JPS6140936B2

JPS6140936B2 -

Info

Publication number: JPS6140936B2
Application number: JP53034085A
Authority: JP
Inventors: Hiroto Yamanaka; Kiichiro Pponda
Original assignee: Babcock Hitachi KK
Current assignee: Mitsubishi Power Ltd
Priority date: 1978-03-27
Filing date: 1978-03-27
Publication date: 1986-09-11
Also published as: JPS54139573A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、分析計の自動校正装置に係り、特に
排ガス処理装置、排液処理装置等における処理効
率を監視するために設けられた分析計の測定基準
値を自動的に校正するための装置に関する。

排ガス処理装置、排液処理装置等の処理装置は
排ガス・排液等の未処理流体を導入して、そこか
ら、窒素酸化物、硫化酸化物等の有害物質を取り
除き、無害な処理済み流体として排出する装置で
ある。

この処理装置が、何らかの原因で異常を生じ、
処理効率が低下すると、有害物質が取り除かれな
いまま、処理済み流体として排出されてしまう危
険性があるので、処理装置の処理効率を絶えず監
視しておく必要がある。

処理装置の処理効率を監視するためには、種々
の方法が考えられるが、１例として、処理装置に
導入される未処理流体中に含有される窒素酸化
物、硫化酸化物等の有害成分の濃度を分析して測
定する。一方、処理装置から排出される処理済み
流体も同様にして有害成分濃度を分析して測定す
る。これらの測定結果を基に、両者を除算或は減
算を行う等して、比較検討すれば、処理装置で、
未処理流体中の有害物質が、どれだけ取り除かれ
たか判明するので、このようにして処理効率の監
視を行うことが考えられる。

処理効率の監視を行うためには、この他種々の
方法を取り得るが、いずれの方法を取るにして
も、排ガス、排液濃度分析計、PH計等の分析計が
必要となる。

ところで、このように分析計を用いて、処理装
置の効率を監視している途中で、もし分析計の測
定基準値が狂つてしまつた場合は、せつかく分析
計を行つて、処理効率を算出しても、処理装置の
処理効率に果して異常はないのか否か判断し兼ね
る事態が生じる。

そこで、この種の分析計では測定基準値の校正
が必要となり、そのため従来は、分析計の自動校
正装置に時計機構を内蔵して、所定時間毎、通常
１日１回の割合で、分析計の測定基準値の校正が
自動的に行われるように構成していた。

この従来例を、排ガス濃度分析計の自動校正装
置に適用した場合を例にとつて、第１図及び第２
図を参照して、今少し具体的に説明する。

第１図において、排ガス処理装置１に導入され
る未処理ガスＡは、そこで、窒素酸化物、硫化酸
化物等の有害成分が取り除かれて、処理済みガス
Ｂとして排出される。処理装置１の処理効率を監
視するために、未処理ガスＡ、処理ガスＢを夫々
交互に分析計２に導入する必要がある。３はその
ための時計機構で、所定時間毎に切替信号Ｃを出
力する。ソレノイドS₁は、この信号Ｃに応答し
て、測定ガス切替弁４を所定時間毎に交互に切替
える。

この結果、未処理ガスＡ、処理ガスＢが交互に
測定ガス切替弁４を経て、さらに測定／校正切替
弁５を通してガス分析計２を導入される。

６自動校正指令発生装置で、そこから校正指令
Ｄが出されると、ソレノイドS₂がそれに応答し
て、測定／校正切替弁５を未処理ガスＡ、処理ガ
スＢの被測定ガス側からスパンチエツクガスＥ、
零点チエツクガスＦの校正ガス側に切替える。

同時に、自動校正指令発生装置６から出力され
る校正指令Ｄは、基準値校正装置７にも入力す
る。

基準値校正装置７は、校正指令Ｄの入力によつ
て、切替信号ＧをソレノイドS₃に印加する。その
結果、試料切替弁８は、先づ、スパンチエツクガ
スＥ側に切替り、スパンチエツクガスボンベ９か
らスパンチエツクガスＥを測定／校正切替弁５を
経てガス分析計２に導入する。基準値校正装置７
は、分析計２に導入されるスパンチエツクガスＥ
を基に測定基準値のスパン校正を行う。

スパン校正が完了すると、基準値校正装置７か
らの出力Ｇが消失して、切替弁８は、再び零点チ
エツクガスＦ側に切替わる。この結果、今度はガ
スボンベ１０から零点チエツクガスＦが切替弁８
及び測定／校正切替弁５を経て、分析計２に導入
する。

基準値校正装置７は、分析計２に導入されるこ
の零点チエツクガスＦに基づいて、分析計２の零
点校正を行う。

このようにして、分析計２の基準値校正が完了
すると、再び測定／校正切替弁５が被測定ガス側
に切替つて、被測定ガスの分析測定を開始する。

分析計の自動校正装置は以上のような構成及び
動作により、分析計の基準値校正を自動的に行う
ものであるが、従来の分析計の自動校正装置にお
いては、第１図の自動校正指令発生装置６を第２
図のブロツク６１で示すように時計機構で構成さ
れていた。

このため、分析計の自動校正が所定時間毎、例
えば、１日１回の割合で定期的に行われ、分析計
の自動校正直後における測定値の異常に対しては
一応処理装置の異常と判断して対処出来るが、自
動校正後、かなりの時間を経過して測定値変化が
生じた場合には、果してこれが処理装置の異常に
よつて生じたものか、それとも分析計の測定基準
値が狂つたために、見掛上測定値変化が生じたも
のか判断に迷う場合が生じる。従つて、この場合
には、保守員が再度点検のため手動で基準値校正
を行つて、改めて測定し直さなければならず、自
動校正装置を設けた意味が薄くなる欠点があつ
た。

また、このような従来の分析計の自動校正装置
では、校正が所定時間毎に定期的に行われるた
め、分析計が安定している場合にも、基準値校正
を自動的に行い、スパンチエツクガス、零点チエ
ツクガス等の高価な校正ガスを無駄に消費する欠
点があつた。

本発明の目的は、上記従来装置の欠点を除去
し、保守点検作業の省力化を図り、かつチエツク
ガス等の校正用流体の消費を節減することのでき
る分析計の自動校正装置を提供するにある。

この目的を達成するため、本発明は、流体中の
所定物質の濃度を測定する分析計と、その分析計
の測定基準値を校正する基準値校正手段と、その
基準値校正手段に自動校正指令を発する自動校正
指令発生手段とを備え、その自動校正指令発生手段が、前記分析計から
周期的に入力される濃度測定値に基づく校正指令
演算用データを記憶しておく記憶部と、分析計か
ら得られた前回の校正指令演算用データと今回の
校正指令演算用データとを比較して、比較結果に
基づく偏差値が所定値を超ているか否かを比較演
算する比較演算部を有し、前記偏差値が所定値を超たことを前記比較演算
部で判断すると、自動校正指令発生手段からの自
動校正指令により基準値校正手段を介して分析計
の測定基準値を自動校正するように構成されてい
ることを特徴とするものである。

以下、本発明の分析計の自動校正装置を排ガス
濃度分析計に適用した実施例につき、第１図及び
第３図を参照して説明する。

この実施例の場合、前述従来例と異なる点は、
第１図における自動校正指令発生装置６を第３図
のブロツク６２のように構成した点である。

ガス分析計２から得られる測定値Ｈを、時計機
構３からの切替信号Ｃに応じて切替えられる接点
１１−１，１１−２を介して記憶装置１２或は１
３に記憶する。

即ち、時計機構３からの切替信号Ｃによつて、
測定ガス切替弁４が、処理済みガスＢのサンプル
を分析計２に導入する如く切替えられている時に
は、図示の如く、処理済みガスＢに対する測定信
号Ｈ_Bを接点１１−１を介して記憶装置１２に入
力する。

一方、時計機構３からの切替信号Ｃによつて、
測定ガス切替弁４が、未処理ガスＡ側に切替つた
場合には、それに同期して接点１１−１，１１−
２が切替り、分析計から得られる未処理ガスＡに
対する測定信号Ｈ_Aを、記憶装置１３に入力す
る。

１４は演算装置で、記憶装置１２，１３から処
理済みガスに対する濃度測定値Ｈ_B、未処理ガス
に対する濃度測定値Ｈ_Aを基に、除算、減算等の
演算処理を行うことにより、効率値ｌを算出す
る。

演算処理１４で算出した効率値ｌは記憶装置１
５及び演算比較装置１６に入力する。

演算比較装置１６は記憶装置１５に記憶されて
いる前回、演算処理１４から算出された効率値ｌ
_i-1と、今回算出された効率値ｌ_iを基に、偏差値
△ｌ（＝ｌ_i−ｌ_i-1）を求め、この偏差値と所定
値Ｋとの大小を比較して、偏差値が所定値を超え
た場合に自動校正指令Ｄを出力する。

このように構成された自動校正指令発生装置６
２を備えた分析計の自動校正装置の動作を以下に
説明する。

自動校正指令発生装置６２から効正指令Ｄが発
生していない状態で、今、時計機構３からの切替
信号Ｃによつて測定ガス切替弁４が処理済みガス
Ｂ側に切替つている場合には、ガス分析計２は、
この処理済みガスＢの分析を行つて、ガスＢ中に
含まれる窒素酸化物、硫化酸化物等有害成分濃度
を測定して測定結果Ｈ_Bを出力する。

次いで、時計機構３からの切替信号Ｃの変化に
応動して、測定ガス切替弁４が未処理ガスＡ側に
切替ると、ガス分析計２は、今度は未処理ガスＡ
の分析を行つてガスＡに含まれる有害成分濃度の
測定値Ｈ_Aを出力する。

このようにして分析計２から交互に得られる測
定値Ｈ_A，Ｈ_Bは、図示されていない機構に入力さ
れて、処理装置１の効率監視のために用いられ
る。

つまり、排ガス処理装置１の処理効率が規定値
以下に低下すれば、警報を発生する等して、保守
員にこれを知らせる。

それと同時に、分析計２からの測定値Ｈ_B，Ｈ_A
は、時計機構３からの切替信号Ｃに応動し、測定
ガス切替弁４と同期して切替られる接点１１−
１，１１−２により、記憶装置１２，１３に夫々
記憶される。

記憶装置１２，１３に記憶された測定値Ｈ_B，
Ｈ_Aは共に演比装置１４に入力される。

演算装置１４では、これらの測定値Ｈ_B，_Aを基
に、例えばＨ_B／Ｈ_Aの除算、或はＨ_A−Ｈ_Bの減算
等の演算を行うことにより、処理装置１は取り除
かれた有害物質の割合（％）或は絶対量を求める
ことが出来る。

このようにして、演算処理１４は各回毎に算出
した処理効率値ｌは、記憶装置１５に入力する一
方、演算比較装置１６にも入力する。

演算比較装置１６では、記憶装置１５から与え
られる前回演算処理１４から算出された効率値ｌ
_i-1と、今回演算処理１４から算出されて与えら
れる効率値ｌ_iとを基に、その偏差値△ｌ（ｌ_i-ｌ
_i-1）を算出する。そのあと、この偏差値△ｌと
所定値Ｋとを比較して、偏差が所定値内に収まれ
ば、今回演算処理装置１４から算出された効率値
ｌ_iを前回の効率値ｌ_i-1に代えて記憶装置１５に
新しく記憶する。

この場合には、自動校正指令Ｄは発生しないの
で、装置は以上の動作を再び繰返し実行する。

演算比較装置１６で、偏差値を求め所定値と比
較した結果、偏差値が所定値を超えた場合には、
記憶装置１５の記憶内容は更新されず、自動校正
指令Ｄを発生させる。

この校正指令Ｄが発生すると、測定／校正切替
弁５が校正ガス側に切替ると同時に基準値校正装
置７が動作を開始する。

基準値校正装置７が働くと、切替信号Ｇが発生
して、切替弁８をスパンチエツクガスＥ側に切替
える。

この結果、スパンチエツクガスＥはガスボンベ
９から切替弁８，５を経て、ガス分析計２に導入
される。

基準値校正装置７は、分析計２に導入されるス
パンチエツクガスを基にして、スパン効正を行
う。

スパン校正が完了すると切替信号Ｇの停止によ
り、試料切替弁８は再び零点チエツクガス側Ｆに
切替えられる。

これにより、今度は、ガスボンベ１０から切替
弁８，５を経て零点チエツクガスＦが分析計２に
導入される。

基準値校正装置７は、このガスＦを基に分析計
２の零点校正を行い、それが完了すると、測定／
校正切替弁５を再び、被測定ガス側に切替える。

基準値校正後の測定値Ｈは再び、自動校正指令
発生装置６２に入力されて、先の演算処理を行
う。その結果得られた、演算処理１４からの校正
後の効率値ｌ_jは、演算比較装置１６で、記憶装
置１５からの前回の効率値ｌ_i-1との偏差がとら
れ、この偏差値△l′（＝ｌ_j−ｌ_i-1）と所定値Ｋ
とを比較する。

その結果、偏差値が所定値以内に収まれれば、
処理装置１には異常がなく、分析計の基準値校正
が狂つていたため見掛上効率変化が生じたに過ぎ
ないものとして、ガス濃度分析を続行する。

しかし、基準値校正後も依然として、その偏差
値が所定値を超える場合は、処理装置或は分析計
そのものに異常が発生したものとして、警報信号
を発生させる等して、保守員にこれを知らせる。

このようにガス分析計２の自動校正装置を構成
すれば、分析計２の基準値校正が、処理効率に所
定値以上の変化を生じ、基準値校正を行う必要が
生じたときのみ、基準値校正が自動的に行われ
る。

尚、上記実施例では、排ガス処理装置からの排
ガス濃度を分析する分析計の基準値校正を自動的
に行う場合について説明したが、本発明はこれに
限らず、倒えば、排液処理装置からの排液濃度を
分析、測定する分析計、PH計等、処理装置から排
出される流体の濃度が正常状態では緩慢に変化す
る流体の濃度を測定する分析計の自動校正装置に
広く適用出来るものである。

また、上記実施例では、分析計２からの測定値
Ｈを、図示されない機構に入力して、処理装置１
の処理効率を監視する如く説明したが、これに限
らず、例えば、第３図の演算処理１４で算出され
た、効率値ｌを、図示しない他の機構に入力し
て、処理装置１の効率を監視するようにしても良
く、処理装置１を監視する機構は適宜設計出来
る。

また、上記実施例における自動校正指令発生装
置６２の構成は、これをアナログメモリ、アナロ
グ演算器等を用いて構成することも、また、Ａ／
Ｄ変換器を設けて、入力する測定値をデイジタル
値に変換した後、デイジタルメモリ、デイジタル
演算器等で信号処理を行う如く構成することもで
きる。更に、Ａ／Ｄ変換器を設けた場合、後の処
理はマイクロコンピユータ等のデイジタル計算機
を用いて処理するようにしても良い。

以上記載の通り、本発明によれば、処理効率算
出手段を設けて、分析計からの測定値を基に処理
効率を算出し、算出された前回の処理効率値と、
今回の処理効率値との差をとり、その差が所定値
を超えた場合にのみ前記分析計の基準値校正を自
動的に行うようにしたので、分析計の基準値校正
が必要なときのみ、自動的に行われ、従来装置に
比べて保守点検作業回数が少なくなり、省力化に
役立つ。

しかも、従来装置のように一定時間毎に分析計
の校正が行われることもなく、処理効率値が規定
値以上変動して、分析計のチエツクが必要なとき
のみ基準値校正が自動的に行われるように構成さ
れているので、従来装置のように、分析計が安定
しているときでも、所定時間毎の基準値校正を行
つて、高価な校正用流体を無駄に消費することが
ない等秀れた作用効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は分析計の自動校正装置の概略構成図、
第２図は従来の分析計の自動校正装置における自
動校正指令発生装置のブロツク図、第３図は本発
明の一実施例に係る分析計の自動校正装置におけ
る自動校正指令発生装置のブロツク構成図であ
る。１……排ガス処理装置、２……ガス分析計、
４，５，８……切替弁、３……時計機構、６，６
２……自動校正指令発生装置、７……基準値校正
装置、９……スパンチエツクガスボンベ、１０…
…零点チエツクガスボンベ、１１……接点、１
２，１３，１５……記憶装置、１４……演算装
置、１６……演算比較装置。

Claims

【特許請求の範囲】１流体中の所定物質の濃度を測定する分析計
と、その分析計の測定基準値を校正する基準値校
正手段と、その基準値校正手段に自動校正指令を
発する自動校正指令発生手段とを備え、その自動校正指令発生手段が、前記分析計から
周期的に入力される濃度測定値に基づく校正指令
演算用データを記憶しておく記憶部と、分析計か
ら得られた前回の校正指令演算用データと今回の
校正指令演算用データとを比較して、その比較結
果に基づく偏差値が所定値を超ているか否かを比
較演算する比較演算部を有し、前記偏差値が所定値を超たことを前記比較演算
部で判断すると、前記自動校正指令発生手段から
の自動校正指令により基準値校正手段を介して分
析計の測定基準値を自動校正するように構成され
ていることを特徴とする分析計の自動校正装置。