JPS6010185A - 論理装置のスキヤンイン方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）発明の技術分野 本発明は情報処理装置等の論理装置のスキャンイン方式
に係り、特に保持されていない論理信号のためのスキャ
ンイン方式に関する。

（ＣＩ）技術の背景 多数の論理ゲートやラッチを使用した論理回路、例えば
電子計算機が正常に動作するためには、それらの論理ゲ
ート、ラッチが正常に動作しなければならない。これら
の論理ゲート、ラッチはその数が厖大で、しかも今日に
おいては集積回路化されて構成されていることから、人
手による逐一のチェックの代りに、スキャンイン技法及
びスキャンアウト技法により、電子計算機のサービスプ
ロセッサにより所定の論理ゲート、ラッチの状態を強制
的にセントしたり、論理ゲート、ランチの状態を抽出し
てＣＲ７画面、プリンタ等に可視表示させて計算機等の
診断、動作確認等を行なっている。

しかしながら、従来のスキャンイン技法はこれに用いる
手段の性質上、ランチのようにそのセット状態を保持し
ている型式のものについてのみ、その意図する目的を達
成し得るに過ぎないので、これを解決しうる技術手段の
開発が要望されている。

（ｌ→従来技術と問題点 従来のスキャンアウト技法及びスキャンイン技法を、第
１図に示す電子計算機システムを参照して、説明する。

そのスキャンアウトにおいては、スキャンイン人力を“
θ″にし、且つ所望のラッチａ若しくはｂ乃至論理回路
Ｃ若しくはｄの論理信号に割り当てられたスキャンアド
レスをデコーダｅに入力する。これにより、」１記所望
のラッチ乃至論理回路の論理信号出力に接続されたデコ
ーダｅの出力線が“１”となって論理信号についてはア
ントゲ−ｌ−ｆ若しくはｇを経てオアゲートｉを経てス
キャンアウトされる。

このようなスキャンアウト動作は号−ビスプロセソサに
よりスキャンアドレスが次々に更新されて生ぜしめられ
、そのスキャンアウトで得られた信号を一旦格納し、そ
してこれらを編集した後、ＣＲＴやプリンタに定められ
たフォーマットで出力される。

又、スキャンインにおいては、先ず、リセット信号を１
″にしてすべてのランチの値を“０”にする。次いで、
スキャンイン信号を“１″にし、且つ所望のラッチに割
り当てられたスキャンアドレスを入力する。これにより
、スキャンインせんとするランチに接続されたデコーダ
出力線が１”となり、該ランチのみの値が“１”にセッ
トされる。

スキャンインの場合にも、スキャンアドレスを次々に更
新してスキャンインするが、１″にセントしたいラッチ
のスキャンアドレスの時にのみスキャンイン信号を“１
”にする。こうして、任意のラッチの値を自由に変更す
ることが出来る。

上述のところから明らかなように、スキャンアウトに関
してはラッチ、及びラッチの出力の論理をとって得られ
る論理信号のいずれについてもスキャンアウト機能を施
しうる。しかしながら、スキャンインに関しては、割り
当てられたスキャンアドレスが来たときに、スキャンイ
ン信号の値によって指定される値を、スキャンアドレス
が変わってしまった後においても、保持していなければ
ならないため、スキャンイン機能は従来、ランチにおい
てのみ実現し得るだけであった。

（ニ）発明の目的 本発明は上述したような従来スキャンイン方式に存在す
る技術的課蹟に鑑みて創案されたもので、その目的は論
理信号についてもスキャンインをなしうる論理装置のス
キャンイン方式を提供することにある。

（ホ）発明の構成 そして、この目的は、データを保持するラッチ回路と、
該ランチ回路の出力の論理をとって得られる論理信号を
受ける回路を有する論理装置の該回路に対しスキャンイ
ン信号を与えるスキャンイン方式において、上記論理信
号毎にスキャンアドレスを固定して与える第１の回路手
段と、上記スキャンアドレスのためのスキャンイン信号
を固定して発生する第２の回路手段と、上記論理信号及
びｊ二記スキャンイン信号を受け取り得る論理回路手段
とを備え、スキャンイン動作時に上記スキャンイン信号
を上記論理回路手段を経て上記回路へ供給せしめること
によって、達成される。

（へ）発明の実施例 以下、添付図面を参照しながら、本発明の詳細な説明す
る。

第２図は本発明の第１の実施例を示す。この実施例は大
規模集積回路（ＬＳＩ）の中で実施されるもので、１は
集積回路で、その中にスキャンアドレスを受けるデコー
ダ２と、デコーダ２の各別の出力を一方の入力に受け、
他方の入力にスキャンイン信号を受けるアンドゲート３
，４と、アンドゲート３の出力及び論理回路５の出力を
入力に受けるオアゲート６と、アンドゲート４の出力及
び論理回路７の出力をインバータ８を経て入力に受ける
オアゲート９と、オアゲート９の出力へ接続されたイン
バータ１０とを有して本発明実施例回路が構成され、オ
アゲート６及びインバータ１０の出力にスキャンイン信
号を出力せしめんとするものである。

即ち、説明の都合上、リセット時の論理回路５゜７から
は、夫々、“Ｏ″及び“】”を発生している場合を想定
する。迫害の動作時には、スキャンイン信号は“０”に
あるので、論理信号Ａ、　Ｂは共に論理回路５．７の出
力と同一になる。

スキャンイン機能が論理信号Ａに対して生ぜしめられた
とする。その場合のスキャンアドレスは論理回路５の論
理信号に対するものであり、そのアドレスに固定される
から、アンドゲート３が条件付けられてスキャンイン信
号が該ゲートを通過して論理信号Ａに現われる。

又、スキャンイン機能が論理信号Ｂに対して生ぜしめら
れたとすると、スキャンアドレスはデコーダ２に固定し
て与えられ、そこでデコードされ°Ｃアンドケート４を
条件付けてスキャンイン信号（この場合には設定したい
値とは逆の値）がインバータｌＯで反転されて設定した
い論理信号Ｂとして現われる。

このように、論理信号に対するスキャンインをなし得る
が、この実施例ではす↓ット時の論理回路の４１＾によ
っ゛（スキャンイン信号の値を変える必要性があり、ス
キャンイン信号の発生が複雑になるが、そのハードウェ
ア量は少なくて済む。

第３図は本発明の第２の実施例を示す。この実施例はス
キャンイン動作時にスキ中ン選択信号により論理回路５
’、７’　の論理信号をアンドゲート１１，１２からゲ
ートアウトさせず、スキャンイン信号を設定したい論理
信号の値にすることを除いて、第１の実施例と同じであ
る。従って、同じ構成要素にはその参照番号にダッシュ
をイリしてその説明を省略する。なお、１３はインバー
タである。

この実施例においても、論理信号に対するスキャンイン
をなし得る。又、上述のような構成十の相違からハード
ウェア量の増大を招来するが、スキャンイン信号を當に
設定したい論理信号の値そのものにしておけばよいので
、スキャンイン信号の発生が容易となる。

（））発明の効果 以上述べたように、本発明によれば、 ■論理信号に対しスキャンインをなしうる、■従って、
論理回路の診断、動作の確認等のためにより詳細な情報
を取得出来る、このことば特に１，８１等の集積度が高
まり回路の複雑化が進めば進むほど、本発明の威力を発
揮出来る、等の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来方式を説明するための回路図、第２図は本
発明の第１の実施例を示す図、第３図は本発明の第２の
実施例を示す図である。 図中、２．２”はデコーダ、３，４．３’、４’。 はアンドゲート、５，７．５’、？’　は論理回路、６
．９．６’、９’　はオアゲート、８，１０はインハー
ク、１１．１２はアンドゲート、１３はインバータであ
る。 −二

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. データを保持するラッチ回路と、該ラッチ回路の出力の
   論理をとって得られる論理信号を受ける回路を有する論
   理装置の該回路に対しスキャンイン信号を与えるスキャ
   ンイン方式において、上記論理信号毎にスキャンアドレ
   スを固定して与える第１の回路手段と、上記スキャンア
   ドレスのためのスキャンイン信号を固定して発生する第
   ２の回路手段と、上記論理信号及び上記スキャンイン信
   号を受け取り得る論理回路手段とを備え、スキャンイン
   動作時に上記スキャンイン信号を上記論理回路手段を経
   て上記回路へ供給し得るようにしたごとを特徴とする論
   理装置のスキャンイン方式。