JPS6185930A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置Info
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- JPS6185930A JPS6185930A JP59208022A JP20802284A JPS6185930A JP S6185930 A JPS6185930 A JP S6185930A JP 59208022 A JP59208022 A JP 59208022A JP 20802284 A JP20802284 A JP 20802284A JP S6185930 A JPS6185930 A JP S6185930A
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は、特にｌｌｉ影される被検体の安全性を考慮し
たＸ線断層撮影装置に関する。
たＸ線断層撮影装置に関する。
［発明の技術的背皇］
一般に断層撮影装置は、被写体内部の照準断層像を得る
ため、Ｘ線管焦点をある軌道にそって移動せしめると同
時に、これとある一定の関係を保たせながら、フィルム
上の一定点をある軌道にそって移ａｌ！ｔ、め、被検体
を截る一平面上の任意の点が、フィルム面上に投する陰
影とフィルムとの相対速度を零ならしめるよう構成され
ている。この様な断層撮影を行なう際には、被検体の所
望の位置に、正確にＸ線照射野と断層１１ｉ！影面高さ
く以下、截面高さと称する）を合わせる必要がある。
ため、Ｘ線管焦点をある軌道にそって移動せしめると同
時に、これとある一定の関係を保たせながら、フィルム
上の一定点をある軌道にそって移ａｌ！ｔ、め、被検体
を截る一平面上の任意の点が、フィルム面上に投する陰
影とフィルムとの相対速度を零ならしめるよう構成され
ている。この様な断層撮影を行なう際には、被検体の所
望の位置に、正確にＸ線照射野と断層１１ｉ！影面高さ
く以下、截面高さと称する）を合わせる必要がある。
この位置決め方法について第４図を参照して説明する。
第４図は、Ｘ線断層ｌ１ｉｌ影装置を体軸方向からみた
概略図であり、寝台装置１の上に被検体２を載置した天
板３が矢印へ方向に移動自在に支持されている。そして
寝台装置１の横には、図示しない架台に対し回転中心機
溝部４を支持された連結杆５が配置され、その一端部に
は支持アームを介してＸ線管６及び、放射線絞り７を、
また他端にはＸ線フィルムを収納したブツキー装置８を
連結している。尚、この回転中心機構４は矢印Ｃ方向へ
移動可能に支持されているが、この回転中心機構４の移
動の代りに寝台装置１を矢印Ｂ方向に移動させてもよい
。この様な構成により、回転中心機構４を中心として連
結杆は被検体２に対し上下方向（第４図紙面に対し垂直
な方向）或いは左右方向に揺動するものである。
概略図であり、寝台装置１の上に被検体２を載置した天
板３が矢印へ方向に移動自在に支持されている。そして
寝台装置１の横には、図示しない架台に対し回転中心機
溝部４を支持された連結杆５が配置され、その一端部に
は支持アームを介してＸ線管６及び、放射線絞り７を、
また他端にはＸ線フィルムを収納したブツキー装置８を
連結している。尚、この回転中心機構４は矢印Ｃ方向へ
移動可能に支持されているが、この回転中心機構４の移
動の代りに寝台装置１を矢印Ｂ方向に移動させてもよい
。この様な構成により、回転中心機構４を中心として連
結杆は被検体２に対し上下方向（第４図紙面に対し垂直
な方向）或いは左右方向に揺動するものである。
最初にＸ線照射野の位置決めについて説明すると、被検
体２を載置している天板３を、矢印へ方向及び上下方向
に動かし、且つ絞り７を適宜な大きさに胴面することに
より実施している。これは、一般のＸ線診断装置で実施
している方法である。
体２を載置している天板３を、矢印へ方向及び上下方向
に動かし、且つ絞り７を適宜な大きさに胴面することに
より実施している。これは、一般のＸ線診断装置で実施
している方法である。
次に、截面高さの位置決めについて説明する。回転中心
機構４に投光器９を固定し、被検体２の側面に例えば十
字形の光線りを投影することにより、現時点での截面高
さを目視可能とする。その後、天板３を矢印Ｂ方向へ或
いは回転中心機構４を矢印Ｃ方向へ、被検体２に投影さ
れた十字形を確認しながら移動させることによって截面
高さの設定を行なうのが一般的である。
機構４に投光器９を固定し、被検体２の側面に例えば十
字形の光線りを投影することにより、現時点での截面高
さを目視可能とする。その後、天板３を矢印Ｂ方向へ或
いは回転中心機構４を矢印Ｃ方向へ、被検体２に投影さ
れた十字形を確認しながら移動させることによって截面
高さの設定を行なうのが一般的である。
し背景技術の問題点コ
しかしながら、このような機構においては、前述したＸ
線照射野の位置決め可能範囲を広げるため、特に天板３
の矢印へ方向移動ストロークを大きく形成すると、天板
３と、回転中心機構４や連結杆５を含む断層機構１０と
の間の距ｗｉＳが小さくなり、被検体２の指や腕を挾み
込む恐れがあり大変危険である。このため、天板３が断
層機構１０に最も接近した場合でも被検体２を挾み込む
ことがない様、距離Ｓを広くすることが考えられるが、
断層撮影装置全体の大型化を招き、好ましくない。
線照射野の位置決め可能範囲を広げるため、特に天板３
の矢印へ方向移動ストロークを大きく形成すると、天板
３と、回転中心機構４や連結杆５を含む断層機構１０と
の間の距ｗｉＳが小さくなり、被検体２の指や腕を挾み
込む恐れがあり大変危険である。このため、天板３が断
層機構１０に最も接近した場合でも被検体２を挾み込む
ことがない様、距離Ｓを広くすることが考えられるが、
断層撮影装置全体の大型化を招き、好ましくない。
また、前述の危険を回避する別の方法として、第３図に
示す様に天板３の断層機構側の側面に、適宜な体軸方向
長さを有する安全ガード１１を取付けることも考えられ
る。しかしながら、回転中心機構４に固定された投光器
９からの光線りを遮らない程度に、安全ガード１１の高
さを制限する必要があるため、安全ガードとしての役割
を果たさなくなるという大きな欠点を有する。
示す様に天板３の断層機構側の側面に、適宜な体軸方向
長さを有する安全ガード１１を取付けることも考えられ
る。しかしながら、回転中心機構４に固定された投光器
９からの光線りを遮らない程度に、安全ガード１１の高
さを制限する必要があるため、安全ガードとしての役割
を果たさなくなるという大きな欠点を有する。
［発明の目的］
本発明は上記事情に鑑み成されたもので、被検体の安全
性を考慮した安全ガードを備えるＸ線断層県影装置を提
供することを目的とする。
性を考慮した安全ガードを備えるＸ線断層県影装置を提
供することを目的とする。
［発明の概要］
上述の目的を達成すべく、本発明に於ては、被検体の側
部に配置され、被検体の截面高さの位置決のための投光
器を備えたＸ線ｌｌｉ層撮影装置において、前記投光器
と前記被検体との間に光透過性のガード部材を配置した
ことを特徴とするものである。
部に配置され、被検体の截面高さの位置決のための投光
器を備えたＸ線ｌｌｉ層撮影装置において、前記投光器
と前記被検体との間に光透過性のガード部材を配置した
ことを特徴とするものである。
［発明の実施例］
以下、本発明の一実施例を第１図及び第２図を参照して
説明する。第１図に示す様に、断面がし字形で寝台の長
手方向に適宜な長さを有するガード板１２を形成する。
説明する。第１図に示す様に、断面がし字形で寝台の長
手方向に適宜な長さを有するガード板１２を形成する。
このガード板１２の上に延在する窓部１２ａを、光が透
過できる様な材料にて形成する。例えば透明なアクリル
板を断面が１字形になる様形成するか、或いは窓部１２
ａとそれ以外の部分を別の材料とする等種々実施できる
。
過できる様な材料にて形成する。例えば透明なアクリル
板を断面が１字形になる様形成するか、或いは窓部１２
ａとそれ以外の部分を別の材料とする等種々実施できる
。
また、長手方向の長さは、好ましくは天板３の長さ全体
にわたる様にすれば良いが、被検体２の腕及び脚の部分
のみをガードしても良い。さらに、窓部１２ａの高さは
１０〜２０ＣＩ１１程度が好ましいであろう。この様に
形成したガード板１２は第２図に示す如く、取付ネジ１
３にて天板３に固定しているが、保守・整備上等の問題
がなければ天板３に直に接着しても良い。
にわたる様にすれば良いが、被検体２の腕及び脚の部分
のみをガードしても良い。さらに、窓部１２ａの高さは
１０〜２０ＣＩ１１程度が好ましいであろう。この様に
形成したガード板１２は第２図に示す如く、取付ネジ１
３にて天板３に固定しているが、保守・整備上等の問題
がなければ天板３に直に接着しても良い。
この様に構成することによって、被検体２の戯画高さの
設定時に、投光器９からの光線りはガード板１２の窓部
１２ａを透過して被検体に投影されるため、ガード板の
高さを十分に高くすることができる。従って截面高さ設
定動作を何ら阻害せず、且つ被検体の指や腕を断層ｔｉ
１＠１０に挾み込む危険性が全くない。また、被検体に
対する危険性を完全に除去できることから、天板３が矢
印へ方向に移動して断層機構１０に最も接近した状態で
の距離Ｓを略零にすることが可能となり、断層撮影装置
全体の小型化を計ることができる。
設定時に、投光器９からの光線りはガード板１２の窓部
１２ａを透過して被検体に投影されるため、ガード板の
高さを十分に高くすることができる。従って截面高さ設
定動作を何ら阻害せず、且つ被検体の指や腕を断層ｔｉ
１＠１０に挾み込む危険性が全くない。また、被検体に
対する危険性を完全に除去できることから、天板３が矢
印へ方向に移動して断層機構１０に最も接近した状態で
の距離Ｓを略零にすることが可能となり、断層撮影装置
全体の小型化を計ることができる。
本発明は上記実施例に限定されず、種々変形して実施で
きる。例えば、ガード板は天板に固定づ゛る様説明した
が、天板の移動と一緒に、即ち天板からみた相対速度が
零の物体であれば、どんな部材に固定しても本発明の目
的は達成できる。また、ガイド板の透明な窓部は長手方
向全面にわたる様説明したが、天板及び投光器の移＠範
囲をカバーし得る面積だけを透明にし、窓部にしてもよ
い。
きる。例えば、ガード板は天板に固定づ゛る様説明した
が、天板の移動と一緒に、即ち天板からみた相対速度が
零の物体であれば、どんな部材に固定しても本発明の目
的は達成できる。また、ガイド板の透明な窓部は長手方
向全面にわたる様説明したが、天板及び投光器の移＠範
囲をカバーし得る面積だけを透明にし、窓部にしてもよ
い。
さらに窓部は完全透明部材に限らず、半透明部材や、個
々の間口が比較的大きいメツシュ状の材料などでも実施
できることは勿論である。
々の間口が比較的大きいメツシュ状の材料などでも実施
できることは勿論である。
［発明の効果］
以上記載した本発明によれば、被検体の危険性を除去し
且つ截面高さ設定を阻害しない、極めて優れたＸ線断層
撮影装置を提供するものである。
且つ截面高さ設定を阻害しない、極めて優れたＸ線断層
撮影装置を提供するものである。
第１図は本発明におけるガード板の一実施例を示す斜視
図、第２図は第１図のガード板の使用態様を示す図、第
３図は従来のガイド板の使用態様を示す図、第４図はＸ
線断層爾影装置における位置決めを説明するための概略
図である。 ２・・・被検体、 ９・・・投光器 １２・・・ガード板、１２ａ・・・窓部、１３・・・取
付ネジＭ １ 図 第 ２ 図
図、第２図は第１図のガード板の使用態様を示す図、第
３図は従来のガイド板の使用態様を示す図、第４図はＸ
線断層爾影装置における位置決めを説明するための概略
図である。 ２・・・被検体、 ９・・・投光器 １２・・・ガード板、１２ａ・・・窓部、１３・・・取
付ネジＭ １ 図 第 ２ 図
Claims (1)
- 被検体の側部に配置され、被検体の截面高さの位置決め
のための投光器を備えたＸ線断層撮影装置において、前
記投光器と前記被検体との間に光透過性のガード部材を
配置したことを特徴とするＸ線断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59208022A JPH069550B2 (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Ｘ線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59208022A JPH069550B2 (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6185930A true JPS6185930A (ja) | 1986-05-01 |
| JPH069550B2 JPH069550B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=16549374
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59208022A Expired - Fee Related JPH069550B2 (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH069550B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03116810U (ja) * | 1990-03-16 | 1991-12-03 | ||
| JP2012081365A (ja) * | 2012-02-03 | 2012-04-26 | Hitachi Aloka Medical Ltd | 放射線診断装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5752441A (en) * | 1980-09-16 | 1982-03-27 | Shimadzu Corp | X-ray tomogram apparatus |
-
1984
- 1984-10-05 JP JP59208022A patent/JPH069550B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5752441A (en) * | 1980-09-16 | 1982-03-27 | Shimadzu Corp | X-ray tomogram apparatus |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03116810U (ja) * | 1990-03-16 | 1991-12-03 | ||
| JP2012081365A (ja) * | 2012-02-03 | 2012-04-26 | Hitachi Aloka Medical Ltd | 放射線診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH069550B2 (ja) | 1994-02-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |