JPS582045A - 配線方法 - Google Patents

配線方法

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Publication number
JPS582045A
JPS582045A JP10081181A JP10081181A JPS582045A JP S582045 A JPS582045 A JP S582045A JP 10081181 A JP10081181 A JP 10081181A JP 10081181 A JP10081181 A JP 10081181A JP S582045 A JPS582045 A JP S582045A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
contact
substrate
metal
melting point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10081181A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuji Asai
浅井 周二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP10081181A priority Critical patent/JPS582045A/ja
Publication of JPS582045A publication Critical patent/JPS582045A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 “  不発明は來積回路の多ノー配線方沃vc関し、持
にAl  との′−気的接触t4る方法に関する。
A1は、Auに次ぐ!電導体であり、砿細〃ロエ性もよ
く、責価であるために、半導体や集積回路などの配線金
属として用いられる。Atは菟気中の水分や水を用いた
処理などにより表面に数十nmのアルミナ層が生じ、ア
ルミナは不導体のため、貧4tただ接触させただけでは
媛触抵抗が大きく、金属を擦り付けΦなり欠きψトtな
りしてアルミナ層を破るようにし、iいと、嫉触砥に/
Lを小さくすることはできない。貞積1gl路において
は、接触部分が100μm角以上と大きいときは、Or
、Ti、M。
などの高融点金属kA層した後人t、Ptなとの低抵抗
金属を4続して蒸着すれば、接触抵抗すよ小さくて問題
はなかった。しかし、接触部分が畝μm角と小さくなる
と、接触抵抗が大きくなり、まったく導通しないことも
生じた。
不発明の目的は、媛触面棟が小さくてもAI との良好
な電気的接触を得ることができる配一方法を提供するこ
とにある。
本発明によルば、基板上にAI配線を形成し、前記AI
配線上の所定の義賊に従するように高一点金JI4に下
端とした金属配線を形成した後、7111熱することを
待機とした配線方法が得られる。
以F、本発明についての実施例を図面を用いて総明する
第1凶(a) 、 lbJは、本発明の一実施例ta明
するための図である。第1図(a)の15に粕は基板上
にホトレジストを用いiζリフトオフ法にLり厚さ約1
、LlμIn OA l パターン1を形成し、 m 
1−tb>o x −5にホトレジストリフトオフ法に
よりTi約α1μm%AI約OJμ+n、Pt約0.1
μin  tm41gして電子統脇着機により蒸麺し°
C金属パターン2を形成し、この基板τ菫−芥曲気中で
250〜450℃に畝分閾以上保持することによりAI
  、4:U′4気的接触a−14ゐことができ、り。
嫁御パターン2にシいC1’I’i/よ一融点金M、A
lは*am*a4、PttiA1表面の酸化t−ぐfc
d)のものである。そして、ム鳳パターンlと全組パタ
ーン2の−M婦分は4μm角である。
ル成し/CC構機パターン20両44O)’ tl、ド
にPt癲を当てて−り疋し瓦パ、ド1−孤仇から、一定
保NZ一度の1−一τ第2図に示す。挾鷹抵仇は保持一
度が^くなるVCつれて小さくなり、350℃で厳小に
なり、これ以上^く/ぼると、また大きくなる。
mwtが400℃以上で抵抗が大さくなるのは人1 と
Tiが共晶反応するためと考えらfLる。よって熱処理
のL−1,持温度は250〜450℃の範囲が適当であ
る。そ゛して、350℃で10分間保持したものの接触
抵抗は1.32±0.57iI(95%分布限界)であ
る。
また、400℃でピークVCなり300℃間が3〜4分
になるような山伏に加熱しても、3.52±1.74M
になる。
このよ5を本発明により、A1 との接触−分が数μm
角と小さくても接触抵抗、ユ認Ωと小さく、熱感Jl!
j#は数百Mであったことからも、本発明のAJ果は・
Aらかである。    。
実施−では、高融点貧属としC’l’ i 倉用いたが
凶のOr、+mO,Taなどを用いてもムい。  。
【図面の簡単な説明】
a41凶wi A l とのmm的接触を得るための本
発明の^施例t’d明Iる九めの図でめり。lは杷縁譲
叔上のム亀パターン、2+1T>/hl/P@ o積層
!il @ l)−らtlる貧旙パターン。漠2図は熱
処理の保持一度と接触抵抗の関係を示す図であ机オ 1
a1′ ((2)  ″ (b)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上にAI 配4IINを形成し、前記A1 配
    線上の所疋の領域に巌するように一融点金slを下地と
    した*属配縁を形成した後、加熱することを特徴とする
    配線方法。 2.1IIIl融点金属としてLJ を用い、250〜
    450℃で加熱すること*Wt徴とする待奸−求の範囲
    第1項に記載の配線方法。  ・
JP10081181A 1981-06-29 1981-06-29 配線方法 Pending JPS582045A (ja)

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JP10081181A JPS582045A (ja) 1981-06-29 1981-06-29 配線方法

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JPS582045A true JPS582045A (ja) 1983-01-07

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60245510A (ja) * 1984-05-21 1985-12-05 株式会社 宮園製作所 素地瓦の磨き装置
JPS6159010U (ja) * 1984-09-25 1986-04-21

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60245510A (ja) * 1984-05-21 1985-12-05 株式会社 宮園製作所 素地瓦の磨き装置
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