JPS61196107A - 長尺体の偏心測定位置調整方法 - Google Patents
長尺体の偏心測定位置調整方法Info
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- JPS61196107A JPS61196107A JP3809685A JP3809685A JPS61196107A JP S61196107 A JPS61196107 A JP S61196107A JP 3809685 A JP3809685 A JP 3809685A JP 3809685 A JP3809685 A JP 3809685A JP S61196107 A JPS61196107 A JP S61196107A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
- G01B11/27—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
- G01B11/272—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes using photoelectric detection means
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
ｒ産業上の利用分野１
本発明は光学的な測定手段を用いて被覆長尺体の偏心度
（長尺体と被覆層との偏心）を測定する際の偏心測定位
置調整方法に関する。
（長尺体と被覆層との偏心）を測定する際の偏心測定位
置調整方法に関する。
「従来の技術１
ガラス製あるいはプラスチック製からなる透明な長尺体
、例えば光ファイバの外周に被覆層を形成する際の一手
段として、液状樹脂などの被覆材が収容された被覆用ダ
イス内に上記光ファイバを引き通してその外周を一次コ
ートし、しかる後、その被覆層を硬化させる方法がとら
れている。
、例えば光ファイバの外周に被覆層を形成する際の一手
段として、液状樹脂などの被覆材が収容された被覆用ダ
イス内に上記光ファイバを引き通してその外周を一次コ
ートし、しかる後、その被覆層を硬化させる方法がとら
れている。
こうして光ファイバの外周に被覆層を形成するとき、光
フアイバ軸心とダイス軸心との偏心により当該被ＷＩＭ
の偏肉が生じる。
フアイバ軸心とダイス軸心との偏心により当該被ＷＩＭ
の偏肉が生じる。
かかる問題に対想するため、被覆直後における長尺体と
被覆層との偏心率を求め、これに基づいて被覆用ダイス
位置を調整するといったフィードバック制御が行なわれ
ている。
被覆層との偏心率を求め、これに基づいて被覆用ダイス
位置を調整するといったフィードバック制御が行なわれ
ている。
第３図は従来の上記偏心率、測定手段を示したものであ
る。
る。
第３図において、光ファイバ（長尺体）１の軸心線をＹ
軸、そのＹ軸と直交する二軸をそれぞれＸ軸、Ｘ軸とし
た場合、被覆用ダイス２はＸ軸方向移動用、Ｘ軸方向移
動用の調整台３．４上に配置されている。
軸、そのＹ軸と直交する二軸をそれぞれＸ軸、Ｘ軸とし
た場合、被覆用ダイス２はＸ軸方向移動用、Ｘ軸方向移
動用の調整台３．４上に配置されている。
上記調整台３．４の下位には、Ｘ軸方向の位置検出用と
して例えばＨｅ−Ｍｅレーザ光源を備えた光照射器５お
よび受光スクリーンＢが、かつ、Ｘ軸方向の位置調整用
として上記と同様の光照射器７および受光スクリーン８
がそれぞれ配置されている。
して例えばＨｅ−Ｍｅレーザ光源を備えた光照射器５お
よび受光スクリーンＢが、かつ、Ｘ軸方向の位置調整用
として上記と同様の光照射器７および受光スクリーン８
がそれぞれ配置されている。
第３図において、Ｙ軸方向を上下に走行する長尺体ｌが
被覆用ダイス２を通過したとき、その外周に被覆層が形
成され、こうして被覆された長尺体ｌが光照射器５．７
の光照射領域の到来したとき、各受光スクリーン６．８
上には、上記照射光の散乱光による干渉縞パターンが投
影される。
被覆用ダイス２を通過したとき、その外周に被覆層が形
成され、こうして被覆された長尺体ｌが光照射器５．７
の光照射領域の到来したとき、各受光スクリーン６．８
上には、上記照射光の散乱光による干渉縞パターンが投
影される。
各受光スクリーン６．８上の干渉縞パターンにおいて、
Ｘ０１ＺＯを中心とする左右、前後のパターン長をＸＩ
、 Ｘ２、Ｚｌ、Ｚ２とした場合、被覆偏肉がないとき
の各パターン長比Ｘｉ ： Ｘ２．２１ ： ２２はそ
れぞれ１：ｌで均衡するが、被覆偏肉が生じたとき、そ
の均衡状態がくずれる。
Ｘ０１ＺＯを中心とする左右、前後のパターン長をＸＩ
、 Ｘ２、Ｚｌ、Ｚ２とした場合、被覆偏肉がないとき
の各パターン長比Ｘｉ ： Ｘ２．２１ ： ２２はそ
れぞれ１：ｌで均衡するが、被覆偏肉が生じたとき、そ
の均衡状態がくずれる。
したがって被覆偏肉の有無を上記パターン長比が均衡す
るか否かで判定し、その不均衡により被覆偏肉が判明し
たときは、これを是正すべくダイス位置を調整すればよ
いこととなる。
るか否かで判定し、その不均衡により被覆偏肉が判明し
たときは、これを是正すべくダイス位置を調整すればよ
いこととなる。
「発明が解決しようとする問題点１
上述した長尺体の偏心度を測定するとき、その長尺体が
平行光（レーザ光）のスポットライトから外れないよう
、これを保持しなければならないが、被覆用ダイスの位
置調整とか、不可避的に発生する長尺体の動的な乱れ等
により、長尺体が平行光（レーザ光）のスポットライト
から外れることがある。
平行光（レーザ光）のスポットライトから外れないよう
、これを保持しなければならないが、被覆用ダイスの位
置調整とか、不可避的に発生する長尺体の動的な乱れ等
により、長尺体が平行光（レーザ光）のスポットライト
から外れることがある。
このような事態が生じると、受光スクリーン上における
干渉縞パターンが被覆偏肉以外の要因で変化することと
なり、したがって所期の偏心モニタが正確さを期さず、
これに基づく高精度の被覆偏肉制御も困難となる。
干渉縞パターンが被覆偏肉以外の要因で変化することと
なり、したがって所期の偏心モニタが正確さを期さず、
これに基づく高精度の被覆偏肉制御も困難となる。
本発明は上記の問題点に鑑み、長尺体が平行光のスポッ
トライトから位置ずれした場合でも、これに対応しなが
らその長尺体の偏心度が正確に測定できる偏心測定位置
調整方法を提供しようとするものでる。
トライトから位置ずれした場合でも、これに対応しなが
らその長尺体の偏心度が正確に測定できる偏心測定位置
調整方法を提供しようとするものでる。
ｒ問題点を解決するための手段」
本発明に係る偏心測定位置調整方法は、被覆された長尺
体を被測定物とし、その被測定物の軸心線と直交する方
向から該被測定物に向けて平行光を照射することにより
、その光照射系と対向する受光側に被測定物の干渉縞パ
ターンを投影し、該干渉縞パターンの長さにより長尺体
とその被覆層との偏心度を測定する方法において、上記
干渉縞の輝度レベルが最大となるように、被測定物に対
する平行光の照射位置を調整することを特徴としている
。
体を被測定物とし、その被測定物の軸心線と直交する方
向から該被測定物に向けて平行光を照射することにより
、その光照射系と対向する受光側に被測定物の干渉縞パ
ターンを投影し、該干渉縞パターンの長さにより長尺体
とその被覆層との偏心度を測定する方法において、上記
干渉縞の輝度レベルが最大となるように、被測定物に対
する平行光の照射位置を調整することを特徴としている
。
１作用」
本発明方法において、所定の光照射系から被測定物に向
けて平行光を照射し、その干渉縞パターンを受光側に発
生させるとき、長尺体と平行光のスポットライトとが相
互に位置ずれすると、受光側における干渉縞の輝度レベ
ルが低下し、逆に長尺体と平行光のスポットライトとが
位置ずれのないマツチング状態になると、受光側におけ
る干渉縞の輝度レベルが最大となる。
けて平行光を照射し、その干渉縞パターンを受光側に発
生させるとき、長尺体と平行光のスポットライトとが相
互に位置ずれすると、受光側における干渉縞の輝度レベ
ルが低下し、逆に長尺体と平行光のスポットライトとが
位置ずれのないマツチング状態になると、受光側におけ
る干渉縞の輝度レベルが最大となる。
したがって本発明方法のごとく、干渉縞の輝度レベルが
最大となるように、被測定物に対する平行光の照射位置
を調整した場合、長尺体と平行光のスポットライトとが
ほぼ完全にマツチングし、長尺体と被覆層との偏心度が
正確に求まるようになる。
最大となるように、被測定物に対する平行光の照射位置
を調整した場合、長尺体と平行光のスポットライトとが
ほぼ完全にマツチングし、長尺体と被覆層との偏心度が
正確に求まるようになる。
「実 施 例ｊ
以下本発明方法の具体的実施例につき１図面を参照して
説明する。
説明する。
第１図いおいて、１１は被覆装置の基体の一部を構成し
ているフレーム、１２はそのフレーム１１の上部に取り
つけられた取付台、１３は該取付台の下位においてフレ
ーム１１に取りつけられた取付台である。
ているフレーム、１２はそのフレーム１１の上部に取り
つけられた取付台、１３は該取付台の下位においてフレ
ーム１１に取りつけられた取付台である。
上記一方の取付台１２上には、上下に相対して組み合わ
された二つの調整台１４．１５が装備され、その上位の
調整台１５には取付具１６を介して被覆用ダイス１７が
取りつけられている。
された二つの調整台１４．１５が装備され、その上位の
調整台１５には取付具１６を介して被覆用ダイス１７が
取りつけられている。
ここで被覆用ダイス１７内を通過する長尺体（後述する
）の軸心線をＹ軸、そのＹ軸と直交する二輪をそれぞれ
Ｘ軸、Ｚ軸とした場合、一方の調整台１４はパルスモー
タ等の駆動源１４ａを介してＸ軸方向へ移動するように
なっており、他方の調整台１５はパルスモータ等の駆動
源１５ａを介してＸ軸方向へ移動するようになっている
。
）の軸心線をＹ軸、そのＹ軸と直交する二輪をそれぞれ
Ｘ軸、Ｚ軸とした場合、一方の調整台１４はパルスモー
タ等の駆動源１４ａを介してＸ軸方向へ移動するように
なっており、他方の調整台１５はパルスモータ等の駆動
源１５ａを介してＸ軸方向へ移動するようになっている
。
前述した取付台１３上の所定位置には、二つの受台１８
．１９が配置かつ固定されている。
．１９が配置かつ固定されている。
これら受台１８．１３のうち、その一方の受台１Ｂ上に
はパルスモータ等を駆動源２０ａとする。調整台２０が
前記Ｘ軸方向へ移動自在なるよう搭載されているととも
にその他方の受台１９上にはパルスモータ等を駆動源２
１ａとする調整台２１が前記Ｘ軸方向へ移動自在なるよ
う搭載され、これら調整台２０．２１上にはレーザ光源
を備えた光照射器２２．２３がそれぞれ取りつけられて
いる。
はパルスモータ等を駆動源２０ａとする。調整台２０が
前記Ｘ軸方向へ移動自在なるよう搭載されているととも
にその他方の受台１９上にはパルスモータ等を駆動源２
１ａとする調整台２１が前記Ｘ軸方向へ移動自在なるよ
う搭載され、これら調整台２０．２１上にはレーザ光源
を備えた光照射器２２．２３がそれぞれ取りつけられて
いる。
さらに前述した取付台１３上には、光照射器２２．２３
とそれぞれ対向して受光スクリーン２４．２５が配置さ
れ、かつ、該番受光スクリーン２４．２５のスクリーン
面が撮像できるよう、 ＣＯＤカメラ２Ｂ、２７がそれ
ぞれ配置されているとともにこれら受光スクリーン２４
．２５． ＣＣＤカメラ２６．２７がそれぞれスタン
ド式の支持具２８．２９．３０．３１を介してその取付
台１３上の所定位置に固定されている。
とそれぞれ対向して受光スクリーン２４．２５が配置さ
れ、かつ、該番受光スクリーン２４．２５のスクリーン
面が撮像できるよう、 ＣＯＤカメラ２Ｂ、２７がそれ
ぞれ配置されているとともにこれら受光スクリーン２４
．２５． ＣＣＤカメラ２６．２７がそれぞれスタン
ド式の支持具２８．２９．３０．３１を介してその取付
台１３上の所定位置に固定されている。
図中、３２は光ファイバ等の長尺体である。
第１図において、Ｙ軸方向を上下に走行する長尺体３２
が被覆用ダイス１７内を通過したとき、その外周に被覆
層が形成されるが、こうして被覆された長尺体ｌが光照
射器２２．２３の光照射領域に到来したとき、各受光ス
クリーン２４．２５上には上記照射光の散乱光により、
被測定物（被覆長尺体）の干渉縞パターンが投影される
。
が被覆用ダイス１７内を通過したとき、その外周に被覆
層が形成されるが、こうして被覆された長尺体ｌが光照
射器２２．２３の光照射領域に到来したとき、各受光ス
クリーン２４．２５上には上記照射光の散乱光により、
被測定物（被覆長尺体）の干渉縞パターンが投影される
。
第２図は各受光スクリーン２４．２５上に投影された干
渉縞パターンであり、同図のＸｏ、 ２０はそれぞれＸ
軸方向、Ｘ軸方向における干渉縞パターンの中心、ｘｌ
とｘ２および２１とＺ２は上記ｘＯ１ＺＯを中心とする
左右、前後のパターン長、ＸｄおよびＺｄは各干渉縞パ
ターンのバンド幅を示す。
渉縞パターンであり、同図のＸｏ、 ２０はそれぞれＸ
軸方向、Ｘ軸方向における干渉縞パターンの中心、ｘｌ
とｘ２および２１とＺ２は上記ｘＯ１ＺＯを中心とする
左右、前後のパターン長、ＸｄおよびＺｄは各干渉縞パ
ターンのバンド幅を示す。
上述した各受光スクリーン２４．２５上の干渉縞パター
ンは、これらをＣＣＤカメラ２６．２７で捉えてマイク
ロコンピュータへ入力し、各干渉縞パターンにおけるパ
ターン長Ｘ１． Ｋ２、ｚｌ、ｚ２を計測するとともに
Ｘｉ／Ｘ２ 、 Ｚｌ／Ｚ２をそれぞれ演算する。
ンは、これらをＣＣＤカメラ２６．２７で捉えてマイク
ロコンピュータへ入力し、各干渉縞パターンにおけるパ
ターン長Ｘ１． Ｋ２、ｚｌ、ｚ２を計測するとともに
Ｘｉ／Ｘ２ 、 Ｚｌ／Ｚ２をそれぞれ演算する。
この際の演算結果において、Ｘｉ／Ｘ２ 、Ｚｌ／Ｚ２
がそれぞれ１：１となるときは長尺体とその被覆層との
相対的な偏心が生じておらず、 １：ｌでないときはそ
の偏心が生じている。
がそれぞれ１：１となるときは長尺体とその被覆層との
相対的な偏心が生じておらず、 １：ｌでないときはそ
の偏心が生じている。
かかる演算結果により偏心が測知できたとき、マイクロ
コンピュータからＸ軸、Ｙ軸の二軸用コントローラへと
演算信号が入力されるとともに二軸用コントローラから
Ｘ軸周位置調整機、Ｙ軸用位置調整機へそれぞれ制御信
号が入力され、これにより調整台１４．１５が所定量だ
け所定方向へ微動されて偏心を解消すべきダイス位置の
調整が行なわれる。
コンピュータからＸ軸、Ｙ軸の二軸用コントローラへと
演算信号が入力されるとともに二軸用コントローラから
Ｘ軸周位置調整機、Ｙ軸用位置調整機へそれぞれ制御信
号が入力され、これにより調整台１４．１５が所定量だ
け所定方向へ微動されて偏心を解消すべきダイス位置の
調整が行なわれる。
本発明方法では、上述のごと〈長尺体３２とその被覆層
との偏心度を測定かつモニタし、その偏心を抑制すべく
被覆用ダイスの位置を調整する際、長尺体３２と光照射
器２２．２３による平行光のスポットライトとが位置ず
れしないよう、これらを保持する。
との偏心度を測定かつモニタし、その偏心を抑制すべく
被覆用ダイスの位置を調整する際、長尺体３２と光照射
器２２．２３による平行光のスポットライトとが位置ず
れしないよう、これらを保持する。
ここで長尺体３２に対する上記スポットライトが第２図
のＸｌ側とか、Ｚｌ側に位置ずれしていると仮定した場
合、前述したように干渉縞の輝度レベルが低下するとと
もに位置ずれ部分（Ｘｌ、 Ｚｌ等）のバンド幅Ｘｄ、
Ｚｄか細くなる したがって干渉縞の輝度レベルが最大となるように、被
測定物に対する平行光の照射位置を調整すれば、長尺体
３２と上記スポットライトとがほぼ完全にマツチングし
、長尺体と被覆層との偏心度が正確に求まるようになる
。
のＸｌ側とか、Ｚｌ側に位置ずれしていると仮定した場
合、前述したように干渉縞の輝度レベルが低下するとと
もに位置ずれ部分（Ｘｌ、 Ｚｌ等）のバンド幅Ｘｄ、
Ｚｄか細くなる したがって干渉縞の輝度レベルが最大となるように、被
測定物に対する平行光の照射位置を調整すれば、長尺体
３２と上記スポットライトとがほぼ完全にマツチングし
、長尺体と被覆層との偏心度が正確に求まるようになる
。
この際の具体的−例として、ＣＯＤカメラ２Ｂ、２７で
捉えた干渉縞パターンを適当な視野の画素数、例えば２
５６Ｘ２５Ｂに分割し、かつ、前記偏心度の測定に際し
ては第２図の中心ｘＯ１ＺＯから左右、前後のパターン
端点までの画素数を計測し、その比率により偏心度を求
めるが、長尺体３２に対する上記スポットライトのずれ
は、バンド幅Ｘｄ、 Ｚｄ （第２図の上下方向）の画
素数を計測し、その画素数が最大となるよう、光照射器
２２．２３の調整台２０．２１をそれぞれＸ軸方向、Ｘ
軸方向へ所定量だけ微動させて解消する。
捉えた干渉縞パターンを適当な視野の画素数、例えば２
５６Ｘ２５Ｂに分割し、かつ、前記偏心度の測定に際し
ては第２図の中心ｘＯ１ＺＯから左右、前後のパターン
端点までの画素数を計測し、その比率により偏心度を求
めるが、長尺体３２に対する上記スポットライトのずれ
は、バンド幅Ｘｄ、 Ｚｄ （第２図の上下方向）の画
素数を計測し、その画素数が最大となるよう、光照射器
２２．２３の調整台２０．２１をそれぞれＸ軸方向、Ｘ
軸方向へ所定量だけ微動させて解消する。
その他の例としては、適正なバンド幅Ｘｄ、 Ｚｄの画
素数に相当する信号レベルを計測しておき、その基準信
号レベルと実測したバンドＸｄ、 Ｚｄの信号レベルと
を比較し、その比較結果に基づいて光照射！！２２．２
３ノ調整台２０．２１をそれぞれＸ軸方向、Ｘ軸方向へ
所定量だけ微動させる。
素数に相当する信号レベルを計測しておき、その基準信
号レベルと実測したバンドＸｄ、 Ｚｄの信号レベルと
を比較し、その比較結果に基づいて光照射！！２２．２
３ノ調整台２０．２１をそれぞれＸ軸方向、Ｘ軸方向へ
所定量だけ微動させる。
上記いずれの手段でも、干渉縞の輝度レベルは最大とな
る。
る。
光照射器２２．２３の調整台２０．２１をそれぞれＸ軸
方向、Ｘ軸方向へ移動させる手段は、前述した偏心制御
と同様、マイクロコンピュータ、二軸用コントローラ、
Ｘ軸用位置調整機、Ｙ軸用位置調整機等を用いればよい
。
方向、Ｘ軸方向へ移動させる手段は、前述した偏心制御
と同様、マイクロコンピュータ、二軸用コントローラ、
Ｘ軸用位置調整機、Ｙ軸用位置調整機等を用いればよい
。
ＣＣＤカメラ２６．２７はＩＴＶカメラ、−次元フオド
ダイオードアレイセンサ等でもよいほか、調整台２０．
２１へ光照射器２２．２３を取りつけるのに代え、反射
ミラーを用いてレーザ光などの平行光を平行移動させる
ようにしてもよい。
ダイオードアレイセンサ等でもよいほか、調整台２０．
２１へ光照射器２２．２３を取りつけるのに代え、反射
ミラーを用いてレーザ光などの平行光を平行移動させる
ようにしてもよい。
被測定物である長尺体３２としては、被覆光ファイバ以
外の例えば多層円筒型透光性長尺物なともあげられる。
外の例えば多層円筒型透光性長尺物なともあげられる。
「発明の効果１
以上説明した通り、本発明方法によるときは、所定の光
学系により、長尺体とその被覆層との偏心度を測定する
際、受光側における長尺体像の干渉縞の輝度レベルが最
大となるように、被測定物に対する平行光の照射位置を
調整するから、長尺体と平行光によるスポットライトと
の位置ずれがなくなり、これのより所定の偏心度測定が
精度よく行なえ、その偏心度測定に基づく偏心制御も高
精度化する。
学系により、長尺体とその被覆層との偏心度を測定する
際、受光側における長尺体像の干渉縞の輝度レベルが最
大となるように、被測定物に対する平行光の照射位置を
調整するから、長尺体と平行光によるスポットライトと
の位置ずれがなくなり、これのより所定の偏心度測定が
精度よく行なえ、その偏心度測定に基づく偏心制御も高
精度化する。
第１図は本発明方法における一実施例の要部を示した斜
視図、第２図は同上の方法における受光スクリーン上の
干渉縞パターンを示した説明図、第３図は従来法の略示
説明図である。 １４．１５・・拳被覆用ダイスの調整台１７・・φ拳・
被覆用ダイス ２０．２１・・・光照射器の調整台 ２２．２３・会・光照射器 ２４．２５・・・受光スクリーン ２Ｂ、２７・・・ ＣＯＤカメラ ３２・・・Φ・長尺体 ＺＯ働・・・・干渉縞パターンの中心（Ｘ軸側）ＺＯ・
・・・・干渉縞パターンの中心（Ｚ軸側）Ｘｌ、 Ｘ２
・番・パターン長（Ｘ軸側）Ｚｌ、 Ｚ２・・・パター
ン長（Ｚ軸側）Ｘｄ−拳争・拳バンド幅Ｘｄ（Ｘ軸側）
Ｚｄ・・・・・バンド幅Ｘｄ（Ｚ軸側）代理人 弁理士
斎 藤 義 雄 第１１
視図、第２図は同上の方法における受光スクリーン上の
干渉縞パターンを示した説明図、第３図は従来法の略示
説明図である。 １４．１５・・拳被覆用ダイスの調整台１７・・φ拳・
被覆用ダイス ２０．２１・・・光照射器の調整台 ２２．２３・会・光照射器 ２４．２５・・・受光スクリーン ２Ｂ、２７・・・ ＣＯＤカメラ ３２・・・Φ・長尺体 ＺＯ働・・・・干渉縞パターンの中心（Ｘ軸側）ＺＯ・
・・・・干渉縞パターンの中心（Ｚ軸側）Ｘｌ、 Ｘ２
・番・パターン長（Ｘ軸側）Ｚｌ、 Ｚ２・・・パター
ン長（Ｚ軸側）Ｘｄ−拳争・拳バンド幅Ｘｄ（Ｘ軸側）
Ｚｄ・・・・・バンド幅Ｘｄ（Ｚ軸側）代理人 弁理士
斎 藤 義 雄 第１１
Claims (3)
- （１）被覆された長尺体を被測定物とし、その被測定物
の軸心線と直交する方向から該被測定物に向けて平行光
を照射することにより、受光側に被測定物の干渉縞パタ
ーンを投影し、該干渉縞パターンの長さにより長尺体と
その被覆層との偏心度を測定する方法において、上記干
渉縞の輝度レベルが最大となるように、被測定物に対す
る平行光の照射位置を調整することを特徴とする長尺体
の偏心測定位置調整方法。 - （２）干渉縞の輝度を直接モニタし、その輝度レベルが
最大となるように、長尺物に対する平行光の照射位置を
調整する特許請求の範囲第１項記載の長尺体の偏心測定
位置調整方法。 - （３）干渉縞の輝度レベルを最大にするための手段とし
て、干渉縞パターンのバンド幅を計測し、そのバンド幅
が左右同じとなるように、長尺物に対する平行光の照射
位置を調整する特許請求の範囲第１項記載の長尺体の偏
心測定位置調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3809685A JPH0672768B2 (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 長尺体の偏心測定位置調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3809685A JPH0672768B2 (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 長尺体の偏心測定位置調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61196107A true JPS61196107A (ja) | 1986-08-30 |
| JPH0672768B2 JPH0672768B2 (ja) | 1994-09-14 |
Family
ID=12515941
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3809685A Expired - Fee Related JPH0672768B2 (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | 長尺体の偏心測定位置調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0672768B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04101663U (ja) * | 1991-02-06 | 1992-09-02 | 有限会社川本商店 | 花 立 |
-
1985
- 1985-02-27 JP JP3809685A patent/JPH0672768B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04101663U (ja) * | 1991-02-06 | 1992-09-02 | 有限会社川本商店 | 花 立 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0672768B2 (ja) | 1994-09-14 |
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