JPH10232736A - 座標検出装置 - Google Patents
座標検出装置Info
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- JPH10232736A JPH10232736A JP3497997A JP3497997A JPH10232736A JP H10232736 A JPH10232736 A JP H10232736A JP 3497997 A JP3497997 A JP 3497997A JP 3497997 A JP3497997 A JP 3497997A JP H10232736 A JPH10232736 A JP H10232736A
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 24
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 検出処理速度を大幅に向上させることができ
る座標検出装置を提供すること。 【解決手段】 移動している座標指示器の前回の検出位
置P1 と今回の検出位置P2 との間のX軸方向の移動距
離x1 を求め、今回の検出位置P2 にX軸方向の移動距
離x1 と等しい移動距離x2 をX軸方向の移動距離とし
て加算し、次の座標指示器の位置P3 を推測する。Y軸
についても同様の推測を行う。このような推測により得
られた位置P3 が存在する検出ループコイルLXn5 を中
心とし、その両側の検出ループコイルLXn4 、LXn6
(範囲A30)を検出走査し、次の座標指示器の位置の検
出を行う。部分走査の繰り返しや再度の全体走査を行う
ことがないので、検出処理速度を大幅に向上させること
ができる。
る座標検出装置を提供すること。 【解決手段】 移動している座標指示器の前回の検出位
置P1 と今回の検出位置P2 との間のX軸方向の移動距
離x1 を求め、今回の検出位置P2 にX軸方向の移動距
離x1 と等しい移動距離x2 をX軸方向の移動距離とし
て加算し、次の座標指示器の位置P3 を推測する。Y軸
についても同様の推測を行う。このような推測により得
られた位置P3 が存在する検出ループコイルLXn5 を中
心とし、その両側の検出ループコイルLXn4 、LXn6
(範囲A30)を検出走査し、次の座標指示器の位置の検
出を行う。部分走査の繰り返しや再度の全体走査を行う
ことがないので、検出処理速度を大幅に向上させること
ができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、座標指示器で指示
されたタブレット上の位置の座標を検出する座標検出装
置に関する。
されたタブレット上の位置の座標を検出する座標検出装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】座標検出装置は一般にデジタイザと称さ
れ、種々の方式のものが提案されている。それら方式の
1つに電磁誘導方式がある。この電磁誘導方式は、タブ
レットに布線された検出ループ導線に磁束を発生する座
標指示器を近接させて検出ループ導線に磁束を交差さ
せ、これにより検出ループ導線に誘導電圧が誘起する現
象を利用する方式である。これを図4により説明する。
れ、種々の方式のものが提案されている。それら方式の
1つに電磁誘導方式がある。この電磁誘導方式は、タブ
レットに布線された検出ループ導線に磁束を発生する座
標指示器を近接させて検出ループ導線に磁束を交差さ
せ、これにより検出ループ導線に誘導電圧が誘起する現
象を利用する方式である。これを図4により説明する。
【0003】図4は座標検出装置のブロック図である。
この図で、1は座標指示器であり、励磁回路1a、およ
びコイル1bを有する。2は座標指示器1で指示された
位置を検出する位置検出部(タブレット)であり、X軸
方向に配列された多数の検出ループコイルおよびY軸方
向に配列された多数の検出ループコイルで構成されてい
る。3XはX軸方向セレクタ部、3YはY軸方向セレク
タ部であり、各軸方向の検出ループコイル群の各検出ル
ープコイルを順次選択走査する。4は信号波形成形部で
あり、X軸方向セレクタ部3XおよびY軸方向セレクタ
部3Yの走査により得られた検出信号を増幅し、バンド
パスフィルタを介してゲイン調整し、所定の周波数信号
を成形する。5は信号波形成形部4で得られた信号をデ
ィジタル値に変換するA/D変換器である。6は座標検
出演算制御部であり、A/D変換器5からの検出信号に
基づいて座標指示器1で指示された座標を検出するとと
もに、X軸方向セレクタ部3XおよびY軸方向セレクタ
部3Yの走査を制御する。座標検出演算制御部6で得ら
れた座標値は図示しないホストコンピュータへ座標指示
器1で指示された位置情報として出力される。
この図で、1は座標指示器であり、励磁回路1a、およ
びコイル1bを有する。2は座標指示器1で指示された
位置を検出する位置検出部(タブレット)であり、X軸
方向に配列された多数の検出ループコイルおよびY軸方
向に配列された多数の検出ループコイルで構成されてい
る。3XはX軸方向セレクタ部、3YはY軸方向セレク
タ部であり、各軸方向の検出ループコイル群の各検出ル
ープコイルを順次選択走査する。4は信号波形成形部で
あり、X軸方向セレクタ部3XおよびY軸方向セレクタ
部3Yの走査により得られた検出信号を増幅し、バンド
パスフィルタを介してゲイン調整し、所定の周波数信号
を成形する。5は信号波形成形部4で得られた信号をデ
ィジタル値に変換するA/D変換器である。6は座標検
出演算制御部であり、A/D変換器5からの検出信号に
基づいて座標指示器1で指示された座標を検出するとと
もに、X軸方向セレクタ部3XおよびY軸方向セレクタ
部3Yの走査を制御する。座標検出演算制御部6で得ら
れた座標値は図示しないホストコンピュータへ座標指示
器1で指示された位置情報として出力される。
【0004】図5は図4に示すタブレットに布線された
X軸方向およびY軸方向の検出ループコイルを示す図で
ある。この図で、LX0、…………、LXj、…………、L
XnはX軸方向の検出ループコイル、LY0、…………、L
Yi、…………、LYmはY軸方向の検出ループコイルを示
す。図示の場合、座標指示器1はX軸方向において検出
ループコイルLXjに存在し、かつ、Y軸方向において検
出ループコイルLYiに存在する。
X軸方向およびY軸方向の検出ループコイルを示す図で
ある。この図で、LX0、…………、LXj、…………、L
XnはX軸方向の検出ループコイル、LY0、…………、L
Yi、…………、LYmはY軸方向の検出ループコイルを示
す。図示の場合、座標指示器1はX軸方向において検出
ループコイルLXjに存在し、かつ、Y軸方向において検
出ループコイルLYiに存在する。
【0005】次に、上記座標検出装置の動作を、図6お
よび図7を参照して説明する。図6は図4に示す座標検
出演算制御部6の動作を説明するフローチャート、図7
はタブレット2の検出ループコイル群の一部の布線図で
ある。ここで、X軸座標の検出動作とY軸座標の検出動
作は同じであるので、以下の説明では、X軸座標検出に
ついてのみ説明し、Y軸座標検出については説明を省略
する。座標検出時、まず、座標検出演算制御部6は、X
軸方向セレクタ3Xに指令して検出ループコイルLX0〜
LXnを走査(全体走査)して座標指示器1の指示により
誘起される各検出ループコイルの誘起電圧をチェックす
る(図6に示す手順S1 )。この走査の結果、1つ又は
2つの検出ループコイルの誘起電圧が他の誘起電圧より
はるかに大きい場合、座標指示器1が検出できたと判断
し(手順S2 )、上記1つの検出ループコイル又は上記
2つの検出ループコイルのうちの一方(誘起電圧が大き
い方)を検出中心ループコイルと仮定する。なお、上記
の手順S1 の全体走査で検出中心ループコイルが見出さ
れなかった場合、即ち、座標指示器1が検出されなかっ
た場合には、再度手順S1 の処理を繰り返す。
よび図7を参照して説明する。図6は図4に示す座標検
出演算制御部6の動作を説明するフローチャート、図7
はタブレット2の検出ループコイル群の一部の布線図で
ある。ここで、X軸座標の検出動作とY軸座標の検出動
作は同じであるので、以下の説明では、X軸座標検出に
ついてのみ説明し、Y軸座標検出については説明を省略
する。座標検出時、まず、座標検出演算制御部6は、X
軸方向セレクタ3Xに指令して検出ループコイルLX0〜
LXnを走査(全体走査)して座標指示器1の指示により
誘起される各検出ループコイルの誘起電圧をチェックす
る(図6に示す手順S1 )。この走査の結果、1つ又は
2つの検出ループコイルの誘起電圧が他の誘起電圧より
はるかに大きい場合、座標指示器1が検出できたと判断
し(手順S2 )、上記1つの検出ループコイル又は上記
2つの検出ループコイルのうちの一方(誘起電圧が大き
い方)を検出中心ループコイルと仮定する。なお、上記
の手順S1 の全体走査で検出中心ループコイルが見出さ
れなかった場合、即ち、座標指示器1が検出されなかっ
た場合には、再度手順S1 の処理を繰り返す。
【0006】手順S1 の全体走査の結果、上述のよう
に、検出中心ループコイルが仮定されると、座標検出演
算制御部6は、当該検出中心ループコイルを中心とする
その前後の所定範囲の検出ループコイルを走査する(手
順S3 )。この手順S3 の部分的な走査(部分走査)
は、検出中における座標指示器1の移動(例えば座標指
示器1を操作して図形等を描く場合に生じる移動)のた
め検出中心ループコイルが変化した場合に備えるための
処理である。そして、このための部分走査の範囲は次の
点を考慮して定められている。即ち、座標指示器1の移
動速度は、通常、数cm/秒から2 〜3 m/秒程度であ
る。なお、瞬間的にはこれ以上の移動速度になる場合も
あり得るがその頻度は極めて小さく問題にならない。こ
の通常の移動において、検出レートが200 ポイント/秒
では、検出間隔が0.5 〜15mmとなる。検出ループコイ
ルの有効検出幅は、通常、数mm〜10数mmであり、検
出間隔と同等又は2 倍程度である。部分走査の範囲は、
これらの点を考慮して、座標指示器1の今回検出の検出
ループコイルを中心とした所定範囲に定められる。
に、検出中心ループコイルが仮定されると、座標検出演
算制御部6は、当該検出中心ループコイルを中心とする
その前後の所定範囲の検出ループコイルを走査する(手
順S3 )。この手順S3 の部分的な走査(部分走査)
は、検出中における座標指示器1の移動(例えば座標指
示器1を操作して図形等を描く場合に生じる移動)のた
め検出中心ループコイルが変化した場合に備えるための
処理である。そして、このための部分走査の範囲は次の
点を考慮して定められている。即ち、座標指示器1の移
動速度は、通常、数cm/秒から2 〜3 m/秒程度であ
る。なお、瞬間的にはこれ以上の移動速度になる場合も
あり得るがその頻度は極めて小さく問題にならない。こ
の通常の移動において、検出レートが200 ポイント/秒
では、検出間隔が0.5 〜15mmとなる。検出ループコイ
ルの有効検出幅は、通常、数mm〜10数mmであり、検
出間隔と同等又は2 倍程度である。部分走査の範囲は、
これらの点を考慮して、座標指示器1の今回検出の検出
ループコイルを中心とした所定範囲に定められる。
【0007】図7に当該部分走査の一例が示されてい
る。今回の検出処理により座標指示器1が検出ループコ
イルLXfの点P1 にあると判断されたとき、座標指示器
1の次の座標検出を行うための部分走査は、図7に範囲
A10で示されているように、検出ループコイルLXfを中
心とする5つの検出ループコイルに対して行われる。同
様に、座標指示器1が検出ループコイルLXhの点P2 に
あるとき、当該部分走査は、範囲A20で示される検出ル
ープコイルLXhを中心とする5つの検出ループコイルに
対して行われる。なお、図7中、範囲A00は上記検出ル
ープコイルLXfに対する部分走査を7つの検出ループコ
イルに対して行なう場合の部分走査範囲を示す。
る。今回の検出処理により座標指示器1が検出ループコ
イルLXfの点P1 にあると判断されたとき、座標指示器
1の次の座標検出を行うための部分走査は、図7に範囲
A10で示されているように、検出ループコイルLXfを中
心とする5つの検出ループコイルに対して行われる。同
様に、座標指示器1が検出ループコイルLXhの点P2 に
あるとき、当該部分走査は、範囲A20で示される検出ル
ープコイルLXhを中心とする5つの検出ループコイルに
対して行われる。なお、図7中、範囲A00は上記検出ル
ープコイルLXfに対する部分走査を7つの検出ループコ
イルに対して行なう場合の部分走査範囲を示す。
【0008】部分走査の結果、走査した範囲内に座標指
示器1が検出されたか否かを判断し(手順S4 )、検出
されなかった場合には処理を手順S1 に戻し、再度全体
走査を行う。このように、座標指示器1が検出されない
場合が生じるのは、座標指示器1がタブレット2の面か
ら離れたり、所定の範囲外に移動したりして検出中心ル
ープコイルを中心とした所定範囲内の検出ループコイル
に電圧が誘起されないからである。座標検出演算制御部
6は、手順S3 による部分走査で座標指示器1が検出さ
れた場合、この検出における検出ループコイルがさきに
仮定した検出中心ループコイルと同じか否か判断し(手
順S5 )、同じでない場合には、変化後の検出中心ルー
プコイルを新たな検出中心ループコイルと仮定し(手順
S6 )、処理を手順S3 に戻して再度部分走査を行な
う。手順S5 の処理で、検出中心ループコイルに変化が
ないと判断された場合には、当該検出中心ループコイル
を座標検出可能な検出中心ループコイルと特定し、この
特定された検出中心ループコイルを中心とするその前後
の3つの検出ループコイルを検出走査する(手順
S7)。
示器1が検出されたか否かを判断し(手順S4 )、検出
されなかった場合には処理を手順S1 に戻し、再度全体
走査を行う。このように、座標指示器1が検出されない
場合が生じるのは、座標指示器1がタブレット2の面か
ら離れたり、所定の範囲外に移動したりして検出中心ル
ープコイルを中心とした所定範囲内の検出ループコイル
に電圧が誘起されないからである。座標検出演算制御部
6は、手順S3 による部分走査で座標指示器1が検出さ
れた場合、この検出における検出ループコイルがさきに
仮定した検出中心ループコイルと同じか否か判断し(手
順S5 )、同じでない場合には、変化後の検出中心ルー
プコイルを新たな検出中心ループコイルと仮定し(手順
S6 )、処理を手順S3 に戻して再度部分走査を行な
う。手順S5 の処理で、検出中心ループコイルに変化が
ないと判断された場合には、当該検出中心ループコイル
を座標検出可能な検出中心ループコイルと特定し、この
特定された検出中心ループコイルを中心とするその前後
の3つの検出ループコイルを検出走査する(手順
S7)。
【0009】図7に検出走査の一例が示されている。座
標指示器1が検出ループコイルLXfの点P1 にあると
き、検出走査は、範囲A11で示される検出ループコイル
LXfを中心とする3つの検出ループコイルに対して行わ
れ、座標指示器1が検出ループコイルLXhの点P2 にあ
るとき、検出走査は、範囲A21で示される検出ループコ
イルLXhを中心とする3つの検出ループコイルに対して
行われる。この検出走査の結果検出された各誘起電圧が
正常か否か判断し(手順S8 )、誘起電圧に異常があれ
ば処理を手順S3 へ戻し、正常であれば座標指示器1の
座標値を演算して(手順S9 )、処理を手順S3 へ戻
す。
標指示器1が検出ループコイルLXfの点P1 にあると
き、検出走査は、範囲A11で示される検出ループコイル
LXfを中心とする3つの検出ループコイルに対して行わ
れ、座標指示器1が検出ループコイルLXhの点P2 にあ
るとき、検出走査は、範囲A21で示される検出ループコ
イルLXhを中心とする3つの検出ループコイルに対して
行われる。この検出走査の結果検出された各誘起電圧が
正常か否か判断し(手順S8 )、誘起電圧に異常があれ
ば処理を手順S3 へ戻し、正常であれば座標指示器1の
座標値を演算して(手順S9 )、処理を手順S3 へ戻
す。
【0010】ここで、座標検出演算制御部6による座標
値の演算の概略を図8および図9により説明する。図8
は選択された検出ループコイルを示す図、図9は図8に
示す各検出ループコイルに誘起される誘起電圧の特性図
であり、横軸に検出ループコイルの中心位置(L1C、L
2C、L3C)が示され、縦軸に誘起電圧がとってある。図
8に示すように、座標指示器1の位置PL2が検出ループ
コイル群の1つの検出ループコイルL2 にあるとする。
図7に示す例に従うと、この場合の検出走査は3つの検
出ループコイルL1 、L2 、L3 に対して行われる。検
出走査により3つの検出ループコイルL1 、L2 、L3
で得られる各誘起電圧は、図9に示すように、各検出ル
ープコイルの中心位置L1C、L2C、L3Cに対応する曲線
CL2上の誘起電圧VL1、VL2、VL3となる。なお、曲線
CL2は、位置PL2のX軸方向の変位に伴って平行移動す
る検出ループコイル誘起電圧特性曲線である。検出され
た誘起電圧VL1、VL2、VL3の近似関数の解を算出する
ことで座標指示器1の位置PL2のX軸座標値を得ること
ができる。簡易的には、これら誘起電圧の比較演算を行
なうことにより座標値を算出することも可能である。全
く同様にして、図8に示す座標指示器1の他の位置P
L23 についても、曲線CL2を平行移動した曲線CL23 上
の誘起電圧VL10 、VL20 、VL30 に基づいてそのX軸
座標値を得ることができる。なお、図8において、P
L23 は検出領域の境界、すなわち検出ループコイルL2
の右側と検出ループコイルL3 の左側の中央にある。
値の演算の概略を図8および図9により説明する。図8
は選択された検出ループコイルを示す図、図9は図8に
示す各検出ループコイルに誘起される誘起電圧の特性図
であり、横軸に検出ループコイルの中心位置(L1C、L
2C、L3C)が示され、縦軸に誘起電圧がとってある。図
8に示すように、座標指示器1の位置PL2が検出ループ
コイル群の1つの検出ループコイルL2 にあるとする。
図7に示す例に従うと、この場合の検出走査は3つの検
出ループコイルL1 、L2 、L3 に対して行われる。検
出走査により3つの検出ループコイルL1 、L2 、L3
で得られる各誘起電圧は、図9に示すように、各検出ル
ープコイルの中心位置L1C、L2C、L3Cに対応する曲線
CL2上の誘起電圧VL1、VL2、VL3となる。なお、曲線
CL2は、位置PL2のX軸方向の変位に伴って平行移動す
る検出ループコイル誘起電圧特性曲線である。検出され
た誘起電圧VL1、VL2、VL3の近似関数の解を算出する
ことで座標指示器1の位置PL2のX軸座標値を得ること
ができる。簡易的には、これら誘起電圧の比較演算を行
なうことにより座標値を算出することも可能である。全
く同様にして、図8に示す座標指示器1の他の位置P
L23 についても、曲線CL2を平行移動した曲線CL23 上
の誘起電圧VL10 、VL20 、VL30 に基づいてそのX軸
座標値を得ることができる。なお、図8において、P
L23 は検出領域の境界、すなわち検出ループコイルL2
の右側と検出ループコイルL3 の左側の中央にある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の座標検出装
置では、図6に示す手順S3 の部分走査以降の処理を繰
り返すことにより座標(軌跡)を算出している。この場
合、検出処理速度は実際に行われる走査処理の応答速度
に大きく影響される。そして、従来の手法では、座標指
示器1が高速移動したことによる部分走査の領域からの
逸脱が生じると再度全体走査からの処理を行わなければ
ならず、又、検出中心ループコイルが変化すると部分走
査を繰り返さねればならず、これらにより検出処理速度
が大幅に低下するという問題があった。又、上記部分走
査の繰り返しを避けるため、部分走査の領域を大きくす
ることも考えられるが、その場合には走査時間も大きく
なり、検出処理速度の向上は期待できない。
置では、図6に示す手順S3 の部分走査以降の処理を繰
り返すことにより座標(軌跡)を算出している。この場
合、検出処理速度は実際に行われる走査処理の応答速度
に大きく影響される。そして、従来の手法では、座標指
示器1が高速移動したことによる部分走査の領域からの
逸脱が生じると再度全体走査からの処理を行わなければ
ならず、又、検出中心ループコイルが変化すると部分走
査を繰り返さねればならず、これらにより検出処理速度
が大幅に低下するという問題があった。又、上記部分走
査の繰り返しを避けるため、部分走査の領域を大きくす
ることも考えられるが、その場合には走査時間も大きく
なり、検出処理速度の向上は期待できない。
【0012】本発明の目的は、上記従来技術における課
題を解決し、検出処理速度を大幅に向上させることがで
きる座標検出装置を提供することにある。
題を解決し、検出処理速度を大幅に向上させることがで
きる座標検出装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項1の発明は、ループ状導線が所定軸方向に多
数配列されたタブレットと、このタブレット上の任意の
位置を指示する座標指示器と、前記各ループ状導線を順
次走査するセレクタ手段と、このセレクタ手段の所定の
走査により得られた各ループ状導線の電圧に基づいて前
記座標指示器で指示された位置の座標値を演算する座標
演算手段とを備えた座標検出器において、今回の座標値
およびその直前の1つ又は複数の座標値に基づいて次回
の座標値を推測する座標値推測手段と、この座標値推測
手段により推測された座標値を含むループ状導線を中心
とする所定数のループ状導線を前記セレクタ手段で走査
する検出走査手段とを設けたことを特徴とする。
め、請求項1の発明は、ループ状導線が所定軸方向に多
数配列されたタブレットと、このタブレット上の任意の
位置を指示する座標指示器と、前記各ループ状導線を順
次走査するセレクタ手段と、このセレクタ手段の所定の
走査により得られた各ループ状導線の電圧に基づいて前
記座標指示器で指示された位置の座標値を演算する座標
演算手段とを備えた座標検出器において、今回の座標値
およびその直前の1つ又は複数の座標値に基づいて次回
の座標値を推測する座標値推測手段と、この座標値推測
手段により推測された座標値を含むループ状導線を中心
とする所定数のループ状導線を前記セレクタ手段で走査
する検出走査手段とを設けたことを特徴とする。
【0014】又、請求項4の発明は、ループ状導線が所
定軸方向に多数配列されたタブレットと、このタブレッ
ト上の任意の位置を指示する座標指示器と、前記各ルー
プ状導線を順次走査するセレクタ手段と、このセレクタ
手段の所定の走査により得られた各ループ状導線の電圧
に基づいて前記座標指示器で指示された位置の座標値を
演算する座標演算手段とを備えた座標検出器において、
今回の座標値とその直前の複数の座標値から得られる軌
跡の移動方向に従って今回の座標値と前回の座標値の所
定軸方向における差分だけ今回の座標値から変位した位
置が当該軸方向の次の座標値であると推測する座標値推
測手段と、前記座標値推測手段により推測された座標値
を含むループ状導線を、今回の座標値とその直前の複数
の座標値から得られる速度の変化に応じて中心から外れ
たループ状導線とし、このループ状導線を含む所定数の
ループ状導線を前記セレクタ手段で走査する検出走査手
段とを設けたことを特徴とする。
定軸方向に多数配列されたタブレットと、このタブレッ
ト上の任意の位置を指示する座標指示器と、前記各ルー
プ状導線を順次走査するセレクタ手段と、このセレクタ
手段の所定の走査により得られた各ループ状導線の電圧
に基づいて前記座標指示器で指示された位置の座標値を
演算する座標演算手段とを備えた座標検出器において、
今回の座標値とその直前の複数の座標値から得られる軌
跡の移動方向に従って今回の座標値と前回の座標値の所
定軸方向における差分だけ今回の座標値から変位した位
置が当該軸方向の次の座標値であると推測する座標値推
測手段と、前記座標値推測手段により推測された座標値
を含むループ状導線を、今回の座標値とその直前の複数
の座標値から得られる速度の変化に応じて中心から外れ
たループ状導線とし、このループ状導線を含む所定数の
ループ状導線を前記セレクタ手段で走査する検出走査手
段とを設けたことを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【0016】図1は本発明の実施の形態に係る座標検出
装置の座標値推測手段の推測原理を説明する図である。
本実施の形態の座標検出装置の構成は、図4に示す座標
検出演算制御部6の処理の一部が異なるのみで、他の構
成は図4に示す構成と同じである。図1で、P1 は前回
検出の座標指示器1の位置、LXn1 は位置P1 の検出ル
ープコイル、P2 は今回検出の座標指示器1の位置、L
Xn3 は位置P2 の検出ループコイル、P3 は座標値推測
手段で次回の座標指示器1の位置となるであろうと推測
される位置、LXn5 は位置P3 の検出ループコイルを示
す。又、x1 は位置P1 と位置P2 間のX軸方向の距
離、x2 は位置P2 と位置P3 間の距離を示す。以下の
説明においても、さきの場合と同じくX軸についてのみ
説明し、Y軸についての説明は省略する。
装置の座標値推測手段の推測原理を説明する図である。
本実施の形態の座標検出装置の構成は、図4に示す座標
検出演算制御部6の処理の一部が異なるのみで、他の構
成は図4に示す構成と同じである。図1で、P1 は前回
検出の座標指示器1の位置、LXn1 は位置P1 の検出ル
ープコイル、P2 は今回検出の座標指示器1の位置、L
Xn3 は位置P2 の検出ループコイル、P3 は座標値推測
手段で次回の座標指示器1の位置となるであろうと推測
される位置、LXn5 は位置P3 の検出ループコイルを示
す。又、x1 は位置P1 と位置P2 間のX軸方向の距
離、x2 は位置P2 と位置P3 間の距離を示す。以下の
説明においても、さきの場合と同じくX軸についてのみ
説明し、Y軸についての説明は省略する。
【0017】次に、本実施の形態の動作を上記図1の説
明図および図2に示すフローチャートを参照して説明す
る。図2に示すフローチャートにおいて、手順S1 〜手
順S9 の処理は図6に示す従来の処理と同じである。本
実施の形態では、手順S9 の処理で座標が検出される
と、この検出が3回目以降の検出であるか否か判断し
(図2に示す手順S10)、1回目又は2回目の検出であ
れば手順S3 の部分走査の処理を行う。そして、3回目
以後の検出からは、位置の推測を行い(手順S11)、こ
の推測に基づいて、部分走査を行うことなく直ちに検出
走査を行う。
明図および図2に示すフローチャートを参照して説明す
る。図2に示すフローチャートにおいて、手順S1 〜手
順S9 の処理は図6に示す従来の処理と同じである。本
実施の形態では、手順S9 の処理で座標が検出される
と、この検出が3回目以降の検出であるか否か判断し
(図2に示す手順S10)、1回目又は2回目の検出であ
れば手順S3 の部分走査の処理を行う。そして、3回目
以後の検出からは、位置の推測を行い(手順S11)、こ
の推測に基づいて、部分走査を行うことなく直ちに検出
走査を行う。
【0018】手順S11における位置の推測は次のように
して行われる。即ち、座標検出演算制御部は、今回検出
の位置P2 と前回検出の位置P1 間のX軸方向の距離x
1 を求め、次回の座標指示器1の移動は今回の移動距離
x1 と等距離x2 の移動であると仮定し、位置P2 に距
離x1 (=x2 )を加算して次回の座標指示器1の位置
P3 を推測する。そして、当該位置P3 の検出ループコ
イル(図1に示す場合、LXn5 )を検索し、これを検出
中心ループコイルと特定し、手順S7 の検出走査を行
う。検出走査が3つの検出ループコイルの走査であると
すると、図1に示す場合の検出走査は、検出ループコイ
ルLXn4 、LXn5 、LXn6 (図1に示す走査範囲A30)
に対してなされる。
して行われる。即ち、座標検出演算制御部は、今回検出
の位置P2 と前回検出の位置P1 間のX軸方向の距離x
1 を求め、次回の座標指示器1の移動は今回の移動距離
x1 と等距離x2 の移動であると仮定し、位置P2 に距
離x1 (=x2 )を加算して次回の座標指示器1の位置
P3 を推測する。そして、当該位置P3 の検出ループコ
イル(図1に示す場合、LXn5 )を検索し、これを検出
中心ループコイルと特定し、手順S7 の検出走査を行
う。検出走査が3つの検出ループコイルの走査であると
すると、図1に示す場合の検出走査は、検出ループコイ
ルLXn4 、LXn5 、LXn6 (図1に示す走査範囲A30)
に対してなされる。
【0019】このように、本実施の形態では、座標指示
器の次回のX軸方向およびY軸方向の移動距離は、前回
から今回への移動時の各軸方向の移動距離と等しいとし
て次の座標を推測し、この座標の検出ループコイルを中
心として検出走査を行うようにしたので、3回目以降の
検出では部分走査の走査処理を省くことができ、これに
より、部分走査の繰り返しや、再度の全体走査の実施を
避けることができ、検出処理速度を大幅に向上させるこ
とができる。
器の次回のX軸方向およびY軸方向の移動距離は、前回
から今回への移動時の各軸方向の移動距離と等しいとし
て次の座標を推測し、この座標の検出ループコイルを中
心として検出走査を行うようにしたので、3回目以降の
検出では部分走査の走査処理を省くことができ、これに
より、部分走査の繰り返しや、再度の全体走査の実施を
避けることができ、検出処理速度を大幅に向上させるこ
とができる。
【0020】図3は座標値推測手段の他の推測原理を説
明する図である。この図で、P11は前々回検出の座標指
示器1の位置、LXn11は上記位置P11の検出ループコイ
ル、P12は前回検出の座標指示器1の位置、LXn13は上
記位置P12の検出ループコイル、P13は今回検出の座標
指示器1の位置、LXn14は上記位置P13の検出ループコ
イル、P14は座標値推測手段で次回の座標指示器1の位
置となるであろうと推測される位置、LXn15は上記位置
P14の検出ループコイルを示す。又、x11は位置P11と
位置P12間のX軸方向の距離、x12は位置P12と位置P
13間のX軸方向の距離、x13は位置P13と位置P14間の
X軸方向の距離を示す。
明する図である。この図で、P11は前々回検出の座標指
示器1の位置、LXn11は上記位置P11の検出ループコイ
ル、P12は前回検出の座標指示器1の位置、LXn13は上
記位置P12の検出ループコイル、P13は今回検出の座標
指示器1の位置、LXn14は上記位置P13の検出ループコ
イル、P14は座標値推測手段で次回の座標指示器1の位
置となるであろうと推測される位置、LXn15は上記位置
P14の検出ループコイルを示す。又、x11は位置P11と
位置P12間のX軸方向の距離、x12は位置P12と位置P
13間のX軸方向の距離、x13は位置P13と位置P14間の
X軸方向の距離を示す。
【0021】座標検出演算制御部は、距離x11と距離x
12との大小関係を判断する。図示の場合、x11>x12で
あるから、座標指示器1のX軸方向の移動速度が低下し
ていることが判る。そこで、座標指示器1の次回の位置
P14を次式に基づいて推測する。 x13=2 x12−x11=x12−(x11−x12)…………(1) 上記(1)式の括弧内は今回の減速分であるので、次の
移動距離は、減速が等しいと仮定して、今回の移動距離
(x12)から今回生じた減速分(x11−x12)を減算し
た距離であると推測する。この結果、次の座標指示器1
の位置は検出ループコイルLXn15と推測され、これを中
心とする3つの検出ループコイル(図3に示す走査範囲
A40)の検出走査が行われる。なお、x11<x12の場
合、(1)式の減算は全て加算になる。又、移動速度の
変化は、さらに多くの検出位置から移動速度の変化の平
均値を求め、これに基づいて次の移動距離を推測するよ
うにしてもよい。このように、座標指示器の移動速度の
変化を考慮することにより、図1に示す推測処理と同じ
効果を有するとともに、より一層精度良く推測を行うこ
とができる。
12との大小関係を判断する。図示の場合、x11>x12で
あるから、座標指示器1のX軸方向の移動速度が低下し
ていることが判る。そこで、座標指示器1の次回の位置
P14を次式に基づいて推測する。 x13=2 x12−x11=x12−(x11−x12)…………(1) 上記(1)式の括弧内は今回の減速分であるので、次の
移動距離は、減速が等しいと仮定して、今回の移動距離
(x12)から今回生じた減速分(x11−x12)を減算し
た距離であると推測する。この結果、次の座標指示器1
の位置は検出ループコイルLXn15と推測され、これを中
心とする3つの検出ループコイル(図3に示す走査範囲
A40)の検出走査が行われる。なお、x11<x12の場
合、(1)式の減算は全て加算になる。又、移動速度の
変化は、さらに多くの検出位置から移動速度の変化の平
均値を求め、これに基づいて次の移動距離を推測するよ
うにしてもよい。このように、座標指示器の移動速度の
変化を考慮することにより、図1に示す推測処理と同じ
効果を有するとともに、より一層精度良く推測を行うこ
とができる。
【0022】さらに、上記2つの推測処理以外の推測処
理方法を図3に示す例を用いて説明する。図3に示す上
記の推測処理では、(1)式を用いて次のX軸方向の移
動距離を推測した。しかし、本推測処理方法では、図1
に示す推測処理方法と同じく、次の移動距離を今回と等
しい移動距離(x13=x12)と推測する。そして、距離
x11と距離x12との大小関係を判断し、図示の場合x11
>x12であるから、検出走査対象の検出ループコイル
を、X軸の負方向端部で1つ加え(検出ループコイルL
Xn13を加え)、検出走査範囲A50を4つの検出ループコ
イルとする。即ち、減速状態であるので、移動距離の推
測(x13=x12)が大き過ぎるのを修正するため、検出
走査を検出ループコイル1つだけ負方向に加えてこれに
対処するものである。なお、x11<x12の場合、検出走
査には正方向の検出ループコイルが1つ加えられること
になる。
理方法を図3に示す例を用いて説明する。図3に示す上
記の推測処理では、(1)式を用いて次のX軸方向の移
動距離を推測した。しかし、本推測処理方法では、図1
に示す推測処理方法と同じく、次の移動距離を今回と等
しい移動距離(x13=x12)と推測する。そして、距離
x11と距離x12との大小関係を判断し、図示の場合x11
>x12であるから、検出走査対象の検出ループコイル
を、X軸の負方向端部で1つ加え(検出ループコイルL
Xn13を加え)、検出走査範囲A50を4つの検出ループコ
イルとする。即ち、減速状態であるので、移動距離の推
測(x13=x12)が大き過ぎるのを修正するため、検出
走査を検出ループコイル1つだけ負方向に加えてこれに
対処するものである。なお、x11<x12の場合、検出走
査には正方向の検出ループコイルが1つ加えられること
になる。
【0023】ところで、次の点の推測位置が検出領域の
境界あるいは境界に近い場合、例えば、図8のPL23の
場合、検出ループコイルL1、L2、L3で座標指示器1
の位置を検出するよりも検出ループコイルL2、L3、L
4 で位置を検出しなければならない場合があり得る。そ
こで、推測した位置から検出領域の境界までの距離が予
め定める距離αよりも短いときには、推定した位置を含
む2つの検出ループコイルの両側の検出ループコイルを
入れた4つの検出ループコイルを検出走査するようにす
る。すなわち、図8のPL23 の場合は、L1〜L4の4つ
の検出ループコイルを検出走査するようにする。このよ
うにすると、推測処理の信頼性をさらに確実にすること
ができる。
境界あるいは境界に近い場合、例えば、図8のPL23の
場合、検出ループコイルL1、L2、L3で座標指示器1
の位置を検出するよりも検出ループコイルL2、L3、L
4 で位置を検出しなければならない場合があり得る。そ
こで、推測した位置から検出領域の境界までの距離が予
め定める距離αよりも短いときには、推定した位置を含
む2つの検出ループコイルの両側の検出ループコイルを
入れた4つの検出ループコイルを検出走査するようにす
る。すなわち、図8のPL23 の場合は、L1〜L4の4つ
の検出ループコイルを検出走査するようにする。このよ
うにすると、推測処理の信頼性をさらに確実にすること
ができる。
【0024】
【発明の効果】以上述べたように、本発明では、今回ま
での検出位置に基づいて次の検出位置を推測し、推測さ
れた検出位置のループ状導線を含む所定数のループ状導
線を検出走査するようにしたので、部分走査の処理を省
くことができ、これにより、部分走査の繰り返しや、再
度の全体走査の実施を避けることができ、検出処理速度
を大幅に向上させることができる。
での検出位置に基づいて次の検出位置を推測し、推測さ
れた検出位置のループ状導線を含む所定数のループ状導
線を検出走査するようにしたので、部分走査の処理を省
くことができ、これにより、部分走査の繰り返しや、再
度の全体走査の実施を避けることができ、検出処理速度
を大幅に向上させることができる。
【図1】本発明の実施の形態に係る座標検出装置の座標
値推測手段の推測原理を説明する図である。
値推測手段の推測原理を説明する図である。
【図2】本発明の実施の形態に係る座標検出装置の検出
動作を説明するフローチャートである。
動作を説明するフローチャートである。
【図3】座標値推測手段の他の推測原理を説明する図で
ある。
ある。
【図4】座標検出装置のブロック図である。
【図5】図4に示すタブレットに布線されたX軸方向お
よびY軸方向の検出ループコイルを示す図である。
よびY軸方向の検出ループコイルを示す図である。
【図6】図4に示す座標検出演算制御部の動作を説明す
るフローチャートである。
るフローチャートである。
【図7】タブレットの検出ループコイル群の一部の布線
図である。
図である。
【図8】選択された検出ループコイルを示す図である。
【図9】図8に示す各検出ループコイルに誘起される誘
起電圧の特性図である。
起電圧の特性図である。
P1 〜P3 検出位置 LXn1 〜LXn6 検出ループコイル A30 検出走査範囲
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成9年3月28日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
Claims (4)
- 【請求項1】 ループ状導線が所定軸方向に多数配列さ
れたタブレットと、このタブレット上の任意の位置を指
示する座標指示器と、前記各ループ状導線を順次走査す
るセレクタ手段と、このセレクタ手段の所定の走査によ
り得られた各ループ状導線の電圧に基づいて前記座標指
示器で指示された位置の座標値を演算する座標演算手段
とを備えた座標検出器において、今回の座標値およびそ
の直前の1つ又は複数の座標値に基づいて次回の座標値
を推測する座標値推測手段と、この座標値推測手段によ
り推測された座標値を含むループ状導線を中心とする所
定数のループ状導線を前記セレクタ手段で走査する検出
走査手段とを設けたことを特徴とする座標検出装置。 - 【請求項2】 請求項1において、前記座標値推測手段
は、今回の座標値と前回の座標値から得られるベクトル
情報に基づいて、それら各座標値の所定軸方向における
差分だけ今回の座標値から変位した位置が当該軸方向の
次の座標値であると推測することを特徴とする座標検出
装置。 - 【請求項3】 請求項1において、前記座標値推測手段
は、今回の座標値とその直前の複数の座標値から得られ
る軌跡の移動方向および速度の変化に従って、所定軸方
向における今回の座標値と前回の座標値の差分に対して
前々回の座標値と前回の座標値との差分を加算又は減算
した値だけ変位した位置が当該軸方向の次の座標値であ
ると推測することを特徴とする座標検出装置。 - 【請求項4】 ループ状導線が所定軸方向に多数配列さ
れたタブレットと、このタブレット上の任意の位置を指
示する座標指示器と、前記各ループ状導線を順次走査す
るセレクタ手段と、このセレクタ手段の所定の走査によ
り得られた各ループ状導線の電圧に基づいて前記座標指
示器で指示された位置の座標値を演算する座標演算手段
とを備えた座標検出器において、今回の座標値とその直
前の複数の座標値から得られる軌跡の移動方向に従って
今回の座標値と前回の座標値の所定軸方向における差分
だけ今回の座標値から変位した位置が当該軸方向の次の
座標値であると推測する座標値推測手段と、前記座標値
推測手段により推測された座標値を含むループ状導線
を、今回の座標値とその直前の複数の座標値から得られ
る速度の変化に応じて中心から外れたループ状導線と
し、このループ状導線を含む所定数のループ状導線を前
記セレクタ手段で走査する検出走査手段とを設けたこと
を特徴とする座標検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3497997A JPH10232736A (ja) | 1997-02-19 | 1997-02-19 | 座標検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3497997A JPH10232736A (ja) | 1997-02-19 | 1997-02-19 | 座標検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10232736A true JPH10232736A (ja) | 1998-09-02 |
Family
ID=12429275
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3497997A Withdrawn JPH10232736A (ja) | 1997-02-19 | 1997-02-19 | 座標検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10232736A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001180631A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-07-03 | Sato Corp | ラベルプリンタおよびラベル位置検出方法 |
| US6816333B2 (en) | 2000-11-27 | 2004-11-09 | Nec Corporation | Electronic apparatus with an apparatus for protecting a movable section and method of protecting the movable section of the electronic apparatus |
| JP2011128921A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Fujitsu Component Ltd | タッチパネル、及びタッチパネルの座標検出方法 |
| JP2014523027A (ja) * | 2011-06-28 | 2014-09-08 | マイクロソフト コーポレーション | 電磁式3dスタイラス |
-
1997
- 1997-02-19 JP JP3497997A patent/JPH10232736A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001180631A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-07-03 | Sato Corp | ラベルプリンタおよびラベル位置検出方法 |
| US6816333B2 (en) | 2000-11-27 | 2004-11-09 | Nec Corporation | Electronic apparatus with an apparatus for protecting a movable section and method of protecting the movable section of the electronic apparatus |
| JP2011128921A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Fujitsu Component Ltd | タッチパネル、及びタッチパネルの座標検出方法 |
| JP2014523027A (ja) * | 2011-06-28 | 2014-09-08 | マイクロソフト コーポレーション | 電磁式3dスタイラス |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040511 |