JPS6184860A - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
- Publication number
- JPS6184860A JPS6184860A JP59207345A JP20734584A JPS6184860A JP S6184860 A JPS6184860 A JP S6184860A JP 59207345 A JP59207345 A JP 59207345A JP 20734584 A JP20734584 A JP 20734584A JP S6184860 A JPS6184860 A JP S6184860A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric conversion
- light
- conversion device
- insulating layer
- conversion element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/191—Photoconductor image sensors
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ファクシミリの送信側に用いる原稿幅と1:
1の大きさを有する光電変換装置の構造に関するもので
ある。
1の大きさを有する光電変換装置の構造に関するもので
ある。
従来例の構成とその問題点
近年、ファクシミリ等の読み取り系の光電変換装置とし
て、原稿幅と1:1の大きさを有する読取装置が活発に
開発されている。
て、原稿幅と1:1の大きさを有する読取装置が活発に
開発されている。
以下に従来の光電変換装置について説明する。
第1図は従来の光電変換装置の副走査方向の断面図であ
る。
る。
第1図においてガラス等の透光性絶縁基板1上に、Or
、Ta、W、Ti 等の高融点で不透明な物質を蒸着
法等で少なくとも光電変換素子Sの所には存在する様に
被着し遮光層2とする。遮光層2に7オトリノ法等で照
明窓3を形成し、次にスパッタリング法等で遮光層2と
光電変換素子5との絶練性を保つために透光性絶縁層4
を形成し、その上部に光導電性薄膜を蒸着法等で被着後
、フォトリソ法等で主走査方向に島状に並ぶ光電変換素
子5を形成する。ざらに光電変換素子5を400〜60
0℃の活性化熱処理又は高温処理後、第1図では省略し
であるが、第2図の平面図に示す様に、複数個の光電変
換素子5をまとめた共通電極6と各光電変換素子6に対
応する個別電極7を対向して形成し、さらに薄板ガラス
等の透明保護層8を積層した構造で、照明窓3を通って
入射する光1゜で原稿面9を照射し、その散乱光11を
各光電変換素子5で電気信号に変換する構成である。
、Ta、W、Ti 等の高融点で不透明な物質を蒸着
法等で少なくとも光電変換素子Sの所には存在する様に
被着し遮光層2とする。遮光層2に7オトリノ法等で照
明窓3を形成し、次にスパッタリング法等で遮光層2と
光電変換素子5との絶練性を保つために透光性絶縁層4
を形成し、その上部に光導電性薄膜を蒸着法等で被着後
、フォトリソ法等で主走査方向に島状に並ぶ光電変換素
子5を形成する。ざらに光電変換素子5を400〜60
0℃の活性化熱処理又は高温処理後、第1図では省略し
であるが、第2図の平面図に示す様に、複数個の光電変
換素子5をまとめた共通電極6と各光電変換素子6に対
応する個別電極7を対向して形成し、さらに薄板ガラス
等の透明保護層8を積層した構造で、照明窓3を通って
入射する光1゜で原稿面9を照射し、その散乱光11を
各光電変換素子5で電気信号に変換する構成である。
しかしながら上記の従来の構成では、透光性絶縁層4と
光電変換素子5との膨張係数の不一致による、光電変換
素子5のクラック等を防ぐために光電変換素子5との膨
張係数を合わせる必要があり、例えばCd S −Cd
S e等のll−14族化合物においては、コーニン
グ7059等の透光性絶縁層4が用いられているが、コ
ーニング7069は低軟化点ガラスのため、500〜6
00C活性化熱処理あるいは高温処理において遮光層2
を構成する物質が透光性絶縁層4中を界面拡散し、絶縁
性の低下により印加電圧を制限したり、また光電変換素
子5中へも拡散するために特性にバラツキを生じ、さら
に感度の劣化を引き起こし生産性が低下するという問題
点を有していた。
光電変換素子5との膨張係数の不一致による、光電変換
素子5のクラック等を防ぐために光電変換素子5との膨
張係数を合わせる必要があり、例えばCd S −Cd
S e等のll−14族化合物においては、コーニン
グ7059等の透光性絶縁層4が用いられているが、コ
ーニング7069は低軟化点ガラスのため、500〜6
00C活性化熱処理あるいは高温処理において遮光層2
を構成する物質が透光性絶縁層4中を界面拡散し、絶縁
性の低下により印加電圧を制限したり、また光電変換素
子5中へも拡散するために特性にバラツキを生じ、さら
に感度の劣化を引き起こし生産性が低下するという問題
点を有していた。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、遮光層を
構成する物質の拡散を防止することにより、特性のバラ
ツキを抑え、高耐圧の絶縁層を形成し生産性を向上させ
る事ができる原稿幅と1=1に対応した大きさを有する
光電変換装置を提供する事を目的とする。
構成する物質の拡散を防止することにより、特性のバラ
ツキを抑え、高耐圧の絶縁層を形成し生産性を向上させ
る事ができる原稿幅と1=1に対応した大きさを有する
光電変換装置を提供する事を目的とする。
発明の構成
本発明は、透光性絶縁基板上に照明窓を有する遮光層と
、拡散を防止する第1の透光性絶縁層と、付着歪を少な
くする第2の透光性絶縁層と、主走査方向に島状に並ん
だ光電変換素子と、対向電極と、透明保護層とを積層し
た光電変換装置で、第1の透光性絶縁層と第2の透光性
絶縁層とにより、特性のバラツキを抑え、生産性を向上
する事のできるものである。
、拡散を防止する第1の透光性絶縁層と、付着歪を少な
くする第2の透光性絶縁層と、主走査方向に島状に並ん
だ光電変換素子と、対向電極と、透明保護層とを積層し
た光電変換装置で、第1の透光性絶縁層と第2の透光性
絶縁層とにより、特性のバラツキを抑え、生産性を向上
する事のできるものである。
実施例の説明
以下に本発明における光電変換装置の構成を実施例を用
いて詳細に説明する。
いて詳細に説明する。
第3図に本発明の実施例における光電変換装置の断面図
を示す。
を示す。
第3図において、ガラス等の透光性絶縁基板1上に、C
r、Ta、W、Ti等の高融点を有しが゛っ不透明な物
質を少なくとも可視光を遮光する膜厚例えば800〜4
000人を蒸着法等で、少なくとも光電変換素子50所
には存在する様に被着し遮光層2を形成する。次に遮光
層2中にフォ) IJメソ法で照明窓3を形成する。ざ
らにスパッタリング法等で、1000℃以上の軟化点を
持つSio2で5〜10000人好ましくは5Q○〜5
000人の膜厚を有する遮光層2物質の拡散を防止する
第1の透光性絶縁層12を形成し、次に例えば、Cd5
−CdSe等のU−VI族化合物薄膜との付着歪を少な
くするために、例えば、コーニング7059等で第2の
透光性絶縁層13スパツタリング法等て形成2する。
r、Ta、W、Ti等の高融点を有しが゛っ不透明な物
質を少なくとも可視光を遮光する膜厚例えば800〜4
000人を蒸着法等で、少なくとも光電変換素子50所
には存在する様に被着し遮光層2を形成する。次に遮光
層2中にフォ) IJメソ法で照明窓3を形成する。ざ
らにスパッタリング法等で、1000℃以上の軟化点を
持つSio2で5〜10000人好ましくは5Q○〜5
000人の膜厚を有する遮光層2物質の拡散を防止する
第1の透光性絶縁層12を形成し、次に例えば、Cd5
−CdSe等のU−VI族化合物薄膜との付着歪を少な
くするために、例えば、コーニング7059等で第2の
透光性絶縁層13スパツタリング法等て形成2する。
そしてその上部にCd5−CdSe等の[1−1t族化
゛合物を蒸着法等で被着した後、フォトリソ法で主走査
方向に並び、照明窓3と平行に島状の光電変換素子5を
形成し、600〜600℃の活性化熱処理後、各光電変
換素子5に対応し、従来例の第2図と同様に、複数個ま
とめた共通電極6と各光電変換素子6に対応した個別電
極7を対向して形成し、さらに透明保護層8を薄板ガラ
スの貼り付は又は、S z O2やSi3N4等の透光
性絶縁物をス・ミッタ法や蒸着法で積層した構造の光電
変換装置で、基板1裏面から照明窓3に入射する光1o
を原稿面9で反射し、その散乱光11を各光電変換素子
5で電気信号に変換するものである。
゛合物を蒸着法等で被着した後、フォトリソ法で主走査
方向に並び、照明窓3と平行に島状の光電変換素子5を
形成し、600〜600℃の活性化熱処理後、各光電変
換素子5に対応し、従来例の第2図と同様に、複数個ま
とめた共通電極6と各光電変換素子6に対応した個別電
極7を対向して形成し、さらに透明保護層8を薄板ガラ
スの貼り付は又は、S z O2やSi3N4等の透光
性絶縁物をス・ミッタ法や蒸着法で積層した構造の光電
変換装置で、基板1裏面から照明窓3に入射する光1o
を原稿面9で反射し、その散乱光11を各光電変換素子
5で電気信号に変換するものである。
以上のように本実施例によれば、Sio2の様な100
0℃以上の高軟化点物質で形成される第1の透光性絶縁
層12を設ける事により、600〜600℃の活性化熱
処理において遮光層物質の拡散を容易に防止でき、絶縁
性の低下もなく高耐圧で、さらに下地物質の影響を受け
ずに光電変換素子を形成できるので均一な特性でかつ生
産性の向上が非常に容易にでき工業上有益である。
0℃以上の高軟化点物質で形成される第1の透光性絶縁
層12を設ける事により、600〜600℃の活性化熱
処理において遮光層物質の拡散を容易に防止でき、絶縁
性の低下もなく高耐圧で、さらに下地物質の影響を受け
ずに光電変換素子を形成できるので均一な特性でかつ生
産性の向上が非常に容易にでき工業上有益である。
さらに光電変換素子との膨張係数を一致でせた第2の透
光性絶縁層13を設ける事により、付着歪が小さくでき
るのでクラック等が光電変換素子に生じず特性のバラツ
キがない安定した光電変換装置を構成する事ができる。
光性絶縁層13を設ける事により、付着歪が小さくでき
るのでクラック等が光電変換素子に生じず特性のバラツ
キがない安定した光電変換装置を構成する事ができる。
なお、本実施例において、第1の透光性絶縁層をS t
O2としたが、第1の透光性絶縁層は、S 13N
4. T a 206. S IC、A L 203.
T 102等でも同様の効果が得られることは言うま
でもない。
O2としたが、第1の透光性絶縁層は、S 13N
4. T a 206. S IC、A L 203.
T 102等でも同様の効果が得られることは言うま
でもない。
また、本実施例において、光電変換素子をCd5−Cd
Se等の1−■族化合物としたが、光電変換素子は、a
−3t等でも同様の効果が得られる。
Se等の1−■族化合物としたが、光電変換素子は、a
−3t等でも同様の効果が得られる。
発明の効果
本発明は、遮光層物質の拡散を防止する第1の□
透光性絶縁層と光電変換素子との付着歪の小さい第
2の透光性絶縁層を設ける事により、遮光層物質の拡散
による光電変換素子中への導入が防止でき、さらに熱歪
によるクラック等の発生が無いので、特性の均一性、生
産性の向上がはかれると言う潰れた光電変換装置を実現
できるものである。
透光性絶縁層と光電変換素子との付着歪の小さい第
2の透光性絶縁層を設ける事により、遮光層物質の拡散
による光電変換素子中への導入が防止でき、さらに熱歪
によるクラック等の発生が無いので、特性の均一性、生
産性の向上がはかれると言う潰れた光電変換装置を実現
できるものである。
第1図は従来の光電変換装置の断面図、第2図は第1図
の装置の要部概略平面図、第3図は本発明の一実施例に
おける光電変換装置の断面図である0 2・・・・・遮光層、4・・・・・・透光性絶縁層、5
・・・・・・光電変換素子、12・・・・・第1の透光
性絶縁層、13・・・・・・第2の透光性絶縁層。
の装置の要部概略平面図、第3図は本発明の一実施例に
おける光電変換装置の断面図である0 2・・・・・遮光層、4・・・・・・透光性絶縁層、5
・・・・・・光電変換素子、12・・・・・第1の透光
性絶縁層、13・・・・・・第2の透光性絶縁層。
Claims (4)
- (1)透光性絶縁基板上に照明窓を有する遮光層と、前
記遮光層を構成する物質の拡散を防止する第1の透光性
絶縁層と、光電変換素子との付着歪を少なくする第2の
透光性絶縁層と、主走査方向に島状に並んだ前記光電変
換素子と、前記各光電変換素子に形成された対向電極と
、透明保護層とを順次積層してなる事を特徴とする光電
変換装置。 - (2)第1の透光性絶縁層が、1000℃以上の軟化点
を有する物質で構成される事を特徴とする特許請求の範
囲第1項に記載の光電変換装置。 - (3)第1の透光性絶縁層が、SiO_2、Si_3N
_4、Ta_2O_5、SiC、Al_2O_3、Ti
O_2のいずれかからなる事を特徴とする特許請求の範
囲第2項に記載の光電変換装置。 - (4)光電変換素子が、II−VI族化合物あるいはアモル
ファスシリコンからなる事を特徴とする特許請求の範囲
第1〜3項の何れかに記載の光電変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59207345A JPS6184860A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 光電変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59207345A JPS6184860A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 光電変換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6184860A true JPS6184860A (ja) | 1986-04-30 |
Family
ID=16538195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59207345A Pending JPS6184860A (ja) | 1984-10-02 | 1984-10-02 | 光電変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6184860A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS637072A (ja) * | 1986-06-27 | 1988-01-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 密着形光電変換素子ユニツト |
| US4920394A (en) * | 1984-08-31 | 1990-04-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Photo-sensing device with S-shaped response curve |
| US4924282A (en) * | 1986-10-07 | 1990-05-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Image reading device with moisture resistant layer |
| US5017986A (en) * | 1989-08-28 | 1991-05-21 | At&T Bell Laboratories | Optical device mounting apparatus |
| US5017987A (en) * | 1989-03-22 | 1991-05-21 | Ricoh Company, Ltd. | Contact type image sensor |
| JPH03174771A (ja) * | 1989-09-26 | 1991-07-29 | Nec Corp | 固体撮像装置 |
| US5097304A (en) * | 1986-10-07 | 1992-03-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Image reading device with voltage biases |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5840856A (ja) * | 1981-09-03 | 1983-03-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光センサアレイ |
| JPS5856363A (ja) * | 1981-09-30 | 1983-04-04 | Hitachi Ltd | 受光素子 |
| JPS59151456A (ja) * | 1983-02-17 | 1984-08-29 | Nec Corp | 混成集積化光センサ用光電変換素子とその製造方法 |
-
1984
- 1984-10-02 JP JP59207345A patent/JPS6184860A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
| JPS5840856A (ja) * | 1981-09-03 | 1983-03-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光センサアレイ |
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| JPS59151456A (ja) * | 1983-02-17 | 1984-08-29 | Nec Corp | 混成集積化光センサ用光電変換素子とその製造方法 |
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| JPH03174771A (ja) * | 1989-09-26 | 1991-07-29 | Nec Corp | 固体撮像装置 |
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