JPS6025125A - 変位検出回路 - Google Patents
変位検出回路Info
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- JPS6025125A JPS6025125A JP13256183A JP13256183A JPS6025125A JP S6025125 A JPS6025125 A JP S6025125A JP 13256183 A JP13256183 A JP 13256183A JP 13256183 A JP13256183 A JP 13256183A JP S6025125 A JPS6025125 A JP S6025125A
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Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は複数の接点部の接点閉接状態を識別する接点検
出回路に関する。
出回路に関する。
従来技術
従来、複数の接点を有する接点部の接点の閉接状態を識
別するものとしてマトリクスキーボードがある。
別するものとしてマトリクスキーボードがある。
このマトリクスキーボードに代表される各接点にドライ
バ線とレシーバ線を配し、接点閉接部材などで接点が導
通状態となるとドライバ線に出力された信号等がレシー
バ線に送られ、このレシーバ線を監視することで接点の
閉接があるか否か識別していた。しかし、 この様な方
式ではドライバ線を順次ドライブし、各ドライバ線のド
ライブに対応したタイミングでのレシーバ線の状態を監
視しなければならず非常に面倒でかつ複雑な制御が必要
であり、出力信号も多い。
バ線とレシーバ線を配し、接点閉接部材などで接点が導
通状態となるとドライバ線に出力された信号等がレシー
バ線に送られ、このレシーバ線を監視することで接点の
閉接があるか否か識別していた。しかし、 この様な方
式ではドライバ線を順次ドライブし、各ドライバ線のド
ライブに対応したタイミングでのレシーバ線の状態を監
視しなければならず非常に面倒でかつ複雑な制御が必要
であり、出力信号も多い。
そのため接点状態の経過を一定時間に渡り記憶する場合
など、記録すべき信号の種類が多く、これらの信号をパ
ラレル−シリアル変換し、シリアルデータに変換して記
憶し、読み出し、分析の際には再びシリアル−パラレル
変換等の複雑な制御が避けられなかった。
など、記録すべき信号の種類が多く、これらの信号をパ
ラレル−シリアル変換し、シリアルデータに変換して記
憶し、読み出し、分析の際には再びシリアル−パラレル
変換等の複雑な制御が避けられなかった。
発明の目的
本発明は上述の点に鑑み為されたもので、複数の各接点
間に互いに値の異なる抵抗を接続し、該抵抗を発振回路
の発振周波数設定用抵抗に含め、各接点の閉接状態によ
り発振回路の発振周波数を変化させ、この発振回路の発
振周波数により各接点の閉接状態を識別する接点検出回
路を提供することを目的とする。
間に互いに値の異なる抵抗を接続し、該抵抗を発振回路
の発振周波数設定用抵抗に含め、各接点の閉接状態によ
り発振回路の発振周波数を変化させ、この発振回路の発
振周波数により各接点の閉接状態を識別する接点検出回
路を提供することを目的とする。
実施例
以下、本発明につき好適なる実施例を示す図面を用いて
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例に係る姿勢検出装置の透視図
である。図中1はプラスチック等の絶縁体により厚さt
の円柱状に形成したハウジング、2はハウジングlの開
口部に一体に嵌合するプラスチック等の絶縁体より成る
円板状の接点ベースであり、周囲近傍には45度の間隔
をおいて8木の接点ピン5〜12が図示の如く設けられ
ている。ハウジングlの底部には接点ベース2の接点ピ
ン5〜12の一端が嵌入する8個の孔3Aを有する接点
ピン受は部3Aが形成されている。4は少なくとも表面
が金属等の導電性部材より成る所定径の可動球接点であ
る。この球核点4とト記接点ピン5〜12の表面には、
酸化及び接触抵抗の低減等を図るため金メッキが施され
ている。
である。図中1はプラスチック等の絶縁体により厚さt
の円柱状に形成したハウジング、2はハウジングlの開
口部に一体に嵌合するプラスチック等の絶縁体より成る
円板状の接点ベースであり、周囲近傍には45度の間隔
をおいて8木の接点ピン5〜12が図示の如く設けられ
ている。ハウジングlの底部には接点ベース2の接点ピ
ン5〜12の一端が嵌入する8個の孔3Aを有する接点
ピン受は部3Aが形成されている。4は少なくとも表面
が金属等の導電性部材より成る所定径の可動球接点であ
る。この球核点4とト記接点ピン5〜12の表面には、
酸化及び接触抵抗の低減等を図るため金メッキが施され
ている。
姿勢検出装置は、球核点4を接点ピン5〜12の内側に
配置した状態で接点ベース2をハウジング1の開口部に
嵌合固定して成る。
配置した状態で接点ベース2をハウジング1の開口部に
嵌合固定して成る。
第2図(A)、(B)は夫々姿勢検出装置の平面図と側
面図である。なお、接点部はハウジングlと接点ベース
2によって密封されている。また、第1図及び第2図(
A)のA−A線の断面図である第2図(C)に示す如く
、ハウジングlの接点ピン受は部3の中央及び接点ベー
ス2の接点ピン5〜12の内側中央には深さaの周囲に
曲面を有する窪み部3Bが形成されている。この窪み部
3Bは接点ピン5〜12の位置から距[だけ内側に形成
されている。
面図である。なお、接点部はハウジングlと接点ベース
2によって密封されている。また、第1図及び第2図(
A)のA−A線の断面図である第2図(C)に示す如く
、ハウジングlの接点ピン受は部3の中央及び接点ベー
ス2の接点ピン5〜12の内側中央には深さaの周囲に
曲面を有する窪み部3Bが形成されている。この窪み部
3Bは接点ピン5〜12の位置から距[だけ内側に形成
されている。
次に、球核点4は第2図(B)のB−B線の断面図であ
る第2図(D)に示すように接点ピン5〜12の何れか
2本に接触した状態で位置し、接点ピン5〜12内を自
由に回転移動する。また、球核点4が接点ピン5〜12
内を接触しながら回転移動できる範囲は、第2図(C)
から分かるように窪み部3B周囲の縁部分3C相互の間
隔すの範囲となっている。
る第2図(D)に示すように接点ピン5〜12の何れか
2本に接触した状態で位置し、接点ピン5〜12内を自
由に回転移動する。また、球核点4が接点ピン5〜12
内を接触しながら回転移動できる範囲は、第2図(C)
から分かるように窪み部3B周囲の縁部分3C相互の間
隔すの範囲となっている。
次にこの姿勢検出装置の動作を第3図(A)〜(F)を
用いて説明する。
用いて説明する。
初めに、球核点4が第3図(A)のように接点ピン5と
12の間に位置しているものとする。このとき、球核点
4は自重によって接点ピン5゜12の両方に接触してい
るため、接点ピン5゜12間は球核点4によって導通路
となっている。
12の間に位置しているものとする。このとき、球核点
4は自重によって接点ピン5゜12の両方に接触してい
るため、接点ピン5゜12間は球核点4によって導通路
となっている。
即ち、スイッチでいう閉状態が形成されている。
第3図(B)は体位の変化によって装置がn1度だけ右
横方向へ傾いた状態を示す。この状態では、球核点4の
重心位置Pが接点ピン5,12間にあるため、球核点4
、接点ピン11の方へは回転移動せず第3図(A)の状
態が保たれる。
横方向へ傾いた状態を示す。この状態では、球核点4の
重心位置Pが接点ピン5,12間にあるため、球核点4
、接点ピン11の方へは回転移動せず第3図(A)の状
態が保たれる。
次に、装置が第3図(C)に示すように更に右横方向へ
傾き図示の如く一定の角度xiだけ傾いたところで球核
点4の重心位置Pが接点ピン12.11間側に移動する
ため、球核点4は接点ピン12.11の間に回転移動す
る。そして、接点ピン5,12間は開状態となり、接点
ピン12.11間が閉状態(導通路)となる。このよう
に装置の傾きに応じて球核点4はヒステリシス特性をも
って移動し、接点ピン5〜12間の接続状態が順次変化
するのである。なお、球核点4が次の接点ピン間に移動
を開始する傾き角(ヒステリシス角)は接点ピン相互の
間隔と球核点4の直径によって任意に決定することがで
きる。
傾き図示の如く一定の角度xiだけ傾いたところで球核
点4の重心位置Pが接点ピン12.11間側に移動する
ため、球核点4は接点ピン12.11の間に回転移動す
る。そして、接点ピン5,12間は開状態となり、接点
ピン12.11間が閉状態(導通路)となる。このよう
に装置の傾きに応じて球核点4はヒステリシス特性をも
って移動し、接点ピン5〜12間の接続状態が順次変化
するのである。なお、球核点4が次の接点ピン間に移動
を開始する傾き角(ヒステリシス角)は接点ピン相互の
間隔と球核点4の直径によって任意に決定することがで
きる。
次いで、装置が縦方向に傾く場合を説明する。
装置が第3図(D)の状態から第3図(E)に示すよう
に右方向へn2度だけ傾いた場合、球核点4の重心位置
Pは窪み部3Bの縁部分3Cよりも内側にあるので球核
点4は縁部分3Cによって支えられ接点ピンに接触した
状態に保たれる。
に右方向へn2度だけ傾いた場合、球核点4の重心位置
Pは窪み部3Bの縁部分3Cよりも内側にあるので球核
点4は縁部分3Cによって支えられ接点ピンに接触した
状態に保たれる。
更に、装置が第3図(F)に示すように一定角度x2
(x2>n2)だけ傾いたとき、球核点4の重心位置P
が縁部分3Cより外側に移動するので、球核点4はヒス
テリシス特性をもって縁部分3Cを乗り越えて窪み部3
B側に転がる。このため、球核点4は接点ピン5〜12
と無接触状態となる。また、装置の傾きが一定角度以上
元に戻ると、球核点4は窪み部3Bから接点ピン側に移
動する。この無接触状態に至る傾き角x2(ヒステリシ
ス角)は接点ピンから縁部分3Cまでの高さAと縁部分
3C相互の距離b(即ち、球核点4の転がる距離)によ
って決定され、無接触状態から接触状態へのヒステリシ
ス角度は窪み部3Bの深さaと球核点4の直径によって
決定される。
(x2>n2)だけ傾いたとき、球核点4の重心位置P
が縁部分3Cより外側に移動するので、球核点4はヒス
テリシス特性をもって縁部分3Cを乗り越えて窪み部3
B側に転がる。このため、球核点4は接点ピン5〜12
と無接触状態となる。また、装置の傾きが一定角度以上
元に戻ると、球核点4は窪み部3Bから接点ピン側に移
動する。この無接触状態に至る傾き角x2(ヒステリシ
ス角)は接点ピンから縁部分3Cまでの高さAと縁部分
3C相互の距離b(即ち、球核点4の転がる距離)によ
って決定され、無接触状態から接触状態へのヒステリシ
ス角度は窪み部3Bの深さaと球核点4の直径によって
決定される。
以上のように構成されかつ動作する姿勢検出装置の接点
ピン5〜12の相互間には例えば後述する姿勢検出回路
の発振回路を構成する8個の抵抗R1−R8が接続され
る。球核点4の接点ピン4への接触位置及び接触状態と
無接触状態に応じて抵抗値が変化するか、その抵抗値の
変化に基づいて変化する発振周波数から体位の変化を検
出する。これにより、体位の変化を一定の角度毎に捉え
ることができるものである。なお、L記の姿勢検出装置
は接点ベース2から外側に突出する接点ピン5〜12の
部分を用いることによってプリント基板にそのまま接続
することができる。
ピン5〜12の相互間には例えば後述する姿勢検出回路
の発振回路を構成する8個の抵抗R1−R8が接続され
る。球核点4の接点ピン4への接触位置及び接触状態と
無接触状態に応じて抵抗値が変化するか、その抵抗値の
変化に基づいて変化する発振周波数から体位の変化を検
出する。これにより、体位の変化を一定の角度毎に捉え
ることができるものである。なお、L記の姿勢検出装置
は接点ベース2から外側に突出する接点ピン5〜12の
部分を用いることによってプリント基板にそのまま接続
することができる。
0
また、装置全体が密封構造で熱にも強いため、プリント
基板に実装後洗浄が可能な外、半田槽による半田付けも
可能となり、実装上の制約がなくなった。
基板に実装後洗浄が可能な外、半田槽による半田付けも
可能となり、実装上の制約がなくなった。
このため装置全体を極めて容易に小型化でき、また実装
も容易な姿勢検出装置となっている。
も容易な姿勢検出装置となっている。
以上説明した姿勢検出装置では球接点4によって接触さ
れる接点ピン相互の間隔と、球接点4によって決定され
るヒステリシス角毎にしか体位を検出することができな
い訳であるが、以下のような構成とすれば姿勢検出装置
自体の構造を全く変えることなく、更に精度の高い(詳
細な)姿勢検出を行える姿勢検出装置とすることができ
る。
れる接点ピン相互の間隔と、球接点4によって決定され
るヒステリシス角毎にしか体位を検出することができな
い訳であるが、以下のような構成とすれば姿勢検出装置
自体の構造を全く変えることなく、更に精度の高い(詳
細な)姿勢検出を行える姿勢検出装置とすることができ
る。
即ち、第4図に示すように接点ピン5〜12を45度間
隔で有する装置と同様に接点ピン5′〜12′を45度
間隔で有する装置とを22.5度の角1 度差をおいて平行に設置すれば、2つの装置によって2
2.5度の間隔で接点ピンを設けたと同様の装置とする
ことができ、より詳細に体位を検出することができるの
である。そして、同様にn個の装置を接点ピン相互の間
隔をn分割した角度差をもたせて設置すれば、n倍の精
度で姿勢検出が可能となることは容易に理解されよう。
隔で有する装置と同様に接点ピン5′〜12′を45度
間隔で有する装置とを22.5度の角1 度差をおいて平行に設置すれば、2つの装置によって2
2.5度の間隔で接点ピンを設けたと同様の装置とする
ことができ、より詳細に体位を検出することができるの
である。そして、同様にn個の装置を接点ピン相互の間
隔をn分割した角度差をもたせて設置すれば、n倍の精
度で姿勢検出が可能となることは容易に理解されよう。
以上説明した様に本実施例の姿勢検出装置は人間の姿勢
検出を例として述べたが、本姿勢検出装置は小型でかつ
完全密封構造となっており、また耐衝撃性も優れている
。このため容易に防爆構造とすることもでき使用環境条
件の制約がほとんどない。これはケースを耐熱性、耐蝕
性を有する電気的絶縁材料を用いることで、さらに、あ
らゆる環境条件での使用が可能となる。このため本姿勢
検出装置はクレーンのアームや種々のロボットな2 どにも使用可能であり、本装置を取り付けることにより
、影響条件の制約もなくなり、変位検出部が小型化され
、かつ精密で正確な変位の検出が可能となった。
検出を例として述べたが、本姿勢検出装置は小型でかつ
完全密封構造となっており、また耐衝撃性も優れている
。このため容易に防爆構造とすることもでき使用環境条
件の制約がほとんどない。これはケースを耐熱性、耐蝕
性を有する電気的絶縁材料を用いることで、さらに、あ
らゆる環境条件での使用が可能となる。このため本姿勢
検出装置はクレーンのアームや種々のロボットな2 どにも使用可能であり、本装置を取り付けることにより
、影響条件の制約もなくなり、変位検出部が小型化され
、かつ精密で正確な変位の検出が可能となった。
第5図(A)は姿勢検出装置よりの閉接点状態を基に体
位位置を検出するための姿勢検出回路図である。
位位置を検出するための姿勢検出回路図である。
図中50は無安定マルチバイブレータであり、52は電
源スィッチ、53は電源である。端子A−Hは前述の姿
勢検出装置の接点ピン5〜12に対応している。
源スィッチ、53は電源である。端子A−Hは前述の姿
勢検出装置の接点ピン5〜12に対応している。
本実施例では無安定マルチバイブレータ50として55
5タイマを使用している。このため電源53は約2ポル
ト〜15ポルトの範囲で安定して動作し、消費電流も1
007tA以下とすることができる。
5タイマを使用している。このため電源53は約2ポル
ト〜15ポルトの範囲で安定して動作し、消費電流も1
007tA以下とすることができる。
3
発振回路での発振出力波形を第5図(B)に示す。第5
図(B)でのT、及びT3は後述の姿勢検出装置の接点
状態により変化し、次式で表される。
図(B)でのT、及びT3は後述の姿勢検出装置の接点
状態により変化し、次式で表される。
T、=C(RA+RB)In2 − (1)T3=C(
RA+2RB)ln2− (2)但しRBはRB 1−
RB8の合成抵抗である。
RA+2RB)ln2− (2)但しRBはRB 1−
RB8の合成抵抗である。
よって本発振回路の発振周波数fは
f = 1.44/((RA+2RB)(j ・・・(
3)でめられる。
3)でめられる。
無安定マルチバイブレータ50の発振出力OUTは抵抗
RC及びRDにより分圧され、心電図記録用装置などの
入力レベルに合わネれて出力されている。
RC及びRDにより分圧され、心電図記録用装置などの
入力レベルに合わネれて出力されている。
以上の回路図において、姿勢検出装置の端子5.12間
に球接点4が位置した場合には、端子4 5.12間が閉接状態となり、5,12間即ち第5図(
A)のA−H間が電気的に併設状態となりRB=R8と
なる。つまり発振周波数fは(3)式のRBにR8を代
入して f = 1.44/((RA+2R8)C) が得られ
る。
に球接点4が位置した場合には、端子4 5.12間が閉接状態となり、5,12間即ち第5図(
A)のA−H間が電気的に併設状態となりRB=R8と
なる。つまり発振周波数fは(3)式のRBにR8を代
入して f = 1.44/((RA+2R8)C) が得られ
る。
次に姿勢検出装置の変位により球核点4が端子11.1
2間に位置すると端子11.12間即ちG−H間が閉接
状態となり、RB=R1+R2+R3+R4+R5+R
6+R8となる。
2間に位置すると端子11.12間即ちG−H間が閉接
状態となり、RB=R1+R2+R3+R4+R5+R
6+R8となる。
以上の説明より明らかな如く、姿勢検出装置のある端子
間に球核点4が位置した場合には端子A−B 、 B−
C、C−D 、 D−E 、 E−F 。
間に球核点4が位置した場合には端子A−B 、 B−
C、C−D 、 D−E 、 E−F 。
F−G 、G−)(、)I−Aのいずれかの端子間で電
気的閉接点状態となり、R1−R8の抵抗値を互いに変
えることによりRBの合成抵抗も必ず変化し、これに伴
い発振周波数も必ず変化する。この5 発振周波数と体位センサ位置との対応を利用することに
より極めて小型でかつ容易に体位位置をめることが可能
となる。
気的閉接点状態となり、R1−R8の抵抗値を互いに変
えることによりRBの合成抵抗も必ず変化し、これに伴
い発振周波数も必ず変化する。この5 発振周波数と体位センサ位置との対応を利用することに
より極めて小型でかつ容易に体位位置をめることが可能
となる。
また第4図に示す如く、複数の姿勢検出装置を用いてさ
らに精密な体位を測定したい場合には、RBの抵抗分割
を姿勢検出装置よりの接点ピン数分行い、互いの抵抗値
を異なる値とすることにより、発振周波数を変化させる
ことができる。
らに精密な体位を測定したい場合には、RBの抵抗分割
を姿勢検出装置よりの接点ピン数分行い、互いの抵抗値
を異なる値とすることにより、発振周波数を変化させる
ことができる。
効果
以上説明した如く本発明によれば、各接点の閉接状態に
より発振回路の発振周波数を変化させることにより多数
の接点状態を一つの発振出力により識別可能となり、接
点状態を長時間に渡って記録する場合などにおいてもこ
の発振出力を例えばテープレコーダ等に接続するのみで
何らの変換も必要とせず記録し、また再生することがで
きる。
より発振回路の発振周波数を変化させることにより多数
の接点状態を一つの発振出力により識別可能となり、接
点状態を長時間に渡って記録する場合などにおいてもこ
の発振出力を例えばテープレコーダ等に接続するのみで
何らの変換も必要とせず記録し、また再生することがで
きる。
6
またこの出力波形をオシロスコープ等で監視しても極め
て容易に接点状態が識別できる。
て容易に接点状態が識別できる。
第1図は本発明の一実施例に係る姿勢検出装置を分解し
た状態の透視図、 第2図(A)、(B)は各々第1図に示す姿勢検出装置
の平面図及び側面図、 第2図(c)、(D)は各々第2図(A)のA−A線部
分及び第2図CB)のB−B線部分の断面図、 第3図(A)〜(F)は各々姿勢検出装置の動作を説明
するための断面図、 第4図は他の説明に係る姿勢検出装置の一実施例の平面
図、 第5図(A)は姿勢検出装置の姿勢検出回路図、 7 第5図(B)は姿勢検出回路の出力波形図である。 ここで、l・・・ハウジング、2・・・接点ベース、3
・・・接点ピン受は部、3B・・・窪み部、4・・・球
核点、5〜12・・・接点ピンである。 特許出願人 水 井 睦 祥 8 第2図 第3図 (A)(B)(C) 大 CD) (E) (F: 第4図 手続補正書 昭和58年 9月13日 特 許 庁 長 官 1、事件の表示 特願昭58−132561号 2、発明の名称 接点検出回路 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 水井睦祥 4、代 理 人 〒105 東京都港区虎ノ門1−11−10 5、補正命令の日付 自 発 6、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 7、補正の内容 (1)明細書第14頁第7行目rRB1−RB8Jをr
R1〜R8Jと訂正する。 手続補正書 昭和59年 2月 7日 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭58−132561号 2、発明の名称 接点検出回路 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 水弁 睦祥 4、代 理 人 〒105 東京都港区虎ノ門1−2−12 5、補正命令の日付 自 発 7、補正の内容 第3図(A)〜(F)、第4図、第5図を別紙の通り訂
正する。 第3図 (A> (B) (C) (D) (E) CF)
た状態の透視図、 第2図(A)、(B)は各々第1図に示す姿勢検出装置
の平面図及び側面図、 第2図(c)、(D)は各々第2図(A)のA−A線部
分及び第2図CB)のB−B線部分の断面図、 第3図(A)〜(F)は各々姿勢検出装置の動作を説明
するための断面図、 第4図は他の説明に係る姿勢検出装置の一実施例の平面
図、 第5図(A)は姿勢検出装置の姿勢検出回路図、 7 第5図(B)は姿勢検出回路の出力波形図である。 ここで、l・・・ハウジング、2・・・接点ベース、3
・・・接点ピン受は部、3B・・・窪み部、4・・・球
核点、5〜12・・・接点ピンである。 特許出願人 水 井 睦 祥 8 第2図 第3図 (A)(B)(C) 大 CD) (E) (F: 第4図 手続補正書 昭和58年 9月13日 特 許 庁 長 官 1、事件の表示 特願昭58−132561号 2、発明の名称 接点検出回路 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 水井睦祥 4、代 理 人 〒105 東京都港区虎ノ門1−11−10 5、補正命令の日付 自 発 6、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 7、補正の内容 (1)明細書第14頁第7行目rRB1−RB8Jをr
R1〜R8Jと訂正する。 手続補正書 昭和59年 2月 7日 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭58−132561号 2、発明の名称 接点検出回路 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 水弁 睦祥 4、代 理 人 〒105 東京都港区虎ノ門1−2−12 5、補正命令の日付 自 発 7、補正の内容 第3図(A)〜(F)、第4図、第5図を別紙の通り訂
正する。 第3図 (A> (B) (C) (D) (E) CF)
Claims (3)
- (1)複数の接点部の接点閉接状態を識別する接点検出
回路であって、発振回路部と、該発振回路部の発振周波
数を設定する設定手段とを備え、前記複数の接点部の接
点閉接状態により前記設定手段の抵抗値を変化させ、も
って前記発振回路部発振周波数を変化させ前記複数の接
点部の接点閉接状態を識別することを特徴とする接点検
出回路。 - (2)発振回路部を無安定マルチバイブレータとし、設
定手段を抵抗及びコンデンサとしてことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の接点検出回路。 - (3)複数の接点部の各接点間に互いに抵抗値の異なる
抵抗を接続し、該抵抗を設定手段の発振周波数設定抵抗
に含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の接
点検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13256183A JPS6025125A (ja) | 1983-07-20 | 1983-07-20 | 変位検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13256183A JPS6025125A (ja) | 1983-07-20 | 1983-07-20 | 変位検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6025125A true JPS6025125A (ja) | 1985-02-07 |
| JPH0161209B2 JPH0161209B2 (ja) | 1989-12-27 |
Family
ID=15084171
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13256183A Granted JPS6025125A (ja) | 1983-07-20 | 1983-07-20 | 変位検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6025125A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5589098A (en) * | 1978-12-18 | 1980-07-05 | Tokico Ltd | Oil feeder |
-
1983
- 1983-07-20 JP JP13256183A patent/JPS6025125A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5589098A (en) * | 1978-12-18 | 1980-07-05 | Tokico Ltd | Oil feeder |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0161209B2 (ja) | 1989-12-27 |
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