JPH097977A - ダイシング装置及びダイシングシステム - Google Patents

ダイシング装置及びダイシングシステム

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JPH097977A
JPH097977A JP18055595A JP18055595A JPH097977A JP H097977 A JPH097977 A JP H097977A JP 18055595 A JP18055595 A JP 18055595A JP 18055595 A JP18055595 A JP 18055595A JP H097977 A JPH097977 A JP H097977A
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JP
Japan
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dicing
wafer
symbol
identification display
identification
Prior art date
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Pending
Application number
JP18055595A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuma Sekiya
一馬 関家
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Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
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Publication date
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Publication of JPH097977A publication Critical patent/JPH097977A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W46/00Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification
    • H10W46/201Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification located on the periphery of wafers, e.g. orientation notches or lot numbers

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  • Dicing (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ID記号を読み取る機能とバーコード等の識
別表示を読み取る機能の両方を兼備したダイシング装置
及びダイシングシステムを提供する。 【構成】 テープを介してフレームに配設されたウェー
ハをダイシングするダイシング装置において、ウェーハ
にはウェーハID記号が形成されており、フレーム又は
テープには他と識別するための識別表示が形成されてい
て、ダイシング装置にはID記号を検出するID記号検
出手段、及び識別表示を検出する識別表示検出手段が配
設される。ウェーハをダイシングする前に、ID記号を
ID記号検出手段で検出すると共に識別表示を識別表示
検出手段で検出し、CPUのウェーハに関する情報と識
別表示とを連結する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ダイシング装置及びダ
イシングシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】ダイシング装置は、例えば図4に示すよ
うにカセット載置領域Aに置かれたカセットC内から搬
出入手段Bによって半導体ウェーハW(粘着テープNを
介してフレームFに固定されている)を待機領域Dに搬
出し、旋回アームを有する搬送手段Eにてウェーハをチ
ャックテーブルTに搬送し保持させ、このチャックテー
ブルTを移動してアライメント手段Gでアライメントし
た後、回転ブレードを有する切削手段Hにてダイシング
する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記各ウェーハWには
ID記号が付けられ、このID記号を読み取ることで各
ウェーハWの特性や必要な情報を認識出来るようにして
あるが、ダイシング装置による切削後はID記号が切断
されているため読み取りが著しく困難になり、以後のウ
ェーハ処理に支障を来した。そこで、従来からフレーム
F又はテープNにバーコード等の識別表示を形成し、切
削後はその識別表示を読み取ることによってウェーハの
管理を行うことが試みられていた。しかし、ID記号と
バーコード等の識別表示を連結するための装置又はその
ような機能を持ったテープマウンタ(ウェーハWとフレ
ームFとを粘着テープNによって一体にする装置)が必
要となり、装置の組み合わせが煩雑になってしまう問題
があった。本発明は、このような従来の問題を解決する
ためになされ、ID記号を読み取る機能とバーコード等
の識別表示を読み取る機能の両方を兼備したダイシング
装置及びダイシングシステムを提供することを課題とす
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を技術的に解決
するための手段として、本発明は、テープを介してフレ
ームに配設されたウェーハをダイシングするダイシング
装置において、前記ウェーハにはウェーハID記号が形
成されており、前記フレーム又はテープには他と識別す
るための識別表示が形成されていて、前記ダイシング装
置にはID記号を検出するID記号検出手段、及び識別
表示を検出する識別表示検出手段が配設されているダイ
シング装置を要旨とする。又、ウェーハをダイシングす
る前にID記号をID記号検出手段で検出すると共に、
識別表示を識別表示手段で検出し、CPUのウェーハに
関する情報と、識別表示とを連結するダイシング装置を
要旨とする。更に、CPUにはダイシング後のウェーハ
を処理するための後処理装置が連結されており、この後
処理装置はフレームに又はテープに形成されている識別
表示を検出してウェーハに関する情報を認識し、このウ
ェーハを処理するダイシング装置を含むダイシングシス
テムを要旨とするものである。
【0005】
【作 用】ダイシング装置にID記号検出手段及び識別
表示検出手段を配設したので、ID記号とバーコード等
の識別表示を連結するための装置又はそのような機能を
有するテープマウンタが不要となり、装置の組み合わせ
が煩雑にならずに済む。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
詳説する。図1において、1は検出機構であり、ID記
号検出手段2と識別表示検出手段3とを備えており、I
D記号検出手段2は図2に示すようにウェーハWの端部
に形成されたID記号4を読み取り、識別表示検出手段
3は粘着テープNに取り付けられたバーコード等の識別
表示5を読み取るようにしてある。前記識別表示5は図
3に示すようにフレームFに取り付けるようにしても良
い。
【0007】このように形成された検出機構1は、図4
に二点鎖線で示すように例えば待機領域Dの上方位置P
に配設され、搬出入手段BによってカセットCから搬出
されたウェーハを検出し、又はチャックテーブルTの上
方位置Qに配設され、搬送手段Eによってチャックテー
ブルTに搬送されたウェーハを検出する。
【0008】いずれにしても、ウェーハWをダイシング
する前に前記ID記号4をID記号検出手段2にて検出
すると共に、識別表示5を識別表示検出手段3で検出
し、図4に示すCPU6のウェーハに関する情報と識別
表示とを連結する。この場合、ダイシング装置にID記
号検出手段2及び識別表示検出手段3を配設したので、
ID記号とバーコード等の識別表示を連結するための装
置又はそのような機能を有するテープマウンタが不要と
なる。
【0009】この後、チャックテーブルTを移動させて
アライメント手段Gに位置付けし、アライメントした後
に前記切削手段Hによりダイシングが遂行される。この
ダイシングによって前記ID記号4は切断され読み取り
が困難になるが、テープN又はフレームFに取り付けら
れた識別表示5は切断されずに残る。
【0010】従って、ダイボンダー等の後処理装置7に
おいては、残存した識別表示5を検出してウェーハWに
関する情報を認識し、各ウェーハを処理することが出来
る。そのため、後処理装置7には識別表示5を検出する
ための手段が内部又は外部に配設されている。
【0011】尚、識別表示5は、他と区別出来れば良く
バーコードに限るものではない。又、ダイシングの影響
を受けない場所であればフレームF、テープNの任意の
箇所に表示して良い。更に、識別表示はシールタイプ、
刻設タイプ、孔等の貫通タイプ、印字タイプ等種々のタ
イプがあり、いずれを採用しても良い。
【0012】前記のようにダイシング後のウェーハは、
識別表示5で管理されるので、識別表示5と連結してい
るメモリにID記号によって認識出来る情報以外の情報
も記録することが出来、ウェーハWに関する情報の充実
を図ることが出来る。
【0013】前記検出機構1は独立した機構としてダイ
シング装置に兼備させたが、ウェーハW上のID記号の
検出と、フレームF又は粘着テープNに形成された識別
表示の検出とをダイシング装置のアライメント手段Gが
有する画像処理システムにより行えば、アライメント手
段Gが検出機構1を兼用することとなり、独立した検出
機構を配設することなく安価に本発明を実現させること
が可能となる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ダイシ
ング装置にID記号の情報と、識別表示とを連結する機
能を持たせたので、ID記号とバーコード等の識別表示
を連結するための別個の装置又はそのような機能を有す
るテープマウンタが不要となり、装置の組み合わせが煩
雑にならない効果を奏する。又、アライメント手段に検
出機構機能を持たせることで安価に本発明を実施出来る
効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るダイシング装置の検出機構の説
明図である。
【図2】 ID記号及び識別表示の設置例を示すウェー
ハの斜視図である。
【図3】 ID記号及び識別表示の他の設置例を示すウ
ェーハの平面図である。
【図4】 ダイシング装置を含むダイシングシステム要
部の斜視図である。
【符号の説明】
1…検出機構 2…ID記号検出手段 3…識別表
示検出手段 4…ID記号 5…識別表示 6…
CPU 7…後処理装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 テープを介してフレームに配設されたウ
    ェーハをダイシングするダイシング装置において、前記
    ウェーハにはウェーハID記号が形成されており、前記
    フレーム又はテープには他と識別するための識別表示が
    形成されていて、前記ダイシング装置にはID記号を検
    出するID記号検出手段、及び識別表示を検出する識別
    表示検出手段が配設されているダイシング装置。
  2. 【請求項2】 ウェーハをダイシングする前にID記号
    をID記号検出手段で検出すると共に、識別表示を識別
    表示手段で検出し、CPUのウェーハに関する情報と、
    識別表示とを連結する請求項1記載のダイシング装置。
  3. 【請求項3】 CPUにはダイシング後のウェーハを処
    理するための後処理装置が連結されており、この後処理
    装置はフレームに又はテープに形成されている識別表示
    を検出してウェーハに関する情報を認識し、このウェー
    ハを処理する請求項2記載のダイシング装置を含むダイ
    シングシステム。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1197322A (ja) * 1997-09-16 1999-04-09 Fujitsu Ltd データ管理方法、データ管理装置、及び、搭載台
JP2002299287A (ja) * 2001-04-02 2002-10-11 Tokyo Seimitsu Co Ltd バーコードリーダ付ダイシング装置
JP2004072040A (ja) * 2002-08-09 2004-03-04 Lintec Corp 属性表示付ダイシングテープおよびその製造方法
US6718223B1 (en) 1999-05-18 2004-04-06 Lintec Corporation Method of processing semiconductor wafer and semiconductor wafer supporting member
JP2005045033A (ja) * 2003-07-22 2005-02-17 Disco Abrasive Syst Ltd 半導体ウエーハの加工装置
JP2006156753A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Furukawa Electric Co Ltd:The ウエハ加工用テープ
EP1873812A1 (en) * 2006-06-26 2008-01-02 Axalto SA Wafer frame
EP1865535A3 (en) * 2006-06-05 2009-08-12 Tokyo Seimitsu Co.,Ltd. Workpiece processing device
JP2011029412A (ja) * 2009-07-24 2011-02-10 Furukawa Electric Co Ltd:The ウエハ加工用テープ
WO2011076507A1 (en) * 2009-12-23 2011-06-30 Ismeca Semiconductor Holding Sa Wafer handler comprising a vision system
JP2017216274A (ja) * 2016-05-30 2017-12-07 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
CN109119359A (zh) * 2017-06-23 2019-01-01 株式会社迪思科 带识别标记的晶片治具
JP2020194839A (ja) * 2019-05-27 2020-12-03 株式会社ディスコ 紫外線照射装置
JP2021044481A (ja) * 2019-09-13 2021-03-18 株式会社ディスコ 加工装置
US11090691B2 (en) 2018-03-02 2021-08-17 Disco Corporation Cleaning method for cleaning frame unit

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60100450A (ja) * 1983-11-07 1985-06-04 Disco Abrasive Sys Ltd 半導体ウエーハ装着及び切断装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60100450A (ja) * 1983-11-07 1985-06-04 Disco Abrasive Sys Ltd 半導体ウエーハ装着及び切断装置

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1197322A (ja) * 1997-09-16 1999-04-09 Fujitsu Ltd データ管理方法、データ管理装置、及び、搭載台
US6718223B1 (en) 1999-05-18 2004-04-06 Lintec Corporation Method of processing semiconductor wafer and semiconductor wafer supporting member
JP2002299287A (ja) * 2001-04-02 2002-10-11 Tokyo Seimitsu Co Ltd バーコードリーダ付ダイシング装置
JP2004072040A (ja) * 2002-08-09 2004-03-04 Lintec Corp 属性表示付ダイシングテープおよびその製造方法
JP2005045033A (ja) * 2003-07-22 2005-02-17 Disco Abrasive Syst Ltd 半導体ウエーハの加工装置
JP2006156753A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Furukawa Electric Co Ltd:The ウエハ加工用テープ
EP1865535A3 (en) * 2006-06-05 2009-08-12 Tokyo Seimitsu Co.,Ltd. Workpiece processing device
EP1873812A1 (en) * 2006-06-26 2008-01-02 Axalto SA Wafer frame
JP2011029412A (ja) * 2009-07-24 2011-02-10 Furukawa Electric Co Ltd:The ウエハ加工用テープ
WO2011076507A1 (en) * 2009-12-23 2011-06-30 Ismeca Semiconductor Holding Sa Wafer handler comprising a vision system
CN102696093A (zh) * 2009-12-23 2012-09-26 伊斯梅卡半导体控股公司 包含视觉系统的晶片装卸器
TWI496229B (zh) * 2009-12-23 2015-08-11 伊斯美加半導體控股公司 包含視覺系統的晶圓處置器
US9153470B2 (en) 2009-12-23 2015-10-06 Ismeca Semiconductor Holding Sa Wafer handler comprising a vision system
JP2017216274A (ja) * 2016-05-30 2017-12-07 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
CN109119359A (zh) * 2017-06-23 2019-01-01 株式会社迪思科 带识别标记的晶片治具
CN109119359B (zh) * 2017-06-23 2024-02-02 株式会社迪思科 带识别标记的晶片治具
US11090691B2 (en) 2018-03-02 2021-08-17 Disco Corporation Cleaning method for cleaning frame unit
JP2020194839A (ja) * 2019-05-27 2020-12-03 株式会社ディスコ 紫外線照射装置
JP2021044481A (ja) * 2019-09-13 2021-03-18 株式会社ディスコ 加工装置

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