JPS62118601A - マイクロ波集積回路装置 - Google Patents
マイクロ波集積回路装置Info
- Publication number
- JPS62118601A JPS62118601A JP60259975A JP25997585A JPS62118601A JP S62118601 A JPS62118601 A JP S62118601A JP 60259975 A JP60259975 A JP 60259975A JP 25997585 A JP25997585 A JP 25997585A JP S62118601 A JPS62118601 A JP S62118601A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- microwave integrated
- terminals
- carrier
- metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Casings For Electric Apparatus (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Waveguide Connection Structure (AREA)
- Waveguides (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はマイクロ波集積回路に係シ、特にキャリア方式
によるマイクロ波集積回路の構造に関する。
によるマイクロ波集積回路の構造に関する。
近年、マイクロ波帯以上の周波数で使用され石デバイス
などには誘電体板の上面に導体層及び薄膜抵抗等を設け
、さらにトランジスタやダイオード、コンデンサなどの
個別の部品を積載して、回路を構成するマイクロ波集積
回路が多く用いられている。
などには誘電体板の上面に導体層及び薄膜抵抗等を設け
、さらにトランジスタやダイオード、コンデンサなどの
個別の部品を積載して、回路を構成するマイクロ波集積
回路が多く用いられている。
このマイクロ波集積回路の構造として、誘電体板の裏面
の導体面に金属体を半田等で固着するキャリア方式が多
く使用されている。
の導体面に金属体を半田等で固着するキャリア方式が多
く使用されている。
この金属体には誘電体板と線膨張係数がほぼ等しい金属
が使用される。例えば、誘電体板として線膨張係数４乃
至６Ｘ１０ ａｍ／℃のアルミナを使用する場合、金
属体には線膨張係数４乃至５×１０ ｃｍ／℃のコバ
ー、あるいは３．７乃至５．３×ｔｏ ａｍ／℃のモ
リブデン、その他が選ばれる。
が使用される。例えば、誘電体板として線膨張係数４乃
至６Ｘ１０ ａｍ／℃のアルミナを使用する場合、金
属体には線膨張係数４乃至５×１０ ｃｍ／℃のコバ
ー、あるいは３．７乃至５．３×ｔｏ ａｍ／℃のモ
リブデン、その他が選ばれる。
このキャリア方式によるマイクロ波集積回路は、組立後
、個別に調整及び検査をするため、まず別の金属よりな
る試験用筐体に納められる。この試験用筐体は、マイク
ロ波信号の外部への漏れを防ぐ目的で四方を側壁で囲み
、また側壁の一部にはマイクロ波集積回路上のトランジ
スタあるいはダイオードにバイアスをかけるための貫通
形コンデンサが取シ付けられ、貫通形コンデンサにバイ
アス用の個別部品よシなる電気部品例えば抵抗、コンデ
ンサ、コイル等が接続される。
、個別に調整及び検査をするため、まず別の金属よりな
る試験用筐体に納められる。この試験用筐体は、マイク
ロ波信号の外部への漏れを防ぐ目的で四方を側壁で囲み
、また側壁の一部にはマイクロ波集積回路上のトランジ
スタあるいはダイオードにバイアスをかけるための貫通
形コンデンサが取シ付けられ、貫通形コンデンサにバイ
アス用の個別部品よシなる電気部品例えば抵抗、コンデ
ンサ、コイル等が接続される。
試験用筐体によシ別個に調整及び検査を終えたマイクロ
波集積回路は、試験用筐体よシマイクロ波集積回路、貫
通形コンデンサ、電気部品及び端子が取りはすされ、次
に製品用筐体の所定の位置に移しかえられる。
波集積回路は、試験用筐体よシマイクロ波集積回路、貫
通形コンデンサ、電気部品及び端子が取りはすされ、次
に製品用筐体の所定の位置に移しかえられる。
第４図は一般のマイクロ波集積回路として構成される１
段形のＧａＡｓＦＥＴ 増幅器の回路図であ同図におい
て、マイクロ波集積回路本体１は、入力回路２及び出力
回路３と、上に積載されているＧａＡｓ ＦＥＴ ４と
、入力回路２の中の入力端子５と、出力回路３の中の出
力端子６とを有する。貫通形コンデンサ９及び１０は、
ＧａＡｓ ＦＥＴ ４のゲートにバイアスをかけるだめ
の分圧抵抗で、端子１５の負電圧が分圧される。抵抗１
１はＧａＡｓ ＦＥＴ ４のドレインにバイアスをかけ
るため、コンデンサ１２は発振防止のために必要で、端
子１６に正電圧が印加される。線材１３及び１４は、マ
イクロ波集積回路本体１上のＧａＡａ ＦＥＩ：Ｔ ４
のゲートあるいはドレインと貫通形コンデンサ７．８と
を結ぶために必要である。
段形のＧａＡｓＦＥＴ 増幅器の回路図であ同図におい
て、マイクロ波集積回路本体１は、入力回路２及び出力
回路３と、上に積載されているＧａＡｓ ＦＥＴ ４と
、入力回路２の中の入力端子５と、出力回路３の中の出
力端子６とを有する。貫通形コンデンサ９及び１０は、
ＧａＡｓ ＦＥＴ ４のゲートにバイアスをかけるだめ
の分圧抵抗で、端子１５の負電圧が分圧される。抵抗１
１はＧａＡｓ ＦＥＴ ４のドレインにバイアスをかけ
るため、コンデンサ１２は発振防止のために必要で、端
子１６に正電圧が印加される。線材１３及び１４は、マ
イクロ波集積回路本体１上のＧａＡａ ＦＥＩ：Ｔ ４
のゲートあるいはドレインと貫通形コンデンサ７．８と
を結ぶために必要である。
さて、第５図は第４図の回路を従来のマイクロ波集積回
路で構成した斜視図である。同図において、第４図の回
路の符号に相当するものは同一番号を付しである。この
他に、マイクロ波集積回路本体１を構成する誘電体板２
１と、この誘電体板２１の裏面に固着されている金属よ
シなるキャリア５１が示されている。従来のマイクロ波
集積回路の場合、マイクロ波信号の漏れを阻止する貫通
形コンデンサ、バイアス用抵抗、コンデンサは、マイク
ロ波集積回路本体とは一体となっていないので、このま
までは増幅器の回路として完全ではない。
路で構成した斜視図である。同図において、第４図の回
路の符号に相当するものは同一番号を付しである。この
他に、マイクロ波集積回路本体１を構成する誘電体板２
１と、この誘電体板２１の裏面に固着されている金属よ
シなるキャリア５１が示されている。従来のマイクロ波
集積回路の場合、マイクロ波信号の漏れを阻止する貫通
形コンデンサ、バイアス用抵抗、コンデンサは、マイク
ロ波集積回路本体とは一体となっていないので、このま
までは増幅器の回路として完全ではない。
第６図は第５図の従来のマイクロ波集積回路を調整及び
検査のために試験用筐体に実装した場合の一部切裁斜視
図である。同図において、第４図の回路の符号に相当す
るものは同一番号を付しである。この他に、金属よシな
る試験用筐体（一部切裁）６１と、金属の試験用蓋（一
部切裁）６２と、入力コネクタ６３とが示されている。
検査のために試験用筐体に実装した場合の一部切裁斜視
図である。同図において、第４図の回路の符号に相当す
るものは同一番号を付しである。この他に、金属よシな
る試験用筐体（一部切裁）６１と、金属の試験用蓋（一
部切裁）６２と、入力コネクタ６３とが示されている。
試験用筐体６１は、マイクロ波信号の外部への漏れを防
ぐため、四方を側壁で囲んでいる。また、マイクロ波集
積回路本体１の調整及び検査をするためＫは、ＧａＡａ
ＦＥＴ ４にバイアスをかける必要があり、試験用筐
体６１の入出力コネクタが取シつかない面に１貫通形コ
ンデンサ７．８が取り付けられ、抵抗９．１０，１１、
コンデンサ１２及び端子１５゜１６が配置され、配線さ
れる。この状態で、増幅器としての回路が完全になシ、
調整及び検査が可能になる。
ぐため、四方を側壁で囲んでいる。また、マイクロ波集
積回路本体１の調整及び検査をするためＫは、ＧａＡａ
ＦＥＴ ４にバイアスをかける必要があり、試験用筐
体６１の入出力コネクタが取シつかない面に１貫通形コ
ンデンサ７．８が取り付けられ、抵抗９．１０，１１、
コンデンサ１２及び端子１５゜１６が配置され、配線さ
れる。この状態で、増幅器としての回路が完全になシ、
調整及び検査が可能になる。
第７図は第６図の試験用筺体内のものを従来のマイクロ
波集積回路として製品用筐体に実装した場合の一部切裁
斜視図である。同図において、第４図の回路の符号に相
当するものは同一番号を付しである。この他に、製品用
筐体（一部切裁）７１と、製品用蓋（一部切凌）７２と
、隣接するマイクロ波集積回路本体７３．７４例えばア
イソレータや増幅器、ミキサー等が示さｎている。さら
に、さらに、製品用筐体７１に設けられた側壁７５は、
マイクロ波信号の外部への＠九を防ぐ。ここに、貫通形
コンデンサ７、−８が取り付けられ、抵抗９゜１０．１
１、コンデンサ１２、及び端子１５．１６が配置され、
配線される。
波集積回路として製品用筐体に実装した場合の一部切裁
斜視図である。同図において、第４図の回路の符号に相
当するものは同一番号を付しである。この他に、製品用
筐体（一部切裁）７１と、製品用蓋（一部切凌）７２と
、隣接するマイクロ波集積回路本体７３．７４例えばア
イソレータや増幅器、ミキサー等が示さｎている。さら
に、さらに、製品用筐体７１に設けられた側壁７５は、
マイクロ波信号の外部への＠九を防ぐ。ここに、貫通形
コンデンサ７、−８が取り付けられ、抵抗９゜１０．１
１、コンデンサ１２、及び端子１５．１６が配置され、
配線される。
しかしながら、第６図の試験用筐体６１からマイクロ波
集積回路本体１を第７図の製品用筐体７１に移しかえる
ためには、試験用筐体６１より貫通形コンデンサ７．８
、抵抗９，１０，１１、コンデンサ１２及び端子１５．
１６をばらばらにして取シはすし、再度製品筐体７１に
組立てるという不都合がある。
集積回路本体１を第７図の製品用筐体７１に移しかえる
ためには、試験用筐体６１より貫通形コンデンサ７．８
、抵抗９，１０，１１、コンデンサ１２及び端子１５．
１６をばらばらにして取シはすし、再度製品筐体７１に
組立てるという不都合がある。
〔発明が解決しようとする間頑点〕
前述した従来のマイクロ波集積回路の構造では、試験用
筐体によシ調整及び検査を終えたマイクロ波集積回路は
試験用筐体よシマイクロ波集積回路、貫通形コンデンサ
、電気部品及び端子を４！シ外し、製品用筐体の所定の
位置に移しかえるという作業を特徴とする特に貫通形コ
ンデンサ及び電気部品は一度配線したものをばらばらに
して取りはずし、また製品用筐体において再度組立てる
という作業上の不都合のみならず、信頼上の不都合を生
ずるという欠点がある。
筐体によシ調整及び検査を終えたマイクロ波集積回路は
試験用筐体よシマイクロ波集積回路、貫通形コンデンサ
、電気部品及び端子を４！シ外し、製品用筐体の所定の
位置に移しかえるという作業を特徴とする特に貫通形コ
ンデンサ及び電気部品は一度配線したものをばらばらに
して取りはずし、また製品用筐体において再度組立てる
という作業上の不都合のみならず、信頼上の不都合を生
ずるという欠点がある。
本発明の目的は、前記欠点が解決され、試験用筐体で個
別に調整及び検査を終えたマイクロ波集積回路を取りは
ずす時、貫通形コンデンサや電気部品端子等を取シ外す
必要がなく、直ちに製品用筐体の所定の位置に移すこと
が可能なキャリア方式によるマイクロ波集積回路を提供
することにある。
別に調整及び検査を終えたマイクロ波集積回路を取りは
ずす時、貫通形コンデンサや電気部品端子等を取シ外す
必要がなく、直ちに製品用筐体の所定の位置に移すこと
が可能なキャリア方式によるマイクロ波集積回路を提供
することにある。
本発明の構成は、金属体からなるキャリアと誘電体との
重ね合せ体を備えたマイクロ波集積回路において、前記
重ね合せ体の側面に各々設けた金属体からなる側壁の中
で、入出力端子を接続する第１の側壁と、前記端子を除
く電子部品を接続する第２の側壁とを別々に設けたこと
を特徴とする。
重ね合せ体を備えたマイクロ波集積回路において、前記
重ね合せ体の側面に各々設けた金属体からなる側壁の中
で、入出力端子を接続する第１の側壁と、前記端子を除
く電子部品を接続する第２の側壁とを別々に設けたこと
を特徴とする。
次に本発明を図面によシ詳細に説明する。
第１図は本発明の実施例のマイクロ波集積回路で、第４
図の回路を構成した斜視図である。同図において、第４
図の回路の符号に相当するものは同一番号を付しである
。この他に、マイクロ波集積回路本体１を構成する誘電
体板２１と、誘電体板２１の裏面に固着されている金属
よシなるキャリア１７と、誘電体板２１と直角の方向に
、キャリア１７と一体で設けられた、あるいはキャリア
１７とは別の金属をキャリア１７に固定した金属板１８
とが示されている。この金属板１８には、貫通形コンデ
ンサ７．８が取シ付けられ、抵抗９゜１０．１１、コン
デンサ１２、端子１５．１６が配置され、配線される。
図の回路を構成した斜視図である。同図において、第４
図の回路の符号に相当するものは同一番号を付しである
。この他に、マイクロ波集積回路本体１を構成する誘電
体板２１と、誘電体板２１の裏面に固着されている金属
よシなるキャリア１７と、誘電体板２１と直角の方向に
、キャリア１７と一体で設けられた、あるいはキャリア
１７とは別の金属をキャリア１７に固定した金属板１８
とが示されている。この金属板１８には、貫通形コンデ
ンサ７．８が取シ付けられ、抵抗９゜１０．１１、コン
デンサ１２、端子１５．１６が配置され、配線される。
第２図は第１図の本発明の実施例のマイクロ波集積回路
を調整及び検査のために試験用筐体に実装した場合の一
部切裁斜視図である。同図において、第４図の回路の符
号に相当するものは同一番号を付しである。第２図で、
金属よシなる試験用筐体（一部切裁）２１と、金属の試
験用蓋（一部切裁）２２と、入力コネクタ２３とが示さ
れている。マイクロ波信号の外部への漏れを防ぐために
、試験用筐体２１の三方の側壁と、マイクロ波集積回路
本体１の金属板１８とが、その役目を果す。
を調整及び検査のために試験用筐体に実装した場合の一
部切裁斜視図である。同図において、第４図の回路の符
号に相当するものは同一番号を付しである。第２図で、
金属よシなる試験用筐体（一部切裁）２１と、金属の試
験用蓋（一部切裁）２２と、入力コネクタ２３とが示さ
れている。マイクロ波信号の外部への漏れを防ぐために
、試験用筐体２１の三方の側壁と、マイクロ波集積回路
本体１の金属板１８とが、その役目を果す。
また、金属板１８には、第１図に示す如く、貫通形コン
デンサ７．８、抵抗９，１０，１１、コンデンサ１２、
及び端子１５．１６が既に取り付けられ、配線されてい
るため、新たに配線工事を行なう必要はない。
デンサ７．８、抵抗９，１０，１１、コンデンサ１２、
及び端子１５．１６が既に取り付けられ、配線されてい
るため、新たに配線工事を行なう必要はない。
第３図は第１図の本発明のマイクロ波集積回路を製品用
筐体に実装した場合の一部切裁斜視図である。同図にお
いて、第４図の回路の符号に相当するものは同一番号を
付しである。この他に、製品用筐体（一部切裁）３１と
、製品用蓋（一部切裁）３２と、３３及び３４は隣接す
るマイクロ波集積回路本体３３．３４例えばアイソレー
タや増幅器、ミキサー等とが示されている。第２図の試
験用筺体２１からマイクロ波集積回路本体１を製品用筐
体３１に移しかえる時は、貫通形コンデンサ７．８、抵
抗９，１０，１１、コンデンサ１２及び端子１５，１６
を取）はずすことなく、これらと共にマイクロ波集積回
路本体ｌをそのまま取シはずして、移すだけで良い。
筐体に実装した場合の一部切裁斜視図である。同図にお
いて、第４図の回路の符号に相当するものは同一番号を
付しである。この他に、製品用筐体（一部切裁）３１と
、製品用蓋（一部切裁）３２と、３３及び３４は隣接す
るマイクロ波集積回路本体３３．３４例えばアイソレー
タや増幅器、ミキサー等とが示されている。第２図の試
験用筺体２１からマイクロ波集積回路本体１を製品用筐
体３１に移しかえる時は、貫通形コンデンサ７．８、抵
抗９，１０，１１、コンデンサ１２及び端子１５，１６
を取）はずすことなく、これらと共にマイクロ波集積回
路本体ｌをそのまま取シはずして、移すだけで良い。
このように、本実施例では、誘電体板の裏面に固着され
ている金属よりな゛るキャリアに、マイクロ波集積回路
のマイクロ波信号の入出力接続部とならない側面に、誘
電体板と直角の方向にキャリアと一体の金属を設けるか
、あるｈはキャリアとは別の金属をキャリアに固定して
、金属板に貫通形コンデンサや電気部品及び端子等を配
置する構造にすることＫより、試験用筐体で調整及び検
査を終えたマイクロ派集積回路を貫通形コンデンサや電
気部品及び端子等を取シはずすことなく、製品用筐体の
所定の位置に移すことができ、作業上及び信頼性上非常
に有効である。なお、本発明では増幅器の場合を例とし
たが、能動素子にバイアスをかけるデバイス例えば発振
器や逓倍器、ミ即サー、減衰器などのマイクロ波集積回
路にも非常に有効である。
ている金属よりな゛るキャリアに、マイクロ波集積回路
のマイクロ波信号の入出力接続部とならない側面に、誘
電体板と直角の方向にキャリアと一体の金属を設けるか
、あるｈはキャリアとは別の金属をキャリアに固定して
、金属板に貫通形コンデンサや電気部品及び端子等を配
置する構造にすることＫより、試験用筐体で調整及び検
査を終えたマイクロ派集積回路を貫通形コンデンサや電
気部品及び端子等を取シはずすことなく、製品用筐体の
所定の位置に移すことができ、作業上及び信頼性上非常
に有効である。なお、本発明では増幅器の場合を例とし
たが、能動素子にバイアスをかけるデバイス例えば発振
器や逓倍器、ミ即サー、減衰器などのマイクロ波集積回
路にも非常に有効である。
以上説明したように、本発明によれば、作業能率が向上
し、信頼性も向上するという効果が得られる。
し、信頼性も向上するという効果が得られる。
第１図は本発明の実施例のマイクロ波集積回路の斜視図
、第２図は第１図のマイクロ波集積回路を試験用筐体に
実装した場合の一部切裁斜視図、第３図は第１図のマイ
クロ波集積回路を製品用筐体に実装した場合の一部切載
斜視図、第４図は一般のマイクロ波集積回路を構成する
１段形ＧａＡｓＦＥＴの増幅器の回路図、第５図は従来
のスイクロ波集積回路の斜視図、第６図は従来のマイク
ロ波集積回路を試験用筐体に実装した場合の一部切裁斜
視図、第７図は従来のマイクロ波集積回路を製品用筐体
に実装した場合の一部切截斜視図である。 １・・・・・・マイクロ波集積回路本体、２・・・・・
・入力回路、３・・・・・・出力回路、４・・・・・・
ＧａＡｓＦＥＴ、５・・・・・・入力端子、６・・・・
・・出力端子、７，８・・・・・・貫通形コンデンサ、
９，１０．１１・・・・・・抵抗、１２・・・・・・コ
ンデンサ、１３．１４・・・・・・線材、１５・・・・
−・負電圧端子、１６・・・・・・正電圧端子、１７．
５１・・・・・・キャリア、１８・・・・・・金属板、
２１・・・・・・誘電体板、３１，６１・・・・・・試
験用筐体、２２．６２・・・・・・試験用蓋、３１，７
１・・・・・・製品用筐体、３２．７２・・・・・・製
品用蓋、３３，３４゜７３．７４・・・−・・隣接する
マイクロ波集積回路本体。 イ ４１！！ −第 ７１！Ｔ 手続補正書く自発） ６１．６．２７ 昭和 年 月 日 １、事件の表示 昭和６０年特許願第２５９９７５号２
、発明の名称 マイクロ波集積回路 ３、補正をする者 事件との関係 出 願 人東京都港区芝五
丁目３３番１号 （４２３） 日本電気株式会社 代表者 関本忠弘 ４、代理人 〒１０８東京都港区芝五丁目３７番８号住友三田ビル 日本電気株式会社内 （連絡先 日本電気株式会社 特許部）５、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲」、「発明の詳細な説明」の
各欄。 ６、補正の内容 （１）明細書の特許請求の範囲を別紙のとおり補正゛る
。 （２）明細書第７頁第１９行目［前に重ね合せ体」］降
同第８頁第２行目「設けた」までを次文のと。 り補正する。
、第２図は第１図のマイクロ波集積回路を試験用筐体に
実装した場合の一部切裁斜視図、第３図は第１図のマイ
クロ波集積回路を製品用筐体に実装した場合の一部切載
斜視図、第４図は一般のマイクロ波集積回路を構成する
１段形ＧａＡｓＦＥＴの増幅器の回路図、第５図は従来
のスイクロ波集積回路の斜視図、第６図は従来のマイク
ロ波集積回路を試験用筐体に実装した場合の一部切裁斜
視図、第７図は従来のマイクロ波集積回路を製品用筐体
に実装した場合の一部切截斜視図である。 １・・・・・・マイクロ波集積回路本体、２・・・・・
・入力回路、３・・・・・・出力回路、４・・・・・・
ＧａＡｓＦＥＴ、５・・・・・・入力端子、６・・・・
・・出力端子、７，８・・・・・・貫通形コンデンサ、
９，１０．１１・・・・・・抵抗、１２・・・・・・コ
ンデンサ、１３．１４・・・・・・線材、１５・・・・
−・負電圧端子、１６・・・・・・正電圧端子、１７．
５１・・・・・・キャリア、１８・・・・・・金属板、
２１・・・・・・誘電体板、３１，６１・・・・・・試
験用筐体、２２．６２・・・・・・試験用蓋、３１，７
１・・・・・・製品用筐体、３２．７２・・・・・・製
品用蓋、３３，３４゜７３．７４・・・−・・隣接する
マイクロ波集積回路本体。 イ ４１！！ −第 ７１！Ｔ 手続補正書く自発） ６１．６．２７ 昭和 年 月 日 １、事件の表示 昭和６０年特許願第２５９９７５号２
、発明の名称 マイクロ波集積回路 ３、補正をする者 事件との関係 出 願 人東京都港区芝五
丁目３３番１号 （４２３） 日本電気株式会社 代表者 関本忠弘 ４、代理人 〒１０８東京都港区芝五丁目３７番８号住友三田ビル 日本電気株式会社内 （連絡先 日本電気株式会社 特許部）５、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲」、「発明の詳細な説明」の
各欄。 ６、補正の内容 （１）明細書の特許請求の範囲を別紙のとおり補正゛る
。 （２）明細書第７頁第１９行目［前に重ね合せ体」］降
同第８頁第２行目「設けた」までを次文のと。 り補正する。
Claims (2)
- （１）金属体からなるキャリアと誘電体板との重ね合せ
体を備えたマイクロ波集積回路において、前記重ね合せ
体の側面に各々設けた金属体からなる側壁の中で、入出
力端子を接続する第１の側壁と、前記端子を除く電子部
品を接続する第２の側壁とを別々に設けたことを特徴と
するマイクロ波集積回路。 - （２）キャリアと第２の側壁とが、一体の金属体からな
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のマイク
ロ波集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60259975A JPH0824241B2 (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | マイクロ波集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60259975A JPH0824241B2 (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | マイクロ波集積回路装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62118601A true JPS62118601A (ja) | 1987-05-30 |
| JPH0824241B2 JPH0824241B2 (ja) | 1996-03-06 |
Family
ID=17341527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60259975A Expired - Lifetime JPH0824241B2 (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | マイクロ波集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0824241B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5619098U (ja) * | 1979-07-20 | 1981-02-19 |
-
1985
- 1985-11-19 JP JP60259975A patent/JPH0824241B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5619098U (ja) * | 1979-07-20 | 1981-02-19 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0824241B2 (ja) | 1996-03-06 |
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