JPS60201267A - 信号の自動検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は信号の自動検査装置に係り、例えば家庭用小形
ＶＴＲにおけるプリエンファシス回路の後段に設（）ら
れたクリップ回路の出力信号のオーバシュートを自動検
査する場合に用いられる。

従来技術 例えばＶＴＲ等において、プリエンファシス回路により
高域増強された映像信号は第１図の信号ａ　（Ｈは水平
同期信号）に示すように、白への立上り部分及び黒への
立下り部分に鋭いオーバシュートを生じている。これを
このままの状態でＦＭ変調すると過変調となり、いわゆ
る反転現象を生じ、又、反転現象を生じないまでもオー
バシュート部分におりるＳＮ比が劣化する： そこで、第１図示のクリップ回路を用い、信号ａにおけ
るあるレベル以上のオーバシュートをダイオードＤ＋　
、Ｄ２にてクリップしてオーバシュートの少ない信号す
を得ることが行なわれている。

クリップされた後の信号すは第２図に示す如く、基本波
へを１００％としたとき、例えば、白のオーバシュート
Ｂは６０±２％、黒のオーバシュートＣは４０±２％と
規格で定められている。このオーバシュートは少ない程
良いというものではなく、上記規格内にあることが必要
である（オーバシュートが少な過ぎるということはプリ
エンファシス回路における高域増強が不足していること
になる。） そこで、クリップ回路においてオーバシュートが規格内
に抑えられるように正常に動作しているか否か、クリッ
プ回路の良否を検査する必要がある。従来の検査装置は
、オシロスコープにより信＠ｂの波形を観測し、オーバ
シュートの割合を眼で見て確かめるものである。

発明が解決しようとする問題点 ところが上記従来の検査装置は、オシロスコープの時間
軸、ゲイン、水平及び垂直ポジション等の各つまみを操
作して所定のレベル、位置に合わＶる作業に時間を要し
、又、視覚に頼らざるを得ないので高精度に検査し１り
ない等の問題点があった。

問題点を解決するための手段 本発明は、被検査信号を供給される端子と、この端子か
らの信号の所定レベル位置を零レベルにクランプＪ−る
クランプ手段と、このクランプ手段の出力中正電位成分
及び負電位成分を夫々検波する検波手段と、この検波さ
れた正電位成分及び負電位成分の夫々の大ぎさに応じた
電圧を夫々保持する保持手段と、この保持された夫々の
電圧が正電位成分及び負電位成分毎に夫々予め設定され
ている閾値レベル範囲内にあるか否かを比較してその結
果を出力する手段とを設けた椛成として上記問題点を解
決したものであり、特に、被検査信号の基本波成分の立
上り及び立下りに生じるオーバシュートの大きさを検出
し、その信号の出力状態を自動的に検査し得る信号の自
動検査装置を提供リーることを目的と１゛る。第３図以
下と共にその一実施例について説明する。

実施例 第３図及び第４図は夫々本発明装置の一実施例のブロッ
ク系統図及びその外観正面図を示す。第３図示の回路は
第４図示の筺体１内に収納されている。第３図において
、端子２に入来した第２図示のクリップをかけられた映
像信号すはＡＧＣ回路３に供給され、ここで、増幅器４
のゲインを、低域フィルタ５から取出された低域出力Ｃ
を検波器６で検波して１！′７られた直流制御電圧にて
制御することにより、その振幅レベルＬを例えばＩＶｐ
−Ｐ一定になるように制御される。ＡＧＣ回路３の出力
信号ｄはシンクチップ・クランプ回路７及び同期分離回
路８に供給される。

同期分離回路８にて分離されて取出された複合同期信号
はクランプパルスとしてシンクチップ・クランプ回路７
に供給され為一方、パルス発生器（実際にはモノマルチ
）９に供給されて白期間にり・１応したサンプリングパ
ルスとされると共に、パルスブを土器（実際にはモノマ
ルチ）１０に供給されて黒期間に対応したサンプリング
パルスとされる。ＡＧＣ回路３の出力信号ｄはシンクチ
ップ・クランプ回路７において同期分離回路８からのク
ランプパルスにて同期をとられてそのシンクデツプを零
Ｖ電位にクランプされて信号ｅとされる。

信号Ｃはオペアンプににる理想化ダイオード検波回路１
１にてぞの正電位成分を検波されてその人ささに応じた
直流正電圧として取出される一方、オペアンプによる理
想化ダイオード検波回路１２にてその負電位成分を検波
されてその大きさに応じた直流正電圧として取出される
。ダイオード検波回路１１からの信号はサンプリングホ
ールド回路１３においてパルス発生器９からのサンプリ
ングパルスにてサンプリングされ、かつ、その直流電圧
値を保持されて電圧比較回路１５に供給される一方、ダ
イオード検波回路１２からの信号はサンプルボールド回
路１４においてパルス発生器１０からのサンプリングパ
ルスにてサンプリングされ、かつ、その直流電圧値を保
持されて電圧比較回路１６に供給される。

電圧比較回路１５では、零■電位から正電位側をみた白
のオーバシュートの規格上限である１６２％及びその規
格下限である１５８％に夫々対応した電圧にその夫々の
閾値電圧を設けられており、電圧比較回路１６では、零
■電位から負電位側をみた黒のオーバシュートの規格上
限である４２％及びその規格下限である３８％に夫々対
応した電圧にその夫々の閾値電圧を設けられている。

サンプルホールド回路１３の出力が上記規格上限の閾値
電圧と上記規格下限の閾値電圧との範囲内（即ち、第２
図中、Ｂが６０±２％）にあれば、表示素子１７ａが通
電してこれが点灯する一方、その範囲外（即ち、第２図
中、Ｂが６０±２％以外）にあれば、表示素子１７ｂが
通電してこれが点灯する。一方、サンプルホールド回路
１４の出力が上記規格上限の閾値電圧と上記規格下限の
閾値電圧との範囲内（即ち、第２図中、Ｃが４０±２％
）にあれば、表示素子１８ａが通電してこれが点灯する
一方、その範囲外（即ち、第２図中、Ｃが４０±２％以
外）にあれば、表示素子１８ｂが通電してこれが点灯す
る。

表示素子１７８．１８ａの点灯によりクリップ回路のｒ
ＯＫＪを確認し得、表示素子１７ｂ。

１８ｂの点灯によりそのｒＮＧＪを確認し得る。

ｒＮＧＪの場合、第１図示の可変抵抗Ｒ＋、Ｒ２を可変
調整してクリップレベルを調整し、オーバシュートが上
記規格内に入るようにする。

−１方、サンプルホールド回路１３．１４の出力を出力
端子１９．２０より夫々取出し、夫々第１図示の可変抵
抗Ｒ＋　、Ｒ２を可変調整する信号として利用し、クリ
ップ回路のクリップレベルを自動的に調整するように構
成することもできる。

効果 上述の如く、本発明になる信号の自動検査装置は、被検
査信号を供給される端子と、この端子からの信号の所定
レベル位置を零レベルにクランプするクランプ手段と、
このクランプ手段の川内中正電位成分及び負電位成分を
夫々検波する検波手段と、この検波された正電位成分及
び負電位成分の夫々の大きさに応じた電圧を夫々保持す
る保持手段と、この保持された夫々の電圧が正電位成分
及び負電位成分毎に夫々予め設定されている閾値レベル
範囲内にあるか否かを比較してその結果を出力する手段
とを設けたため、被検査信号の例えば基本波の立上り及
び立下りに生じるオーバシュートの大きさを検出し得、
もって、その信号の出力状態を自動的に検出し得、その
際、オシロスコープを用いていた従来装置のように種々
のつまみを操作する必要がないので、作業時間が短かく
て済み、更に、上記従来装置に比して高精度に検査し得
る等の特長を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は夫々一般のクリップ回路の一例の回
路図及びその出力信号波形図、第３図及び第４図は夫々
本発明装置の一実施例のブロック系統図及びその外観正
面図である。 ２・・・映像信号入力端子、３・・・ＡＧＯ回路、７・
・・シンクデツプ・クランプ回路、１１．１２・・・ダ
イオード検波回路、１３．１４・・・サンプルホールド
回路、１５．１６・・・電圧比較回路、１７ａ、１７ｂ
。 １３ａ、１８１１・・・表示素子。 第１図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被検査信号を供給される端子と、該端子からの信号の所
   定レベル位置を零レベルにクランプするクランプ手段と
   、該クランプ手段の出力中正電位成分及び負電位成分を
   夫々検波する検波手段と、該検波された正電位成分及び
   負電位成分の夫々の大きさに応じた電圧を夫々保持する
   保持手段と、該保持された夫々の電圧が該正電位成分及
   び負電位成分毎に夫々予め設定されている閾値レベル範
   囲内にあるか否かを比較してその結果を出力する手段と
   よりなることを特徴とする信号の自動検査具Ｆｌ　。