JPS5969970A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS5969970A
JPS5969970A JP57181870A JP18187082A JPS5969970A JP S5969970 A JPS5969970 A JP S5969970A JP 57181870 A JP57181870 A JP 57181870A JP 18187082 A JP18187082 A JP 18187082A JP S5969970 A JPS5969970 A JP S5969970A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
type region
conductivity type
gate
semiconductor device
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57181870A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihide Nakamura
吉秀 中村
Kenjiro Asano
浅野 健二郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Home Electronics Ltd
NEC Corp
Original Assignee
NEC Home Electronics Ltd
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Home Electronics Ltd, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Home Electronics Ltd
Priority to JP57181870A priority Critical patent/JPS5969970A/ja
Publication of JPS5969970A publication Critical patent/JPS5969970A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D84/00Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
    • H10D84/101Integrated devices comprising main components and built-in components, e.g. IGBT having built-in freewheel diode
    • H10D84/131Thyristors having built-in components
    • H10D84/133Thyristors having built-in components the built-in components being capacitors or resistors

Landscapes

  • Thyristors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 この発明は半導体装置に関し、より詳しくは逆阻止3端
子サイリスクや2方向性3端子ザイリスタ等のゲート電
極伺きの3端子サイリスクにおけるゲート電流感度なら
びにその制御に関する。
背景技術 逆阻止3端子サイリスタや2方向性3端子ザイリスタ等
の3 i/:iit子サイリスタは、ゲートに信号を与
えてターン・オンできるため、各種の分腎で広く利用き
れている。
すなわち、逆阻止3端子サイリスタを例に説明すると、
このサイリスタlは第1図および第21図に示す構造を
有する。第1図はサイリスタ1の平面図を示し、第2図
は第1図のn−n線に沿う断面図を示す。図において、
2.はN型の基板領域で、その両主面に全拡散によって
P欄領域3,4が形成され、さらに一方のP型領域4内
にN型領域5が選JR的に形成されている。6,7はN
型領域2と各P型領域3.4との間のPN接合8,9よ
りも深く杉j戊されたメサtf、ii部で、]、0.1
1は前記メいるガラス等の絶縁保、811膜である。1
2 、 ]、 3 、 コ、 4はそれぞれ前記P型領
域3,4およびN型領域5に形成され/と1.アノード
電極、ケート電イ1叙およO・カソード電極である。
]二組の→ノーイリスタ1を使用する場合は、アノード
電4i阪E、 2とカソード電4永l 4との間に、ア
ノード電極]2が正電位となる所定の電圧を与えておい
て、ゲート電極13とカソード電4di、14間にゲー
ト電流(■oT)を流してターン・オンきせる。
また、導通状態のサイリスタlのアノード%m 4im
 ] 2とカソード電イ余14との間に、カソード電イ
命コ−4が正電位となる逆電圧を与えて、ターン・オフ
させる。
上記のターン−オン動作において、サイリスタ]、をタ
ーン・オンさせるに必要なゲート亀泥の値が小さい程、
消費電力が小さくなるので、特に電池を電源とするよう
な電子@器においては、この値が1及的に小さい、いわ
ゆる高感度サイリスクが要求される。しかしながら、ケ
ート電流が5μA以rptcもなると、ノイズ等によっ
て誤動作しやすくなるという問題点がある。一方、実際
に18感度ザイリスタのR’ff要そのものは、サイリ
スクの全需要のうちの権く一部であり、大部分はゲート
電流IJ)10〜50μ八程度σ〕、いわゆる中感度サ
イリスクか要求されている。しかるに、高感度サイリス
ク吉中感度サイリスクを全く別の股泪にすることは、原
価高となってψましくないし、中感度づイリスクにおい
ても、用途によって要求さノするゲート屯MC範囲は種
々ある。このため、高感度サイリスクから中感度サイリ
スクまで、若干の変更でカバーできるようなサイリスク
が要望される。
発明の開示 この発明は、上記の問題点を解決し、要望を満足できる
半導体装置を提供することを目的とするものである。
この発明は簡単に白えば、ゲート電流の制御の7’j 
メPc $ l!14 (ト、 3 ;i%子サすリス
クノゲー1−− カソード間、2方向性3り、■子すイ
リスクの第1陽極とカソード間を、バルク内ま/ζはバ
ルク」二に形成した細条状の抵抗層で接続したことを特
徴とするものである。
すなわち、バルク内のP ’N接合を通る正規のゲート
電流路の他に、このゲート電流路に並列に前記抵抗j¥
1によるバイパスゲート電流路を形成して、みかけ上の
ゲート電流を増大し、ゲート惹度を変化するようにし、
しかも前記抵抗層の抵抗値を制御することンCよって、
バイパスケ−1−% it路に流れるゲート電流分を変
えて・ゲート電流値を要求される大きさに制御し得ると
いう作用効果を奏する。
発明を実施する7こめの最良の形態 以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第3図はこの発明の一実施例の逆阻止3端子ザイリスタ
20の平面図を示し、第4図は第3図のrv−■Igに
沿う断面図を示す。図において、次の点を除いては第1
図および第2図と同様であるため、同一部分ま7il:
は対応部分には同一参照符号をイリシている。第1図お
よび第2図と相違する点は、第1に、P壁領域4内に選
択的に形成されたN型領域5が島状に形成されているこ
とである。換言すれば、PN接合9′が全部上1iJJ
において終端していることである。第2に、ケート′屯
イφ・(13の]・とカソード電極、極14の土との間
に、両電4!&’、 l 3 、 I 4をほぼ一周す
る形状て細条状の抵抗層21が形成されていることであ
る。この抵抗層21は、例えばiJ型不純物であるリン
やアンチモンを、イオンn:、入〃、てP壁領域4内に
浅り1」ち込んで形成される。あるいは、P型領域4十
にリンやアンチモンを所定濃度で含む多結晶ンリニjン
層を形成することによって月蛭成できる。
より具体的に説明すると、1.4m1oのサイリスク2
0において、P副領域4の表面不純物濃度は1OIs 
atoms /、 オー タテh ルが、ゲート電極1
3とカソード電極14との間の印加電圧、すなわちケ−
ト電圧(v()T)を帆6v一定にした条件のドで、抵
抗層21を設けない場合は、ゲート電流が数μA以下で
ある。これVC対して抵抗層21の長さを3.47鴎、
幅をコ、5μA一定として、ゲート電流稲1.を10μ
Alこしようとする場合は、抵抗層21の比抵抗ρSを
約260”/、にする。同様に、稲、−20μへの場合
はpS中130%にし、■。T−30μへの場合i’j
: P s : 87 rJDK ’a ’iii f
 ル。
なお、上記実施例では抵抗1「ご21が、ゲート電(函
13およびカソード電極14をほぼ一周するように杉成
する場合について示したが、ゲート電極13の下とカソ
ード電極14の下゛との間の任意の2点間を結ぶもので
あればよい。
さらに、この発明は逆阻1イニ3端子サイリスクのみな
らず、2方向性3端子サイリスタ等の他のサイリスクに
ついても同骸に実施てきる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は従来の逆阻止3端子サイリスクを
示し、第1□□□は平面図で、第2図は第1図のB−1
1線に沿う断面図である。第3図および第41メ)はこ
の発明の一実施例である逆阻止3端子サイリスクを示L
1第3図は平面図、第4図は第3図のy−yhに沿う[
1シ「面図である。 2 ・ −導電型領域(N型領域)、 3.4・・ 反対導電型領域(P型領域)、5・・・・
・・第2の一導電型領域(N型領域)、]−2・・ ア
ノード電極、 13 ・・−ゲ − ト γ= 手It 114  ・
・  カ ソ − ・ド′亀イψJ121・ 抵抗層。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1−導電型領域の両主面に反対導電型領域を有し、前記
    反対導電型領域の少なくとも一方に第2の一導電型領域
    を形成し、前記各反対導電型領域と第2の一導電型領域
    とにそれぞれ電極を形成してなる半導体装Wにおいて、 前記第2の一導電型領域が形成された反対導電型領域の
    電極と第2の一導電型領域の電極との間を、細条状の抵
    抗層で接続したことを特徴とする半導体装置。 2、  ifi記抵抗層が、半導体装置のバルク内に形
    成されたイオン注入層である、特許請求の範囲第1項記
    載の半導体装置。 3 前記抵抗層が、半導体装置のバルク上に形成された
    多結晶ンリコン層である、特許請求の範囲第1項記載の
    半導体装置。
JP57181870A 1982-10-15 1982-10-15 半導体装置 Pending JPS5969970A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0550655U (ja) * 1991-12-11 1993-07-02 日本無線株式会社 ボタン電池ホルダ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5387676A (en) * 1977-01-13 1978-08-02 Toshiba Corp Semiconductor control rectifier
JPS5447492A (en) * 1977-09-21 1979-04-14 Nec Corp Thyristor
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JPS5565461A (en) * 1978-11-10 1980-05-16 Oki Electric Ind Co Ltd Semiconductor switch
JPS5641179A (en) * 1979-09-10 1981-04-17 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Liquid dredger

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