JPS6154544A - 試験診断方式 - Google Patents
試験診断方式Info
- Publication number
- JPS6154544A JPS6154544A JP59176217A JP17621784A JPS6154544A JP S6154544 A JPS6154544 A JP S6154544A JP 59176217 A JP59176217 A JP 59176217A JP 17621784 A JP17621784 A JP 17621784A JP S6154544 A JPS6154544 A JP S6154544A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- test
- capacity
- area
- memory capacity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は試験診断方式、とくに情報処理システムの試験
方式に関する。
方式に関する。
（従来技術）
例えば２個の演算処理装置ＥＰＵＩおよびＥＰＵ ２が
、１個の主記憶装置ＭＭＵを共有しているような情報処
理システムにおいて、ＥＰＵｘが障害発生により一時連
用中のシステムから切離され、この状態でＥＰＵＩがＦ
Ｔ（機能試験プログラム）によるテストを受ける場きに
は一般に下記のように行なわれる。
、１個の主記憶装置ＭＭＵを共有しているような情報処
理システムにおいて、ＥＰＵｘが障害発生により一時連
用中のシステムから切離され、この状態でＥＰＵＩがＦ
Ｔ（機能試験プログラム）によるテストを受ける場きに
は一般に下記のように行なわれる。
ＯＳ（オペレーティングシステム）は、ＭＭＵのメモリ
の一部を運用中のシステムのジップ用領域から切離し、
これをＦ Ｔ実行のための専用領域として確保する。こ
の専用領域にＦＴとＦＴ実行に必要なファームウェアテ
ーブルとがロードされ、ＥＰＵｌはＭＭＵのこの専用領
域だけを専有して運用中のシステムとは独立して並列に
ＦＴによる試験診断を実行する（これをインラインＦＴ
という）。
の一部を運用中のシステムのジップ用領域から切離し、
これをＦ Ｔ実行のための専用領域として確保する。こ
の専用領域にＦＴとＦＴ実行に必要なファームウェアテ
ーブルとがロードされ、ＥＰＵｌはＭＭＵのこの専用領
域だけを専有して運用中のシステムとは独立して並列に
ＦＴによる試験診断を実行する（これをインラインＦＴ
という）。
さて、前記ファームウェアテーブルは一般に、ＭＭＵの
下位側の、ソフトウェア用領域とは区別された領域に格
納されており、アンダーパーと称される。
下位側の、ソフトウェア用領域とは区別された領域に格
納されており、アンダーパーと称される。
インラインＦＴを実行する場合には前述のように、切離
された専用領域にこのアンダーパーとＦＴとがコツビニ
され、この専用領域がＥＰＵ ｓに専有されてインライ
ンＦＴが実行される。
された専用領域にこのアンダーパーとＦＴとがコツビニ
され、この専用領域がＥＰＵ ｓに専有されてインライ
ンＦＴが実行される。
このアンダーパーには、ＭＭＵを共有しているシステム
中の各プロセッサのファームウェアや各種のハードウェ
アにより使用されるすべてのファームウェアテーブルが
含まれていて、比較的大きなメモリ領域を占めている。
中の各プロセッサのファームウェアや各種のハードウェ
アにより使用されるすべてのファームウェアテーブルが
含まれていて、比較的大きなメモリ領域を占めている。
従来方式においては、専用領域としてＦＴとこのアンダ
ーパーのすべてが収容できるだけの領域をＯＳが確保す
るため、運用中のシステムから切離されるメモリ領域が
不必要に大きくなり、それだけメモリ使用効率を下げる
という欠点を有している。
ーパーのすべてが収容できるだけの領域をＯＳが確保す
るため、運用中のシステムから切離されるメモリ領域が
不必要に大きくなり、それだけメモリ使用効率を下げる
という欠点を有している。
（発明の目的）
本発明の目的は上述の従来の欠点を除去して、メモリ使
用効率のよいインラインＦＴを実行させる試験診断方式
を提供することにある。
用効率のよいインラインＦＴを実行させる試験診断方式
を提供することにある。
（発明の構成）
本発明の方式は、複数のプロセッサが主記憶装置を共有
する情報処理システムにおいて、前記主記憶装置中のメ
モリに格納されている前記システムで使用しているファ
ームウェアテーブルの中の現在の診断試験の実行に必要
なテーブルだけを選択した場合のメモリ容量がサービス
プロセッサによりこの容量に前記診断試験を実行するソ
フトウェアプログラムの容量を加えた値がＯＳ（オペレ
ーティングシステム）に通報され、前記ＯＳにより通報
された値だけの容量をもつ前記主記憶装置のメモリ領域
が試験専用領域として前記システムより切離され、前記
専用領域に前記診断試験を実行する前記ソフトウェアプ
ログラムと前記診断試験の実行に必要なファームウェア
テーブルとがロードされ、これを用いて前記診断試験が
前記システムの動作とは独立して並列に行なわれる。
する情報処理システムにおいて、前記主記憶装置中のメ
モリに格納されている前記システムで使用しているファ
ームウェアテーブルの中の現在の診断試験の実行に必要
なテーブルだけを選択した場合のメモリ容量がサービス
プロセッサによりこの容量に前記診断試験を実行するソ
フトウェアプログラムの容量を加えた値がＯＳ（オペレ
ーティングシステム）に通報され、前記ＯＳにより通報
された値だけの容量をもつ前記主記憶装置のメモリ領域
が試験専用領域として前記システムより切離され、前記
専用領域に前記診断試験を実行する前記ソフトウェアプ
ログラムと前記診断試験の実行に必要なファームウェア
テーブルとがロードされ、これを用いて前記診断試験が
前記システムの動作とは独立して並列に行なわれる。
（実施例）
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
本実施例は主記憶装置１（以後ＭＭＵＩ）、システムＩ
制御装置２（以後５ＣＵ２ ）、演算処理装置３−１（
以後ＥＰＵ３−１）、演算処理装置３−２．（以後ＥＰ
Ｕ３−２）、入出力制御装置４以後ｌ０Ｐ４）、ユニッ
トレコードプロセッサ５奴後ＵＲＰ５）およびサービス
プロセッサ６（以（＆５ＶＰ６）を含んでいる。
制御装置２（以後５ＣＵ２ ）、演算処理装置３−１（
以後ＥＰＵ３−１）、演算処理装置３−２．（以後ＥＰ
Ｕ３−２）、入出力制御装置４以後ｌ０Ｐ４）、ユニッ
トレコードプロセッサ５奴後ＵＲＰ５）およびサービス
プロセッサ６（以（＆５ＶＰ６）を含んでいる。
さて今、ＥＰＵ３−１に障害が発生し、このため、ＥＰ
Ｕ３−１は運用中のシステムから切離され、システムは
ＥＰＵ３−２により運用されていると仮定する。
Ｕ３−１は運用中のシステムから切離され、システムは
ＥＰＵ３−２により運用されていると仮定する。
この状態においてＥＰＵ３−１にインラインＦＴが実施
される場合の本実施例の動作は下記の通りである。
される場合の本実施例の動作は下記の通りである。
まず操作者より、５ｖＰ６のコンソールを介し、インラ
インＦＴの実行が指令されると、５ＶＰ６は、正常な動
作を続けているＥＰＵ３−２に対し、ＥＰＵ３−１のイ
ンラインＦＴの開始を通報する。
インＦＴの実行が指令されると、５ＶＰ６は、正常な動
作を続けているＥＰＵ３−２に対し、ＥＰＵ３−１のイ
ンラインＦＴの開始を通報する。
この通報を受けると、ＥＰＵ３−２のファームウェアは
、アンダーパーに格納されているファームウェアテーブ
ル類の中で、ＥＰＵ３−１の試験実行に必要なものだけ
を選択した場合に、これを格納するのに必要なメモリ容
量を算出しこの値を５ＶＰ６に通知する。各ＥＰＵは皆
同じ７アームウエアで動作しており、従ってアンダーパ
ーの中の同じＳ＠のファームウェアテーブルを使用して
いる。このためにＥＰＵ３−１の試験実行に必要なファ
ームウェアテーブルに関する情報は、ＥＰＵ３−２のフ
ァームウェア中に存在しており、これを用いてＥＰＵ３
−２は容易に上述の必要なメモリ容量を算出しこれを５
ｖＰ６に通報することができる。
、アンダーパーに格納されているファームウェアテーブ
ル類の中で、ＥＰＵ３−１の試験実行に必要なものだけ
を選択した場合に、これを格納するのに必要なメモリ容
量を算出しこの値を５ＶＰ６に通知する。各ＥＰＵは皆
同じ７アームウエアで動作しており、従ってアンダーパ
ーの中の同じＳ＠のファームウェアテーブルを使用して
いる。このためにＥＰＵ３−１の試験実行に必要なファ
ームウェアテーブルに関する情報は、ＥＰＵ３−２のフ
ァームウェア中に存在しており、これを用いてＥＰＵ３
−２は容易に上述の必要なメモリ容量を算出しこれを５
ｖＰ６に通報することができる。
なお、ＥＰＵ３−１のＦＴに不必要なアンダーパーとし
ては、ＰＣＴ（物理チャンネルテープ祠、ＬＣＴ （論
理チャンネルテーブル）、ＨＲ３Ａ（ハードウェアレジ
スタ退避領域）、ＦＷＳＳ（ファームウェア退避スタッ
ク）等がある９゜さて、この通報葉受けた５ＶＰ６はこ
の値にさらにＦＴそのものを格納するのに必要なメモリ
領域を加えて、これを試験実行に必要なメモリ容量とし
てＯＳ（オペレーティングシステム）に通知する。
ては、ＰＣＴ（物理チャンネルテープ祠、ＬＣＴ （論
理チャンネルテーブル）、ＨＲ３Ａ（ハードウェアレジ
スタ退避領域）、ＦＷＳＳ（ファームウェア退避スタッ
ク）等がある９゜さて、この通報葉受けた５ＶＰ６はこ
の値にさらにＦＴそのものを格納するのに必要なメモリ
領域を加えて、これを試験実行に必要なメモリ容量とし
てＯＳ（オペレーティングシステム）に通知する。
この通知を受けるとＯＳは、ＭＭＵＩの現在使用されて
いない領域の中にこの通知された容量分を確保し、これ
を試験のための専用領域として、システムで使用中の一
般のジョブ用領域から切離す。
いない領域の中にこの通知された容量分を確保し、これ
を試験のための専用領域として、システムで使用中の一
般のジョブ用領域から切離す。
次にＥＰＵ３’−２の７アームウエアは試故実行に必要
なファームウェアテーブルだけをアンダーパーから読出
し、これをこの確保された試験のための専用領域にコツ
ビイする。
なファームウェアテーブルだけをアンダーパーから読出
し、これをこの確保された試験のための専用領域にコツ
ビイする。
これかすむと５ｖｐ６は、この専用領域の残りの部分に
、試験実行部であるＦＴの本体をロードする。
、試験実行部であるＦＴの本体をロードする。
かくして準＋ｔＲが整えられた試験のだめの専用領域が
ＥＰＵ３−１に専有され、ＥＰＵ３−２によるシステム
の動作とは独立に、インラインＦＴの実行が開始される
。
ＥＰＵ３−１に専有され、ＥＰＵ３−２によるシステム
の動作とは独立に、インラインＦＴの実行が開始される
。
以上のように本実施例によると、インラインＦＴ実行の
ために運用中のメモリ領域から切離すべき容量を必要最
小限に抑えることができ、これによりメモリ使用効率の
不必要な低下を回避することができる。
ために運用中のメモリ領域から切離すべき容量を必要最
小限に抑えることができ、これによりメモリ使用効率の
不必要な低下を回避することができる。
しかも従来方式に対し、ファームウェアによる機能をわ
ずかに追加するだけで実施が可能であるという特徴を有
している。
ずかに追加するだけで実施が可能であるという特徴を有
している。
なお、以上に述べたインラインＦＴの実行開始までの各
シーケンスは、５ＣＵ２の中に設けられた診断ユニット
２１によって制御することができる。またメモリ内容の
配置の一例を第２図に示す。
シーケンスは、５ＣＵ２の中に設けられた診断ユニット
２１によって制御することができる。またメモリ内容の
配置の一例を第２図に示す。
（発明の効果）
以上のように本発明によると、インラインＦＴの実行に
際し、必要最小限のメモリ容量を運用中のシステムから
切離すだけですむ試験診断方式を提供できる。
際し、必要最小限のメモリ容量を運用中のシステムから
切離すだけですむ試験診断方式を提供できる。
これによりメモリ使用の効率化を達成できる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図および第２
図はメモリ内容の配置を説明するための図である。 図において、１・・・・・・主記憶製置（ＭＭＵ） 、
２・・・・・・システム制御装置ｌ （ＳＣＵ）、３−
１ 、３−２・・・・・・演算処理族［（ＥＰＵ）、
４・・・・・・入出力制御装置（工ｏｐ）、５・・・・
・・ユニットレコードプロセッサ（ＵＲＰ）、６・・・
・・・サービスプロセッサ（ｓｖｐ）、２１・・・・・
・Ｍユニツ） （ＤＧＵ）。 ＼ＩＬ−ｆ、、、’／’
図はメモリ内容の配置を説明するための図である。 図において、１・・・・・・主記憶製置（ＭＭＵ） 、
２・・・・・・システム制御装置ｌ （ＳＣＵ）、３−
１ 、３−２・・・・・・演算処理族［（ＥＰＵ）、
４・・・・・・入出力制御装置（工ｏｐ）、５・・・・
・・ユニットレコードプロセッサ（ＵＲＰ）、６・・・
・・・サービスプロセッサ（ｓｖｐ）、２１・・・・・
・Ｍユニツ） （ＤＧＵ）。 ＼ＩＬ−ｆ、、、’／’
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数のプロセッサが主記憶装置を共有する情報処理シス
テムにおいて、 前記主記憶装置中のメモリに格納されている前記システ
ムで使用しているファームウェアテーブルの中の現在の
診断試験の実行に必要なテーブルだけを選択した場合の
メモリ容量がサービスプロセッサに通知され、前記サー
ビスプロセッサによりこの容量に前記診断試験を実行す
るソフトウェアプログラムの容量を加えた値がＯＳ（オ
ペレーティングシステム）に通報され、前記ＯＳにより
通報された値だけの容量をもつ前記主記憶装置のメモリ
領域が試験専用領域として前記システムより切離され、
前記専用領域に前記診断試験を実行する前記ソフトウェ
アプログラムと前記診断試験の実行に必要なファームウ
ェアテーブルとロードされ、これを用いて前記診断試験
が前記システムの動作と独立して並列に行われるように
したことを特徴とする試験診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59176217A JPS6154544A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 試験診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59176217A JPS6154544A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 試験診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6154544A true JPS6154544A (ja) | 1986-03-18 |
Family
ID=16009667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59176217A Pending JPS6154544A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 試験診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6154544A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03264262A (ja) * | 1990-03-14 | 1991-11-25 | Kyushu Electron Metal Co Ltd | 両面精密研摩用ラップ盤 |
-
1984
- 1984-08-24 JP JP59176217A patent/JPS6154544A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03264262A (ja) * | 1990-03-14 | 1991-11-25 | Kyushu Electron Metal Co Ltd | 両面精密研摩用ラップ盤 |
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