JPS6044704B2 - デジタル入力装置の誤動作検出方法および装置 - Google Patents
デジタル入力装置の誤動作検出方法および装置Info
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- JPS6044704B2 JPS6044704B2 JP53056594A JP5659478A JPS6044704B2 JP S6044704 B2 JPS6044704 B2 JP S6044704B2 JP 53056594 A JP53056594 A JP 53056594A JP 5659478 A JP5659478 A JP 5659478A JP S6044704 B2 JPS6044704 B2 JP S6044704B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、デジタル入力装置の誤動作検出方法および
その装置に関する。
その装置に関する。
デジタル入力装置は、計算制御装置、プログラム式シ
ーケンサ等の基本装置としての不可欠のものである。
ーケンサ等の基本装置としての不可欠のものである。
計算制御装置の事例を述べると、計算制御装置は第1図
に示すように、入力装置11と出力装置13および該入
力、出力装置の間でデータ処理を行うプロセッサ12よ
り成る。入力装置11は、計算制御装置の外部からパラ
レルに送られてくるデータを受け、同時にプロセッサ1
2から送られてくるアドレスに基づき、パラレルデータ
の数ワード中の1ワード (通常1ワードは8〜16ビ
ット)を選択してプロセッサに送る作業を行つている。
このような場合、データの量が増加するにつれて、その
故障診断が要求されてくる。通常プロセツサでは、メモ
リのパリテイエラーチエツク、プログラムの進行異常を
検出するウオツチドグタイマによるチエツク等を行つて
いる。また出力装置13に関しても、出力装置への入力
信号とその出力信号を比較し、不一致があれば異常信号
を出力する等の故障診断法が実用されている。しかしな
がら入力装置に関しては未だ適当な故障診断法が開発さ
れていない。近年の装置は大規模化、複雑化の方向にあ
り、運転員には高度な専門知識が要求されるようになつ
てきている。これに対し、社会的には高度な専門技術者
の確保がますます困難な状況にある。このような背景の
もとに故障診断機能を持つた装置が種々提案されている
。 ます計算制御装置の入力装置11の構成図を第2図
に示す。第2図において入力装置への入力信号は外部の
スイツチ1の開・閉で与えられる。スイツヂ1の開◆閉
信号はフイルタ2を介してコンパレータ5に伝えられる
。コンパレータ5には電圧V。を抵抗3, 4て分圧し
た■sが印加されている。フイルタ2の出力電圧は、ス
イツチ1の開・閉に応じて基準電圧■,より大または小
に変化する。このフイルタ2の出力電圧に対応したコン
パレータ5の出力電圧はマルチプレクタ6に印加される
。この状態は、入力装置11の外部から与えられたスイ
ツチ1の開・閉信号が電気的に処理され、プロセツサ1
2へ出力可能となつた状態である。プロセツサ12から
入力装置を選択するアドレス信号ADDRが送られてく
ると、そのアドレス信号に対応した入力信号が選択され
、DINラインを介してプロセツサヘ送られる。 この
種の入力装置に対する従来の故障診断方式を第3図によ
り説明する。
に示すように、入力装置11と出力装置13および該入
力、出力装置の間でデータ処理を行うプロセッサ12よ
り成る。入力装置11は、計算制御装置の外部からパラ
レルに送られてくるデータを受け、同時にプロセッサ1
2から送られてくるアドレスに基づき、パラレルデータ
の数ワード中の1ワード (通常1ワードは8〜16ビ
ット)を選択してプロセッサに送る作業を行つている。
このような場合、データの量が増加するにつれて、その
故障診断が要求されてくる。通常プロセツサでは、メモ
リのパリテイエラーチエツク、プログラムの進行異常を
検出するウオツチドグタイマによるチエツク等を行つて
いる。また出力装置13に関しても、出力装置への入力
信号とその出力信号を比較し、不一致があれば異常信号
を出力する等の故障診断法が実用されている。しかしな
がら入力装置に関しては未だ適当な故障診断法が開発さ
れていない。近年の装置は大規模化、複雑化の方向にあ
り、運転員には高度な専門知識が要求されるようになつ
てきている。これに対し、社会的には高度な専門技術者
の確保がますます困難な状況にある。このような背景の
もとに故障診断機能を持つた装置が種々提案されている
。 ます計算制御装置の入力装置11の構成図を第2図
に示す。第2図において入力装置への入力信号は外部の
スイツチ1の開・閉で与えられる。スイツヂ1の開◆閉
信号はフイルタ2を介してコンパレータ5に伝えられる
。コンパレータ5には電圧V。を抵抗3, 4て分圧し
た■sが印加されている。フイルタ2の出力電圧は、ス
イツチ1の開・閉に応じて基準電圧■,より大または小
に変化する。このフイルタ2の出力電圧に対応したコン
パレータ5の出力電圧はマルチプレクタ6に印加される
。この状態は、入力装置11の外部から与えられたスイ
ツチ1の開・閉信号が電気的に処理され、プロセツサ1
2へ出力可能となつた状態である。プロセツサ12から
入力装置を選択するアドレス信号ADDRが送られてく
ると、そのアドレス信号に対応した入力信号が選択され
、DINラインを介してプロセツサヘ送られる。 この
種の入力装置に対する従来の故障診断方式を第3図によ
り説明する。
図から明らかなように、この方式は入力装置を2重化し
たものである。スイツチ1の開・閉信号は、フイルタ2
および2″に印加される。フイルタ2の入力信号はコン
パレータ5を介してマルチプレクサ6に印加され、プロ
セツサ12より送られてくるアドレスADDRに応じて
前述と同様対応した入力信号が選択され、入カラインD
INを介してプロセツサ12に入力されると共に、不一
致検出回路7に供給される。フイルタ2″を通つた入力
信号はコンパレータ5″を介してマルチプレクサ6″に
印加され、プロセツサ12より送られてくるアドレスA
DDRに応じて前述と同様にDIN″ラインを介して不
一致検出回路7に加えられる。DINおよびDIN″ラ
インの信号は不一致検出回路7においてその不一致が判
断される。不一致の場合は、不一致信号がレジスタ8に
記憶される。前述のように、第3図で示される回路11
と1「は同一回路構成であり、入力信号およびプロセツ
サ12より与えられるアドレスADDRはいずれも共通
である。このため正常状態ではDINラインおよびDI
N″ラインの出力信号は一致することになる。したがつ
て、もし不一致が生じたとすれば、それは回路11また
は 1「が故障したことを意味する。不一致信号はレジ
スタ8に記憶され、警報信号ALARMをプロセツサ1
2に出力する。このようにして入力装置の故障診断がで
きる。しかしながらこの方式では、回路規模が約2倍に
なるため、価格が上昇し、また部品点数の増加により信
頼度が低下するという大きな欠点があつた。 本発明の
目的は、価格上昇が少なく、信頼度低下も少ない、入力
装置の故障診断装置を提供するにある。
たものである。スイツチ1の開・閉信号は、フイルタ2
および2″に印加される。フイルタ2の入力信号はコン
パレータ5を介してマルチプレクサ6に印加され、プロ
セツサ12より送られてくるアドレスADDRに応じて
前述と同様対応した入力信号が選択され、入カラインD
INを介してプロセツサ12に入力されると共に、不一
致検出回路7に供給される。フイルタ2″を通つた入力
信号はコンパレータ5″を介してマルチプレクサ6″に
印加され、プロセツサ12より送られてくるアドレスA
DDRに応じて前述と同様にDIN″ラインを介して不
一致検出回路7に加えられる。DINおよびDIN″ラ
インの信号は不一致検出回路7においてその不一致が判
断される。不一致の場合は、不一致信号がレジスタ8に
記憶される。前述のように、第3図で示される回路11
と1「は同一回路構成であり、入力信号およびプロセツ
サ12より与えられるアドレスADDRはいずれも共通
である。このため正常状態ではDINラインおよびDI
N″ラインの出力信号は一致することになる。したがつ
て、もし不一致が生じたとすれば、それは回路11また
は 1「が故障したことを意味する。不一致信号はレジ
スタ8に記憶され、警報信号ALARMをプロセツサ1
2に出力する。このようにして入力装置の故障診断がで
きる。しかしながらこの方式では、回路規模が約2倍に
なるため、価格が上昇し、また部品点数の増加により信
頼度が低下するという大きな欠点があつた。 本発明の
目的は、価格上昇が少なく、信頼度低下も少ない、入力
装置の故障診断装置を提供するにある。
本発明の要旨は、デジタル入力装置の入力信号として
、通常入力する外部入力信号とは別に摸擬入力信号を印
加し、該入力装置の出力が規定値内にあるかどうかをチ
エツクし故障診断を行うものである。
、通常入力する外部入力信号とは別に摸擬入力信号を印
加し、該入力装置の出力が規定値内にあるかどうかをチ
エツクし故障診断を行うものである。
信号入力装置の故障診断方式には大きく分けて 3つ
の方式が考えられる。
の方式が考えられる。
第1は外部の装置で目j的の装置を診断する方式、第2
は装置内部に故障診断機能を持たせた自己診断方式、第
3は故障診断機能を装置内部と装置の外部て分担しても
つ方式である。本発明は第3の方式に関し、入力装置の
内部で故障診断の情報をつくり出し、外部のプjロセツ
サは、この情報を分析して、故障診断を行 うものであ
る。従来のデジタル入力装置は第4図の如く書きあらわ
すことができる。すなわち入力信号Xは、入力装置10
により処理されて出力yとなる。この入力装置10の機
能F(x)は、入冫力xの規定された範囲のすべてに対
して、対応する出力yの値が規定値内にあるとき正しい
と認定することができる。ところで実際のデジタル装置
の故障は、オープンまたはシヨートの場合がほとんどで
あるため、入力Xおよび出力yについて、論理“゜1゛
と論理゛0゛の双方のチエツクを行うことにより装置の
故障を診断することができる。本発明はこの点に着目し
てなされたものであり、第5図にその概略ブロツク図を
示す。図において10は入力装置、9は切替スイツチ、
Xは外部からの入力信号、Hは摸擬入力信号、Kは入力
装置x.(5Hの切替信号、yは出力信号である。通常
は入力信号Xが選択されて入力装置10に印加され、入
力装置の出力yが出力されている。入力装置10の故障
診断を行う場合には、切替信号Kを制御してスイツチ9
を切替え、入力装置10に信号Hを印加する。この状態
で、装置10および切替スイツチ9とは別個に配置され
たチエツク手段(図示せす)により、出力yをチエツク
し、出力yの値が規定値の範囲内であれば正常、規定値
の範囲外てあれば故障と認定するものである。 本発明
の実施例を第6図の詳細ブロツク図および第7図のタイ
ムチヤード参照して説明する。本実施例の回路は第2図
の従来例回路に対し、模擬入力回路および記憶回路を迫
加し、マルチプレクサをバツフアで置き替えたものであ
る。模擬入力回路はスイツチ回路17, 18、発振器
19、制御回路20、アドレス選択回路21より成る。
入力装置10に電源が投入されると発振器19からは発
振出力信号Aが出力され、制御回路20に印加される。
制御回路20はカウンタおよびゲート回路を内蔵してお
り、内部的には第7図に示されたB,C,D,Eの各ク
ロツクを発生すると共に外部に対しては、(1)記憶回
路15への書込パルスMSTB1(2)書込み、または
続出しアドレスをアドレス選択回路21に指示するアド
レス信号ADDR1、(3)アドレスがプロセツサ10
0からのものか、制御回路20からのものかを指示する
信号SEL1(4)スイツチ17を制御する“゜0゛C
HECK信号、(5)スイツチ18を制御する゜′r′
cHEcK信号および、(6)プロセツサから読出指令
信号STBを受けて、プロセツサヘ送られる続出許可信
号READYなどをそれぞれ予定のタイミングで発生し
ている。 プロセツサからの続出し指令信号STBおよ
びこれと関連するREADY信号、SEL信号は非同期
に入力してくるが、信号MSTBNADDR1、゜゜0
゛CHECK、゜“1゛CHECKは第7図に示される
ように周期的に出力される。
は装置内部に故障診断機能を持たせた自己診断方式、第
3は故障診断機能を装置内部と装置の外部て分担しても
つ方式である。本発明は第3の方式に関し、入力装置の
内部で故障診断の情報をつくり出し、外部のプjロセツ
サは、この情報を分析して、故障診断を行 うものであ
る。従来のデジタル入力装置は第4図の如く書きあらわ
すことができる。すなわち入力信号Xは、入力装置10
により処理されて出力yとなる。この入力装置10の機
能F(x)は、入冫力xの規定された範囲のすべてに対
して、対応する出力yの値が規定値内にあるとき正しい
と認定することができる。ところで実際のデジタル装置
の故障は、オープンまたはシヨートの場合がほとんどで
あるため、入力Xおよび出力yについて、論理“゜1゛
と論理゛0゛の双方のチエツクを行うことにより装置の
故障を診断することができる。本発明はこの点に着目し
てなされたものであり、第5図にその概略ブロツク図を
示す。図において10は入力装置、9は切替スイツチ、
Xは外部からの入力信号、Hは摸擬入力信号、Kは入力
装置x.(5Hの切替信号、yは出力信号である。通常
は入力信号Xが選択されて入力装置10に印加され、入
力装置の出力yが出力されている。入力装置10の故障
診断を行う場合には、切替信号Kを制御してスイツチ9
を切替え、入力装置10に信号Hを印加する。この状態
で、装置10および切替スイツチ9とは別個に配置され
たチエツク手段(図示せす)により、出力yをチエツク
し、出力yの値が規定値の範囲内であれば正常、規定値
の範囲外てあれば故障と認定するものである。 本発明
の実施例を第6図の詳細ブロツク図および第7図のタイ
ムチヤード参照して説明する。本実施例の回路は第2図
の従来例回路に対し、模擬入力回路および記憶回路を迫
加し、マルチプレクサをバツフアで置き替えたものであ
る。模擬入力回路はスイツチ回路17, 18、発振器
19、制御回路20、アドレス選択回路21より成る。
入力装置10に電源が投入されると発振器19からは発
振出力信号Aが出力され、制御回路20に印加される。
制御回路20はカウンタおよびゲート回路を内蔵してお
り、内部的には第7図に示されたB,C,D,Eの各ク
ロツクを発生すると共に外部に対しては、(1)記憶回
路15への書込パルスMSTB1(2)書込み、または
続出しアドレスをアドレス選択回路21に指示するアド
レス信号ADDR1、(3)アドレスがプロセツサ10
0からのものか、制御回路20からのものかを指示する
信号SEL1(4)スイツチ17を制御する“゜0゛C
HECK信号、(5)スイツチ18を制御する゜′r′
cHEcK信号および、(6)プロセツサから読出指令
信号STBを受けて、プロセツサヘ送られる続出許可信
号READYなどをそれぞれ予定のタイミングで発生し
ている。 プロセツサからの続出し指令信号STBおよ
びこれと関連するREADY信号、SEL信号は非同期
に入力してくるが、信号MSTBNADDR1、゜゜0
゛CHECK、゜“1゛CHECKは第7図に示される
ように周期的に出力される。
ここで信号MSTBの周期Tは、フイルタ2の時定数τ
と比較して次の関係が必要である。 これは入力装置の
正しい入力信号を記憶回路15に確実に取り込むためで
ある。 次に本実施例の動作を第8図のフローチヤート
をも参照して説明する。
と比較して次の関係が必要である。 これは入力装置の
正しい入力信号を記憶回路15に確実に取り込むためで
ある。 次に本実施例の動作を第8図のフローチヤート
をも参照して説明する。
(1) STAGE1および3の動作
この状態ぱ゜0゛CHECK1゜゜1゛CFIEC
K信 号共に信号はLレベルであり、スイツチ17、
スイツチ18は閉じている。
K信 号共に信号はLレベルであり、スイツチ17、
スイツチ18は閉じている。
したがつて電源V 。が抵抗器22を介して接点1に印
加され、接 点1のアース側はスイツチ8を通してアー
スに接続される。このため、接点1が閉じられれば フ
イルタ2の入力端子はアースに接続されてL レベルに
なり、一方接点1が開かれておれば電 源Vcが抵抗器
22を介してフイルタ2の入力端子に印加されてHレベ
ルになる。即ちスイツ チ1のON,.OFFが電気信
号としてフイルタ2 およびコンパレータ5を介して記
憶回路15に 印加されることになる。制御回路20か
らはア ドレスADDR1が出力される。ここで記憶回
路 ヘの書込パルスMSTBが出力されたとき、プロ
セツサ100からの読出指令信号S゛田が来て いなけ
ればアドレス選択回路21への選択信号 SELは制御
回路20のADDR1を選択するの で、ADDR1が
記憶回路15に印加される。こ の状態で書込パルスM
STBが出力されると、記 憶回路15に印加されてい
るコンパレータ5か らのデータが、ADDR1によつ
て指定された記 憶回路の番地Nに書き込まれる。なお
制御回路 20の出力する書込信号MSTBと、プロセ
ツサ 100からの読出指令信号STBがオーバラツ
プした時の動作は、各信号の発生時刻の前述に したが
つて次のようになる。すなわち、制御回 路20におい
て、書込信号MS゛田が読出信号 S′IBより早く到
達したと判定された場合は、 データの書込が先に行な
われ、プロセツサ10 0は書込時間だけ待たされた後
、書き替えられ た新しいデータを読み取る。反対に書
込信号 MSTBが、読出指令信号S′113より遅く
到達した と判定された場合は、制御回路20による記
憶 回路15へのデータの書込は、プロセツサ10 0
がデータの読取りを完了する時点まで待たさ れた後に
行なわれる。書込信号MSTBと読出指 令信号STB
の到達時刻の遅速は確実に判定さ れる。以上に述べた
、このSTAGEの動作は第 2図の従来例の回路動作
と全く同じである。(2) STAGE2の動作 こ
のSTAGEは模擬入力論理゜゜0゛を印加し て動作
チエツクを行うものである。
加され、接 点1のアース側はスイツチ8を通してアー
スに接続される。このため、接点1が閉じられれば フ
イルタ2の入力端子はアースに接続されてL レベルに
なり、一方接点1が開かれておれば電 源Vcが抵抗器
22を介してフイルタ2の入力端子に印加されてHレベ
ルになる。即ちスイツ チ1のON,.OFFが電気信
号としてフイルタ2 およびコンパレータ5を介して記
憶回路15に 印加されることになる。制御回路20か
らはア ドレスADDR1が出力される。ここで記憶回
路 ヘの書込パルスMSTBが出力されたとき、プロ
セツサ100からの読出指令信号S゛田が来て いなけ
ればアドレス選択回路21への選択信号 SELは制御
回路20のADDR1を選択するの で、ADDR1が
記憶回路15に印加される。こ の状態で書込パルスM
STBが出力されると、記 憶回路15に印加されてい
るコンパレータ5か らのデータが、ADDR1によつ
て指定された記 憶回路の番地Nに書き込まれる。なお
制御回路 20の出力する書込信号MSTBと、プロセ
ツサ 100からの読出指令信号STBがオーバラツ
プした時の動作は、各信号の発生時刻の前述に したが
つて次のようになる。すなわち、制御回 路20におい
て、書込信号MS゛田が読出信号 S′IBより早く到
達したと判定された場合は、 データの書込が先に行な
われ、プロセツサ10 0は書込時間だけ待たされた後
、書き替えられ た新しいデータを読み取る。反対に書
込信号 MSTBが、読出指令信号S′113より遅く
到達した と判定された場合は、制御回路20による記
憶 回路15へのデータの書込は、プロセツサ10 0
がデータの読取りを完了する時点まで待たさ れた後に
行なわれる。書込信号MSTBと読出指 令信号STB
の到達時刻の遅速は確実に判定さ れる。以上に述べた
、このSTAGEの動作は第 2図の従来例の回路動作
と全く同じである。(2) STAGE2の動作 こ
のSTAGEは模擬入力論理゜゜0゛を印加し て動作
チエツクを行うものである。
4“『2 ClIECK信号はHレベルC′F′CHE
CK信号は 17レベル、アドレス信号ADDRIはN
+1とな つている。
CK信号は 17レベル、アドレス信号ADDRIはN
+1とな つている。
この状態ではスイツチ17が開放さ れるので、電源■
。はスイツチ1に印加されな い。この状態のとき、フ
イルタ2の信号レベル がLレベルとなるように回路を
構成することが 可能である。このようにすれば、前述
の STAGE1の状態で、外部スイツチ1が全て閉
になつたと同じ状態をつくり出したことにな る。
。はスイツチ1に印加されな い。この状態のとき、フ
イルタ2の信号レベル がLレベルとなるように回路を
構成することが 可能である。このようにすれば、前述
の STAGE1の状態で、外部スイツチ1が全て閉
になつたと同じ状態をつくり出したことにな る。
言い換えれば、記憶回路15のデータとし て論理64
0゛2を印加したことになる。この時の アドレスAD
DR1はN+1となつているから、 書込パルスMST
Bにより、記憶回路15のN+ 1番地にデータ゜“0
゛が書き込まれる。プロセ ツサ100は任意の時刻に
、アドレスADDR2 としてN+1番地を指定すると
共に、読出指令 信号STBを出力し、読出許可信号R
EADYを確 認した後に、記憶回路15ののN+1番
地の内 容をチエツクすることができる。もしN+1番
地の内容が“0゛でなければ入力装置故障と判 定す
ることができる。(3) STAGE4の動作 このSTAGEは模擬入力論理゛1゛を印加し て
動作チエツクを行うものである。
0゛2を印加したことになる。この時の アドレスAD
DR1はN+1となつているから、 書込パルスMST
Bにより、記憶回路15のN+ 1番地にデータ゜“0
゛が書き込まれる。プロセ ツサ100は任意の時刻に
、アドレスADDR2 としてN+1番地を指定すると
共に、読出指令 信号STBを出力し、読出許可信号R
EADYを確 認した後に、記憶回路15ののN+1番
地の内 容をチエツクすることができる。もしN+1番
地の内容が“0゛でなければ入力装置故障と判 定す
ることができる。(3) STAGE4の動作 このSTAGEは模擬入力論理゛1゛を印加し て
動作チエツクを行うものである。
゜゜0゛ CFIECKはLレベル、″1″CHECK
はHレべ ル、アドレス信号.ADDR1はN+2とな
つてい る。この時、スイツチ17は閉じ、電源Vcは
抵抗22を介してスイツチ1に印加されてお り、ま
たスイツチ18は開いている。この状態 では、スイツ
チ1が閉じても、フイルタ2の入 力端子をLレベルに
することはできない。すな わち、前述のSTAGE1
の状態において外部ス イツチ1が全部開になつている
のと同じ状態を つくり出したことになる。言い換えれ
ば記憶回 路15のデータとして論理“゜1゛を印加し
たこ とになる。この時アドレスADDR1はN+2と
なつているから、書込パルスMSTBにより記憶 回
路15のN+2番地にデータ゜゜1゛が書込ま れる。
プロセツサ100は任意の時刻にアドレ スADDR2
としてN+2番地を指定すると共 に、読出指令信号S
TBを出力し、読出許可信 号READYを確認した後
に、記憶回路15のN +2番地の内容をチエツクする
ことができる。 もしN+2番地の内容が論理“1゛で
なければ 入力装置故障と判定することができる。 以
上のように本発明の入力装置は模擬入力回路と記憶回路
を持ち、模擬入力(論理゜゜0゛または゜゜1゛)を記
憶回路に書込む作業を行つている。
はHレべ ル、アドレス信号.ADDR1はN+2とな
つてい る。この時、スイツチ17は閉じ、電源Vcは
抵抗22を介してスイツチ1に印加されてお り、ま
たスイツチ18は開いている。この状態 では、スイツ
チ1が閉じても、フイルタ2の入 力端子をLレベルに
することはできない。すな わち、前述のSTAGE1
の状態において外部ス イツチ1が全部開になつている
のと同じ状態を つくり出したことになる。言い換えれ
ば記憶回 路15のデータとして論理“゜1゛を印加し
たこ とになる。この時アドレスADDR1はN+2と
なつているから、書込パルスMSTBにより記憶 回
路15のN+2番地にデータ゜゜1゛が書込ま れる。
プロセツサ100は任意の時刻にアドレ スADDR2
としてN+2番地を指定すると共 に、読出指令信号S
TBを出力し、読出許可信 号READYを確認した後
に、記憶回路15のN +2番地の内容をチエツクする
ことができる。 もしN+2番地の内容が論理“1゛で
なければ 入力装置故障と判定することができる。 以
上のように本発明の入力装置は模擬入力回路と記憶回路
を持ち、模擬入力(論理゜゜0゛または゜゜1゛)を記
憶回路に書込む作業を行つている。
またプロセツサは、任意の時刻に入力装置の記憶回路の
内容を読み取り、チエツクを行う。このようにして、故
障診断の作業を分担することにより、故障診断の回路部
品の増加を最小限に止どめることができ、また第8図に
示したように故障診断プログラムを単純化することがで
きる。 以上の説明したように本発明によれば、下記の
ような著しい効果が達成される。
内容を読み取り、チエツクを行う。このようにして、故
障診断の作業を分担することにより、故障診断の回路部
品の増加を最小限に止どめることができ、また第8図に
示したように故障診断プログラムを単純化することがで
きる。 以上の説明したように本発明によれば、下記の
ような著しい効果が達成される。
(1)少ない部品追加て故障検出付入力装置が実現 で
きる。
きる。
(故障検出用部品を従来の30%に低減 可能)(2)
高信頼度の入力装置の故障検出ができる。(3} オン
ラインの入出力装置の故障診断が可能で ある。図面の
簡単な説明 第1図は計算制御装置のブロツク図、第2
図は第1図の入力装置のブロツク図、第3図は従来の故
障診断機能付入力装置のブロツク図、第4図は従来の入
力装置の機能ブロツク図、第5図は本発明の入力装置の
機能ブロツク図、第6図は本発明の1実施例のブロツク
図、第7図はそのタイムチヤート図、第8図は本発明に
よる故障診断のフローチヤートである。
高信頼度の入力装置の故障検出ができる。(3} オン
ラインの入出力装置の故障診断が可能で ある。図面の
簡単な説明 第1図は計算制御装置のブロツク図、第2
図は第1図の入力装置のブロツク図、第3図は従来の故
障診断機能付入力装置のブロツク図、第4図は従来の入
力装置の機能ブロツク図、第5図は本発明の入力装置の
機能ブロツク図、第6図は本発明の1実施例のブロツク
図、第7図はそのタイムチヤート図、第8図は本発明に
よる故障診断のフローチヤートである。
1・・・・・スイツチ、2・・・・・フイルタ、5
・・・・・コンパレータ、15・・・・・記憶回路、1
6・・・・・・バッフ易ア、19・・・・・・発振器、
20・・・・制御回路、21・ ・・アドレス選択回路
、100・・・・・・プロセツサ。
・・・・・コンパレータ、15・・・・・記憶回路、1
6・・・・・・バッフ易ア、19・・・・・・発振器、
20・・・・制御回路、21・ ・・アドレス選択回路
、100・・・・・・プロセツサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 パラレルに入力されるデジタル信号を基準値と比較
する複数のコンパレータと、コンパレータでの比較結果
を外部装置に供給するためのバッファとを備えたデジタ
ル入力装置の誤動作検出方法であつて、予め定められた
模擬入力信号を予定のタイミングで前記コンパレータに
供給し、その比較結果を記憶回路に記憶し、その後この
比較結果を外部装置に転送して、その内容が前記予じめ
定められた模擬入力信号と一致しているか否かを外部装
置において判定し、一致しないときは故障と判定するこ
とを特徴とするデジタル入力装置の誤動作検出方法。 2 予じめ予められた模擬入力信号がすべて“0”また
は“1”であることを特徴とする第1項記載のデジタル
入力装置の誤動作検出方法。 3 外部装置がプロセッサであることを特徴とする第1
または第2項のいずれかに記載のデジタル入力装置の誤
動作検出方法。 4 パラレルに入力されるデジタル信号を基準値と比較
する複数のコンパレータと、コンパレータでの比較結果
を外部装置に供給するためのバッファとを備えたデジタ
ル入力装置の誤動作検出装置であつて、コンパレータと
バッファとの間に挿入され、コンパレータの比較結果を
記憶する記憶回路と、コンパレータに予定の模擬入力信
号を、予定のタイミングで供給するためのスイッチ手段
と、コンパレータへの外部入力信号を遮断するためのス
イッチ手段と、前記記憶回路のアドレスを選択する回路
と、前記各スイッチ手段を制御する信号、コンパレータ
での比較結果を記憶回路に書込むための信号、外部装置
からの記憶回路の内容続出要求に応答する読出許可信号
、アドレス選択回路の動作を指定する信号などを発生す
る制御回路を具備したことを特徴とするデジタル入力装
置の誤動作検出装置。 5 外部装置がプロセッサであることを特徴とする第4
項記載のデジタル入力装置の誤動作検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53056594A JPS6044704B2 (ja) | 1978-05-15 | 1978-05-15 | デジタル入力装置の誤動作検出方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53056594A JPS6044704B2 (ja) | 1978-05-15 | 1978-05-15 | デジタル入力装置の誤動作検出方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54148448A JPS54148448A (en) | 1979-11-20 |
| JPS6044704B2 true JPS6044704B2 (ja) | 1985-10-04 |
Family
ID=13031516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53056594A Expired JPS6044704B2 (ja) | 1978-05-15 | 1978-05-15 | デジタル入力装置の誤動作検出方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6044704B2 (ja) |
-
1978
- 1978-05-15 JP JP53056594A patent/JPS6044704B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54148448A (en) | 1979-11-20 |
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