値で仕切ることにより、
整粒の籾米と未熟米の籾米とを判別するものである。図
面は省略したが、籾摺部の一対の籾摺ロ−ルで籾摺され
た摺落米は、摺落米風選部で風選されて、籾殻・塵埃類
は機外へ排出除去され、風選後の摺落米が揺動選別装置
に搬送されて、揺動選別板で籾・玄米に選別される。
ロフィルにより吸収される波長域の電磁波を籾米に照射
し、籾米表面のクロロフィルで吸収された反射光量(あ
るいは透過光量)を受光部で受光し、受光した光量を電
圧値に変換して、所定のしきい値で仕切ることにより、
整粒の籾米と未熟米の籾米とを判別するものである。図
面は省略したが、籾摺部の一対の籾摺ロ−ルで籾摺され
た摺落米は、摺落米風選部で風選されて、籾殻・塵埃類
は機外へ排出除去され、風選後の摺落米が揺動選別装置
に搬送されて、揺動選別板で籾・玄米に選別される。
【0035】籾摺ロ−ルの上方の籾ホッパには、未熟米
判別センサ26が設けられていて、籾摺ロ−ルへ供給さ
れる籾が未熟米籾か整粒籾かの別が検出される。即ち、
未熟米判別センサ26の発光部からクロロフィルにより
吸収される波長域の電磁波が籾に照射されると、その反
射量が受光部に受光されて電圧値に変換されて、一粒検
出回路26aを経由して、制御部12に検出粒数が入力
されると共に、ピ−クホ−ルド回路26bを経て検出ピ
−ク値が制御部12に入力され、検出粒数が所定粒数に
達すると、籾の未熟米比率が算出される。
判別センサ26が設けられていて、籾摺ロ−ルへ供給さ
れる籾が未熟米籾か整粒籾かの別が検出される。即ち、
未熟米判別センサ26の発光部からクロロフィルにより
吸収される波長域の電磁波が籾に照射されると、その反
射量が受光部に受光されて電圧値に変換されて、一粒検
出回路26aを経由して、制御部12に検出粒数が入力
されると共に、ピ−クホ−ルド回路26bを経て検出ピ
−ク値が制御部12に入力され、検出粒数が所定粒数に
達すると、籾の未熟米比率が算出される。
【0036】また、前記摺落米風選部には風力調節モ−
タで調節することのできる選別風調節手段(例えば、風
力調節弁)が設けられていて、制御部12からバッファ
を介して、風力調節用リレ−(正転)27,風力調節用
リレ−(逆転)28に指令信号が出力されて、風力調節
モ−タが調節制御される構成である。次に、摺落米風選
部の選別風制御について、図12のフロ−に基づき説明
する。本制御がスタ−トすると、未熟米判別センサ26
が検出を開始し、ピ−クホ−ルド回路26bからの一粒
の割込み検出信号の入力があったか否かが判定され、検
出信号ありの場合には、ピ−クホ−ルド回路26bのデ
−タ入力が開始され、入力されたデ−タの未熟米籾か整
粒籾かの判定がなされ、未熟米籾である場合には、未熟
米カウンタが加算され、また、未熟米籾でない場合に
は、完熟米カウンタが加算される。
タで調節することのできる選別風調節手段(例えば、風
力調節弁)が設けられていて、制御部12からバッファ
を介して、風力調節用リレ−(正転)27,風力調節用
リレ−(逆転)28に指令信号が出力されて、風力調節
モ−タが調節制御される構成である。次に、摺落米風選
部の選別風制御について、図12のフロ−に基づき説明
する。本制御がスタ−トすると、未熟米判別センサ26
が検出を開始し、ピ−クホ−ルド回路26bからの一粒
の割込み検出信号の入力があったか否かが判定され、検
出信号ありの場合には、ピ−クホ−ルド回路26bのデ
−タ入力が開始され、入力されたデ−タの未熟米籾か整
粒籾かの判定がなされ、未熟米籾である場合には、未熟
米カウンタが加算され、また、未熟米籾でない場合に
は、完熟米カウンタが加算される。
【0037】次いで、未熟米カウンタの加算数NMと完
熟米カウンタの加算数NGが加算されて、規定の粒数に
達したか否かの判定がなされ、規定粒数に達すると、未
熟米比率が計算される。しかして、例えば、図11
(2)に示すように、未熟米比率の多少と選別風量との
関連した制御基準線が設定されていて、この制御基準線
と算出未熟米比率とが比較されて、算出未熟米比率が高
い場合には、選別風量を多くし、また、算出未熟米比率
が低い場合には、選別風量を少なくする風量制御がなさ
れ、摺落米風選部の風選時に未熟米が風量に応じて除去
される。
熟米カウンタの加算数NGが加算されて、規定の粒数に
達したか否かの判定がなされ、規定粒数に達すると、未
熟米比率が計算される。しかして、例えば、図11
(2)に示すように、未熟米比率の多少と選別風量との
関連した制御基準線が設定されていて、この制御基準線
と算出未熟米比率とが比較されて、算出未熟米比率が高
い場合には、選別風量を多くし、また、算出未熟米比率
が低い場合には、選別風量を少なくする風量制御がなさ
れ、摺落米風選部の風選時に未熟米が風量に応じて除去
される。
【0038】未熟米籾の比率が多いと、籾摺ロ−ルでの
籾摺作業時に、ロ−ル間隙を狭くしないと脱ぷ率が上が
らず、そのためにロ−ル間隙を狭くし脱ぷ率を上げる
と、籾摺ロ−ル駆動用モ−タの負荷電流値が増加し、ブ
レ−カが落ちたり、また、未熟米が多いと、揺動選別板
での選別能率が低下して混合米分布領域の分布幅が広く
なり穀粒が循環を繰返し、玄米の肌摺れが生じる等の問
題が生じていた。
籾摺作業時に、ロ−ル間隙を狭くしないと脱ぷ率が上が
らず、そのためにロ−ル間隙を狭くし脱ぷ率を上げる
と、籾摺ロ−ル駆動用モ−タの負荷電流値が増加し、ブ
レ−カが落ちたり、また、未熟米が多いと、揺動選別板
での選別能率が低下して混合米分布領域の分布幅が広く
なり穀粒が循環を繰返し、玄米の肌摺れが生じる等の問
題が生じていた。
【0039】しかし、前記のように、未熟米を風選除去
し玄米に対する未熟米比率を少ない比率にすることがで
きるので、籾摺作業能率の向上及び籾摺ロ−ルの間隙制
御を安定させることができる。
し玄米に対する未熟米比率を少ない比率にすることがで
きるので、籾摺作業能率の向上及び籾摺ロ−ルの間隙制
御を安定させることができる。
【図1】斜視図及び正面図
【図2】ブロック図
【図3】正面図,切断側面図
【図4】ブロック図
【図5】フロ−チャ−ト
【図6】ブロック図
【図7】タイムチャ−ト
【図8】ブロック図
【図9】フロ−チャ−ト
【図10】ブロック図
【図11】グラフ
【図12】フロ−チャ−ト
1…揺動選別装置,2…揺動選別板,2a…供給側,2
b…排出側,2c…揺上側,2d…揺下側,3…供給ホ
ッパ,4…玄米仕切板,5…籾仕切板,6…籾・玄米判
別センサ,8…センサ移動手段,9…センサ調節モ−
タ,10…仕切板移動手段,11…仕切板調節モ−タ,
12…制御部,13…センサ位置センサ,14…仕切板
位置センサ,15a…センサ原点位置スイッチ(揺下
側),15b…センサ原点位置スイッチ(揺上側),1
6a…仕切板原点位置スイッチ(揺上側),16b…仕
切板原点位置スイッチ(揺下側),20…揺下側穀粒分
布センサ,21…籾摺部,22…ロ−ル間隙調節モ−
タ,23…脱ぷ率センサ,24…脱ぷ率設定手段,25
…汚れ報知手段,26…未熟米判別センサ,27…風力
調節用リレ−,28…風力調節用リレ−
b…排出側,2c…揺上側,2d…揺下側,3…供給ホ
ッパ,4…玄米仕切板,5…籾仕切板,6…籾・玄米判
別センサ,8…センサ移動手段,9…センサ調節モ−
タ,10…仕切板移動手段,11…仕切板調節モ−タ,
12…制御部,13…センサ位置センサ,14…仕切板
位置センサ,15a…センサ原点位置スイッチ(揺下
側),15b…センサ原点位置スイッチ(揺上側),1
6a…仕切板原点位置スイッチ(揺上側),16b…仕
切板原点位置スイッチ(揺下側),20…揺下側穀粒分
布センサ,21…籾摺部,22…ロ−ル間隙調節モ−
タ,23…脱ぷ率センサ,24…脱ぷ率設定手段,25
…汚れ報知手段,26…未熟米判別センサ,27…風力
調節用リレ−,28…風力調節用リレ−
Claims (1)
- 【請求項1】 揺動選別板2の縦方向の高位の供給側2
aから低位の排出側2bへ向けて混合米を流動しながら
横方向に斜上下の往復揺動をして、横方向の高位の揺上
側2cに玄米を,低位の揺下側2dに籾を、これらの中
間部に未選別の混合米をそれぞれ偏流分布しながら選別
する揺動選別装置1と、前記揺動選別板2の排出側2b
に配置されている玄米仕切板4と、前記揺動選別板2の
排出側2b側を横方向に往復移動しながら水分吸収波長
光及び参照波長光を照射して板面に分布している穀粒の
籾・玄米の別を検出する籾・玄米判別センサ6と、前記
籾・玄米判別センサ6の2波長のピ−ク電圧を検出する
ピ−ク検出回路と、前記籾・玄米判別センサ6の2波長
の検出電圧のピ−ク位置検出,単波長のピ−ク検出及び
選別板基準値から選別板面の検出デ−タか穀粒の検出デ
−タかを判定する選別板・穀粒判定手段と、前記ピ−ク
検出回路の検出デ−タから前記選別板・穀粒判定手段の
選別板検出情報を除外して籾・玄米比率を算出する籾・
玄米比率算出手段と、からなる揺動選別装置の穀粒検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3363596A JPH09225409A (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 揺動選別装置の穀粒検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3363596A JPH09225409A (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 揺動選別装置の穀粒検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09225409A true JPH09225409A (ja) | 1997-09-02 |
Family
ID=12391920
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3363596A Pending JPH09225409A (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 揺動選別装置の穀粒検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09225409A (ja) |
-
1996
- 1996-02-21 JP JP3363596A patent/JPH09225409A/ja active Pending
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