JPS5917582B2 - 固体撮像素子 - Google Patents
固体撮像素子Info
- Publication number
- JPS5917582B2 JPS5917582B2 JP53052806A JP5280678A JPS5917582B2 JP S5917582 B2 JPS5917582 B2 JP S5917582B2 JP 53052806 A JP53052806 A JP 53052806A JP 5280678 A JP5280678 A JP 5280678A JP S5917582 B2 JPS5917582 B2 JP S5917582B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solid
- pixel
- state image
- gate electrode
- image sensor
- Prior art date
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- Expired
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は固体撮像素子に係り、感光部をスイッチング素
子上に積層形成すると共に、スイッチング素子を例えば
共通ドレイン方式とすることによ0 り、所望の光波長
領域に対して高感度としえ、また簡単に製造しうる固体
撮像素子を提供することを目的とする。
子上に積層形成すると共に、スイッチング素子を例えば
共通ドレイン方式とすることによ0 り、所望の光波長
領域に対して高感度としえ、また簡単に製造しうる固体
撮像素子を提供することを目的とする。
従来、CCD(チャージ、カツプルド・デバイス)やB
BD(パケット・ブリゲード・デバイス)5等の電荷転
送素子を用い、その半導体基板内に光によりキャリアを
励起せしめ、これを転送する固体撮像素子や、感光部と
スイッチング素子(例えばMOS型電界効果トランジス
タ等)とから一つの画素を構成し、これを複数個マトリ
ックス状に0 配設し、これらをX軸(水平)走査部と
Y軸(垂直)走査部とから互いに直交する信号線に夫々
接続し、(X、Y)座標で指定された1画素に上記X軸
、Y軸の各走査部から走査パルスを与えて映像信号を取
り出す固体撮像素子があつた。
BD(パケット・ブリゲード・デバイス)5等の電荷転
送素子を用い、その半導体基板内に光によりキャリアを
励起せしめ、これを転送する固体撮像素子や、感光部と
スイッチング素子(例えばMOS型電界効果トランジス
タ等)とから一つの画素を構成し、これを複数個マトリ
ックス状に0 配設し、これらをX軸(水平)走査部と
Y軸(垂直)走査部とから互いに直交する信号線に夫々
接続し、(X、Y)座標で指定された1画素に上記X軸
、Y軸の各走査部から走査パルスを与えて映像信号を取
り出す固体撮像素子があつた。
これら5 の従来の固体撮像素子は、一般にシリコンで
基板、スイッチング素子、感光部を構成していたため、
光感度がシリコン固有の光波長感度で制限され、赤外域
にピークをもつ光感度特性となる。このため、従来の固
体撮像素子をテレビジョンカメラ用0 に適した光波長
感度をもたせるべき補正を行なうと、その補正は光波長
感度の最も低い光波長領域(シリコンの場合、青色光波
長領域)に感度を合せることになるため、テレビジョン
カメラとして感度は大幅に減少し、現在の撮像管の感度
の約51/10ぐらいまで低下するため、未だ実用に供
されていない。そこで、本出願人は先に特開昭54一 134517号で、テレビジヨンカメラ用としても実用
に供しうるような、光波長感度の優れた固体撮像素子を
提案した。
基板、スイッチング素子、感光部を構成していたため、
光感度がシリコン固有の光波長感度で制限され、赤外域
にピークをもつ光感度特性となる。このため、従来の固
体撮像素子をテレビジョンカメラ用0 に適した光波長
感度をもたせるべき補正を行なうと、その補正は光波長
感度の最も低い光波長領域(シリコンの場合、青色光波
長領域)に感度を合せることになるため、テレビジョン
カメラとして感度は大幅に減少し、現在の撮像管の感度
の約51/10ぐらいまで低下するため、未だ実用に供
されていない。そこで、本出願人は先に特開昭54一 134517号で、テレビジヨンカメラ用としても実用
に供しうるような、光波長感度の優れた固体撮像素子を
提案した。
すなわち、この提案になる固体撮像素子は単一の半導体
基板上にマトリツクス状に配列されたスイツチング素子
上、感光部を全面に被覆形成したものであり、これによ
り受光面積を大幅に大としえ、大幅な感度増大が期待で
き、また単一基板の素材にかかわりなく可視光波長領域
において極めて良好な感度の撮像装置を構成できる。本
発明は上記の本出願人の提案になる固体撮像素子の改良
に関するものであり、以下図面と共に説明する。
基板上にマトリツクス状に配列されたスイツチング素子
上、感光部を全面に被覆形成したものであり、これによ
り受光面積を大幅に大としえ、大幅な感度増大が期待で
き、また単一基板の素材にかかわりなく可視光波長領域
において極めて良好な感度の撮像装置を構成できる。本
発明は上記の本出願人の提案になる固体撮像素子の改良
に関するものであり、以下図面と共に説明する。
第1図は本発明になる固体撮像素子の原理を説明するた
めの例の一画素当りの縦断面図及びこれより出力信号を
得るための回路図を示す。
めの例の一画素当りの縦断面図及びこれより出力信号を
得るための回路図を示す。
同図において、1は半導体基板でアイソレート部2及び
第1、第2のソース部3,3′が夫々形成されており、
これらの上に例えばSiO2あるいはSiN2等よりな
る絶縁膜4が被覆されている。ただし、第1のソース部
3上の絶縁膜4は局部的に窓が開けられており、ここに
直接チヤージ収集用電極5が設けられており、上記絶縁
膜4はこの電極5を囲撓すべく形成されている。また絶
縁膜4内にぱ、第2のソース部3′の一部とアイソレー
ト部2上に直線状のゲート電極(例えばポリシリコンよ
りなる)6が形成され、またこのゲート電極6の長手方
向と直交する方向に延在するゲート電極7が形成され、
更にこのゲート電極7は、長手方向がゲート電極6と同
方向の第1のソース部3の一部と第2のソース部3″の
一部の上方に位置する分岐部7aを有する。第2図は上
記のゲート電極6,7の配設状態を示す上面図で、I−
1線に沿う断面図を示す第1図と同一部分には同一符号
が付してある。なお、第2図では絶縁膜4は省略してあ
る。ゲ・一ト電極6はX軸シフトレジスタ(図示せず)
よりのパルスが印加され、またゲート電極7にはY軸シ
フトレジスタ(図示せず)よりのパルスが印加される。
上記絶縁膜4及びチヤージ収集用電極5上には、光導電
膜8が全面に亘つて被覆形成され、更にこの光導電膜8
上には透明電極9が被着形成される。
第1、第2のソース部3,3′が夫々形成されており、
これらの上に例えばSiO2あるいはSiN2等よりな
る絶縁膜4が被覆されている。ただし、第1のソース部
3上の絶縁膜4は局部的に窓が開けられており、ここに
直接チヤージ収集用電極5が設けられており、上記絶縁
膜4はこの電極5を囲撓すべく形成されている。また絶
縁膜4内にぱ、第2のソース部3′の一部とアイソレー
ト部2上に直線状のゲート電極(例えばポリシリコンよ
りなる)6が形成され、またこのゲート電極6の長手方
向と直交する方向に延在するゲート電極7が形成され、
更にこのゲート電極7は、長手方向がゲート電極6と同
方向の第1のソース部3の一部と第2のソース部3″の
一部の上方に位置する分岐部7aを有する。第2図は上
記のゲート電極6,7の配設状態を示す上面図で、I−
1線に沿う断面図を示す第1図と同一部分には同一符号
が付してある。なお、第2図では絶縁膜4は省略してあ
る。ゲ・一ト電極6はX軸シフトレジスタ(図示せず)
よりのパルスが印加され、またゲート電極7にはY軸シ
フトレジスタ(図示せず)よりのパルスが印加される。
上記絶縁膜4及びチヤージ収集用電極5上には、光導電
膜8が全面に亘つて被覆形成され、更にこの光導電膜8
上には透明電極9が被着形成される。
このように、この固体撮像素子は、半導体基板1、アイ
ソレート部2、第1、第2のソース部3,3′、チャー
ジ収集用電極5、絶縁膜4、第1、第2のゲート電極6
,rよりダブルゲートのMOS型電界効果トランジスタ
を構成し、かつ、そのドレイン部を半導体基板1で共通
に構成した点に特徴を有する。これにより、固体撮像素
子を簡単にして小型に構成でき、光導電膜8の材料を適
当に選ぶことにより光波長感度特性を自由に選択できる
。第1図では、光導電膜8は単一層としているが、通常
、多層で構成される。第3図は第1図及び第2図に示し
た固体撮像素子の一部切截斜視図で、複数個の画素が平
面上マトリツクス状に配設されていることを示す。
ソレート部2、第1、第2のソース部3,3′、チャー
ジ収集用電極5、絶縁膜4、第1、第2のゲート電極6
,rよりダブルゲートのMOS型電界効果トランジスタ
を構成し、かつ、そのドレイン部を半導体基板1で共通
に構成した点に特徴を有する。これにより、固体撮像素
子を簡単にして小型に構成でき、光導電膜8の材料を適
当に選ぶことにより光波長感度特性を自由に選択できる
。第1図では、光導電膜8は単一層としているが、通常
、多層で構成される。第3図は第1図及び第2図に示し
た固体撮像素子の一部切截斜視図で、複数個の画素が平
面上マトリツクス状に配設されていることを示す。
同図中、第1図と同一部分には同一符号を付し、また同
一種類のものが複数あるものについては添字を付してあ
る。次に上記固体撮像素子の動作について第1図と共に
説明する。
一種類のものが複数あるものについては添字を付してあ
る。次に上記固体撮像素子の動作について第1図と共に
説明する。
被写体よりの光は第1図中、透明電極9を透過して光導
電膜8に入射され、ここで、伝導キャリアを発生する。
この伝導キヤリアがP型のときは前記第1、第2のソー
ス部3,3″、半導体基板1は夫々P型半導体で構成さ
れ、アィソレート部2はN型半導体で構成され、他方、
上記伝導キヤリアがN型のときは上記とは逆の半導体で
夫々構成される。ここでは、伝導キヤリアはP型として
説明する。ここで、透明電極9に正、半導体基板(ドレ
イン部)1には負の直流電圧が電源10より印加されて
おり、光導電膜8の等価容量Cは予め充電されている。
電膜8に入射され、ここで、伝導キャリアを発生する。
この伝導キヤリアがP型のときは前記第1、第2のソー
ス部3,3″、半導体基板1は夫々P型半導体で構成さ
れ、アィソレート部2はN型半導体で構成され、他方、
上記伝導キヤリアがN型のときは上記とは逆の半導体で
夫々構成される。ここでは、伝導キヤリアはP型として
説明する。ここで、透明電極9に正、半導体基板(ドレ
イン部)1には負の直流電圧が電源10より印加されて
おり、光導電膜8の等価容量Cは予め充電されている。
この状態において、上記P型伝導キヤリアの発生により
、光導電膜8の等価抵抗Rの値が入射光の強度、波長に
応じて減少する。これにより、予め充電されていた等価
容量Cの充電電荷は、入射光の強度に応じた量だけ等価
抵抗Rを通して放電する。そして、この放電中にX軸シ
フトレジスタよりの走査パルスがゲート電極6に印加さ
れ、かつ、これと同様にY軸シフトレジスタからの走査
パルスがゲート電極7に印加されることにより、MOS
型電界効果トランジスタがオンとなる。これにより、上
記等価容量に残留していた電荷は、チャージ収集電極5
、第1のソース部3、ゲート電極7の直下にできたチヤ
ンネル、第2のソース部3′、ゲート電極6の直下にで
きたチャンネル、半導体基板(ドレイン部)1を順次通
つて放電され、このとき負荷抵抗11の両端間に電圧が
発生する。この負荷抵抗11の両端間に生じた電圧は1
画素当りの映像信号として出力端子12より出力される
。ところで、上記ゲート電極7だけに走査パルス(電圧
)が印加されても、等価容量Cの充電電荷は、半導体基
板1には放出されない。
、光導電膜8の等価抵抗Rの値が入射光の強度、波長に
応じて減少する。これにより、予め充電されていた等価
容量Cの充電電荷は、入射光の強度に応じた量だけ等価
抵抗Rを通して放電する。そして、この放電中にX軸シ
フトレジスタよりの走査パルスがゲート電極6に印加さ
れ、かつ、これと同様にY軸シフトレジスタからの走査
パルスがゲート電極7に印加されることにより、MOS
型電界効果トランジスタがオンとなる。これにより、上
記等価容量に残留していた電荷は、チャージ収集電極5
、第1のソース部3、ゲート電極7の直下にできたチヤ
ンネル、第2のソース部3′、ゲート電極6の直下にで
きたチャンネル、半導体基板(ドレイン部)1を順次通
つて放電され、このとき負荷抵抗11の両端間に電圧が
発生する。この負荷抵抗11の両端間に生じた電圧は1
画素当りの映像信号として出力端子12より出力される
。ところで、上記ゲート電極7だけに走査パルス(電圧
)が印加されても、等価容量Cの充電電荷は、半導体基
板1には放出されない。
またゲート電極7に走査パルスを印加し(ゲート電極6
には走査パルスが印加されていない)、その後に走査パ
ルスの印加が無くなると、第2のソース部3′に一部の
電荷が残留する。この間にゲート電極6に走査パルスが
印加されると、第2のソース部3に残留していた電荷が
半導体基板(ドレイン部)1に流れ出し、ノイズ信号と
して出力されてしまうので好ましくない。従つて、ここ
では、ゲート電極7に走査パルスが印加されている期間
中に、ゲート電極6に走査パルスを印加したり遮断した
りする。
には走査パルスが印加されていない)、その後に走査パ
ルスの印加が無くなると、第2のソース部3′に一部の
電荷が残留する。この間にゲート電極6に走査パルスが
印加されると、第2のソース部3に残留していた電荷が
半導体基板(ドレイン部)1に流れ出し、ノイズ信号と
して出力されてしまうので好ましくない。従つて、ここ
では、ゲート電極7に走査パルスが印加されている期間
中に、ゲート電極6に走査パルスを印加したり遮断した
りする。
以上は1画素当りの動作であるが、画素が複数個マトリ
ツクス状に配列された第3図に示す如き固体撮像素子の
ゲート電極611,621等にX軸シフトレジスタより
の走査パルスを順次加え、またゲート電極721等にY
軸シフトレジスタよりの走査パルスを加えることにより
、各画素を構成するスイツチング素子(ここではダブル
ゲートのMOS型電界効果トランジスタ)が順次時分割
的にオンとされ、これにより負荷抵抗11の両端には、
各画素よりの時系列化された電圧が生じ、映像信号とし
て出力端子12より出力される。
ツクス状に配列された第3図に示す如き固体撮像素子の
ゲート電極611,621等にX軸シフトレジスタより
の走査パルスを順次加え、またゲート電極721等にY
軸シフトレジスタよりの走査パルスを加えることにより
、各画素を構成するスイツチング素子(ここではダブル
ゲートのMOS型電界効果トランジスタ)が順次時分割
的にオンとされ、これにより負荷抵抗11の両端には、
各画素よりの時系列化された電圧が生じ、映像信号とし
て出力端子12より出力される。
第3図に示す例では、上記の光導電膜8として半導体基
板1とは異なる素材を用いており、その素材としてシリ
コン材特有の青色光感度低下のない可視光波長領域にお
いて最高感度の素材を選定することにより、従来にくら
べてSN比の良い映像信号を得ることができ、また用途
に応じて光波長感度特性を自由に選択できる。また、第
3図に示す例では、ドレイン部が各画素共通の構成とし
たため、構造が簡単となり、また駆動回路も簡単となる
。第4図は本発明になる固体撮像素子の一実施例の第5
図の−線沿う縦断面図及びこれより出力信号を得るため
の回路図、第5図は第4図示の固体撮像素子の上面図を
示し、各図中第1図と同一部分には同一符号を付し、そ
の説明を省略する。
板1とは異なる素材を用いており、その素材としてシリ
コン材特有の青色光感度低下のない可視光波長領域にお
いて最高感度の素材を選定することにより、従来にくら
べてSN比の良い映像信号を得ることができ、また用途
に応じて光波長感度特性を自由に選択できる。また、第
3図に示す例では、ドレイン部が各画素共通の構成とし
たため、構造が簡単となり、また駆動回路も簡単となる
。第4図は本発明になる固体撮像素子の一実施例の第5
図の−線沿う縦断面図及びこれより出力信号を得るため
の回路図、第5図は第4図示の固体撮像素子の上面図を
示し、各図中第1図と同一部分には同一符号を付し、そ
の説明を省略する。
半導体基板(ドレイン部)1には、ソース領域141及
びこれと同時拡散で作られたチヤンネル領域131が形
成されて、いわゆるD−MOS構造とされている。本実
施例はこのD−MOS構造のゲート電極15を、第4図
及び第5図に示す如く、チヤンネル領域131とソース
領域141及びドレイン領域1の各一部の上方であつて
絶縁膜4内にX軸方向(又はY軸方向)すなわち画素の
列(又は行)方向の駆動電極として形成し、かつ、第5
図に161,162で示す如く透明電極をゲート電極1
5に対して夫々の長手方向が互いに直交するような各画
素の行(又は列)毎に分離された形状に形成し、これを
Y軸方向(又はX軸方向)すなわち画素の行(又は列)
方向の1駆動電極として兼用するようにした点が前記の
第1図に示した例と異なる。なお、第5図中、52,1
32,142及び162は夫々チヤージ収集用電極、チ
ヤンネル領域、ソース領域及び透明電極を示す。次に上
記の実施例の動作について第4図と共に説明するに、被
写体からの光は透明電極161等を透過して光導電膜8
に入射され、伝導キヤリアが励起される。これにより、
前述した如く入射光の強度に応じて等価容量Cの電荷が
放電される。ここで、透明電極161と半導体基板1に
電源10′より直流電圧が加えられ、次にゲート電極1
5にD−MOS構造のトランジスタをオンとするような
パルスがX軸シフトレジスタより印加されると、電源1
0′、負荷抵抗1V、透明電極161、光導電膜8、チ
ャージ収集用電極51、ソース領域141、半導体基板
1は閉回路を構成し、放電された電荷に見合う分だけを
、電源10″は等価容量Cに電荷を補充する(充電)。
この時、上記補充に要した電荷分は、負荷抵抗11′の
両端間にそれに応じた電圧を発生せしめ、出力端子12
より出力される。このサイクルを繰り返すことにより、
ある時間内に入射した光量に見合つた電圧が間欠的に映
像信号として出力端子12から取り出されることになる
。以上は1画素あたりの固体撮像素子の説明であるが、
固体撮像素子は上記のD−MOS構造のトランジスタが
複数個X−Y平面上にマトリツクス状に配列されており
、15等のゲート電極に加えられるX軸方向の走査パル
スと、161,162等の互いに分離したストライプ状
の透明電極に加えられるY軸方向の走査パルスとが、夫
々同時に印加されたD−MOS構造のトランジスタのみ
がオン状態となり、その画素に入射されている光に応じ
た電圧が前述した動作により共通の出力端子12より映
像信号として出力される。
びこれと同時拡散で作られたチヤンネル領域131が形
成されて、いわゆるD−MOS構造とされている。本実
施例はこのD−MOS構造のゲート電極15を、第4図
及び第5図に示す如く、チヤンネル領域131とソース
領域141及びドレイン領域1の各一部の上方であつて
絶縁膜4内にX軸方向(又はY軸方向)すなわち画素の
列(又は行)方向の駆動電極として形成し、かつ、第5
図に161,162で示す如く透明電極をゲート電極1
5に対して夫々の長手方向が互いに直交するような各画
素の行(又は列)毎に分離された形状に形成し、これを
Y軸方向(又はX軸方向)すなわち画素の行(又は列)
方向の1駆動電極として兼用するようにした点が前記の
第1図に示した例と異なる。なお、第5図中、52,1
32,142及び162は夫々チヤージ収集用電極、チ
ヤンネル領域、ソース領域及び透明電極を示す。次に上
記の実施例の動作について第4図と共に説明するに、被
写体からの光は透明電極161等を透過して光導電膜8
に入射され、伝導キヤリアが励起される。これにより、
前述した如く入射光の強度に応じて等価容量Cの電荷が
放電される。ここで、透明電極161と半導体基板1に
電源10′より直流電圧が加えられ、次にゲート電極1
5にD−MOS構造のトランジスタをオンとするような
パルスがX軸シフトレジスタより印加されると、電源1
0′、負荷抵抗1V、透明電極161、光導電膜8、チ
ャージ収集用電極51、ソース領域141、半導体基板
1は閉回路を構成し、放電された電荷に見合う分だけを
、電源10″は等価容量Cに電荷を補充する(充電)。
この時、上記補充に要した電荷分は、負荷抵抗11′の
両端間にそれに応じた電圧を発生せしめ、出力端子12
より出力される。このサイクルを繰り返すことにより、
ある時間内に入射した光量に見合つた電圧が間欠的に映
像信号として出力端子12から取り出されることになる
。以上は1画素あたりの固体撮像素子の説明であるが、
固体撮像素子は上記のD−MOS構造のトランジスタが
複数個X−Y平面上にマトリツクス状に配列されており
、15等のゲート電極に加えられるX軸方向の走査パル
スと、161,162等の互いに分離したストライプ状
の透明電極に加えられるY軸方向の走査パルスとが、夫
々同時に印加されたD−MOS構造のトランジスタのみ
がオン状態となり、その画素に入射されている光に応じ
た電圧が前述した動作により共通の出力端子12より映
像信号として出力される。
マトリツクス状に配列されたD−MOS構造の複数個の
トランジスタは、順次にオンとされ、これにより各画素
の入射光に応じた映像信号が出力端子12より出力され
る。本実施例は透明電極を画素の行(又は列)方向に共
通に形成され、かつ、各画素の行(又は列)毎に分離さ
れた形状にし、これをゲート電極と長手方向が互いに直
交するように配設し、かつ、この透明電極が少なくとも
各画素を構成する領域を覆う大きさとされており、この
透明電極を駆動電極(ここではY軸走査パルスが印加さ
れる駆動電極)としても使用するようにしたため、第1
図乃至第3図に示した例に比し更に構造を簡単なものと
することができ、MOS型電界効果トランジスタのスイ
ツチングは、ゲート電極15等に印加されるX軸方向の
走査パルスのみで行なわれる。
トランジスタは、順次にオンとされ、これにより各画素
の入射光に応じた映像信号が出力端子12より出力され
る。本実施例は透明電極を画素の行(又は列)方向に共
通に形成され、かつ、各画素の行(又は列)毎に分離さ
れた形状にし、これをゲート電極と長手方向が互いに直
交するように配設し、かつ、この透明電極が少なくとも
各画素を構成する領域を覆う大きさとされており、この
透明電極を駆動電極(ここではY軸走査パルスが印加さ
れる駆動電極)としても使用するようにしたため、第1
図乃至第3図に示した例に比し更に構造を簡単なものと
することができ、MOS型電界効果トランジスタのスイ
ツチングは、ゲート電極15等に印加されるX軸方向の
走査パルスのみで行なわれる。
又、透明電極が画素の各行(又は列)毎に分離されてい
るため、上下方向(又は左右方向)に対して像のボケ(
解像度)が改善される。
るため、上下方向(又は左右方向)に対して像のボケ(
解像度)が改善される。
第6図は本発明になる固体撮像素子の変形例の要部を示
す上面図である。
す上面図である。
本変形例においてはストライプ状透明電極161−2ク
161−171617161+1,161+2(iは正
の整数)の下に形成される各画素の電界効果トランジス
タのソース領域、チヤンネル領域、チャージ収集用電極
の上面が夫々略円形のときの例で、ゲート電極18j−
1,18j,18j+1(jは正の整数)はその長手方
向が透明電極161−2〜161+2のそれと互いに直
交するように配設せしめられるが、電界効果トランジス
タの部分でのみ円形部19を有する。
161−171617161+1,161+2(iは正
の整数)の下に形成される各画素の電界効果トランジス
タのソース領域、チヤンネル領域、チャージ収集用電極
の上面が夫々略円形のときの例で、ゲート電極18j−
1,18j,18j+1(jは正の整数)はその長手方
向が透明電極161−2〜161+2のそれと互いに直
交するように配設せしめられるが、電界効果トランジス
タの部分でのみ円形部19を有する。
このような構成とすることにより、表面の占有面積に対
する接合面の周辺長が大となるので、ゲートがオンのと
きソース電流は四方へ同時に流れ出すので、流れる方向
による時間差が小さく周波数応答が速くなり、またチヤ
ンネル幅も広がり、トランジスタとしてのGmも向上し
低電圧駆動が可能となる。なお、ゲート電極18j−1
〜18j+1は円形部19の代りに他の形状を有するよ
うに構成してもよいことは勿論である。
する接合面の周辺長が大となるので、ゲートがオンのと
きソース電流は四方へ同時に流れ出すので、流れる方向
による時間差が小さく周波数応答が速くなり、またチヤ
ンネル幅も広がり、トランジスタとしてのGmも向上し
低電圧駆動が可能となる。なお、ゲート電極18j−1
〜18j+1は円形部19の代りに他の形状を有するよ
うに構成してもよいことは勿論である。
上述の如く、本発明になる固体撮像素子は、感光部を複
数個のスイツチング素子上全面に被覆された光導電膜と
この光導電膜上に形成された透明電極とより構成すると
共に、透明電極を少なくとも各スイツチング素子の各画
素を構成する領域の上方を覆い、画素の行(又は列)方
向に共通に形成され、かつ、各画素の行(又ぱ列)毎に
分離された形状としたため、駆動回路が従来にくらべて
極めて簡単となり、またこの固体撮像素子により小型、
軽量、小電力の撮像装置を構成でき、また透明電極が画
素の各行(又は列)毎に分離されているため、上下方向
(又は左右方向)に対して像のボケ(解像度)が改善さ
れる等の数々の特長を有するものである。
数個のスイツチング素子上全面に被覆された光導電膜と
この光導電膜上に形成された透明電極とより構成すると
共に、透明電極を少なくとも各スイツチング素子の各画
素を構成する領域の上方を覆い、画素の行(又は列)方
向に共通に形成され、かつ、各画素の行(又ぱ列)毎に
分離された形状としたため、駆動回路が従来にくらべて
極めて簡単となり、またこの固体撮像素子により小型、
軽量、小電力の撮像装置を構成でき、また透明電極が画
素の各行(又は列)毎に分離されているため、上下方向
(又は左右方向)に対して像のボケ(解像度)が改善さ
れる等の数々の特長を有するものである。
第1図は本発明になる固体撮像素子の原理を説明するた
めの例の一画素当りの縦断面図及びこれより出力信号を
得るための回路図、第2図は第1図の上面図、第3図は
第1図及び第2図に示した固体撮像素子の一部切截斜視
図、第4図は本発明になる固体撮像素子の一実施例の縦
断面図及びこれより出力信号を得るための回路図、第5
図は第4図の上面図、第6図は本発明になる固体撮像素
子の変形例の要部を示す上面図である。 1・・・・・・半導体基板(ドレイン部)、2,211
〜231・・・・・・アイソレート部、3,3″,31
1,331,31/〜33/・・・・・・第1、第2の
ソース部、4・・・・・・絶縁膜、5,511〜531
,521〜523・・・・・・チャージ収集用電極、6
,7,611,621,711,721・・・・・・第
1、第2のゲート電極、8・・・・・・光導電膜、9・
・・・・・透明電極、131,132・・・・・・チャ
ンネル領域、141,142・・・・・・ソース領域、
15・・・・・・ゲート電極、161,162,161
−2〜161+2・・・・・・ストライブ状電極。
めの例の一画素当りの縦断面図及びこれより出力信号を
得るための回路図、第2図は第1図の上面図、第3図は
第1図及び第2図に示した固体撮像素子の一部切截斜視
図、第4図は本発明になる固体撮像素子の一実施例の縦
断面図及びこれより出力信号を得るための回路図、第5
図は第4図の上面図、第6図は本発明になる固体撮像素
子の変形例の要部を示す上面図である。 1・・・・・・半導体基板(ドレイン部)、2,211
〜231・・・・・・アイソレート部、3,3″,31
1,331,31/〜33/・・・・・・第1、第2の
ソース部、4・・・・・・絶縁膜、5,511〜531
,521〜523・・・・・・チャージ収集用電極、6
,7,611,621,711,721・・・・・・第
1、第2のゲート電極、8・・・・・・光導電膜、9・
・・・・・透明電極、131,132・・・・・・チャ
ンネル領域、141,142・・・・・・ソース領域、
15・・・・・・ゲート電極、161,162,161
−2〜161+2・・・・・・ストライブ状電極。
Claims (1)
- 1 単一基板上に感光部とスイッチング素子とを形成し
て画素を構成し、これらが該単一基板上に複数個マトリ
ックス状に配列されてX軸、Y軸の各走査部からのパル
スにより上記複数個のスイッチング素子を順次スイッチ
ングして各画素からの映像信号を得る固体撮像素子にお
いて、上記感光部を、上記複数個のスイッチング素子上
全面に被覆された光導電膜と、該光導電膜上に形成され
た透明電極とより構成すると共に、上記透明電極を、少
なくとも上記各スイッチング素子の各画素を構成する領
域の上方を覆い、画素の行(又は列)方向に共通に形成
され、かつ、各画素の行(又は列)毎に分離された形状
としたことを特徴とする固体撮像素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53052806A JPS5917582B2 (ja) | 1978-05-04 | 1978-05-04 | 固体撮像素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53052806A JPS5917582B2 (ja) | 1978-05-04 | 1978-05-04 | 固体撮像素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54144809A JPS54144809A (en) | 1979-11-12 |
| JPS5917582B2 true JPS5917582B2 (ja) | 1984-04-21 |
Family
ID=12925080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53052806A Expired JPS5917582B2 (ja) | 1978-05-04 | 1978-05-04 | 固体撮像素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5917582B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56102169A (en) * | 1980-01-18 | 1981-08-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Solid image pickup device |
-
1978
- 1978-05-04 JP JP53052806A patent/JPS5917582B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54144809A (en) | 1979-11-12 |
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