JPH10275949A - 2端子型非線形素子の製造のための非水系化成液、2端子型非線形素子の製造方法、2端子型非線形素子および液晶表示パネル - Google Patents
2端子型非線形素子の製造のための非水系化成液、2端子型非線形素子の製造方法、2端子型非線形素子および液晶表示パネルInfo
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- 239000000126 substance Substances 0.000 title claims abstract description 48
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 41
- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims abstract description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 17
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 11
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims abstract description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 22
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 14
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 238000007743 anodising Methods 0.000 claims description 5
- 150000003242 quaternary ammonium salts Chemical class 0.000 claims description 4
- SEACXNRNJAXIBM-UHFFFAOYSA-N triethyl(methyl)azanium Chemical class CC[N+](C)(CC)CC SEACXNRNJAXIBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- CBXCPBUEXACCNR-UHFFFAOYSA-N tetraethylammonium Chemical group CC[N+](CC)(CC)CC CBXCPBUEXACCNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000003864 primary ammonium salts Chemical class 0.000 claims 1
- 150000003865 secondary ammonium salts Chemical class 0.000 claims 1
- 150000003866 tertiary ammonium salts Chemical class 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 20
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 abstract description 15
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 abstract description 15
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical group [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 11
- 239000010408 film Substances 0.000 description 123
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 22
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 12
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 8
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 8
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 7
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 7
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 5
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 5
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 125000001453 quaternary ammonium group Chemical group 0.000 description 3
- 238000011160 research Methods 0.000 description 3
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 3
- ROSDSFDQCJNGOL-UHFFFAOYSA-N Dimethylamine Chemical compound CNC ROSDSFDQCJNGOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- HNVRIVKDRYGTED-UHFFFAOYSA-N 1,1-diethylpiperidin-1-ium Chemical compound CC[N+]1(CC)CCCCC1 HNVRIVKDRYGTED-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWZSCBSKFVJMJH-UHFFFAOYSA-N 1,1-diethylpyrrolidin-1-ium Chemical compound CC[N+]1(CC)CCCC1 PWZSCBSKFVJMJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JONPEMDXBGXQHV-UHFFFAOYSA-N 1,1-dimethyl-4,5-dihydroimidazol-1-ium Chemical compound C[N+]1(C)CCN=C1 JONPEMDXBGXQHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GARJMFRQLMUUDD-UHFFFAOYSA-N 1,1-dimethylpyrrolidin-1-ium Chemical compound C[N+]1(C)CCCC1 GARJMFRQLMUUDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KYRYHBRYSSBWLU-UHFFFAOYSA-N 1,2,3,4-tetramethylimidazolidine Chemical compound CC1CN(C)C(C)N1C KYRYHBRYSSBWLU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KCUGPPHNMASOTE-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-trimethylimidazol-1-ium Chemical compound CC=1N(C)C=C[N+]=1C KCUGPPHNMASOTE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QDRFNXRYFUFFLV-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-trimethylimidazolidine Chemical compound CC1N(C)CCN1C QDRFNXRYFUFFLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QEIHVTKMBYEXPZ-UHFFFAOYSA-N 1,2-dimethyl-4,5-dihydroimidazole Chemical compound CN1CCN=C1C QEIHVTKMBYEXPZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZFDWWDZLRKHULH-UHFFFAOYSA-N 1,2-dimethyl-5,6-dihydro-4h-pyrimidine Chemical compound CN1CCCN=C1C ZFDWWDZLRKHULH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HVVRUQBMAZRKPJ-UHFFFAOYSA-N 1,3-dimethylimidazolium Chemical compound CN1C=C[N+](C)=C1 HVVRUQBMAZRKPJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- REACWASHYHDPSQ-UHFFFAOYSA-N 1-butylpyridin-1-ium Chemical compound CCCC[N+]1=CC=CC=C1 REACWASHYHDPSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WACRAFUNNYGNEQ-UHFFFAOYSA-N 1-ethyl-1-methylpiperidin-1-ium Chemical compound CC[N+]1(C)CCCCC1 WACRAFUNNYGNEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIHOUJYFWMURBG-UHFFFAOYSA-N 1-ethyl-1-methylpyrrolidin-1-ium Chemical compound CC[N+]1(C)CCCC1 NIHOUJYFWMURBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IRGDPGYNHSIIJJ-UHFFFAOYSA-N 1-ethyl-2,3-dimethylimidazol-3-ium Chemical compound CCN1C=C[N+](C)=C1C IRGDPGYNHSIIJJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VMZNMSUASLBPDS-UHFFFAOYSA-N 1-ethyl-2-methyl-4,5-dihydroimidazole Chemical compound CCN1CCN=C1C VMZNMSUASLBPDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OIDIRWZVUWCCCO-UHFFFAOYSA-N 1-ethylpyridin-1-ium Chemical compound CC[N+]1=CC=CC=C1 OIDIRWZVUWCCCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ANFXTILBDGTSEG-UHFFFAOYSA-N 1-methyl-4,5-dihydroimidazole Chemical compound CN1CCN=C1 ANFXTILBDGTSEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ABNDDOBSIHWESM-UHFFFAOYSA-N 1-methyl-5,6-dihydro-4h-pyrimidine Chemical compound CN1CCCN=C1 ABNDDOBSIHWESM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MCTWTZJPVLRJOU-UHFFFAOYSA-O 1-methylimidazole Chemical compound CN1C=C[NH+]=C1 MCTWTZJPVLRJOU-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- GIWQSPITLQVMSG-UHFFFAOYSA-O 2,3-dimethylimidazolium ion Chemical compound CC1=[NH+]C=CN1C GIWQSPITLQVMSG-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- IWDFHWZHHOSSGR-UHFFFAOYSA-O 3-ethyl-1h-imidazol-3-ium Chemical compound CCN1C=C[NH+]=C1 IWDFHWZHHOSSGR-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- UNPLRYRWJLTVAE-UHFFFAOYSA-N Cloperastine hydrochloride Chemical compound Cl.C1=CC(Cl)=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)OCCN1CCCCC1 UNPLRYRWJLTVAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-O Imidazolium Chemical compound C1=C[NH+]=CN1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-O Methylammonium ion Chemical compound [NH3+]C BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001362 Ta alloys Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] Chemical compound [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 1
- 125000006615 aromatic heterocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- NCMHKCKGHRPLCM-UHFFFAOYSA-N caesium(1+) Chemical compound [Cs+] NCMHKCKGHRPLCM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 1
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- ZJHQDSMOYNLVLX-UHFFFAOYSA-N diethyl(dimethyl)azanium Chemical compound CC[N+](C)(C)CC ZJHQDSMOYNLVLX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-O diethylammonium Chemical compound CC[NH2+]CC HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-O ethylaminium Chemical compound CC[NH3+] QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- YOMFVLRTMZWACQ-UHFFFAOYSA-N ethyltrimethylammonium Chemical compound CC[N+](C)(C)C YOMFVLRTMZWACQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical group 0.000 description 1
- 229910001410 inorganic ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- NNCAWEWCFVZOGF-UHFFFAOYSA-N mepiquat Chemical compound C[N+]1(C)CCCCC1 NNCAWEWCFVZOGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- DAZXVJBJRMWXJP-UHFFFAOYSA-N n,n-dimethylethylamine Chemical compound CCN(C)C DAZXVJBJRMWXJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GNVRJGIVDSQCOP-UHFFFAOYSA-N n-ethyl-n-methylethanamine Chemical compound CCN(C)CC GNVRJGIVDSQCOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000012454 non-polar solvent Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-O phosphonium Chemical compound [PH4+] XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-O pyridinium Chemical compound C1=CC=[NH+]C=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-O sulfonium Chemical compound [SH3+] RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- QEMXHQIAXOOASZ-UHFFFAOYSA-N tetramethylammonium Chemical compound C[N+](C)(C)C QEMXHQIAXOOASZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- WYXIGTJNYDDFFH-UHFFFAOYSA-Q triazanium;borate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[NH4+].[O-]B([O-])[O-] WYXIGTJNYDDFFH-UHFFFAOYSA-Q 0.000 description 1
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-O triethylammonium ion Chemical compound CC[NH+](CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N trimethylamine Chemical compound CN(C)C GETQZCLCWQTVFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 素子容量が充分に小さく、電圧−電流特性の
急峻性が充分に大きく、かつ電圧−電流特性の経時変化
が小さいMIM型非線形素子およびこれを用いた高画質
の液晶表示パネルを提供し、さらに、前記MIM型非線
形素子の製造のための非水系化成液およびこの化成液を
用いた製造方法を提供する。 【解決手段】 非水系化成液は、有機溶媒、溶質および
水を含み、前記溶質は少なくともタングステン酸塩を含
み、かつ、前記水は1〜10重量%の割合で含まれる。
前記タングステン酸塩は、タングステン酸アンモニウム
であることが望ましい。MIM型非線形素子は、その絶
縁膜が前記非水系化成液を用いた陽極酸化によって形成
される。
急峻性が充分に大きく、かつ電圧−電流特性の経時変化
が小さいMIM型非線形素子およびこれを用いた高画質
の液晶表示パネルを提供し、さらに、前記MIM型非線
形素子の製造のための非水系化成液およびこの化成液を
用いた製造方法を提供する。 【解決手段】 非水系化成液は、有機溶媒、溶質および
水を含み、前記溶質は少なくともタングステン酸塩を含
み、かつ、前記水は1〜10重量%の割合で含まれる。
前記タングステン酸塩は、タングステン酸アンモニウム
であることが望ましい。MIM型非線形素子は、その絶
縁膜が前記非水系化成液を用いた陽極酸化によって形成
される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スイッチング素子
に用いられる2端子型非線形素子の製造のための非水系
化成液、この非水系化成液を用いた2端子型非線形素子
の製造方法、この製造方法によって得られる2端子型非
線形素子およびこれを用いた液晶表示パネルに関する。
に用いられる2端子型非線形素子の製造のための非水系
化成液、この非水系化成液を用いた2端子型非線形素子
の製造方法、この製造方法によって得られる2端子型非
線形素子およびこれを用いた液晶表示パネルに関する。
【0002】
【背景技術】アクティブマトリクス方式の液晶表示装置
は、画素領域毎にスイッチング素子を設けてマトリクス
アレイを形成したアクティブマトリクス基板と、たとえ
ばカラーフィルタを設けた対向基板との間に液晶を充填
しておき、各画素領域毎の液晶の配向状態を制御して、
所定の画像情報を表示するものである。スイッチング素
子としては、一般に、薄膜トランジスタ(TFT)など
の3端子素子または金属−絶縁体−金属(MIM)型非
線形素子(以下、「MIM素子」ともいう。)などの2
端子素子が用いられている。そして、2端子素子を用い
たスイッチング素子は、3端子素子に比べ、クロスオー
バ短絡の発生がなく、製造工程を簡略化できるという点
で優れている。
は、画素領域毎にスイッチング素子を設けてマトリクス
アレイを形成したアクティブマトリクス基板と、たとえ
ばカラーフィルタを設けた対向基板との間に液晶を充填
しておき、各画素領域毎の液晶の配向状態を制御して、
所定の画像情報を表示するものである。スイッチング素
子としては、一般に、薄膜トランジスタ(TFT)など
の3端子素子または金属−絶縁体−金属(MIM)型非
線形素子(以下、「MIM素子」ともいう。)などの2
端子素子が用いられている。そして、2端子素子を用い
たスイッチング素子は、3端子素子に比べ、クロスオー
バ短絡の発生がなく、製造工程を簡略化できるという点
で優れている。
【0003】MIM素子を用いた液晶表示装置におい
て、コントラストが高く、かつ、表示ムラ、残像および
焼き付きなどの現象が認識できない高画質の液晶表示パ
ネルを実現するためには、MIM素子の特性として以下
の条件を満足することが重要である。
て、コントラストが高く、かつ、表示ムラ、残像および
焼き付きなどの現象が認識できない高画質の液晶表示パ
ネルを実現するためには、MIM素子の特性として以下
の条件を満足することが重要である。
【0004】(1)MIM素子の容量が液晶表示パネル
の容量に対して充分に小さいこと、(2)MIM素子の
電圧−電流特性の経時変化が充分に小さいこと、(3)
MIM素子の電圧−電流特性の対称性が良いこと、
(4)MIM素子の電圧−電流特性の急峻性が充分に大
きいこと、(5)MIM素子の素子抵抗が広い電圧範囲
において充分に一様であること。
の容量に対して充分に小さいこと、(2)MIM素子の
電圧−電流特性の経時変化が充分に小さいこと、(3)
MIM素子の電圧−電流特性の対称性が良いこと、
(4)MIM素子の電圧−電流特性の急峻性が充分に大
きいこと、(5)MIM素子の素子抵抗が広い電圧範囲
において充分に一様であること。
【0005】すなわち、コントラストを高くするために
は、MIM素子の容量が液晶表示パネルの容量に対して
充分に小さく、かつ、MIM素子の電圧−電流特性の急
峻性が充分に大きいことが必要である。表示ムラが認識
できないようにするには、MIM素子の素子抵抗が広い
電圧範囲において、充分に一様であることが必要であ
る。残像が認識できないようにするには、MIM素子の
電圧−電流特性の経時変化が充分に小さいことが必要で
ある。さらに、焼き付きが認識できないようにするに
は、MIM素子の電圧−電流特性の経時変化が充分に小
さく、かつ、MIM素子の電圧−電流特性の対称性が良
いこと、が必要である。
は、MIM素子の容量が液晶表示パネルの容量に対して
充分に小さく、かつ、MIM素子の電圧−電流特性の急
峻性が充分に大きいことが必要である。表示ムラが認識
できないようにするには、MIM素子の素子抵抗が広い
電圧範囲において、充分に一様であることが必要であ
る。残像が認識できないようにするには、MIM素子の
電圧−電流特性の経時変化が充分に小さいことが必要で
ある。さらに、焼き付きが認識できないようにするに
は、MIM素子の電圧−電流特性の経時変化が充分に小
さく、かつ、MIM素子の電圧−電流特性の対称性が良
いこと、が必要である。
【0006】ここで、「残像」とは、ある画像を数分表
示した後に異なる画像を表示したときに、以前に表示し
ていた画像が認識される現象のことである。また、「焼
き付き」とは、ある画像を数時間表示した後に異なる画
像を表示したときに、以前に表示していた画像が認識さ
れる現象のことである。さらに、「電圧−電流特性の対
称性がよいこと」とは、ある電圧において、第1の導電
膜から第2の導電膜に電流を流すときと、第2の導電膜
から第1の導電膜に電流を流すときと、の電流の絶対値
の差が充分に小さくなることである。
示した後に異なる画像を表示したときに、以前に表示し
ていた画像が認識される現象のことである。また、「焼
き付き」とは、ある画像を数時間表示した後に異なる画
像を表示したときに、以前に表示していた画像が認識さ
れる現象のことである。さらに、「電圧−電流特性の対
称性がよいこと」とは、ある電圧において、第1の導電
膜から第2の導電膜に電流を流すときと、第2の導電膜
から第1の導電膜に電流を流すときと、の電流の絶対値
の差が充分に小さくなることである。
【0007】MIM素子の技術を開示した文献としては
以下のものが例示される。
以下のものが例示される。
【0008】(a)たとえば、特開昭52−14909
0号公報においては、タンタルからなる第1の導電膜
と、この第1の導電膜が陽極酸化されて形成される金属
酸化膜からなる絶縁膜と、この絶縁膜の表面に形成され
たクロムからなる第2の導電膜とから構成されるMIM
素子が開示されている。前記絶縁膜は、第1の導電膜の
表面を陽極酸化して形成されることにより、ピンホール
がなく均一の膜厚で形成されている。また、特開昭57
−122478号公報では、陽極酸化の化成液(電解
液)として、クエン酸の希薄水溶液を用いることが開示
されている。
0号公報においては、タンタルからなる第1の導電膜
と、この第1の導電膜が陽極酸化されて形成される金属
酸化膜からなる絶縁膜と、この絶縁膜の表面に形成され
たクロムからなる第2の導電膜とから構成されるMIM
素子が開示されている。前記絶縁膜は、第1の導電膜の
表面を陽極酸化して形成されることにより、ピンホール
がなく均一の膜厚で形成されている。また、特開昭57
−122478号公報では、陽極酸化の化成液(電解
液)として、クエン酸の希薄水溶液を用いることが開示
されている。
【0009】これらの技術においては、前述したMIM
素子の特性の内(2)〜(5)の各特性において必ずし
も充分に良好でなかった。すなわち、電圧−電流特性の
経時変化、対称性および急峻性の点で不充分であり、か
つ、素子抵抗が広い電圧範囲において充分に一様でなか
った。そのため、このMIM素子を用いた液晶表示パネ
ルでは、広い温度範囲においてコントラストを高く保つ
ことが困難で、表示ムラも発生しやすいという問題があ
った。
素子の特性の内(2)〜(5)の各特性において必ずし
も充分に良好でなかった。すなわち、電圧−電流特性の
経時変化、対称性および急峻性の点で不充分であり、か
つ、素子抵抗が広い電圧範囲において充分に一様でなか
った。そのため、このMIM素子を用いた液晶表示パネ
ルでは、広い温度範囲においてコントラストを高く保つ
ことが困難で、表示ムラも発生しやすいという問題があ
った。
【0010】(b)国際公開された国際出願PCT/J
P94/00204(国際公開番号WO94/1860
0)においては、MIM素子の第1の導電膜として、タ
ンタルにタングステンを添加した合金膜を用いた構造が
開示されている。
P94/00204(国際公開番号WO94/1860
0)においては、MIM素子の第1の導電膜として、タ
ンタルにタングステンを添加した合金膜を用いた構造が
開示されている。
【0011】この技術においては、MIM素子の第1の
導電膜を、タンタルに変えてタンタルとタングステンな
どの特定の元素との合金膜にしたため、前述した特性
(2)および(3)、すなわちMIM素子の電圧−電流
特性の経時変化および対称性の点が、前述の文献(a)
の技術に比べて改善されたことから、残像を認識できな
いようなレベルにでき、さらに、広い温度範囲でコント
ラストを高く保つことができるようになった。しかしな
がら、この技術でも高温時のコントラスト特性が要求さ
れるような用途においては、マージンが不充分であると
いう問題があった。
導電膜を、タンタルに変えてタンタルとタングステンな
どの特定の元素との合金膜にしたため、前述した特性
(2)および(3)、すなわちMIM素子の電圧−電流
特性の経時変化および対称性の点が、前述の文献(a)
の技術に比べて改善されたことから、残像を認識できな
いようなレベルにでき、さらに、広い温度範囲でコント
ラストを高く保つことができるようになった。しかしな
がら、この技術でも高温時のコントラスト特性が要求さ
れるような用途においては、マージンが不充分であると
いう問題があった。
【0012】(c)Jpn.J.Appl.Phys,
31,4582(1992)においては、MIM素子の
絶縁膜を形成するための陽極酸化の化成液としてリン酸
やホウ酸アンモニウムの希薄水溶液を用いることが開示
されている。
31,4582(1992)においては、MIM素子の
絶縁膜を形成するための陽極酸化の化成液としてリン酸
やホウ酸アンモニウムの希薄水溶液を用いることが開示
されている。
【0013】この技術においては、前述した特性の
(2)および(3)、つまりMIM素子の電圧−電流特
性の経時変化および対称性の点が、前述の文献(a)に
比べて改良され、残像が認識できないようなレベルにで
き、さらに広い温度範囲でコントラストを高く保つこと
ができるようになった。しかしながら、この技術でも、
素子の信頼性が低く破壊されやすく、表示ムラが発生し
やすい、という問題があった。
(2)および(3)、つまりMIM素子の電圧−電流特
性の経時変化および対称性の点が、前述の文献(a)に
比べて改良され、残像が認識できないようなレベルにで
き、さらに広い温度範囲でコントラストを高く保つこと
ができるようになった。しかしながら、この技術でも、
素子の信頼性が低く破壊されやすく、表示ムラが発生し
やすい、という問題があった。
【0014】(d)さらに、特開平2−93433号公
報においては、MIM素子の第1の導電膜としてタンタ
ルとシリコンの合金膜を用いた構造が開示されている。
報においては、MIM素子の第1の導電膜としてタンタ
ルとシリコンの合金膜を用いた構造が開示されている。
【0015】この技術においては、前述の文献(a)の
技術に比較して、電圧−電流特性の急峻性を改善するこ
とができ、広い温度範囲において充分なマージンをもっ
てコントラストを高く保つことができるようになった。
しかしながら、この技術でも、素子の信頼性が低く破壊
されやすく、表示ムラが発生しやすい、という問題点が
あった。
技術に比較して、電圧−電流特性の急峻性を改善するこ
とができ、広い温度範囲において充分なマージンをもっ
てコントラストを高く保つことができるようになった。
しかしながら、この技術でも、素子の信頼性が低く破壊
されやすく、表示ムラが発生しやすい、という問題点が
あった。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前述
したMIM素子に要求される特性(1)〜(5)に優
れ、特に、素子容量が充分に小さく、電圧−電流特性の
急峻性が充分に大きく、かつ電圧−電流特性の経時変化
が小さく信頼性の高い2端子型非線形素子、およびこれ
を用いた、コントラストが高い高画質の液晶表示パネル
を提供することにある。
したMIM素子に要求される特性(1)〜(5)に優
れ、特に、素子容量が充分に小さく、電圧−電流特性の
急峻性が充分に大きく、かつ電圧−電流特性の経時変化
が小さく信頼性の高い2端子型非線形素子、およびこれ
を用いた、コントラストが高い高画質の液晶表示パネル
を提供することにある。
【0017】さらに、本発明の他の目的は、上述した優
れた特性を有する2端子型非線形素子の製造のための非
水系化成液およびこの化成液を用いた製造方法を提供す
ることにある。
れた特性を有する2端子型非線形素子の製造のための非
水系化成液およびこの化成液を用いた製造方法を提供す
ることにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明にかかる2端子型
非線形素子(以下、「MIM型非線形素子」という)の
製造のための非水系化成液は、有機溶媒、溶質および水
を含み、前記溶質は少なくともタングステン酸塩を含
み、かつ、前記水は1〜10重量%の割合で含まれるこ
とを特徴とする。
非線形素子(以下、「MIM型非線形素子」という)の
製造のための非水系化成液は、有機溶媒、溶質および水
を含み、前記溶質は少なくともタングステン酸塩を含
み、かつ、前記水は1〜10重量%の割合で含まれるこ
とを特徴とする。
【0019】この発明によれば、陽極酸化時に溶質を構
成する物質、特にタングステン原子が酸化膜内に取り込
まれることにより、電圧−電流特性の急峻性が大きく、
かつ電圧−電流特性の経時変化が小さいものとなる。そ
して、本発明においては、陽極酸化のために用いられる
化成液にタングステンを含む溶質を用いることから、陽
極酸化膜に取り込まれるタングステンの濃度を小さい範
囲で正確かつ容易にコントロールすることができる。
成する物質、特にタングステン原子が酸化膜内に取り込
まれることにより、電圧−電流特性の急峻性が大きく、
かつ電圧−電流特性の経時変化が小さいものとなる。そ
して、本発明においては、陽極酸化のために用いられる
化成液にタングステンを含む溶質を用いることから、陽
極酸化膜に取り込まれるタングステンの濃度を小さい範
囲で正確かつ容易にコントロールすることができる。
【0020】前記タングステン酸塩は、1級,2級,3
級および4級アンモニウム塩の少なくとも1種、特に4
級アンモニウム塩であることが望ましい。
級および4級アンモニウム塩の少なくとも1種、特に4
級アンモニウム塩であることが望ましい。
【0021】前記非水系化成液は、そのpHは、好まし
くは8〜13、より好ましくは9〜12である。
くは8〜13、より好ましくは9〜12である。
【0022】また、前記有機溶媒は、エチレングリコー
ルあるいはエチレングリコールを主成分とするものであ
ることが望ましい。
ルあるいはエチレングリコールを主成分とするものであ
ることが望ましい。
【0023】本発明のMIM型非線形素子は、(a)基
板上に、タンタルからなる第1の導電膜を形成する工
程、(b)前記第1の導電膜を、本発明に係る非水系化
成液中で陽極酸化して、該第1の導電膜の表面に絶縁膜
を形成する工程、(c)前記絶縁膜の表面に第2の導電
膜を形成する工程、を含むプロセスによって製造するこ
とができる。なお、本発明においては、MIM型非線形
素子を構成する第2の導電膜は金属に限定されず、IT
O(酸化インジウム−酸化スズ)などの導電膜を含む。
板上に、タンタルからなる第1の導電膜を形成する工
程、(b)前記第1の導電膜を、本発明に係る非水系化
成液中で陽極酸化して、該第1の導電膜の表面に絶縁膜
を形成する工程、(c)前記絶縁膜の表面に第2の導電
膜を形成する工程、を含むプロセスによって製造するこ
とができる。なお、本発明においては、MIM型非線形
素子を構成する第2の導電膜は金属に限定されず、IT
O(酸化インジウム−酸化スズ)などの導電膜を含む。
【0024】本発明の非水系化成液および製造方法を用
いて得られた、本発明のMIM型非線形素子は、前述し
たように、電圧−電流特性の急峻性が大きいこと、およ
び絶縁膜の膜特性が安定で電圧−電流特性の経時変化が
小さいこと、などの優れた特性を有する。
いて得られた、本発明のMIM型非線形素子は、前述し
たように、電圧−電流特性の急峻性が大きいこと、およ
び絶縁膜の膜特性が安定で電圧−電流特性の経時変化が
小さいこと、などの優れた特性を有する。
【0025】さらに、本発明の液晶表示パネルは、上述
したMIM型非線形素子を備えたことを特徴とし、より
具体的には、透明な基板、この基板上に所定のパターン
で配設された一方の信号線、この信号線に接続された本
発明の複数のMIM型非線形素子、およびこのMIM型
非線形素子に接続された画素電極を備えた第1の基板
と、前記画素電極に対向する位置に他方の信号線を備え
た第2の基板と、前記第1の基板と前記第2の基板との
間に封入された液晶層と、含むことを特徴とする。この
液晶表示パネルによれば、コントラストが高く、残像な
どが発生しにくく、したがって高品質の画像表示が可能
であり、幅広い用途に適用することができる。
したMIM型非線形素子を備えたことを特徴とし、より
具体的には、透明な基板、この基板上に所定のパターン
で配設された一方の信号線、この信号線に接続された本
発明の複数のMIM型非線形素子、およびこのMIM型
非線形素子に接続された画素電極を備えた第1の基板
と、前記画素電極に対向する位置に他方の信号線を備え
た第2の基板と、前記第1の基板と前記第2の基板との
間に封入された液晶層と、含むことを特徴とする。この
液晶表示パネルによれば、コントラストが高く、残像な
どが発生しにくく、したがって高品質の画像表示が可能
であり、幅広い用途に適用することができる。
【0026】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
について、図面を参照しながら説明する。
について、図面を参照しながら説明する。
【0027】(MIM型非線形素子および液晶表示パネ
ル)図1は、本発明のMIM型非線形素子を用いた液晶
駆動電極の1単位を模式的に示す平面図であり、図2
は、図1におけるA−A線に沿った部分を模式的に示す
断面図である。
ル)図1は、本発明のMIM型非線形素子を用いた液晶
駆動電極の1単位を模式的に示す平面図であり、図2
は、図1におけるA−A線に沿った部分を模式的に示す
断面図である。
【0028】MIM型非線形素子20は、絶縁性ならび
に透明性を有する基板、たとえばガラス,プラスチック
などからなる基板(第1の基板)30と、この基板30
の表面に形成された絶縁膜31と、タンタルあるいはタ
ンタルを主成分とする第1の導電膜22と、この第1の
導電膜22の表面に陽極酸化によって形成された絶縁膜
24と、この絶縁膜24の表面に形成された第2の導電
膜26とから構成されている。そして、前記MIM型非
線形素子20の第1の導電膜22は信号線(走査線また
はデータ線)12に接続され、第2の導電膜26は画素
電極34に接続されている。
に透明性を有する基板、たとえばガラス,プラスチック
などからなる基板(第1の基板)30と、この基板30
の表面に形成された絶縁膜31と、タンタルあるいはタ
ンタルを主成分とする第1の導電膜22と、この第1の
導電膜22の表面に陽極酸化によって形成された絶縁膜
24と、この絶縁膜24の表面に形成された第2の導電
膜26とから構成されている。そして、前記MIM型非
線形素子20の第1の導電膜22は信号線(走査線また
はデータ線)12に接続され、第2の導電膜26は画素
電極34に接続されている。
【0029】前記絶縁膜31は、たとえば酸化タンタル
から構成されている。前記絶縁膜31は、第2の導電膜
26の堆積後に行われる熱処理よって、第1の導電膜2
2の剥離が生じないこと、および基板30からの第1の
導電膜22への不純物の拡散を防止することを目的とし
て形成されているので、これらのことが問題にならない
場合は必ずしも必要でない。
から構成されている。前記絶縁膜31は、第2の導電膜
26の堆積後に行われる熱処理よって、第1の導電膜2
2の剥離が生じないこと、および基板30からの第1の
導電膜22への不純物の拡散を防止することを目的とし
て形成されているので、これらのことが問題にならない
場合は必ずしも必要でない。
【0030】前記絶縁膜24は、後に詳述するように、
特定の非水系化成液中で陽極酸化することによって形成
される。そして、この絶縁膜24は、化成液中の溶媒お
よび溶質の少なくとも一方を構成する物質、少なくとも
溶質を構成するタングステン原子を含んで構成される。
特定の非水系化成液中で陽極酸化することによって形成
される。そして、この絶縁膜24は、化成液中の溶媒お
よび溶質の少なくとも一方を構成する物質、少なくとも
溶質を構成するタングステン原子を含んで構成される。
【0031】前記第2の導電膜26は特に限定されない
が、通常クロムによって構成される。また、前記画素電
極34は、ITO膜等の透明導電膜から構成される。
が、通常クロムによって構成される。また、前記画素電
極34は、ITO膜等の透明導電膜から構成される。
【0032】また、図3に示すように、第2の導電膜お
よび画素電極は、同一の透明導電膜36によって構成し
てもよい。このように第2の導電膜および画素電極を単
一の膜で形成することにより、膜形成に要する製造工程
を少なくすることができる。
よび画素電極は、同一の透明導電膜36によって構成し
てもよい。このように第2の導電膜および画素電極を単
一の膜で形成することにより、膜形成に要する製造工程
を少なくすることができる。
【0033】次に、前記MIM型非線形素子20を用い
た液晶表示パネルの一例について説明する。
た液晶表示パネルの一例について説明する。
【0034】図4は、前記MIM型非線形素子20を用
いたアクティブマトリクス方式の液晶表示パネルの等価
回路の一例を示す。この液晶表示パネル10は、走査信
号駆動回路100およびデータ信号駆動回路110を含
む。液晶表示パネル10には、信号線、すなわち複数の
走査線12および複数のデータ線14が設けられ、前記
走査線12は前記走査信号駆動回路100により、前記
データ線14は前記データ信号駆動回路110により駆
動される。そして、各画素領域16において、走査線1
2と信号線14との間にMIM型非線形素子20と液晶
表示要素(液晶層)40とが直列に接続されている。な
お、図4では、MIM型非線形素子20が走査線12側
に接続され、液晶表示要素41がデータ線14側に接続
されているが、これとは逆にMIM型非線形素子20を
データ線14側に、液晶表示要素41を走査線12側に
設ける構成としてもよい。
いたアクティブマトリクス方式の液晶表示パネルの等価
回路の一例を示す。この液晶表示パネル10は、走査信
号駆動回路100およびデータ信号駆動回路110を含
む。液晶表示パネル10には、信号線、すなわち複数の
走査線12および複数のデータ線14が設けられ、前記
走査線12は前記走査信号駆動回路100により、前記
データ線14は前記データ信号駆動回路110により駆
動される。そして、各画素領域16において、走査線1
2と信号線14との間にMIM型非線形素子20と液晶
表示要素(液晶層)40とが直列に接続されている。な
お、図4では、MIM型非線形素子20が走査線12側
に接続され、液晶表示要素41がデータ線14側に接続
されているが、これとは逆にMIM型非線形素子20を
データ線14側に、液晶表示要素41を走査線12側に
設ける構成としてもよい。
【0035】図5は、本実施の形態に係る液晶表示パネ
ルの構造の一例を模式的に示す斜視図である。この液晶
表示パネル10は、2枚の基板、すなわち第1の基板3
0と第2の基板32とが対向して設けられ、これらの基
板30,32間に液晶が封入されている。前記第1の基
板30上には、前述したように、絶縁膜31が形成され
ている。この絶縁膜31の表面には、信号線(走査線)
12が複数設けられている。そして、第2の基板32に
は、前記走査線12に交差するようにデータ線14が短
冊状に複数形成されている。さらに、画素電極34はM
IM素子20を介して走査線12に接続されている。
ルの構造の一例を模式的に示す斜視図である。この液晶
表示パネル10は、2枚の基板、すなわち第1の基板3
0と第2の基板32とが対向して設けられ、これらの基
板30,32間に液晶が封入されている。前記第1の基
板30上には、前述したように、絶縁膜31が形成され
ている。この絶縁膜31の表面には、信号線(走査線)
12が複数設けられている。そして、第2の基板32に
は、前記走査線12に交差するようにデータ線14が短
冊状に複数形成されている。さらに、画素電極34はM
IM素子20を介して走査線12に接続されている。
【0036】そして、走査線12と信号線14とに印加
された信号に基づいて、液晶表示要素41を表示状態,
非表示状態またはその中間状態に切り替えて表示動作を
制御する。表示動作の制御方法については、一般的に用
いられる方法を適用できる。
された信号に基づいて、液晶表示要素41を表示状態,
非表示状態またはその中間状態に切り替えて表示動作を
制御する。表示動作の制御方法については、一般的に用
いられる方法を適用できる。
【0037】図6および図7は、MIM型非線形素子の
さらに他の実施の形態を示す。図6は、この実施の形態
のMIM型非線形素子を用いた液晶駆動電極の1単位を
模式的に示す平面図であり、図7は、図6におけるB−
B線に沿った部分を模式的に示す断面図である。
さらに他の実施の形態を示す。図6は、この実施の形態
のMIM型非線形素子を用いた液晶駆動電極の1単位を
模式的に示す平面図であり、図7は、図6におけるB−
B線に沿った部分を模式的に示す断面図である。
【0038】このMIM型非線形素子40は、バック・
ツー・バック(back−to−back)構造を有す
る点で前述したMIM型非線形素子20と異なる。つま
り、MIM型非線形素子40は、第1のMIM型非線形
素子40aと第2のMIM型非線形素子40bとを、極
性を反対にして直列に接続した構造を有する。
ツー・バック(back−to−back)構造を有す
る点で前述したMIM型非線形素子20と異なる。つま
り、MIM型非線形素子40は、第1のMIM型非線形
素子40aと第2のMIM型非線形素子40bとを、極
性を反対にして直列に接続した構造を有する。
【0039】具体的には、絶縁性ならびに透明性を有す
る基板、たとえばガラス,プラスチックなどからなる基
板(第1の基板)30と、この基板30の表面に形成さ
れた絶縁膜31と、タンタルからなる第1の導電膜42
と、この第1の導電膜42の表面に陽極酸化によって形
成された絶縁膜44と、この絶縁膜44の表面に形成さ
れ、相互に離間した2つの第2の導電膜46a,46b
とから構成されている。そして、前記第1のMIM型非
線形素子40aの第2の導電膜46aは信号線(走査線
またはデータ線)48に接続され、前記第2のMIM型
非線形素子40bの第2の導電膜46bは画素電極45
に接続されている。なお、前記絶縁膜44は、図1およ
び図2に示したMIM型非線形素子20の絶縁膜24に
比べて膜厚が薄く設定され、たとえば約半分程度に形成
されている。
る基板、たとえばガラス,プラスチックなどからなる基
板(第1の基板)30と、この基板30の表面に形成さ
れた絶縁膜31と、タンタルからなる第1の導電膜42
と、この第1の導電膜42の表面に陽極酸化によって形
成された絶縁膜44と、この絶縁膜44の表面に形成さ
れ、相互に離間した2つの第2の導電膜46a,46b
とから構成されている。そして、前記第1のMIM型非
線形素子40aの第2の導電膜46aは信号線(走査線
またはデータ線)48に接続され、前記第2のMIM型
非線形素子40bの第2の導電膜46bは画素電極45
に接続されている。なお、前記絶縁膜44は、図1およ
び図2に示したMIM型非線形素子20の絶縁膜24に
比べて膜厚が薄く設定され、たとえば約半分程度に形成
されている。
【0040】(化成液)次に、本発明の化成液について
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【0041】本発明の化成液は、有機溶媒、溶質および
水を含んでなる非水系化成液である。
水を含んでなる非水系化成液である。
【0042】そして、前記溶質は少なくともタングステ
ン酸塩を含み、かつ、前記水は1〜10重量%、好まし
くは3〜5重量%の割合で含まれる。
ン酸塩を含み、かつ、前記水は1〜10重量%、好まし
くは3〜5重量%の割合で含まれる。
【0043】前記タングステン酸塩としては、WO4 2-
からなるオルト酸塩、WO6 6-からなるパラ酸塩および
これらの脱水縮合したポリ酸塩などが挙げられる。
からなるオルト酸塩、WO6 6-からなるパラ酸塩および
これらの脱水縮合したポリ酸塩などが挙げられる。
【0044】また、タングステン酸塩の陽イオン成分と
しては、リチウム、ナトリウム、カリウム、アンモニウ
ムなどの無機イオンおよび1,2,3または4級アンモ
ニウム、ホスホニウム、スルホニウムなどの有機イオン
が挙げられるが、有機溶媒への溶解性の点から有機イオ
ンが好ましく、経済性の点から1,2,3または4級ア
ンモニウムが特に好ましい。また、1,2,3または4
級アンモニウムとしては、その有機置換基が炭素数1〜
4の炭化水素基であるものが電気伝導率の点から好まし
く、アルキル基同士が互いに結合している複素環アンモ
ニウムでも良い。
しては、リチウム、ナトリウム、カリウム、アンモニウ
ムなどの無機イオンおよび1,2,3または4級アンモ
ニウム、ホスホニウム、スルホニウムなどの有機イオン
が挙げられるが、有機溶媒への溶解性の点から有機イオ
ンが好ましく、経済性の点から1,2,3または4級ア
ンモニウムが特に好ましい。また、1,2,3または4
級アンモニウムとしては、その有機置換基が炭素数1〜
4の炭化水素基であるものが電気伝導率の点から好まし
く、アルキル基同士が互いに結合している複素環アンモ
ニウムでも良い。
【0045】アンモニウム塩の具体例としては、たとえ
ば、メチルアンモニウム、エチルアンモニウムなどの脂
肪族1級アンモニウム類;ジメチルアンモニウム、ジエ
チルアンモニウムなどの脂肪族2級アンモニウム類;ト
リメチルアンモニウム、ジメチルエチルアンモニウム、
メチルジエチルアンモニウム、トリエチルアンモニウム
などの脂肪族3級アンモニウム類;1−メチルイミダゾ
リニウム、1,2−ジメチルイミダゾリニウム、1−エ
チル−2−メチルイミダゾリニウム、1,2,4−トリ
メチルイミダゾリニウム、1−メチル−1,4,5,6
−テトラヒドロピリミジニウム、1,2−ジメチル−
1,4,5,6−テトラヒドロピリミジニウム、5−ア
ゾニア−1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]ノネン
−5、8−アゾニア−1,8−ジアザビシクロ[5.
4.0]ウンデセン−7などの脂肪族複素環3級アンモ
ニウム類;ピリジニウム、1−メチルイミダゾリウム、
1−エチルイミダゾリウム、1,2−ジメチルイミダゾ
リウムなどの芳香族複素環3級アンモニウム類;テトラ
メチルアンモニウム、トリメチルエチルアンモニウム、
ジメチルジエチルアンモニウム、メチルトリエチルアン
モニウム、テトラエチルアンモニウムなどの脂肪族4級
アンモニウム;1,1−ジメチルピロリジニウム、1−
メチル−1−エチルピロリジニウム、1,1−ジエチル
ピロリジニウム、1,1−ジメチルピペリジニウム、1
−メチル−1−エチルピペリジニウム、1,1−ジエチ
ルピペリジニウム、1,1−テトラメチレンピロリジニ
ウム、1,1−ペンタメチレンピロリジニウム、1,1
−テトラメチレンピペリジニウム、1,1−ペンタメチ
レンピペリジニウム、1,2,3−トリメチルイミダゾ
リニウム、1,2,3,4−テトラメチルイミダゾリニ
ウム、1−エチル−2,3−ジメチルイミダゾリニウム
などの脂肪族複素環4級アンモニウム類;1−エチルピ
リジニウム、1−ブチルピリジニウム、1,3−ジメチ
ルイミダゾリウム、1,2,3−トリメチルイミダゾリ
ウム、1−エチル−3−メチルイミダゾリウム、1−エ
チル−2,3−ジメチルイミダゾリウムなどの芳香族複
素環4級アンモニウム類などが挙げられる。
ば、メチルアンモニウム、エチルアンモニウムなどの脂
肪族1級アンモニウム類;ジメチルアンモニウム、ジエ
チルアンモニウムなどの脂肪族2級アンモニウム類;ト
リメチルアンモニウム、ジメチルエチルアンモニウム、
メチルジエチルアンモニウム、トリエチルアンモニウム
などの脂肪族3級アンモニウム類;1−メチルイミダゾ
リニウム、1,2−ジメチルイミダゾリニウム、1−エ
チル−2−メチルイミダゾリニウム、1,2,4−トリ
メチルイミダゾリニウム、1−メチル−1,4,5,6
−テトラヒドロピリミジニウム、1,2−ジメチル−
1,4,5,6−テトラヒドロピリミジニウム、5−ア
ゾニア−1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]ノネン
−5、8−アゾニア−1,8−ジアザビシクロ[5.
4.0]ウンデセン−7などの脂肪族複素環3級アンモ
ニウム類;ピリジニウム、1−メチルイミダゾリウム、
1−エチルイミダゾリウム、1,2−ジメチルイミダゾ
リウムなどの芳香族複素環3級アンモニウム類;テトラ
メチルアンモニウム、トリメチルエチルアンモニウム、
ジメチルジエチルアンモニウム、メチルトリエチルアン
モニウム、テトラエチルアンモニウムなどの脂肪族4級
アンモニウム;1,1−ジメチルピロリジニウム、1−
メチル−1−エチルピロリジニウム、1,1−ジエチル
ピロリジニウム、1,1−ジメチルピペリジニウム、1
−メチル−1−エチルピペリジニウム、1,1−ジエチ
ルピペリジニウム、1,1−テトラメチレンピロリジニ
ウム、1,1−ペンタメチレンピロリジニウム、1,1
−テトラメチレンピペリジニウム、1,1−ペンタメチ
レンピペリジニウム、1,2,3−トリメチルイミダゾ
リニウム、1,2,3,4−テトラメチルイミダゾリニ
ウム、1−エチル−2,3−ジメチルイミダゾリニウム
などの脂肪族複素環4級アンモニウム類;1−エチルピ
リジニウム、1−ブチルピリジニウム、1,3−ジメチ
ルイミダゾリウム、1,2,3−トリメチルイミダゾリ
ウム、1−エチル−3−メチルイミダゾリウム、1−エ
チル−2,3−ジメチルイミダゾリウムなどの芳香族複
素環4級アンモニウム類などが挙げられる。
【0046】これらの中でも溶解性、電気伝導率などの
点からトリエチルメチルアンモニウムおよびテトラエチ
ルアンモニウムが特に好ましい。
点からトリエチルメチルアンモニウムおよびテトラエチ
ルアンモニウムが特に好ましい。
【0047】前記非水系化成液は、pHメータで測定し
たpHが、好ましくは8〜13、より好ましくはpHが
9〜12である。非水系化成液のpHが13より大きい
と酸化膜が剥がれやすくなり、pHが8より小さいと電
解液の電気伝導率が小さくなりすぎて均一な酸化膜の作
成が困難になりやすい。
たpHが、好ましくは8〜13、より好ましくはpHが
9〜12である。非水系化成液のpHが13より大きい
と酸化膜が剥がれやすくなり、pHが8より小さいと電
解液の電気伝導率が小さくなりすぎて均一な酸化膜の作
成が困難になりやすい。
【0048】また、前記有機溶媒は、エチレングリコー
ルであることが望ましい。この有機溶媒には、ヘキサ
ン、トルエン、シリコ−ンオイル等の非極性溶媒を添加
することもできる。
ルであることが望ましい。この有機溶媒には、ヘキサ
ン、トルエン、シリコ−ンオイル等の非極性溶媒を添加
することもできる。
【0049】溶質の濃度は、化成液の電気伝導率、陽極
酸化膜中への溶質の添加量、pHなどの点を考慮して規
定される。たとえば、タングステン酸塩の濃度は、好ま
しくは1〜30重量%であり、より好ましくは1〜15
重量%である。
酸化膜中への溶質の添加量、pHなどの点を考慮して規
定される。たとえば、タングステン酸塩の濃度は、好ま
しくは1〜30重量%であり、より好ましくは1〜15
重量%である。
【0050】この発明によれば、陽極酸化時に溶質また
は溶媒、あるいはその両者を構成する物質、特に溶質を
構成するタングステン原子および溶媒を構成する炭素原
子が酸化膜内に取り込まれることにより、電圧−電流特
性の急峻性が大きく、かつ電圧−電流特性の経時変化が
小さいものとなる。そして、本発明において特徴的なこ
とは、有機溶媒を用い、これに溶質となるタングステン
酸塩を溶解することにより、陽極酸化によって得られた
酸化膜中に低濃度、例えば0.001〜0.5原子%の
範囲でタングステンを正確な濃度でかつ均一に取り込む
ことができる。電圧−電流特性の急峻性および電圧−電
流特性の経時変化が改善される理由は必ずしも明らかで
はないが、通常、酸化タンタルの化学量論組成(Ta2
O5)よりも酸素が過剰に含まれる陽極酸化膜におい
て、過剰な酸素の影響をタングステンが緩和することに
よるものと考えられる。また、化成液として有機溶媒を
用いることにより、MIM型非線形素子の容量を十分に
小さくできることを確認している。
は溶媒、あるいはその両者を構成する物質、特に溶質を
構成するタングステン原子および溶媒を構成する炭素原
子が酸化膜内に取り込まれることにより、電圧−電流特
性の急峻性が大きく、かつ電圧−電流特性の経時変化が
小さいものとなる。そして、本発明において特徴的なこ
とは、有機溶媒を用い、これに溶質となるタングステン
酸塩を溶解することにより、陽極酸化によって得られた
酸化膜中に低濃度、例えば0.001〜0.5原子%の
範囲でタングステンを正確な濃度でかつ均一に取り込む
ことができる。電圧−電流特性の急峻性および電圧−電
流特性の経時変化が改善される理由は必ずしも明らかで
はないが、通常、酸化タンタルの化学量論組成(Ta2
O5)よりも酸素が過剰に含まれる陽極酸化膜におい
て、過剰な酸素の影響をタングステンが緩和することに
よるものと考えられる。また、化成液として有機溶媒を
用いることにより、MIM型非線形素子の容量を十分に
小さくできることを確認している。
【0051】(MIM型非線形素子の製造プロセス)次
に、たとえば図2に示すMIM型非線形素子20の製造
方法について説明する。本発明の製造方法においては、
第1の導電膜を特定の非水系化成液中おいて陽極酸化す
ることを特徴としている。
に、たとえば図2に示すMIM型非線形素子20の製造
方法について説明する。本発明の製造方法においては、
第1の導電膜を特定の非水系化成液中おいて陽極酸化す
ることを特徴としている。
【0052】MIM型非線形素子20は、たとえば以下
のプロセスによって製造される。
のプロセスによって製造される。
【0053】(a)まず、基板30上に酸化タンタルか
らなる絶縁膜31が形成される。絶縁膜31は、例えば
スパッタリング法で堆積したタンタル膜を熱酸化する方
法、あるいは酸化タンタルからなるターゲットを用いた
スパッタリングやコスパッタリング法により形成するこ
とができる。この絶縁膜31は、第1の導電膜22の密
着性を向上させ、さらに基板30からの不純物の拡散を
防止するために設けられるものであるので、たとえば5
0〜200nm程度の膜厚で形成される。
らなる絶縁膜31が形成される。絶縁膜31は、例えば
スパッタリング法で堆積したタンタル膜を熱酸化する方
法、あるいは酸化タンタルからなるターゲットを用いた
スパッタリングやコスパッタリング法により形成するこ
とができる。この絶縁膜31は、第1の導電膜22の密
着性を向上させ、さらに基板30からの不純物の拡散を
防止するために設けられるものであるので、たとえば5
0〜200nm程度の膜厚で形成される。
【0054】次いで、絶縁膜31上に、タンタルあるい
はタンタル合金からなる第1の導電膜22が形成され
る。第1の導電膜の膜厚は、MIM型非線形素子の用途
によって好適な値が選択され、通常100〜500nm
程度とされる。第1の導電膜はスパッタリング法や電子
ビーム蒸着法で形成することができる。
はタンタル合金からなる第1の導電膜22が形成され
る。第1の導電膜の膜厚は、MIM型非線形素子の用途
によって好適な値が選択され、通常100〜500nm
程度とされる。第1の導電膜はスパッタリング法や電子
ビーム蒸着法で形成することができる。
【0055】前記第1の導電膜22は、一般に用いられ
ているフォトリソグラフィおよびエッチング技術によっ
てパターニングされる。そして、第1の導電膜22の形
成工程と同じ工程で信号線(走査線またはデータ線)1
2が形成される。
ているフォトリソグラフィおよびエッチング技術によっ
てパターニングされる。そして、第1の導電膜22の形
成工程と同じ工程で信号線(走査線またはデータ線)1
2が形成される。
【0056】(b)次いで、陽極酸化法を用いて前記第
1の導電膜22の表面を酸化させて、絶縁膜24を形成
する。このとき、信号線12の表面も同時に酸化され絶
縁膜が形成される。前記絶縁膜24は、その用途によっ
て好ましい膜厚が選択され、たとえば20〜70nm程
度とされる。
1の導電膜22の表面を酸化させて、絶縁膜24を形成
する。このとき、信号線12の表面も同時に酸化され絶
縁膜が形成される。前記絶縁膜24は、その用途によっ
て好ましい膜厚が選択され、たとえば20〜70nm程
度とされる。
【0057】陽極酸化は、化成液が安定に液体として存
在する温度範囲で行われ、この温度範囲は一般的に−2
0〜150℃であり、好ましくは室温〜100℃であ
る。また、陽極酸化時の電流および電圧の制御方法は特
に限定されないが、通常、予め定められた化成電圧(V
f)まで定電流で電気分解を行い、化成電圧Vfに達し
た後に、その電圧に一定時間保持される。この際の電流
密度は、好ましくは0.001〜10mA/cm2、よ
り好ましくは0.01〜1mA/cm2である。また、
化成電圧Vfは液晶表示パネルを作製する際の駆動回路
の設計にもよるが、通常、5〜100Vであり、好まし
くは10〜40Vである。
在する温度範囲で行われ、この温度範囲は一般的に−2
0〜150℃であり、好ましくは室温〜100℃であ
る。また、陽極酸化時の電流および電圧の制御方法は特
に限定されないが、通常、予め定められた化成電圧(V
f)まで定電流で電気分解を行い、化成電圧Vfに達し
た後に、その電圧に一定時間保持される。この際の電流
密度は、好ましくは0.001〜10mA/cm2、よ
り好ましくは0.01〜1mA/cm2である。また、
化成電圧Vfは液晶表示パネルを作製する際の駆動回路
の設計にもよるが、通常、5〜100Vであり、好まし
くは10〜40Vである。
【0058】陽極酸化に用いられる化成液は、前述した
ように、特定の溶質および水を含む非水系化成液であっ
て、この化成液によって基板面内で均質で経時変化の小
さい絶縁膜を得ることができる。
ように、特定の溶質および水を含む非水系化成液であっ
て、この化成液によって基板面内で均質で経時変化の小
さい絶縁膜を得ることができる。
【0059】(c)次いで、クロム,アルミニウム,チ
タン,モリブデンなどの金属膜を例えばスパッタリング
法によって堆積させることにより、第2の導電膜26が
形成される。第2の導電膜は、たとえば膜厚50〜30
0nmで形成され、その後通常使用されているフォトリ
ソグラフィおよびエッチング技術を用いてパターニング
される。次いで、ITO膜をスパッタリング法などによ
って膜厚30〜200nmで堆積させ、通常用いられる
フォトリソグラフィおよびエッチング技術を用いて所定
のパターンの画素電極34が形成される。
タン,モリブデンなどの金属膜を例えばスパッタリング
法によって堆積させることにより、第2の導電膜26が
形成される。第2の導電膜は、たとえば膜厚50〜30
0nmで形成され、その後通常使用されているフォトリ
ソグラフィおよびエッチング技術を用いてパターニング
される。次いで、ITO膜をスパッタリング法などによ
って膜厚30〜200nmで堆積させ、通常用いられる
フォトリソグラフィおよびエッチング技術を用いて所定
のパターンの画素電極34が形成される。
【0060】なお、図3に示すMIM型非線形素子20
においては、第2の導電膜と画素電極とが同一のITO
膜等の透明導電膜36によって形成される。この場合、
第2の導電膜と画素電極とを同一工程において形成でき
るため、製造プロセスをより簡略化することができる。
においては、第2の導電膜と画素電極とが同一のITO
膜等の透明導電膜36によって形成される。この場合、
第2の導電膜と画素電極とを同一工程において形成でき
るため、製造プロセスをより簡略化することができる。
【0061】
【実施例】以下に、本発明の具体的な実施例および比較
例を挙げて、さらに詳細に説明する。
例を挙げて、さらに詳細に説明する。
【0062】(実施例1)この実施例では、図6および
図7に示したバック・ツー・バック構造のMIM型非線
形素子を用いた。具体的には、ガラス基板上にスパッタ
リング法で膜厚150nmのタンタル膜を堆積し、さら
にパターニングを行って第1の導電膜を形成した。次い
で、10重量%のタングステン酸トリエチルメチルアン
モニウムおよび1.1重量%の水を含むエチレングリコ
ールを化成液(pH11.1)として用い、電流密度
0.04mA/cm2で電圧15Vに至るまで定電流電
解を行い、前記タンタル膜の陽極酸化を行った。その結
果、厚さ約30nmの酸化タンタル膜が形成された。
図7に示したバック・ツー・バック構造のMIM型非線
形素子を用いた。具体的には、ガラス基板上にスパッタ
リング法で膜厚150nmのタンタル膜を堆積し、さら
にパターニングを行って第1の導電膜を形成した。次い
で、10重量%のタングステン酸トリエチルメチルアン
モニウムおよび1.1重量%の水を含むエチレングリコ
ールを化成液(pH11.1)として用い、電流密度
0.04mA/cm2で電圧15Vに至るまで定電流電
解を行い、前記タンタル膜の陽極酸化を行った。その結
果、厚さ約30nmの酸化タンタル膜が形成された。
【0063】さらに、窒素雰囲気下において、400℃
で30分間にわたって熱処理を実施した後、大気雰囲気
中で冷却し、陽極酸化膜(絶縁膜)を安定化させた後、
この絶縁膜上にスパッタリング法によりクロムを膜厚1
00nmで堆積させ、さらにパターニングを行って第2
の導電膜を形成し、さらに第1の導電膜の素子を形成す
る部分と信号線をなす部分とをエッチングによって分離
してMIM型非線形素子を作製した。
で30分間にわたって熱処理を実施した後、大気雰囲気
中で冷却し、陽極酸化膜(絶縁膜)を安定化させた後、
この絶縁膜上にスパッタリング法によりクロムを膜厚1
00nmで堆積させ、さらにパターニングを行って第2
の導電膜を形成し、さらに第1の導電膜の素子を形成す
る部分と信号線をなす部分とをエッチングによって分離
してMIM型非線形素子を作製した。
【0064】(実施例2)実施例1における化成液の代
わりに、水の割合を4.3重量%とした化成液を用いた
他は、実施例1と同様にしてMIM型非線形素子を作製
した。
わりに、水の割合を4.3重量%とした化成液を用いた
他は、実施例1と同様にしてMIM型非線形素子を作製
した。
【0065】(実施例3)陽極酸化時の電圧を16Vに
したこと、および陽極酸化後の熱処理を350℃で30
分間にわたって行った後、冷却時に水蒸気を導入したこ
と以外は、実施例1と同様にしてMIM型非線形素子を
作成した。
したこと、および陽極酸化後の熱処理を350℃で30
分間にわたって行った後、冷却時に水蒸気を導入したこ
と以外は、実施例1と同様にしてMIM型非線形素子を
作成した。
【0066】(比較例1)実施例1における化成液の水
の含有量を11.1重量%とした他は、実施例1と同様
にしてMIM型非線形素子を作製した。
の含有量を11.1重量%とした他は、実施例1と同様
にしてMIM型非線形素子を作製した。
【0067】(実験例)次に、実施例および比較例のM
IM型非線形素子に関して行った実験例について述べ
る。
IM型非線形素子に関して行った実験例について述べ
る。
【0068】(a)SIMS 実施例1;まず、前記絶縁膜および第1の導電膜に含ま
れる各種原子のプロファイルを求めるために行った、セ
シウムイオンエッチングによるSIMSの結果を図8に
示す。図8において、横軸は、第1の導電膜および絶縁
膜における絶縁膜表面からの深さを示し、縦軸は、2次
イオンのカウント数を対数で示す。SIMSの分析にお
いては、データを見やすくするために、絶縁膜(酸化
膜)の膜厚を45nmとした。
れる各種原子のプロファイルを求めるために行った、セ
シウムイオンエッチングによるSIMSの結果を図8に
示す。図8において、横軸は、第1の導電膜および絶縁
膜における絶縁膜表面からの深さを示し、縦軸は、2次
イオンのカウント数を対数で示す。SIMSの分析にお
いては、データを見やすくするために、絶縁膜(酸化
膜)の膜厚を45nmとした。
【0069】図8に示すスペクルトルより、実施例1の
MIM型非線形素子においては、陽極酸化によって形成
された絶縁膜の表面から該絶縁膜の膜厚の約半分くらい
までの領域にタングステンが取り込まれていることがわ
かる。なお、絶縁膜の膜厚が変わっても、化成液中の溶
質が絶縁膜中に取り込まれる割合は、通常、絶縁膜の膜
厚によらず一定であることを確認している。
MIM型非線形素子においては、陽極酸化によって形成
された絶縁膜の表面から該絶縁膜の膜厚の約半分くらい
までの領域にタングステンが取り込まれていることがわ
かる。なお、絶縁膜の膜厚が変わっても、化成液中の溶
質が絶縁膜中に取り込まれる割合は、通常、絶縁膜の膜
厚によらず一定であることを確認している。
【0070】(b)ドリフト値 実施例1〜3;実施例1〜3のMIM型非線形素子での
電圧−電流特性の経時変化を見るために、直流を印加し
た状態での経時変化の指標であるドリフト値を求めると
0.33V、0.32Vおよび0.23Vであった。
電圧−電流特性の経時変化を見るために、直流を印加し
た状態での経時変化の指標であるドリフト値を求めると
0.33V、0.32Vおよび0.23Vであった。
【0071】このドリフト値は、サンプルのMIM型非
線形素子について2回電流−電圧曲線を測定し、電流値
が1×10-10Aにおける電圧をそれぞれV1(1回目
の測定値)およびV2(2回目の測定値)としたとき、
両者の差ΔV=V2−V1で定義される。
線形素子について2回電流−電圧曲線を測定し、電流値
が1×10-10Aにおける電圧をそれぞれV1(1回目
の測定値)およびV2(2回目の測定値)としたとき、
両者の差ΔV=V2−V1で定義される。
【0072】比較例1;比較例1について、同様にドリ
フト値を求めると、0.59Vであった。
フト値を求めると、0.59Vであった。
【0073】(c)シフト値 実施例1〜3;実施例1〜3のMIM型非線形素子での
電圧−電流特性の経時変化を見るために、交流を印加し
た状態での経時変化の指標であるシフト値を求めると−
15.3%、−14.5%および2.3%であった。
電圧−電流特性の経時変化を見るために、交流を印加し
た状態での経時変化の指標であるシフト値を求めると−
15.3%、−14.5%および2.3%であった。
【0074】このシフト値は、1秒毎に極性を変えた矩
形波の電圧をMIM型非線形素子に印加したとき、下記
式であらわされる値Isで定義されるものである。この
とき、前記印加電圧は、電流が1画素当たりのMIM型
非線形素子に1×10-7A流れるように設定される。
形波の電圧をMIM型非線形素子に印加したとき、下記
式であらわされる値Isで定義されるものである。この
とき、前記印加電圧は、電流が1画素当たりのMIM型
非線形素子に1×10-7A流れるように設定される。
【0075】 Is={(I100−I0)/I0}100 (%) この式において、I0は初期(1秒)の電流値の絶対値
を示し、I100は100秒後の電流値の絶対値を示す。
を示し、I100は100秒後の電流値の絶対値を示す。
【0076】比較例1;比較例1について、同様にシフ
ト値を求めると、−18.4%であった。
ト値を求めると、−18.4%であった。
【0077】(d)非線形係数(β値) 実施例1〜3;実施例1〜3のMIM型非線形素子の電
圧−電流特性を測定し、急峻性を表す非線形係数(β
値)を算出すると6.0、6.7および7.6であっ
た。
圧−電流特性を測定し、急峻性を表す非線形係数(β
値)を算出すると6.0、6.7および7.6であっ
た。
【0078】比較例1;同様に比較例1のβ値を求めた
ところ、6.5であった。
ところ、6.5であった。
【0079】(e)比誘電率 実施例1〜3;実施例1〜3のMIM型非線形素子での
比誘電率を求めると17.7、20.5および20.5
であった。
比誘電率を求めると17.7、20.5および20.5
であった。
【0080】この比誘電率は、以下のようにして求めら
れた。まず、4μm角のMIM型非線形素子を1000
個並列に接続して、周波数10KHzの交流を印加し
て、静電容量を測定する。また、エリプソメータによっ
て絶縁膜の膜厚を測定する。そして、得られた静電容量
および膜厚より絶縁膜の比誘電率を算出する。
れた。まず、4μm角のMIM型非線形素子を1000
個並列に接続して、周波数10KHzの交流を印加し
て、静電容量を測定する。また、エリプソメータによっ
て絶縁膜の膜厚を測定する。そして、得られた静電容量
および膜厚より絶縁膜の比誘電率を算出する。
【0081】比較例1;同様に比較例1の比誘電率を求
めたところ、21.2であった。
めたところ、21.2であった。
【0082】上述した実験例によって得られたβ値、ド
リフト値、シフト値および絶縁膜の比誘電率ならびに化
成液の含水率およびpHを表1に示した。なお、表1に
おいて、I(4V)はサンプルのMIM型非線形素子に
4Vの電圧を印加した時の電流値、およびI(10V)
は10Vの電圧を印加したときの電流値を示している。
リフト値、シフト値および絶縁膜の比誘電率ならびに化
成液の含水率およびpHを表1に示した。なお、表1に
おいて、I(4V)はサンプルのMIM型非線形素子に
4Vの電圧を印加した時の電流値、およびI(10V)
は10Vの電圧を印加したときの電流値を示している。
【0083】
【表1】 表1から明らかなように、本発明の実施例によれば、い
ずれも、絶縁膜の比誘電率は小さく、電圧−電流特性の
急峻性を示すβ値が充分に大きく、さらに電圧−電流特
性の経時変化を示すドリフト値およびシフト値が充分に
小さいことが確認された。これに対し、比較例1におい
ては、化成液の含水量が多すぎるため、比誘電率が大き
く、さらにドリフト値およびシフト値が大きく電圧−電
流特性の経時変化が大きくなることがわかる。
ずれも、絶縁膜の比誘電率は小さく、電圧−電流特性の
急峻性を示すβ値が充分に大きく、さらに電圧−電流特
性の経時変化を示すドリフト値およびシフト値が充分に
小さいことが確認された。これに対し、比較例1におい
ては、化成液の含水量が多すぎるため、比誘電率が大き
く、さらにドリフト値およびシフト値が大きく電圧−電
流特性の経時変化が大きくなることがわかる。
【0084】さらに、実施例1〜3のMIM型非線形素
子を用いて液晶表示パネルを作製したところ、0〜80
℃の温度範囲において100以上のコントラストを得る
ことができ、かつ表示ムラも認められなかった。
子を用いて液晶表示パネルを作製したところ、0〜80
℃の温度範囲において100以上のコントラストを得る
ことができ、かつ表示ムラも認められなかった。
【0085】
【図1】本発明のMIM型非線形素子を適用した液晶表
示パネルの要部を示す平面図である。
示パネルの要部を示す平面図である。
【図2】図1におけるA−A線に沿った断面図である。
【図3】本発明のMIM型非線形素子の他の構成例を示
す断面図である。
す断面図である。
【図4】本発明の液晶表示パネルの等価回路を示す図で
ある。
ある。
【図5】本発明の液晶表示パネルを示す斜視図である。
【図6】本発明の他のMIM型非線形素子を適用した液
晶表示パネルの要部を示す平面図である。
晶表示パネルの要部を示す平面図である。
【図7】図6におけるB−B線に沿った断面図である。
【図8】実施例1のMIM型非線形素子について求めた
SIMSのスペクトルを示す図である。
SIMSのスペクトルを示す図である。
10 液晶表示パネル 12 走査線 14 データ線 16 画素領域 20,40 MIM型非線形素子 22,42 第1の導電膜 24,44 絶縁膜 26,46a,46b 第2の導電膜 30 第1の基板 32 第2の基板 34 画素電極 41 液晶表示要素 100 走査信号駆動回路 110 データ信号駆動回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 関 ▲琢▼巳 長野県諏訪市大和3丁目3番5号 セイコ ーエプソン株式会社内 (72)発明者 宇恵 誠 茨城県稲敷郡阿見町中央8丁目3番1号 三菱化学株式会社筑波研究所内 (72)発明者 水谷 文一 茨城県稲敷郡阿見町中央8丁目3番1号 三菱化学株式会社筑波研究所内 (72)発明者 竹内 佐千江 茨城県稲敷郡阿見町中央8丁目3番1号 三菱化学株式会社筑波研究所内
Claims (8)
- 【請求項1】 有機溶媒、溶質および水を含み、前記溶
質は少なくともタングステン酸塩を含み、かつ、前記水
は1〜10重量%の割合で含まれることを特徴とする2
端子型非線形素子の製造のための非水系化成液。 - 【請求項2】 請求項1において、 前記タングステン酸塩は、1級,2級,3級および4級
アンモニウム塩の少なくとも一種であることを特徴とす
る2端子型非線形素子の製造のための非水系化成液。 - 【請求項3】 請求項2において、 前記4級アンモニウム塩は、テトラエチルアンモニウム
塩またはトリエチルメチルアンモニウム塩であることを
特徴とする2端子型非線形素子の製造のための非水系化
成液。 - 【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかにお
いて、 前記非水系化成液は、pHが8〜13であることを特徴
とする2端子型非線形素子の製造のための非水系化成
液。 - 【請求項5】 請求項1ないし請求項4のいずれかにお
いて、 前記有機溶媒は、エチレングリコールを主体とすること
を特徴とする2端子型非線形素子の製造のための非水系
化成液。 - 【請求項6】 (a)基板上に、タンタルからなる第1
の導電膜を形成する工程、 (b)前記第1の導電膜を、請求項1ないし請求項5の
いずれかに記載の非水系化成液中で陽極酸化して、該第
1の導電膜の表面に絶縁膜を形成する工程、 (c)前記絶縁膜の表面に第2の導電膜を形成する工
程、を含むことを特徴とする2端子型非線形素子の製造
方法。 - 【請求項7】 請求項6に記載の製造方法によって製造
されたことを特徴とする2端子型非線形素子。 - 【請求項8】 透明な基板、この基板上に所定のパター
ンで配設された一方の信号線、この信号線に接続された
請求項7に記載の複数の2端子型非線形素子、およびこ
の2端子型非線形素子に接続された画素電極を備えた第
1の基板と、 前記画素電極に対向する位置に他方の信号線を備えた第
2の基板と、 前記第1の基板と前記第2の基板との間に封入された液
晶層と、を含むことを特徴とする液晶表示パネル。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9094892A JPH10275949A (ja) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | 2端子型非線形素子の製造のための非水系化成液、2端子型非線形素子の製造方法、2端子型非線形素子および液晶表示パネル |
| PCT/JP1997/004436 WO2004093206A1 (ja) | 1996-12-06 | 1997-12-04 | 2端子型非線形素子の製造のための非水系電解液、2端子型非線形素子の製造方法、2端子型非線形素子および液晶表示パネル |
| US09/117,681 US6663760B2 (en) | 1996-12-06 | 1997-12-04 | Method of fabricating two-terminal nonlinear element using non-aqueous electrolyte |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9094892A JPH10275949A (ja) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | 2端子型非線形素子の製造のための非水系化成液、2端子型非線形素子の製造方法、2端子型非線形素子および液晶表示パネル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10275949A true JPH10275949A (ja) | 1998-10-13 |
Family
ID=14122697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9094892A Pending JPH10275949A (ja) | 1996-12-06 | 1997-03-28 | 2端子型非線形素子の製造のための非水系化成液、2端子型非線形素子の製造方法、2端子型非線形素子および液晶表示パネル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10275949A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2025238903A1 (ja) * | 2024-05-17 | 2025-11-20 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 積層体、キャパシタ、電気回路、回路基板、機器、及び積層体の製造方法 |
-
1997
- 1997-03-28 JP JP9094892A patent/JPH10275949A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2025238903A1 (ja) * | 2024-05-17 | 2025-11-20 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 積層体、キャパシタ、電気回路、回路基板、機器、及び積層体の製造方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20051220 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060510 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060920 |