JPS5894290A - 変調ｎＴ波形のひずみ測定方法および装置 - Google Patents
変調ｎＴ波形のひずみ測定方法および装置Info
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- JPS5894290A JPS5894290A JP19055881A JP19055881A JPS5894290A JP S5894290 A JPS5894290 A JP S5894290A JP 19055881 A JP19055881 A JP 19055881A JP 19055881 A JP19055881 A JP 19055881A JP S5894290 A JPS5894290 A JP S5894290A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 8
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はテレビジョン回線などｋおける色度（クロミ
ナンス）／輝度（ルミナンス）信号の利得偏差（Ｇａｉ
ｎ １ｎｅｑｕａｌｉｆｙ）または遅延偏差（Ｄｅ−１
ａｙ ｉｎ＠ｑｕａｌｉｔｙ）を変調ＩＩＴ波形を使っ
て測定する変調ｓＴ波形のひずみ測定方法および装置に
関する。
ナンス）／輝度（ルミナンス）信号の利得偏差（Ｇａｉ
ｎ １ｎｅｑｕａｌｉｆｙ）または遅延偏差（Ｄｅ−１
ａｙ ｉｎ＠ｑｕａｌｉｔｙ）を変調ＩＩＴ波形を使っ
て測定する変調ｓＴ波形のひずみ測定方法および装置に
関する。
従来、変調ＩＩＴ波形を使ってテレビジョン回線などく
おけるクロミナンス／ルミナンス信号の利得偏差または
遅延偏差を測定する方法として、前記変調貴Ｔ波形のベ
ースラインの偏差を測定しノモグラフ（ｎｏｍｏｇｒａ
ｐｈ ） を使って読み取る方法がある。
おけるクロミナンス／ルミナンス信号の利得偏差または
遅延偏差を測定する方法として、前記変調貴Ｔ波形のベ
ースラインの偏差を測定しノモグラフ（ｎｏｍｏｇｒａ
ｐｈ ） を使って読み取る方法がある。
しかし、この方法でハ霊の値によりノモグラフが異なる
ので、ｓの値に応じたノモグラフを用意しなければなら
ず、また利得偏差の値が大きく遅延偏差の値が小さいと
きけノモグラフの絖み取り誤差が大きいなどの欠点があ
った、さら＆ｊ！！延偏差全偏差する方法としては下記
の式を使って測定する方法があったが、この式を使用す
る条件として遅延偏差が３００１１８以下および利得偏
差が無いときでなければならなかった。
ので、ｓの値に応じたノモグラフを用意しなければなら
ず、また利得偏差の値が大きく遅延偏差の値が小さいと
きけノモグラフの絖み取り誤差が大きいなどの欠点があ
った、さら＆ｊ！！延偏差全偏差する方法としては下記
の式を使って測定する方法があったが、この式を使用す
る条件として遅延偏差が３００１１８以下および利得偏
差が無いときでなければならなかった。
ＴＨ：禁調露Ｔ波形の半値幅
ｈ： の振幅
Δｈ： 〃 のベースラインの変形の生じた振
幅 この発明は以上の問題にかんがみて々されたもので、ｆ
ｌｌ−Ｔの被測定波形のルミナンス波形およびクロミナ
ンス波形の正負いずれか一方の包結線がいずれも正弦２
乗パルス波形であることを利用して、それぞれの波形か
ら前記被測定波形の半値幅に相当する間隔に位置する所
望の時間位置のレベルと前記被測定波形のベースライン
幅を除くところに位置する所定の時間位置のレベルをそ
れぞれ求め、これらのレベルを利用して所定の式を演算
することＫよりクロミナンス／ルミナンス信号の利得偏
差または遅延偏差を測定する変ｍ ＳＩＴ形形のひずみ
測定方法および装置を提供するところにある。すなわち
、変調ＩＩＴの被測定波形（第４因（１））をクロミナ
ンス波形（第４図（Ｃ））と最大レベルｅＬｙｆｒ有し
、皺レベルｅＬの時間位置が１１．であるルミナンス波
形（第２図、第４図（ｂ））とに分離しこのクロミナン
ス波形の、たとえば最大レベルｅｃを有し、該レベルｅ
ｃの時間位置がｔｃである正の包絡４１（第２図、第４
図（ｄ））を検出し、前記ルミナンス波形および包絡線
から前記被測定波形のベースライン幅χの５４（半値幅
）に相当する間隔に位置するそれぞれの所望の時間位＠
１＋ 、 １．のレベルｅＬ、 、 ｅＬ、およびｅ
ｃ、 、 ６ｃ、と前記ベースライン幅てを除くところ
に位置するそれぞれの所定の時間位置ｔａ （１’）
レベルｅＬ・オヨびｅｃ、を検出し、これらのレベルを
利用して（１）、 （２）式の演算を行うことＫより。
幅 この発明は以上の問題にかんがみて々されたもので、ｆ
ｌｌ−Ｔの被測定波形のルミナンス波形およびクロミナ
ンス波形の正負いずれか一方の包結線がいずれも正弦２
乗パルス波形であることを利用して、それぞれの波形か
ら前記被測定波形の半値幅に相当する間隔に位置する所
望の時間位置のレベルと前記被測定波形のベースライン
幅を除くところに位置する所定の時間位置のレベルをそ
れぞれ求め、これらのレベルを利用して所定の式を演算
することＫよりクロミナンス／ルミナンス信号の利得偏
差または遅延偏差を測定する変ｍ ＳＩＴ形形のひずみ
測定方法および装置を提供するところにある。すなわち
、変調ＩＩＴの被測定波形（第４因（１））をクロミナ
ンス波形（第４図（Ｃ））と最大レベルｅＬｙｆｒ有し
、皺レベルｅＬの時間位置が１１．であるルミナンス波
形（第２図、第４図（ｂ））とに分離しこのクロミナン
ス波形の、たとえば最大レベルｅｃを有し、該レベルｅ
ｃの時間位置がｔｃである正の包絡４１（第２図、第４
図（ｄ））を検出し、前記ルミナンス波形および包絡線
から前記被測定波形のベースライン幅χの５４（半値幅
）に相当する間隔に位置するそれぞれの所望の時間位＠
１＋ 、 １．のレベルｅＬ、 、 ｅＬ、およびｅ
ｃ、 、 ６ｃ、と前記ベースライン幅てを除くところ
に位置するそれぞれの所定の時間位置ｔａ （１’）
レベルｅＬ・オヨびｅｃ、を検出し、これらのレベルを
利用して（１）、 （２）式の演算を行うことＫより。
（１）式からりｐミナンス／ルミナンス信号の利得偏差
を、 （２１式からクロミナンス／ルミナンス信号の遅
嫌偏差を求めるようＫしたものである。
を、 （２１式からクロミナンス／ルミナンス信号の遅
嫌偏差を求めるようＫしたものである。
（ｅＣｅｃａ）−（ｅＬ ｅｉ、、）＝＝（ｅｅ、
ｅｃａ ン＋（ｅｃｔ ｅｃｍ ） −（
ｅｔ、 −ｅｉ、、 ）−（ｅＬ＋ −ｅＬ、 ） ・
・曲（１）（ｅｃ、−ｅｃ・）） ここで（１）−（２）式は次のようにして求められる。
ｅｃａ ン＋（ｅｃｔ ｅｃｍ ） −（
ｅｔ、 −ｅｉ、、 ）−（ｅＬ＋ −ｅＬ、 ） ・
・曲（１）（ｅｃ、−ｅｃ・）） ここで（１）−（２）式は次のようにして求められる。
まず、第１図において正弦２乗パルスは次のように表現
される。
される。
ｅ−ｅａ ＝＝ （ｅｅ−ｅａ ） ｃｏｓ−二（１−
１，） ・・・・・曲り・・・・・曲・・曲（３）τ ｅ、：所定の時間位置ｔ、のレベル ベースライン幅て内に半値幅”７２に相当する間隔に位
置する所望の時間位置ｔ、、１．を選び、ｔ・および１
．のレベルをｅ、およびｅ、とすると次式が成立する。
１，） ・・・・・曲り・・・・・曲・・曲（３）τ ｅ、：所定の時間位置ｔ、のレベル ベースライン幅て内に半値幅”７２に相当する間隔に位
置する所望の時間位置ｔ、、１．を選び、ｔ・および１
．のレベルをｅ、およびｅ、とすると次式が成立する。
ｅ＋ −ｅｍ ＝（Ｃａ Ｃ，） ｃｏｓ婁ン（ｔ、
ｔ−）−・曲−＝、、、曲曲、 （４１ｅ＊ ｅａに
（Ｃｏ Ｃａ ） ｃｏｓ４（ｔｓ −ｔ、）叩・ｌ
１・・凹曲（５）て １、−１． ＋−であるから（５）式はさらに次のよう
Ｋなる。
ｔ−）−・曲−＝、、、曲曲、 （４１ｅ＊ ｅａに
（Ｃｏ Ｃａ ） ｃｏｓ４（ｔｓ −ｔ、）叩・ｌ
１・・凹曲（５）て １、−１． ＋−であるから（５）式はさらに次のよう
Ｋなる。
ｅ＠ｅａ ＝＝ （ｅｍ−ｅ、）ｃｏｓ置！（１，−１
，＋２−て ２ ；（ｅ、−ｅ、）、ｌ１ｌｌ！（ｔＩ−１，）−・曲曲
・・叩・・・・・（６）て （４）式と（６）式を加算すると （ｅ、 −ｅａ ） ＋ （ｅ、 −ｅ、 ） ＝ （
ｅｅ −ｅ、 ） 凹曲曲曲−曲・−、（７）（７）弐
により正弦２乗″パルスの最大レベルｅ−けレベルｅ・
、ｅ、およびｅ、から求められる。さらに（４）、（７
）式から次式が算出される。
，＋２−て ２ ；（ｅ、−ｅ、）、ｌ１ｌｌ！（ｔＩ−１，）−・曲曲
・・叩・・・・・（６）て （４）式と（６）式を加算すると （ｅ、 −ｅａ ） ＋ （ｅ、 −ｅ、 ） ＝ （
ｅｅ −ｅ、 ） 凹曲曲曲−曲・−、（７）（７）弐
により正弦２乗″パルスの最大レベルｅ−けレベルｅ・
、ｅ、およびｅ、から求められる。さらに（４）、（７
）式から次式が算出される。
ｃｏｓｔ：（ｔＩ−ｔｏ ）＝（ｅ、−ｅ、 ）／（ｅ
ｅ−ｅ＋ ）＝（ｅ・−ｅ・）／（（ｅ、 −ｅ、 ）
＋（ｅ・−ｅ・）） ・・・・・・・・・・・・（８） （８）式により正弦２乗パルスの最大レベルｅ、の位置
ｔ・はレベル” ｅ ｅａ ｒ ｅｍおよびレベルｅＩ
ノ位置を響カら求められる。
ｅ−ｅ＋ ）＝（ｅ・−ｅ・）／（（ｅ、 −ｅ、 ）
＋（ｅ・−ｅ・）） ・・・・・・・・・・・・（８） （８）式により正弦２乗パルスの最大レベルｅ、の位置
ｔ・はレベル” ｅ ｅａ ｒ ｅｍおよびレベルｅＩ
ノ位置を響カら求められる。
したがって第２図に示すルミナンス信号（実１ｍ）およ
びクロミナンス信号の包絡＃（点＃）は正弦波２乗パル
ス波形であるからそれぞれの振幅２時間位置を（７）、
（８１式から算出してそれぞれの差を求めれば（１）
、 （２）式が算出される。
びクロミナンス信号の包絡＃（点＃）は正弦波２乗パル
ス波形であるからそれぞれの振幅２時間位置を（７）、
（８１式から算出してそれぞれの差を求めれば（１）
、 （２）式が算出される。
第３図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
この図において、第１の波形分離器ｌは低域ろ波器など
で構成され、たとえばｆｌｌｌＺ５Ｔの被測定波形から
最大レベルｅＬを有し、該レベルｅＬの時間位置がｔｂ
であるルミナンス波形を分離する。
で構成され、たとえばｆｌｌｌＺ５Ｔの被測定波形から
最大レベルｅＬを有し、該レベルｅＬの時間位置がｔｂ
であるルミナンス波形を分離する。
第２の波形分離器２Ｆｉたとえば帯域ろ波器で構成され
、変調１２．５Ｔの被測定波形からクロミナンス波形を
分離する。検出器３Ｆｉ、たとえげ包絡線検波器で構成
されており、第２の波形分離器から出力されるクロミナ
ンス波形を受領し、最大レベルｅＣｆ有し、該レベルｅ
ｃの時間位置がｔｃである正極性の波形の包結線を検出
する。
、変調１２．５Ｔの被測定波形からクロミナンス波形を
分離する。検出器３Ｆｉ、たとえげ包絡線検波器で構成
されており、第２の波形分離器から出力されるクロミナ
ンス波形を受領し、最大レベルｅＣｆ有し、該レベルｅ
ｃの時間位置がｔｃである正極性の波形の包結線を検出
する。
標本化保持器４は第１の波形分離器ｌおよび検出器３の
それぞれの出力波形を受けて変調ＩＺ５Ｔの被測定波形
のベースライン幅でのに（半値幅）に相当する間隔に位
置するそれぞれの所望の時間位１１ｔ・ｒ ｔ、のレベ
ルとベースライン幅てを除くところに位置するそれぞれ
の所定の時間位置ｔ、のレベルを標本化保持する。Ａ−
Ｄ変換器５は、標本化保持器４に保持された信号をディ
ジタル信号に変換する。
それぞれの出力波形を受けて変調ＩＺ５Ｔの被測定波形
のベースライン幅でのに（半値幅）に相当する間隔に位
置するそれぞれの所望の時間位１１ｔ・ｒ ｔ、のレベ
ルとベースライン幅てを除くところに位置するそれぞれ
の所定の時間位置ｔ、のレベルを標本化保持する。Ａ−
Ｄ変換器５は、標本化保持器４に保持された信号をディ
ジタル信号に変換する。
記憶装置６＃′１Ａ−Ｄ変換器５の出力を受けて第１の
波形分離器１からの出力波形の前記ｔ・ｌ ｔ、および
ｔ、におけるレベルのディジタル値ＥＬＩ 、 ＥＬ、
およびＥｔａをそれぞれ記憶し、さらに検出器３がらの
出力波形の前記ｔ・、ｔｌおよびｔ、におけるレベルの
ディジタル値ＥＣ，、Ｅｃ、およびＥＣ，をそれぞれ記
憶する。演算装置７け、記憶装置６に蓄積されたディジ
タル値ＥＬ、 ｌ ＥＬＩ 、 ＥＬＩ 、 ＥＣＩ
、 ＥＣ，、ＥＣ，′ｆ利用して（９）、０１式の条件
で（１υ式を演算し、さらに（２）式の演算を行う。
波形分離器１からの出力波形の前記ｔ・ｌ ｔ、および
ｔ、におけるレベルのディジタル値ＥＬＩ 、 ＥＬ、
およびＥｔａをそれぞれ記憶し、さらに検出器３がらの
出力波形の前記ｔ・、ｔｌおよびｔ、におけるレベルの
ディジタル値ＥＣ，、Ｅｃ、およびＥＣ，をそれぞれ記
憶する。演算装置７け、記憶装置６に蓄積されたディジ
タル値ＥＬ、 ｌ ＥＬＩ 、 ＥＬＩ 、 ＥＣＩ
、 ＥＣ，、ＥＣ，′ｆ利用して（９）、０１式の条件
で（１υ式を演算し、さらに（２）式の演算を行う。
（ＥＬ−ＥＬＩ ）＝ （ＥＬ、 −ＥＬＩ ）＋（Ｅ
Ｌ、−ＥＬ、 ）・・曲・・曲・・・（９）ＥＬ Ｖｉ
ルミナンス波形の最大レベルｅＬのディジタル値 （ＥＣ−ＥＣＩ ） ＝ （Ｅｔ、、 −Ｅｃａ ）
＋ （Ｅｃ、 −ＥＣ，） −、曲、、曲−・・ α０
ＥＣはクロミナンス波形の包結線の 最大レベルｅｃのディジタル値 （ＥＣ−Ｅｃｓ ）−（ＥＬ−Ｅｌ、Ｉ ）＝（Ｅｃ、
−ｇｃａ ）＋（ｇｃ＋−Ｅｃｔ ）−（ＥＬＩ Ｅ
ＬＩ ） （ＥＬＩ ＥＬＩ ）・・・・・・・・・
・・・・・・（１１）（Ｅｃ、 −ＥＣＩ ） ） （ＥＬｔ ＥＬ・）） ・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・ （１２次にその動作を説明する。
Ｌ、−ＥＬ、 ）・・曲・・曲・・・（９）ＥＬ Ｖｉ
ルミナンス波形の最大レベルｅＬのディジタル値 （ＥＣ−ＥＣＩ ） ＝ （Ｅｔ、、 −Ｅｃａ ）
＋ （Ｅｃ、 −ＥＣ，） −、曲、、曲−・・ α０
ＥＣはクロミナンス波形の包結線の 最大レベルｅｃのディジタル値 （ＥＣ−Ｅｃｓ ）−（ＥＬ−Ｅｌ、Ｉ ）＝（Ｅｃ、
−ｇｃａ ）＋（ｇｃ＋−Ｅｃｔ ）−（ＥＬＩ Ｅ
ＬＩ ） （ＥＬＩ ＥＬＩ ）・・・・・・・・・
・・・・・・（１１）（Ｅｃ、 −ＥＣＩ ） ） （ＥＬｔ ＥＬ・）） ・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・ （１２次にその動作を説明する。
入力端子８に加えられた変調１？−５Ｔの被測定波形（
第４図（ａ））は第１の波形分離器ｌで半値幅１．５７
声！Ｉ（テレビジョンの帯域幅ｆ ｃ −４ＭＨｚとす
る）のルミナンス波形（第４図（ｂ） ） Ｋ分離され
る。また。
第４図（ａ））は第１の波形分離器ｌで半値幅１．５７
声！Ｉ（テレビジョンの帯域幅ｆ ｃ −４ＭＨｚとす
る）のルミナンス波形（第４図（ｂ） ） Ｋ分離され
る。また。
前記被測定波形は第２の波形分離器２で搬送波（１５８
ＭＨｚ ）が１００ ％振幅変調されたクロミナンス波
形（第４図（ｅ） ） Ｋ分離されたのち、包絡線検波
器３で正極性の波形の包結線（第４図（ｄ））を得る。
ＭＨｚ ）が１００ ％振幅変調されたクロミナンス波
形（第４図（ｅ） ） Ｋ分離されたのち、包絡線検波
器３で正極性の波形の包結線（第４図（ｄ））を得る。
第１の波形分離器ｌから出力されるルミナンス波形はス
イッチ回路９を介して標本化保持器４に加えられる。そ
こで、前記ルミナンス波形において繭重被測定波形のベ
ースライン幅グー ＆１４Ｆ８のｈ（半１１に相当する
間隔に位置する所望の時間位置ｔ・、ｔ、のレベルとベ
ースライン幅”−＝ ３．１４７’ｓを除くところに位
置する所定の時間位＠ １．のレベルを標本化保持する
。
イッチ回路９を介して標本化保持器４に加えられる。そ
こで、前記ルミナンス波形において繭重被測定波形のベ
ースライン幅グー ＆１４Ｆ８のｈ（半１１に相当する
間隔に位置する所望の時間位置ｔ・、ｔ、のレベルとベ
ースライン幅”−＝ ３．１４７’ｓを除くところに位
置する所定の時間位＠ １．のレベルを標本化保持する
。
標本化保持された信号はＡ−Ｄ変換器５でディジタル信
号に変換され、ディジタル値ＥＬＩ ＋ ＥＬＩおよび
ＥＬＩとして記憶装置６に記憶される。また、包絡線検
波器３から出力されるクロミナンス波形の包結線波形は
スイッチ回路９ｆ介して標本化保持器４に加えられる。
号に変換され、ディジタル値ＥＬＩ ＋ ＥＬＩおよび
ＥＬＩとして記憶装置６に記憶される。また、包絡線検
波器３から出力されるクロミナンス波形の包結線波形は
スイッチ回路９ｆ介して標本化保持器４に加えられる。
そこで−前記包絡線波形において前記被測定波形のベー
スライン幅て＝３．１４μ５（７）％（半値幅）に相当
する間隔に位置する前記１．．１．０レベルとベースラ
イン幅’７＝３．１４μｓを除くところに位置する前記
ｔ、のレベルを標本化保持する。標本化保持された信号
はＡ−Ｄｆ換器５でディジタル信号に変換され、ディジ
タル値ＥＣ，ｌ ＥＣＩおよびＥＣｔとして記憶装置６
に記憶される。
スライン幅て＝３．１４μ５（７）％（半値幅）に相当
する間隔に位置する前記１．．１．０レベルとベースラ
イン幅’７＝３．１４μｓを除くところに位置する前記
ｔ、のレベルを標本化保持する。標本化保持された信号
はＡ−Ｄｆ換器５でディジタル信号に変換され、ディジ
タル値ＥＣ，ｌ ＥＣＩおよびＥＣｔとして記憶装置６
に記憶される。
こうして記憶装ｆｆ１６に記憶されたディジタル値Ｅ’
＊ ＥＬＩ ｌ ＥＬ暴＊ Ｅ” 、ＥｃｔおよびＥ
ＣＩ ｔ−１演算装置７に加えられ、これらのディジタ
ル値を利用してαυ。
＊ ＥＬＩ ｌ ＥＬ暴＊ Ｅ” 、ＥｃｔおよびＥ
ＣＩ ｔ−１演算装置７に加えられ、これらのディジタ
ル値を利用してαυ。
（２）式の演算を行う。その演算結果は表示器ｌＯでデ
ィジタル表示される。
ィジタル表示される。
なお、実施例ではクロミナンス波形の正の包絡線を検出
しているが、角の包絡線を検出した波形を使用すること
もできる。また、波形分離器は実施例にとどまらず要旨
を変更しない程度に種々考えられる。さらに、分離器れ
たルミナンス波形とクロミナンス波形の包結線波形とを
オシロスコープで２現象による直視観測を行い、前記１
．．１．およびｔ、のレベルを読んで前記（１）、 （
２）式の計算からクロミナンス／ルミナンス信号の利得
偏差および遅延偏差を定量的に求めることもできる。
しているが、角の包絡線を検出した波形を使用すること
もできる。また、波形分離器は実施例にとどまらず要旨
を変更しない程度に種々考えられる。さらに、分離器れ
たルミナンス波形とクロミナンス波形の包結線波形とを
オシロスコープで２現象による直視観測を行い、前記１
．．１．およびｔ、のレベルを読んで前記（１）、 （
２）式の計算からクロミナンス／ルミナンス信号の利得
偏差および遅延偏差を定量的に求めることもできる。
以上説明したように、この発明は変ｌｉ［ｉ −Ｔの被
測定波形をルミナンス波形とクロミナンス波形に分離し
、クロミナンス波形の正負いずれか一方の包結線を検出
し、前記ルミナンス波形および包結線波形から前記被測
定波形のベースライン幅での５（半値幅）Ｋ相当する間
隔に位置する所望の時間位置１．．１．のレベルと前記
幅′ｒを除くところに位置する所定の時間位置ｔ、のレ
ベルを検出し、これらのレベルを利用して所定の式の演
算を行い、クロミナンス／ルミナンス信号の利得偏差ま
たは遅延偏差を測定するようにしたので次のような効果
を有する。
測定波形をルミナンス波形とクロミナンス波形に分離し
、クロミナンス波形の正負いずれか一方の包結線を検出
し、前記ルミナンス波形および包結線波形から前記被測
定波形のベースライン幅での５（半値幅）Ｋ相当する間
隔に位置する所望の時間位置１．．１．のレベルと前記
幅′ｒを除くところに位置する所定の時間位置ｔ、のレ
ベルを検出し、これらのレベルを利用して所定の式の演
算を行い、クロミナンス／ルミナンス信号の利得偏差ま
たは遅延偏差を測定するようにしたので次のような効果
を有する。
（１） 従来の測定方法のような条件付きがなく。
しかも正確な測定値を得ることができる。
（ｂ）クロミナンスの包絡線およびルミナンス波形の所
望時間位置のレベルを用いて計算するので、変Ｘ％’ｒ
［形のクロミナンス信号が水平同期信号に対して同期し
ているが否かに関係なく利得および遅延の偏差を求める
ことができる。
望時間位置のレベルを用いて計算するので、変Ｘ％’ｒ
［形のクロミナンス信号が水平同期信号に対して同期し
ているが否かに関係なく利得および遅延の偏差を求める
ことができる。
（ｅｌ ディジタル処理により自動測定する場合は。
６点のサンプリングデータを取り込むだけでよいので回
路構成が簡単になる。
路構成が簡単になる。
（ｄｌ サンプリング点が少ないので自動測定による
測定時間が短くなる。
測定時間が短くなる。
＠１図は正弦２乗パルスの波形図を示す、第２図は分離
されたルミナンス波形とクロミナンス波形の包結線波形
の歪んだときの状態図を示す、第３図はこの発明の一実
施例のブロック構成図を示す、第４図は第３図の実施例
の動作を説明するための波形図を示す。 ｌは第１の波形分離器、２ｔ′ｉ第２の波形分離器。 ３＃′ｉ検出器、４ｔｉ標本化保持器、５はＡ−Ｄｉ換
器、６は記憶装置、７ｔ′ｉ演算装置、特許出願人
安立電気株式会社
されたルミナンス波形とクロミナンス波形の包結線波形
の歪んだときの状態図を示す、第３図はこの発明の一実
施例のブロック構成図を示す、第４図は第３図の実施例
の動作を説明するための波形図を示す。 ｌは第１の波形分離器、２ｔ′ｉ第２の波形分離器。 ３＃′ｉ検出器、４ｔｉ標本化保持器、５はＡ−Ｄｉ換
器、６は記憶装置、７ｔ′ｉ演算装置、特許出願人
安立電気株式会社
Claims (1)
- （１）変調−Ｔの被測定波形をクロミナンス波形と最大
レベルｅＬを有し該レベルｅＬの時間位置が１１である
ルミナンス波形とに分離し、最大レベルｅｃを有し該レ
ベルｅｃの時間位置がｔＣである前記クロミナンス波形
の正負いずれか一方の包絡線を検出し、前記ルミナンス
波形および該包絡線から前記被測定波形のベースライン
幅ての３Ａ（半値幅）に相当する間隔に位置するそれぞ
れの所望の時間位置１．．１．のレベルｅＬ、、ｅＬｌ
およびｅｃ、 、 ｅｃ、と前記ルミナンス波形および
該包絡線から前記ベースライン幅くを除くところに位置
するそれぞれの所定の時間位置ｔ―のレベルｅＬ、およ
びｅｃ、を検出し、これらのレベルを利用して下記（イ
）又は（ロ）式あるいは（イ）。 （ロ）式の演算を行うととＫよりクロミナンス／ルミナ
ンス信号の利得偏差またはクロミナンス／ルミナンス信
号の遅延偏差もしくけクロミナンス／ルミナンス信号の
利得偏差およびクロミナンス／ルミナンス信号の遅延偏
差を測定する変調ＩＩＴ波形のひずみ測定方法。 （イ） （ｅｃ−ｅｃｍ）−（ｅｔ−ｅＬ、）
＝（ｅｃ、−ｅｃｓ）＋（ｅＣｓ −ｅｃｍ ） （
ｅＬｌｅＬａ ） （ｅＬａ−ｅＬａ ）（２）変調
ｌＩＴの被測定波形から最大レベルｅＬを有し該レベル
ｅＬの時間位置がｔＬであるルミナンス波形を分離する
ための第１の波形分離器と；前記被測定波形−からクロ
ミナンス波形を分離するための第２の波形分離器と；該
第２の波形分離器からのクロミナンス波形を受領して最
大レベルｅｃを有し該レベルｅｃの時間位置がｔｃであ
る骸クロミナンス波形の正負いずれか一方の包絡線を検
出するための検出器と；前記第１の波形分離器および骸
検用益のそれぞれの出力波形を受けて前記被測定波形の
ベースライン幅又のイ（半値幅）Ｋ相当する間隔に位置
するそれぞれの所望の時間位置１．．１゜のレベルと前
記ベースライン幅１を除くところに位置するそれぞれの
所定の時間位置ｔ、のレベルを樟本化保持するための標
本化保持器と；該保持器に保持された信号をディジタル
信号に変換するＡ−Ｄ変換器と；該Ａ−Ｄ変換器の出力
を受けて前記第１の波形分離器からの出力波形の前記１
．、１゜およびｔ、におけるレベルのディジタル値ＥＬ
Ｉ ｒ ＥＩＱおよびＥＬｓ′ｆｒそれぞれ記憶し、さ
らに前記検出器からの出力波形の前記１．．１．および
【、におけるレベルのディジタル値ＥＣ，、ｌｉ：ｃ、
およびＥＣＩ ｉそれぞれ記憶する記憶装置と；該記憶
装置に蓄積されたディジタル値を利用して（イ）及び（
ロ）の条件で（ハ）式を演算し、さらＫに）式の演算を
行うための演算装置とを備えた変調ｇＩＴ波形のひずみ
測定装置。 （イ） （ＥＬ−ＥＬＩ ）＝ （ＥＬ、−ＥＬ、 ）
＋（ＥＬＩ−ＥＬ、 ）ＥＬＦｉルミナンス波形の最大
レ ベルｅＬのディジタル値 （ロ） （ＥＣ−ＥＣ，）＝（ＥＣ，−ＥＣ，
）＋（ＥＣＩ−ＥＣＭ）ＥＣｔｌｊクロミナンス波形の
包 絡線の最大レベルｅｃのディ ジタル値 （ハ） ’（ＥＣ−ＥＣ５）−（ＥＬ−ＥＬＭ ）＝（
ＥＣＩ −ＥＣ，）＋（ＥＣＳ−ＥＣＭ ）−（ＥＬ、
−ＥＬＩ ）−（ＥＬＩ−ＥＬｓ ）＋ （ＥＣｓ
ＥＣｓ ） ）
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055881A JPH0245399B2 (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | Henchonthakeinohizumisokuteihohooyobisochi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055881A JPH0245399B2 (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | Henchonthakeinohizumisokuteihohooyobisochi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5894290A true JPS5894290A (ja) | 1983-06-04 |
| JPH0245399B2 JPH0245399B2 (ja) | 1990-10-09 |
Family
ID=16260063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19055881A Expired - Lifetime JPH0245399B2 (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | Henchonthakeinohizumisokuteihohooyobisochi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0245399B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02140091A (ja) * | 1988-01-11 | 1990-05-29 | Sony Tektronix Corp | クロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性測定方法 |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP19055881A patent/JPH0245399B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02140091A (ja) * | 1988-01-11 | 1990-05-29 | Sony Tektronix Corp | クロミナンス対ルミナンス遅延及び利得特性測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0245399B2 (ja) | 1990-10-09 |
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