JPS58129831A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS58129831A
JPS58129831A JP58001899A JP189983A JPS58129831A JP S58129831 A JPS58129831 A JP S58129831A JP 58001899 A JP58001899 A JP 58001899A JP 189983 A JP189983 A JP 189983A JP S58129831 A JPS58129831 A JP S58129831A
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JP
Japan
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gate
enhancement
drain
source
transistor
Prior art date
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JP58001899A
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English (en)
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JPS6258178B2 (ja
Inventor
Koichiro Okumura
奥村 孝一郎
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/096Synchronous circuits, i.e. using clock signals

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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体装置特に、エンノ・ンスメント型絶縁ゲ
ート電界効果トランジスタ(以下IGFETと称す。)
とデプレション型IGFETを用いたクロ、クゲート半
導体装置に関するものである。
消費電力を減少させるためには、従来エンノ・ンスメン
ト[IGFETを用いたクロックドゲート回路が使用さ
れており、更にはまた、スイッチングスピードを速める
ためにエン/Sンスメント、デブレシ冒/皺の回路が従
来より使用されている。
第1図KPチャンネルエンノーンスメントi、IGFE
Tを用い九クロックドゲートのインノ(−夕回路を示す
。エンハンスメント型IGFETQIのドレイン1は定
電源VDDに接続され、IGFETQlのゲート2は、
例えば182図に示すようなりロックパルスfが加えら
れ、IGFETQ、のソース3線エンハンスメ/ト型I
GFETQIのドレイン4と接続されると同時に出力端
子となっている。さらK I G F E T Q s
のゲート電極5は入力端子として使用されs  I G
 P E T Q sのソース6は接地電位(OV)K
接続されている。りp2クパルスメが一17VのときI
GFETQsは導通状態となるので、入力KIGFET
Q、の閾値電圧(例えば−2,OVとする)より絶対値
で高い電圧が加わった場合IGFETQsのソース6よ
りIGFETQlのドレイン1へ向う方向に電流が流れ
るが、クロ、クパルスfがovの時にはIGFETQI
が非導通状111になるため、電流は流れない。したが
って負荷トランジスタQ1のゲートにクロックを与えて
使用するクロ、クドゲートの装置では負荷トランジスタ
Q!のゲート電極に一17vの定電源を加えた装置に比
較して消費電力は、(fが一17VKなっている時間)
/(クロ、りの周期)となり大きく減少する。しかし、
このエンハンスメント型IGFBTを用い九クロックド
ゲートの装置では、IGFETQ、のチャンネル長を”
I、チャンネル幅をW!およびIGFETQ、のチャン
ネル長をLs、チャンネル幅をW禦とし走時に正常なイ
ンバータ動作を行うためには(Ws−Lt)/(Wt;
Ls)=20程度としなければならないため、面積的に
大きいという欠点があり、またエンハンスメン)[IG
FETQlを負荷トランジスタとして使用しているため
スイッチングスピードもToまり速くない。
一方路3図に従来より使用されているエンハンスメント
ーデブレシ、ン型のインバータ回路を示す。デプレショ
ン型IGFETQ、のトレイン7は定電源VDD K接
続され、IGFE’l”Q、のケート電極8およびソー
ス9はエンハンスメン)ffIGFETQ4のドレイン
10と1ilc絖され、また出力端子となっている。ま
た、IGFETQ4のケート電極11は入力端子となっ
ており、ソース12は接地電位となっている。第3図の
構成の場合にはIGFETQ、がデプレシ、ン製でおる
ために第1図の構成と比較しておよそ1.5倍から2倍
スイッチングスピードが速く、またIGFETQ。
のチャンネル長をLs、チャンネル幅をWsおよびIG
FETQ4のチャンネル長をL4、チャンネル幅をW4
とした時に、IGFETQ、の閾値電圧を過当な値にと
れば、(W4・Ls)/(Ws・L4)=3程度でよく
、面積的にも第1図の構成より極めて小さく出来るので
有利である。しかし入力にIGFETQ4を導通状態に
させるような信号が加っている場合は、常に電流が流れ
る丸め、この第3図の構成は111図9構成に比較して
消費電力が大きいという欠点がある。
本発明の目的はスイッチングスピードが速く、消費電力
が小さくしかも集積密度の高いIGFETを含む半導体
装置を提供することにある。本発明はゲートをクロ、ク
パルス源に接続したエンハンスメント型IGFETを第
3図のような従来の回路に直列に接続することを%徴と
するものである。
本発明によれば、ゲートとソースおよびドレインの一方
が共通接続されたデブレシ、ン製のIllの絶縁ゲート
電界効果トランジスタとゲートにパルスの供給されたエ
ンハンスメント型の第2の絶縁ゲート電界効果トランジ
スタからなる@1の直列回路と、ゲー)Kl!l理信号
が供給されたエンハンスメントmの第3の絶縁ゲート電
界効果トランジスタと、上記直列回路と第3のトランジ
スタとを電源間に直列に接続する手段と、電源間に直列
に接続されたデプレ、シw7f11の第4の絶縁ゲー)
 電界効果)ランジスタとエンハンスメントmの第5の
絶縁ゲート電界効果トランジスタを有する第2の直列回
路と、該第1の直列回路と該第3のトランジスタとの中
間接続点を該第5のトランジスタのゲートに接続する手
段とを有する半導体装置が得られる。
以下本発明を図面を用いて説明する。第4図は本発明の
基本構成を示す図で、デプレション型■GFETQ、の
ドレイン13を定電源VDDに接続し、ゲート電極14
およびソース15をエンハンスメントfiIGFETQ
、のドレイン16と接続シ、ソース18はエンハンスメ
ン)WIGFETQlのドレイン19と接続され出力端
子となっている。tたIGFETQ・のゲート電極17
にはクロ、クパルスf1を加え、IGFETQ、のゲ−
計電極20は入力端子となっている。この構成でクロッ
クパルスf1は112図に示されるようなりロックパル
スであるので消費電力の面では第1図の従来のクロック
ドゲートの構成と同勢であり、さらに、りp、クパルス
f1の振幅は大きいのが通常であるからIGFETQ、
の導通状態での抵抗はIGFETQ、の抵抗に対しては
無視できる程度であるため、スイッチングスピードも1
1N3図の構成のスイッチングスピードと同等の速さと
なる。すなわち本発明は第1図の従来の構成の消費電力
が小さいという長所と共に第3図の従来の構成のスイッ
チングスピードが速いという長所を合わせ持っている。
更に1本発明の構成の半導体基板上の占有面積について
もIGFETQ、はプロセス上の最小寸法のFETでよ
いのでls3図の構成と比較して殆んど大きくならない
し、第1図の構成に比較するとはるかに小さくて良いと
いう利点がある。
また、例えばクロックパルスジェネレータに電流を流し
てもよい場合には第4図でIGFETQ。
のドレイン13に接続される電fIAt−クロックパル
スf1とすればクロックパルスf1だけの一電源の構成
となり、また占有面積も小さくできる。
第5図に実施例としてディレイドダイナミックフリップ
フルツブを構成した場合を示す。エンハンスメントfi
l I G F E T Qtsは入力データの読み込
み及び保持のためのトランスファーゲートであり、同じ
くエンハンスメントm I G F E T Ql4も
データの読み込み及び保持のためのトランスファーゲー
トである。デプレションgIGFETQsと二個のエン
ハンスメントgIGFETQ*およびQl(lで構成さ
れるインバータT1が本発明の回路であり、デプレショ
ン型I G F E T Q 11 トエンハンスメン
ト型I G F E T Qx*で構成されるインバー
タT、のI G F E T Qllのドレインより出
力がでている。クロックパルスf1および)sは第6図
に示すような波形である。11E5図ではメ1のタイ(
ングで読み込んだ入力信号はf!のタイミングで出力と
して読み出されるようになっている。
また本発明の構成(第4図)のうち、トランジスタQs
と、トランジスタQ6との位置関係を逆にした場合も第
4図の構成と同じ作用効果があることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のエンハンスメン)WIGFETを使用し
たクロ、クドゲート、の回路図、第2図は第1図に使用
されているクロ、クパルスfの波形を示す図、第3図は
従来のエンハンスメンドーププレS/wン型のインバー
タの回路図、第4図は本発明の基本構成を示す図、第5
図は本発明を用いた応用実施例を示す図及び第6図は第
5図に示すれた回路に使用されるクロックパルス/を及
ヒ/zの波形を示す図である。 図においてsQs・・・・・・デプレション型IGFE
T%Qs=Q、・・・・・・エンハンスメン)ffiI
GFET、Ql・・・・・デプレション型IGFET、
Ql。 Qlo −−エンハンスメント型IGFET%Jft−
/*DD %/ 図 第Z図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ゲートとソースおよびドレインの一方が共通接続された
    デプレション型の第1の絶縁ゲート電界効果トランジス
    タとゲートにパルスの供給されたエンハンスメント型の
    第2の絶縁ゲート電界効果トランジスタからなる第1の
    直列回路と、ゲートに論理信号が供給されたエンハンス
    メントmの第3の絶縁ゲート電界効果トランジスタと、
    上記直列回路と第3のトランジスタとを電源間に直列に
    接続する手段と、電源間に直列に接続されたデプレッシ
    ョン型の第4の絶縁ゲート電界効果トランジスタとエン
    ハンスメント型の第5の絶縁ゲート電界効果トランジス
    タを有する第2の直列回路と、該第1の直列回路と該第
    3のトランジスタとの中間接貌嵩を該第5のトランジス
    タのゲートに接続する手段とを有することを4111と
    する半導体装置。
JP58001899A 1983-01-10 1983-01-10 半導体装置 Granted JPS58129831A (ja)

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JPS6258178B2 JPS6258178B2 (ja) 1987-12-04

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3775693A (en) * 1971-11-29 1973-11-27 Moskek Co Mosfet logic inverter for integrated circuits

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3775693A (en) * 1971-11-29 1973-11-27 Moskek Co Mosfet logic inverter for integrated circuits

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JPS6258178B2 (ja) 1987-12-04

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