JPS62249038A - 画像2値化処理回路 - Google Patents

画像2値化処理回路

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Publication number
JPS62249038A
JPS62249038A JP9306686A JP9306686A JPS62249038A JP S62249038 A JPS62249038 A JP S62249038A JP 9306686 A JP9306686 A JP 9306686A JP 9306686 A JP9306686 A JP 9306686A JP S62249038 A JPS62249038 A JP S62249038A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
defective
binary signal
tablet
defectiveness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9306686A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroharu Yamamoto
弘治 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP9306686A priority Critical patent/JPS62249038A/ja
Publication of JPS62249038A publication Critical patent/JPS62249038A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【発明の属する技術分野】
本発明はITVカメラ等の撮像装置を用いて医薬用錠剤
等の表面の汚れ、異物、変形等の欠陥を検査する外観検
査装置に使用される画像2値化処理回路に関する。
【従来技術とその問題点】
この種の画像2値化処理回路としては、被検査物体の映
像信号を2階微分し、この微分信号を固定しきい値によ
り2値化信号に変損し、この2値化信号の数(ラスタ数
)を良否の判定としているものが知られている。第2図
はこのような2階微分を用いた従来の良否判定方法を説
明するための信号波形図である。第2図においてfat
は正常な錠剤の信号波形図、(b)、(C)は欠陥のあ
る錠剤の信号波形図を示しており、また、(イ)は錠剤
の外観、(ロ)は映像信号、(ハ)は1階微分信号、(
ニ)は2階微分信号、(ネ)は2値化信号を示している
。第2図(a)に示すような正常な錠剤の場合には(0
)に示すような映像信号が得られるため、この映像信号
を(ハ)に示すように1階微分したのち、更に(=)に
示すように2階微分し、この2階微分信号を所定のしき
い値aで2値化すると(ネ)に示すように1つの2値化
信号が得られる。これに対して、第2図(b)に示すよ
うに欠陥のある錠剤の場合には、2値化信号は(ネ)に
示すように2つとなるため、この数によって良・否の判
定が可能となる。ところが、このような判定方法では、
第2図telに示すように平坦な欠陥のある錠剤の場合
には、2値化信号は(ネ)に示すように11が拡がるだ
けで数は1つであり、良品と区別がつかなくなる。この
ように従来の判定方法では単にラスタ数にのみ頼ってい
たため、欠陥の種類、形状、錠剤の種類、形状、照明条
件等により良品と不良品の判定がむずかしいという問題
があった。
【発明の目的】
本発明は、錠剤等の種類、形状、照明条件等の違いによ
ることなく正確に良品と不良品を判定することのできる
画像2値化処理回路を提供することを目的とする。
【発明の要点】
本発明の要点は、描像装置からの被検査物体の映像信号
を2階微分し、この微分信号を固定しきい値により2値
化信号に変換し、この2値化信号に基づいて被検査物体
の良・否を判定する画像2値化処理回路において、前記
2値化信号の画素数およびラスタ数をカウントするカウ
ンタ回路をそれぞれ設け、各カウンタ回路のカウント値
により被検査物体の良品を判定するようにした点にある
。
【発明の実施例】
第1図は本発明による画像2値化処理回路の構成図を示
している。図において、1と3は信号遅延器、2と4は
差動増巾器、5は比較器、6は画素数カウンタ、7はラ
スタ数カウンタ、8は良・否判定回路を示している。こ
のような構成にいて、第2図(El)に示すようなIT
Vカメラによる錠剤の映像信号Xが信号遅延器1と差動
増[11器2に加えられると、信号遅延器lを通った映
像信号と通らない映像信号により差動増巾器2において
1階微分が行われて第2図(八)に示すような1階微分
信号が得られる。この差動増巾器2の出力信号が信号遅
延器3と差動増巾器4に加えられると、前回と同様に差
動増巾器4において微分動作が行われるため、差動増巾
器4からは第2図(ニ)に示すようにもとの映像信号に
対する2階微分信号が出力される。この2階微分信号を
比較器5において固定しきい値すで2値化することによ
り、比較器5からは第2図(*)に示すような2値化信
号が出力される。ラスタ数カウンタ7はこの2値化信号
の数をカウントする。また画素数カウンタ6はこの2値
化信号のパルス巾を示す画素数(第2図(ネ)のCI+
 Cm、 C3+ c4)をカウントする。良・否判定
回路8はラスタ数カウンタ7と画素数カウンタ6のカウ
ント値を所定の設定値と比較して良・否の判定を行なう
。この場合、例えばラスタ数については第2図の説明か
らも明らかなように、2つ以上であれば不良品と判定し
、画素数については第2図(a)に示すようなカウント
値C1では良品と判定するが、第2図(C)に示すよう
なカウント値C1では不良品と判定するように設定値を
決めておく、これにより第2図(C)に示すような欠陥
を有する錠剤でも不良品と判定することができる。
【発明の効果】
本発明によれば、2値化された画素数およびラスタ数の
組合せの条件を用いて判定を行なうようにしたため、錠
剤の種類、形状、照明条件等や欠陥の種類、形状等の違
いにかかわらず正確に良品と不良品の判定を行なうこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による画像2値化処理回路の実施例を示
すブロック図、第2図は従来の判定方法を説明するため
の信号波形図を示している。 1.3・−信号遅延器、2.4−・差動増巾器、5−・
比較器、6−・・画素数カウンタ、7−・ラスタ数カウ
ンタ、8−・−・良・否判定回路。 →← Ct (aン 笛2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)撮像装置からの被検査物体の映像信号を2階微分し
    、この微分信号を固定しきい値により2値化信号に変換
    し、この2値化信号に基づいて被検査物体の良・否を判
    定する画像2値化処理回路において、前記2値化信号の
    画素数およびラスタ数をカウントするカウンタ回路をそ
    れぞれ設け、各カウンタ回路のカウント値により被検査
    物体の良・否を判定することを特徴とする画像2値化処
    理回路。
JP9306686A 1986-04-22 1986-04-22 画像2値化処理回路 Pending JPS62249038A (ja)

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JP9306686A JPS62249038A (ja) 1986-04-22 1986-04-22 画像2値化処理回路

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JP9306686A JPS62249038A (ja) 1986-04-22 1986-04-22 画像2値化処理回路

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JPS62249038A true JPS62249038A (ja) 1987-10-30

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ID=14072139

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58142247A (ja) * 1982-02-18 1983-08-24 Fuji Electric Co Ltd 検査装置
JPS59224546A (ja) * 1983-06-03 1984-12-17 Matsushita Electric Works Ltd 欠陥検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58142247A (ja) * 1982-02-18 1983-08-24 Fuji Electric Co Ltd 検査装置
JPS59224546A (ja) * 1983-06-03 1984-12-17 Matsushita Electric Works Ltd 欠陥検出装置

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