JPS618904A - 軟磁性多層膜 - Google Patents
軟磁性多層膜Info
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- JPS618904A JPS618904A JP13047584A JP13047584A JPS618904A JP S618904 A JPS618904 A JP S618904A JP 13047584 A JP13047584 A JP 13047584A JP 13047584 A JP13047584 A JP 13047584A JP S618904 A JPS618904 A JP S618904A
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Landscapes
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- Laminated Bodies (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、軟磁性磁性膜に関し、更に詳しくは磁気ディ
スク装置、磁気テープ装置等に用いられる薄膜磁気へ、
ドの磁気コア材料に関するものである。
スク装置、磁気テープ装置等に用いられる薄膜磁気へ、
ドの磁気コア材料に関するものである。
(従来技術とその問題点)
周知の通p、最近の磁気記録の分野においては、高記録
密度化が増々進み、高保磁力を有する磁気記録媒体が種
々研究・開発されている。この様な情勢を反映して、記
録媒体と共に磁気記録技術を支える磁気へ、ドにおいて
も、その磁気回路を形成するコア材料に対して、高飽和
磁束密度と高周波領域での高い透磁率が求められており
、種々の磁気コア材料が精力的に研究・開発されている
。
密度化が増々進み、高保磁力を有する磁気記録媒体が種
々研究・開発されている。この様な情勢を反映して、記
録媒体と共に磁気記録技術を支える磁気へ、ドにおいて
も、その磁気回路を形成するコア材料に対して、高飽和
磁束密度と高周波領域での高い透磁率が求められており
、種々の磁気コア材料が精力的に研究・開発されている
。
この様な磁気コア材料のうちで、アモルファス軟磁性材
料、例えばCo−Zre Co−Zr−Nb、 C。
料、例えばCo−Zre Co−Zr−Nb、 C。
−Nb系等のCO−メタル系アモルファス材料は、低保
磁力、高飽和磁化、高透磁率など優れた軟磁気特性の為
、薄膜磁気へ、ドの新しい磁気コア材料として注目され
ている。
磁力、高飽和磁化、高透磁率など優れた軟磁気特性の為
、薄膜磁気へ、ドの新しい磁気コア材料として注目され
ている。
しかしながら、このアモルファス軟磁性材料は、磁気特
性の経時変化が大きいという欠点があシ、初期の優れた
軟磁性特性、特に透磁率が減少し、磁気ヘッドの電磁変
換効率が低下するという問題点があった。又、インダク
ティプ型薄膜磁気ヘッドにおいては、情報の書込み時に
コイルを流れるヘッド駆動電流によシ発熱を生じ、この
熱によシ、薄膜磁気ヘッドの磁気回路を成すポールピー
スは加熱・冷却というヒートサイクルヲ絶えず受けるの
で、アモルファス軟磁性材料’t−ポールピースとして
用いる場合、このヒートサイクルの為、前述の経時変化
が加速され、薄膜磁気ヘッドの電磁変換効率がより7層
低下するという問題点があった。
性の経時変化が大きいという欠点があシ、初期の優れた
軟磁性特性、特に透磁率が減少し、磁気ヘッドの電磁変
換効率が低下するという問題点があった。又、インダク
ティプ型薄膜磁気ヘッドにおいては、情報の書込み時に
コイルを流れるヘッド駆動電流によシ発熱を生じ、この
熱によシ、薄膜磁気ヘッドの磁気回路を成すポールピー
スは加熱・冷却というヒートサイクルヲ絶えず受けるの
で、アモルファス軟磁性材料’t−ポールピースとして
用いる場合、このヒートサイクルの為、前述の経時変化
が加速され、薄膜磁気ヘッドの電磁変換効率がより7層
低下するという問題点があった。
(発明の目的)
本発明は以上の点に鑑み、前述の如き従来の欠点を除去
せしめて、電磁変換効率の高い薄膜磁気ヘッドを実現す
るポールピース剛軟磁性膜全提供することである。
せしめて、電磁変換効率の高い薄膜磁気ヘッドを実現す
るポールピース剛軟磁性膜全提供することである。
(発明の構成)
本発明によれば、CO−メタル系、あるいはFe−Co
−メタロイド系アモルファス軟磁性薄膜層と結晶質軟磁
性薄膜層とを少なくとも2層積層したことを特徴とする
軟磁性多層膜が得られる。
−メタロイド系アモルファス軟磁性薄膜層と結晶質軟磁
性薄膜層とを少なくとも2層積層したことを特徴とする
軟磁性多層膜が得られる。
(構成の詳細な説明)
本発明は、上述の構成をとることによシ従来の問題点を
改善したポールピース材料の提供を可能にした。
改善したポールピース材料の提供を可能にした。
すなわち、アモルファス軟磁性薄膜層と結晶質軟磁性薄
膜層とを少なくとも2層積層することにより、前記アモ
ルファス軟磁性薄膜層と結晶質軟磁性薄膜層とを磁気的
に結合し、磁気特性の劣化、特に透磁率の低下を抑制す
るものである。
膜層とを少なくとも2層積層することにより、前記アモ
ルファス軟磁性薄膜層と結晶質軟磁性薄膜層とを磁気的
に結合し、磁気特性の劣化、特に透磁率の低下を抑制す
るものである。
(実施例)
以下、図面を用いて本発明の一実施例を説明す
ンる。第1図に示すように、ガラス、セラミ、クス等
より成る基板11上に、スバ、タリング法あるいは蒸着
法等の薄膜形成技術を用い膜厚500λのNiFe合金
より成る結晶質軟磁性薄膜層13を4層と、膜厚aoo
oXの(:o7.rアモルファス軟磁性薄膜層12’t
3層とを交互に重ね合せて成る軟磁性積層膜を構成する
。尚、積層膜の作製時には、各層の磁気的な結合を実現
する為、前記積層膜を構成する各層の磁化容易軸が同一
方向となる様に、磁場中成膜を行なうことが望ましい。
ンる。第1図に示すように、ガラス、セラミ、クス等
より成る基板11上に、スバ、タリング法あるいは蒸着
法等の薄膜形成技術を用い膜厚500λのNiFe合金
より成る結晶質軟磁性薄膜層13を4層と、膜厚aoo
oXの(:o7.rアモルファス軟磁性薄膜層12’t
3層とを交互に重ね合せて成る軟磁性積層膜を構成する
。尚、積層膜の作製時には、各層の磁気的な結合を実現
する為、前記積層膜を構成する各層の磁化容易軸が同一
方向となる様に、磁場中成膜を行なうことが望ましい。
第1図による本発明のCoZr / NiFe積層膜と
C02r単層膜(膜厚10000^)と全80℃の大気
中に放置した時の透磁率の経時変化との様子全第2図に
示す。
C02r単層膜(膜厚10000^)と全80℃の大気
中に放置した時の透磁率の経時変化との様子全第2図に
示す。
第2図において実線は、前述した膜構成を有する本発明
による軟磁性多層膜の経時変化を示しておシ、破線はC
ozr単層膜の経時変化を示している。
による軟磁性多層膜の経時変化を示しておシ、破線はC
ozr単層膜の経時変化を示している。
ここで、横軸は処理時間つまシ80℃の大気中に放置し
た時間を対数目盛シで示したものであり、縦軸は、処理
前の透磁率μ。で、を時間後の透磁率μ(1)を規格化
して示しである。尚、透磁率の測定は、レビュー噛オブ
拳すイエンティフィックトイ°ンストルメント誌(Re
view of 3cientificinstrum
ents )の第46巻(1975年)の904ペー・
ジに開示でれた方法、すなわち8字形に形成した薄膜コ
イルの下部に供試サンプルを挿入し、磁界印加用の他の
コイルに、前記供試サンプルを励磁した時、前記8字形
コイルに鎖交する磁束量より求めた磁束密度と、前記励
磁磁界との比より透磁率を求める方法を用いて行なった
。又、透磁率の測定周波数は5MHzである。
た時間を対数目盛シで示したものであり、縦軸は、処理
前の透磁率μ。で、を時間後の透磁率μ(1)を規格化
して示しである。尚、透磁率の測定は、レビュー噛オブ
拳すイエンティフィックトイ°ンストルメント誌(Re
view of 3cientificinstrum
ents )の第46巻(1975年)の904ペー・
ジに開示でれた方法、すなわち8字形に形成した薄膜コ
イルの下部に供試サンプルを挿入し、磁界印加用の他の
コイルに、前記供試サンプルを励磁した時、前記8字形
コイルに鎖交する磁束量より求めた磁束密度と、前記励
磁磁界との比より透磁率を求める方法を用いて行なった
。又、透磁率の測定周波数は5MHzである。
第2図よシ明らかな如く、本発明によるC02r/Ni
Fe積層膜の透磁率の低下は、単層膜に比較して小さく
、例えば1000時間経過後では、単層膜の透磁率は、
初期値の約6・5%にも低下し大きな経時変化を示して
いる。一方、本発明による積層膜においては約20%の
減少にとどまっており、透磁率の経時変化が大幅に改善
でれている。
Fe積層膜の透磁率の低下は、単層膜に比較して小さく
、例えば1000時間経過後では、単層膜の透磁率は、
初期値の約6・5%にも低下し大きな経時変化を示して
いる。一方、本発明による積層膜においては約20%の
減少にとどまっており、透磁率の経時変化が大幅に改善
でれている。
すなわち、1000時間後の透磁率の減少率りをμO−
μ+ no。
μ+ no。
D= X 100 (%)μO
(ここで、μ。、μ、。。。は各々透磁率の初期値。
1000時間後の透磁率を示す。)
と定義すると単層膜、積層膜の減少率り、 、 D、は
各々 ’D、=35(%) 、D!= 20 (%)となシ、
経時変化による減少量は本発明により35%から20%
へと改善でれる。
各々 ’D、=35(%) 、D!= 20 (%)となシ、
経時変化による減少量は本発明により35%から20%
へと改善でれる。
更に、本発明においては、アモルファス軟磁性薄膜層は
常に、結晶質軟磁性薄膜層からバイアス磁界を受ける構
成となっている為、前述のヘッド動作時のヒートサイク
ルによる、アモルファス軟磁性薄膜内に発生する局所的
に方向の違う磁気異方性の出現を抑制でき、本発明によ
る軟磁性積層膜は薄膜磁気ヘッドのポールピース材料と
して優れた材料と言える。
常に、結晶質軟磁性薄膜層からバイアス磁界を受ける構
成となっている為、前述のヘッド動作時のヒートサイク
ルによる、アモルファス軟磁性薄膜内に発生する局所的
に方向の違う磁気異方性の出現を抑制でき、本発明によ
る軟磁性積層膜は薄膜磁気ヘッドのポールピース材料と
して優れた材料と言える。
、 尚1本発明の実施例で用いた積層膜
の構成、例えば各層の膜厚、各層の構成材料は、本発明
による積層膜が用いられる薄膜磁気へ、ドの仕様に応じ
て選定されるべきものであって、本発明を規定するもの
でないことは勿論である。
の構成、例えば各層の膜厚、各層の構成材料は、本発明
による積層膜が用いられる薄膜磁気へ、ドの仕様に応じ
て選定されるべきものであって、本発明を規定するもの
でないことは勿論である。
また実施例では結晶質軟磁性′7g膜をまず基板上に形
成する例を示したが、アモルファス軟磁性薄膜を先に基
板上に形成してもかまわない。また結晶質軟磁性薄膜と
アモルファス軟磁性薄膜をそれぞれ一層づつ形成した構
成でも本発明の効果は失なわれないっ (発明の効果) 一以上の述べたように本発明の軟磁性多層膜は。
成する例を示したが、アモルファス軟磁性薄膜を先に基
板上に形成してもかまわない。また結晶質軟磁性薄膜と
アモルファス軟磁性薄膜をそれぞれ一層づつ形成した構
成でも本発明の効果は失なわれないっ (発明の効果) 一以上の述べたように本発明の軟磁性多層膜は。
透磁率の経時変化が大幅に改善され、またアモルファス
軟磁性薄膜内に発生する磁気異方性の出現を抑制でき薄
膜磁気ヘッドのポールピース材料として優れた材料であ
る。
軟磁性薄膜内に発生する磁気異方性の出現を抑制でき薄
膜磁気ヘッドのポールピース材料として優れた材料であ
る。
第1図は本発明による積層膜の構成例を示す概略図、第
2図は本発明による積層膜と単層膜の透? 磁率の変化を示すグラフである。図において111F・
・・基板、12・・アモルファス軟磁性薄膜層、13・
結晶質軟磁性薄膜層。 71 図
2図は本発明による積層膜と単層膜の透? 磁率の変化を示すグラフである。図において111F・
・・基板、12・・アモルファス軟磁性薄膜層、13・
結晶質軟磁性薄膜層。 71 図
Claims (4)
- (1)Co−M(Mは金属元素)系アモルファス軟磁性
薄膜層あるいはFe−Co−メタロイド系アモルファス
軟磁性薄膜層と、結晶質軟磁性薄膜層とがそれぞれ1層
以上交互に積層されていることを特徴とする軟磁性多層
膜。 - (2)Co−M(Mは金属元素)系アモルファス軟磁性
薄膜層の金属元素(M)はZr、Nb、Ta、Hf、T
i、La、Y、Mo、Wのうちの少なくともひとつの、
金属元素である特許請求の範囲第1項記載の軟磁性多層
膜。 - (3)Co−M(Mは金属元素)系アモルファス軟磁性
薄膜層にはRe、Ru、Au、Pt、Rh、Pd、Ag
、Crのうち少なくともひとつが添加されている特許請
求の範囲第1項又は第2項記載の軟磁性多層膜。 - (4)結晶質軟磁性薄膜が、NiFe合金、Fe−Si
合金又はFe−Si−Al合金である特許請求の範囲第
1項、第2項又は第3項記載の軟磁性多層膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13047584A JPS618904A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 軟磁性多層膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13047584A JPS618904A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 軟磁性多層膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS618904A true JPS618904A (ja) | 1986-01-16 |
Family
ID=15035133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13047584A Pending JPS618904A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 軟磁性多層膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS618904A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0786038A (ja) * | 1993-09-09 | 1995-03-31 | Amorphous Denshi Device Kenkyusho:Kk | 磁性薄膜及びその製造方法 |
| WO2004055784A1 (ja) * | 2002-12-18 | 2004-07-01 | Fujitsu Limited | 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド |
| WO2004068515A1 (ja) * | 2003-01-29 | 2004-08-12 | Tdk Corporation | 軟磁性部材およびそれを用いた磁気素子 |
-
1984
- 1984-06-25 JP JP13047584A patent/JPS618904A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0786038A (ja) * | 1993-09-09 | 1995-03-31 | Amorphous Denshi Device Kenkyusho:Kk | 磁性薄膜及びその製造方法 |
| WO2004055784A1 (ja) * | 2002-12-18 | 2004-07-01 | Fujitsu Limited | 磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘッド |
| WO2004068515A1 (ja) * | 2003-01-29 | 2004-08-12 | Tdk Corporation | 軟磁性部材およびそれを用いた磁気素子 |
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