JPS618904A - 軟磁性多層膜 - Google Patents

軟磁性多層膜

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JPS618904A
JPS618904A JP13047584A JP13047584A JPS618904A JP S618904 A JPS618904 A JP S618904A JP 13047584 A JP13047584 A JP 13047584A JP 13047584 A JP13047584 A JP 13047584A JP S618904 A JPS618904 A JP S618904A
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JP
Japan
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soft magnetic
thin film
magnetic
film
layer
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Pending
Application number
JP13047584A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Yamada
一彦 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS618904A publication Critical patent/JPS618904A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Laminated Bodies (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、軟磁性磁性膜に関し、更に詳しくは磁気ディ
スク装置、磁気テープ装置等に用いられる薄膜磁気へ、
ドの磁気コア材料に関するものである。
(従来技術とその問題点) 周知の通p、最近の磁気記録の分野においては、高記録
密度化が増々進み、高保磁力を有する磁気記録媒体が種
々研究・開発されている。この様な情勢を反映して、記
録媒体と共に磁気記録技術を支える磁気へ、ドにおいて
も、その磁気回路を形成するコア材料に対して、高飽和
磁束密度と高周波領域での高い透磁率が求められており
、種々の磁気コア材料が精力的に研究・開発されている
。
この様な磁気コア材料のうちで、アモルファス軟磁性材
料、例えばCo−Zre Co−Zr−Nb、 C。
−Nb系等のCO−メタル系アモルファス材料は、低保
磁力、高飽和磁化、高透磁率など優れた軟磁気特性の為
、薄膜磁気へ、ドの新しい磁気コア材料として注目され
ている。
しかしながら、このアモルファス軟磁性材料は、磁気特
性の経時変化が大きいという欠点があシ、初期の優れた
軟磁性特性、特に透磁率が減少し、磁気ヘッドの電磁変
換効率が低下するという問題点があった。又、インダク
ティプ型薄膜磁気ヘッドにおいては、情報の書込み時に
コイルを流れるヘッド駆動電流によシ発熱を生じ、この
熱によシ、薄膜磁気ヘッドの磁気回路を成すポールピー
スは加熱・冷却というヒートサイクルヲ絶えず受けるの
で、アモルファス軟磁性材料’t−ポールピースとして
用いる場合、このヒートサイクルの為、前述の経時変化
が加速され、薄膜磁気ヘッドの電磁変換効率がより7層
低下するという問題点があった。
(発明の目的) 本発明は以上の点に鑑み、前述の如き従来の欠点を除去
せしめて、電磁変換効率の高い薄膜磁気ヘッドを実現す
るポールピース剛軟磁性膜全提供することである。
(発明の構成) 本発明によれば、CO−メタル系、あるいはFe−Co
−メタロイド系アモルファス軟磁性薄膜層と結晶質軟磁
性薄膜層とを少なくとも2層積層したことを特徴とする
軟磁性多層膜が得られる。
(構成の詳細な説明) 本発明は、上述の構成をとることによシ従来の問題点を
改善したポールピース材料の提供を可能にした。
すなわち、アモルファス軟磁性薄膜層と結晶質軟磁性薄
膜層とを少なくとも2層積層することにより、前記アモ
ルファス軟磁性薄膜層と結晶質軟磁性薄膜層とを磁気的
に結合し、磁気特性の劣化、特に透磁率の低下を抑制す
るものである。
(実施例) 以下、図面を用いて本発明の一実施例を説明す    
 ンる。第1図に示すように、ガラス、セラミ、クス等
より成る基板11上に、スバ、タリング法あるいは蒸着
法等の薄膜形成技術を用い膜厚500λのNiFe合金
より成る結晶質軟磁性薄膜層13を4層と、膜厚aoo
oXの(:o7.rアモルファス軟磁性薄膜層12’t
3層とを交互に重ね合せて成る軟磁性積層膜を構成する
。尚、積層膜の作製時には、各層の磁気的な結合を実現
する為、前記積層膜を構成する各層の磁化容易軸が同一
方向となる様に、磁場中成膜を行なうことが望ましい。
第1図による本発明のCoZr / NiFe積層膜と
C02r単層膜(膜厚10000^)と全80℃の大気
中に放置した時の透磁率の経時変化との様子全第2図に
示す。
第2図において実線は、前述した膜構成を有する本発明
による軟磁性多層膜の経時変化を示しておシ、破線はC
ozr単層膜の経時変化を示している。
ここで、横軸は処理時間つまシ80℃の大気中に放置し
た時間を対数目盛シで示したものであり、縦軸は、処理
前の透磁率μ。で、を時間後の透磁率μ(1)を規格化
して示しである。尚、透磁率の測定は、レビュー噛オブ
拳すイエンティフィックトイ°ンストルメント誌(Re
view of 3cientificinstrum
ents )の第46巻(1975年)の904ペー・
ジに開示でれた方法、すなわち8字形に形成した薄膜コ
イルの下部に供試サンプルを挿入し、磁界印加用の他の
コイルに、前記供試サンプルを励磁した時、前記8字形
コイルに鎖交する磁束量より求めた磁束密度と、前記励
磁磁界との比より透磁率を求める方法を用いて行なった
。又、透磁率の測定周波数は5MHzである。
第2図よシ明らかな如く、本発明によるC02r/Ni
Fe積層膜の透磁率の低下は、単層膜に比較して小さく
、例えば1000時間経過後では、単層膜の透磁率は、
初期値の約6・5%にも低下し大きな経時変化を示して
いる。一方、本発明による積層膜においては約20%の
減少にとどまっており、透磁率の経時変化が大幅に改善
でれている。
すなわち、1000時間後の透磁率の減少率りをμO−
μ+ no。
D=       X 100 (%)μO (ここで、μ。、μ、。。。は各々透磁率の初期値。
1000時間後の透磁率を示す。) と定義すると単層膜、積層膜の減少率り、 、 D、は
各々 ’D、=35(%) 、D!= 20 (%)となシ、
経時変化による減少量は本発明により35%から20%
へと改善でれる。
更に、本発明においては、アモルファス軟磁性薄膜層は
常に、結晶質軟磁性薄膜層からバイアス磁界を受ける構
成となっている為、前述のヘッド動作時のヒートサイク
ルによる、アモルファス軟磁性薄膜内に発生する局所的
に方向の違う磁気異方性の出現を抑制でき、本発明によ
る軟磁性積層膜は薄膜磁気ヘッドのポールピース材料と
して優れた材料と言える。
、        尚1本発明の実施例で用いた積層膜
の構成、例えば各層の膜厚、各層の構成材料は、本発明
による積層膜が用いられる薄膜磁気へ、ドの仕様に応じ
て選定されるべきものであって、本発明を規定するもの
でないことは勿論である。
また実施例では結晶質軟磁性′7g膜をまず基板上に形
成する例を示したが、アモルファス軟磁性薄膜を先に基
板上に形成してもかまわない。また結晶質軟磁性薄膜と
アモルファス軟磁性薄膜をそれぞれ一層づつ形成した構
成でも本発明の効果は失なわれないっ (発明の効果) 一以上の述べたように本発明の軟磁性多層膜は。
透磁率の経時変化が大幅に改善され、またアモルファス
軟磁性薄膜内に発生する磁気異方性の出現を抑制でき薄
膜磁気ヘッドのポールピース材料として優れた材料であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による積層膜の構成例を示す概略図、第
2図は本発明による積層膜と単層膜の透? 磁率の変化を示すグラフである。図において111F・
・・基板、12・・アモルファス軟磁性薄膜層、13・
結晶質軟磁性薄膜層。 71 図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)Co−M(Mは金属元素)系アモルファス軟磁性
    薄膜層あるいはFe−Co−メタロイド系アモルファス
    軟磁性薄膜層と、結晶質軟磁性薄膜層とがそれぞれ1層
    以上交互に積層されていることを特徴とする軟磁性多層
    膜。
  2. (2)Co−M(Mは金属元素)系アモルファス軟磁性
    薄膜層の金属元素(M)はZr、Nb、Ta、Hf、T
    i、La、Y、Mo、Wのうちの少なくともひとつの、
    金属元素である特許請求の範囲第1項記載の軟磁性多層
    膜。
  3. (3)Co−M(Mは金属元素)系アモルファス軟磁性
    薄膜層にはRe、Ru、Au、Pt、Rh、Pd、Ag
    、Crのうち少なくともひとつが添加されている特許請
    求の範囲第1項又は第2項記載の軟磁性多層膜。
  4. (4)結晶質軟磁性薄膜が、NiFe合金、Fe−Si
    合金又はFe−Si−Al合金である特許請求の範囲第
    1項、第2項又は第3項記載の軟磁性多層膜。
JP13047584A 1984-06-25 1984-06-25 軟磁性多層膜 Pending JPS618904A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0786038A (ja) * 1993-09-09 1995-03-31 Amorphous Denshi Device Kenkyusho:Kk 磁性薄膜及びその製造方法
WO2004055784A1 (ja) * 2002-12-18 2004-07-01 Fujitsu Limited 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド
WO2004068515A1 (ja) * 2003-01-29 2004-08-12 Tdk Corporation 軟磁性部材およびそれを用いた磁気素子

Cited By (3)

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WO2004055784A1 (ja) * 2002-12-18 2004-07-01 Fujitsu Limited 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド
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