JPS6230421A - Mos型集積回路装置 - Google Patents
Mos型集積回路装置Info
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- JPS6230421A JPS6230421A JP61093601A JP9360186A JPS6230421A JP S6230421 A JPS6230421 A JP S6230421A JP 61093601 A JP61093601 A JP 61093601A JP 9360186 A JP9360186 A JP 9360186A JP S6230421 A JPS6230421 A JP S6230421A
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- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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- 101100016026 Drosophila melanogaster GstE14 gene Proteins 0.000 description 1
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- FWYSBEAFFPBAQU-GFCCVEGCSA-N nodakenetin Chemical compound C1=CC(=O)OC2=C1C=C1C[C@H](C(C)(O)C)OC1=C2 FWYSBEAFFPBAQU-GFCCVEGCSA-N 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
- G05F1/462—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00369—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
- H03K19/00384—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/66—Digital/analogue converters
- H03M1/72—Sequential conversion in series-connected stages
-
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/0018—Special modifications or use of the back gate voltage of a FET
-
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
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- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
- H03M1/44—Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal
- H03M1/447—Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal using current mode circuits, i.e. circuits in which the information is represented by current values rather than by voltage values
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路に関し、特にソース電位がt@
を位と異なるMOSトランジスタのバックゲートへの電
位の与え方に関する構造に関する。
を位と異なるMOSトランジスタのバックゲートへの電
位の与え方に関する構造に関する。
P型基板に形成されたNウェルの中のPチャンネルMO
8トランジスタとN型基板に形成されたPウェルの中の
NチャンネルMOSトランジスタとは電源電位と異なる
ソース電極をもつことができる。そのような回路例とし
ては、2人力以上のNANI)ゲート、NO凡ゲート、
gxoR1ゲートや、M(J8トランジスタで形成され
た減算増幅器の中の差動増1隔器を構成するMOSトラ
ンジスタなど数多く存在する。従来これらのMOSト−
y7ジスタのバックゲート(基板から絶縁されたウェル
)の電位はソース電極と同電位にするか、Pチャンネル
MOSトランジスタの場合は最高電位に、Nチャンネル
MQ8)う/ジスタの場合は、最低電位にしていた。
8トランジスタとN型基板に形成されたPウェルの中の
NチャンネルMOSトランジスタとは電源電位と異なる
ソース電極をもつことができる。そのような回路例とし
ては、2人力以上のNANI)ゲート、NO凡ゲート、
gxoR1ゲートや、M(J8トランジスタで形成され
た減算増幅器の中の差動増1隔器を構成するMOSトラ
ンジスタなど数多く存在する。従来これらのMOSト−
y7ジスタのバックゲート(基板から絶縁されたウェル
)の電位はソース電極と同電位にするか、Pチャンネル
MOSトランジスタの場合は最高電位に、Nチャンネル
MQ8)う/ジスタの場合は、最低電位にしていた。
しかしながら、かかる従来のMOSトランジスタのバッ
クゲートを直接ソースに接続した回路においては、バッ
クゲートを構成するウェルと基板間の大きい容量がソー
ス電極に加わる。このため、ソース電位が変動する場合
例は、かかる容量を充放電するための時間がかかり、ス
イッチング速度が遅くなるという欠点がある。
クゲートを直接ソースに接続した回路においては、バッ
クゲートを構成するウェルと基板間の大きい容量がソー
ス電極に加わる。このため、ソース電位が変動する場合
例は、かかる容量を充放電するための時間がかかり、ス
イッチング速度が遅くなるという欠点がある。
また、バックゲートを電源に接続する場合には、ソース
領域とバックゲート領域間の逆バイアスが大きくなるに
従い、しきい値電圧が大きくなるという基板バイアス効
果が働く欠点がある。
領域とバックゲート領域間の逆バイアスが大きくなるに
従い、しきい値電圧が大きくなるという基板バイアス効
果が働く欠点がある。
本発明によれば、ソース、ドレインおよびゲートの各電
極を有するMOSトランジスタと、このMOSトランジ
スタのソース電極の電位を入力とした利得がはは1ビの
増幅器とを有し、この増幅器の出力をMOSトランジス
タのバックゲートに接続している。
極を有するMOSトランジスタと、このMOSトランジ
スタのソース電極の電位を入力とした利得がはは1ビの
増幅器とを有し、この増幅器の出力をMOSトランジス
タのバックゲートに接続している。
MOSトランジスタのソース電極はバックゲート領域に
は接続されないので、バックゲート領域と基板との接合
で形成される大きな容量がソース電極に付加されること
はない。ただ増幅器の入力容量は付加されるが、これは
バックゲート領域と基板との接合で形成される大きな容
量に比べれば小さなものである。このため高速の動作速
度を得ることができる。
は接続されないので、バックゲート領域と基板との接合
で形成される大きな容量がソース電極に付加されること
はない。ただ増幅器の入力容量は付加されるが、これは
バックゲート領域と基板との接合で形成される大きな容
量に比べれば小さなものである。このため高速の動作速
度を得ることができる。
47’(、MOSトランジスタのソース電極とバックゲ
ート領域とは利得はぼ11′の増幅器で同電位に保たれ
るので、いわゆる基板バイアス効果が生じることはなく
、シきい値電圧が変化することもない。
ート領域とは利得はぼ11′の増幅器で同電位に保たれ
るので、いわゆる基板バイアス効果が生じることはなく
、シきい値電圧が変化することもない。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の回路図である。
MOSトランジスタQ1は定′wt流源I!と負荷抵抗
ル0UTIとの間に接続され、負荷抵抗ルOUT lへ
の定[fiの印加を入力端子C1に加わるクロック入力
に応じてスイッチしている。増幅器&、はMOSトラン
ジスタQ1のソース電位を入力とし、 MOSトランジ
スタQ1のバックゲートに出力が接続されておシ、その
利得は′1”に設定されている。
ル0UTIとの間に接続され、負荷抵抗ルOUT lへ
の定[fiの印加を入力端子C1に加わるクロック入力
に応じてスイッチしている。増幅器&、はMOSトラン
ジスタQ1のソース電位を入力とし、 MOSトランジ
スタQ1のバックゲートに出力が接続されておシ、その
利得は′1”に設定されている。
MOSトランジスタQtのバックゲートと基板間のPN
接合に基づく大きな容量は、増幅器Alの低インピーダ
ンスの出力に接続され、MO8l’ランジスタQlのソ
ースの接続点に付加される容量としてはわずかに増幅器
Alの小さな入力ゲート容量とな)、この接続点の容量
が低減される。
接合に基づく大きな容量は、増幅器Alの低インピーダ
ンスの出力に接続され、MO8l’ランジスタQlのソ
ースの接続点に付加される容量としてはわずかに増幅器
Alの小さな入力ゲート容量とな)、この接続点の容量
が低減される。
また、へ408ト?ンジスタQtのソースとバックゲー
トは利得11”の増幅器Alを介して接続されているた
めソースとバックゲートの電位は常に等しく保たれる。
トは利得11”の増幅器Alを介して接続されているた
めソースとバックゲートの電位は常に等しく保たれる。
このため、基板バイアス効果によるしきい値電圧の増加
は起らない。
は起らない。
第2図は本発明の第2の実施例である。MOSトランジ
スタQ 1t + Q12の各ソースは定電流電源Il
lに接続されてお)、各ドレインはそれぞれ負荷抵抗几
!2.几13に接続されている。入力端子C11゜C1
2に加わるクロック入力によシ定醒流電源Illからの
定電流を負荷抵抗R12に流すかkc13に流すかを切
り換えている。MOSト’)ンジスタQ13のゲートに
はMOSトランジスタQtt * Qtzのソースが接
続されておp、M(JS トランジスタQtsのソース
にはMOSトランジスタQ tt e Q xzのバッ
クゲートおよび抵抗R11が接続されている。この場合
、MOSトランジスタQ13はほぼ利得“1″のソース
フォロワ増幅器を構成している。このため、MOSトラ
ンジスタQ13の動作は第1図の増幅器A! と同じで
ある。
スタQ 1t + Q12の各ソースは定電流電源Il
lに接続されてお)、各ドレインはそれぞれ負荷抵抗几
!2.几13に接続されている。入力端子C11゜C1
2に加わるクロック入力によシ定醒流電源Illからの
定電流を負荷抵抗R12に流すかkc13に流すかを切
り換えている。MOSト’)ンジスタQ13のゲートに
はMOSトランジスタQtt * Qtzのソースが接
続されておp、M(JS トランジスタQtsのソース
にはMOSトランジスタQ tt e Q xzのバッ
クゲートおよび抵抗R11が接続されている。この場合
、MOSトランジスタQ13はほぼ利得“1″のソース
フォロワ増幅器を構成している。このため、MOSトラ
ンジスタQ13の動作は第1図の増幅器A! と同じで
ある。
第3図は本発明の第3の実施例である。これは、Wll
の実施例の場合においてPチャンネルトランジスタQ
lt−使ったものであったが、本実施例ではNチャネル
MOSトランジスタQ21を用いたものである。すなわ
ち、入力端子C21に加わるクロック入力をゲートに受
けるNチャンネルMOSトランジスタQ21のドレイ/
には負荷億抗几OUT!が接続され、ソースには定電流
電源Igtが接続されるとともに利得″″11の増幅器
A2の入力にも接続されている。この増1隅器A2の出
力がNチャンネルMOSトランジスタQ21のバックゲ
ートに与えられている。かかる構成によっても、第1の
実施例と同様の動作および効果を得ることができる。
の実施例の場合においてPチャンネルトランジスタQ
lt−使ったものであったが、本実施例ではNチャネル
MOSトランジスタQ21を用いたものである。すなわ
ち、入力端子C21に加わるクロック入力をゲートに受
けるNチャンネルMOSトランジスタQ21のドレイ/
には負荷億抗几OUT!が接続され、ソースには定電流
電源Igtが接続されるとともに利得″″11の増幅器
A2の入力にも接続されている。この増1隅器A2の出
力がNチャンネルMOSトランジスタQ21のバックゲ
ートに与えられている。かかる構成によっても、第1の
実施例と同様の動作および効果を得ることができる。
次に本発明の第4の実施例について説明する。
本実施例は電流加算型のD/Aコンバータであシ、その
ブロック図が第4図に各電流セルの回路図が第5図にそ
れぞれ示されている。DBQ乃至L)B7の8ビットm
成のディジタルデータは入力端子10乃至17に供給さ
れ、入力バッファ23に取り込まれる。ディジタルデー
タのうち最下位ピッ)i)t17は第1のラッチ回路2
7へ供給され、第4乃至第7ビツトL)B3乃至1JB
6は第1のデコーダ回路25に供給される。このデコー
ダ回路25は16の第1制御信号を発生し第1のラッチ
回路27へ供給する。最上位ビットDBO1第2ビット
L)B1および第3ピツ)L)B2は第2のデコーダ回
路24へ供給される。このデコーダ24は8つの第2制
御信号と8つの第3制御信号を発生し第2のラッチ回路
26へ供給する。ラッチ回w&26および27は、端子
18へ供給されるサンプリングパルスSPに応答して最
下位ビットデータおよび第1乃至第3制御信号をラッチ
する。
ブロック図が第4図に各電流セルの回路図が第5図にそ
れぞれ示されている。DBQ乃至L)B7の8ビットm
成のディジタルデータは入力端子10乃至17に供給さ
れ、入力バッファ23に取り込まれる。ディジタルデー
タのうち最下位ピッ)i)t17は第1のラッチ回路2
7へ供給され、第4乃至第7ビツトL)B3乃至1JB
6は第1のデコーダ回路25に供給される。このデコー
ダ回路25は16の第1制御信号を発生し第1のラッチ
回路27へ供給する。最上位ビットDBO1第2ビット
L)B1および第3ピツ)L)B2は第2のデコーダ回
路24へ供給される。このデコーダ24は8つの第2制
御信号と8つの第3制御信号を発生し第2のラッチ回路
26へ供給する。ラッチ回w&26および27は、端子
18へ供給されるサンプリングパルスSPに応答して最
下位ビットデータおよび第1乃至第3制御信号をラッチ
する。
CCo!乃至CC,1−は電流セルを示し、マトリック
状に配置されている。各電流セルは第1乃至第3の制御
入力端子C工l乃至CI3、第1および第2出力端子0
および01そしてバイアス入力端子BIを有しておシ、
その具体的回路構成については第5図を参照しながら後
で詳細に説明する。
状に配置されている。各電流セルは第1乃至第3の制御
入力端子C工l乃至CI3、第1および第2出力端子0
および01そしてバイアス入力端子BIを有しておシ、
その具体的回路構成については第5図を参照しながら後
で詳細に説明する。
同一列に配置された電流セルの第1の制御入力端子C1
1は共通接続され、第1のラッチ回路27から第1 ’
+blJ(41倍信号が供給される。同一の行に配置さ
れた電流セルCCの第2と第3の制御入力端子CI、と
C10はそれぞれ共通接続され、第2のラッチ回路26
から第2と第3制御信号&、Bがそれぞれ供給されてい
る。電流セルCCo1乃至CC71gの第1出力端子O
9第2出力端子0、そしてバイアス入力端子fjIは、
第1の電流出力端子21、第2の電流出力端子22、そ
してバイアス回路28の出力端子にそれぞれ共通接続さ
れている。電流セルCCo1乃至Ceytsの電流容量
は実質的に同一に設定されている。第1および第2制御
信号C1人が共にハイレベルのとき又は第3制御信号B
がハイレベルのとき、各電流セルCCo1乃至CG71
gは第1の出力端子OK−流を発生し、それ以外のとき
は第2の出力端子Oに電流を発生する。
1は共通接続され、第1のラッチ回路27から第1 ’
+blJ(41倍信号が供給される。同一の行に配置さ
れた電流セルCCの第2と第3の制御入力端子CI、と
C10はそれぞれ共通接続され、第2のラッチ回路26
から第2と第3制御信号&、Bがそれぞれ供給されてい
る。電流セルCCo1乃至CC71gの第1出力端子O
9第2出力端子0、そしてバイアス入力端子fjIは、
第1の電流出力端子21、第2の電流出力端子22、そ
してバイアス回路28の出力端子にそれぞれ共通接続さ
れている。電流セルCCo1乃至Ceytsの電流容量
は実質的に同一に設定されている。第1および第2制御
信号C1人が共にハイレベルのとき又は第3制御信号B
がハイレベルのとき、各電流セルCCo1乃至CG71
gは第1の出力端子OK−流を発生し、それ以外のとき
は第2の出力端子Oに電流を発生する。
電流セルCCo1乃至CC7111の電流容量の半分に
設定された1/2電流セルCCooが設けらnている。
設定された1/2電流セルCCooが設けらnている。
このセルは、最下位ピッ)I)B7で制御され、そのデ
ータが″1#ときは第1の出方端子OK、 “0#の
ときはグ2の出力端子0にそれぞれ電流を発生する。セ
ルCCooの第1および第2の出方端子0゜0は第1お
よび第1および第2のxi出出端端子2122にそれぞ
れ接続されている。
ータが″1#ときは第1の出方端子OK、 “0#の
ときはグ2の出力端子0にそれぞれ電流を発生する。セ
ルCCooの第1および第2の出方端子0゜0は第1お
よび第1および第2のxi出出端端子2122にそれぞ
れ接続されている。
第1のデコーダ回路25は、第4乃至第7ビツ)1)8
3乃至1)B5のデータに対し次の第1表で示すデコー
ド信号、すなわち第1制御信号C1乃至C11lのレベ
ルを決定する。
3乃至1)B5のデータに対し次の第1表で示すデコー
ド信号、すなわち第1制御信号C1乃至C11lのレベ
ルを決定する。
第1表
なお、第1表で@ H′tはノ)イレベルf、−L”は
ロウレベルを示す。以下の説明においても同様である。
ロウレベルを示す。以下の説明においても同様である。
第2のデコーダ回路は、最上位ビットL)BO1第2ビ
ットL)Blおよび第3ビツトDB2のデータに対し、
以下の第2表で示すように、第2制御信号A1乃至第8
および第3 +[ilj御信号Bl乃至B8のレベルを
決定する。
ットL)Blおよび第3ビツトDB2のデータに対し、
以下の第2表で示すように、第2制御信号A1乃至第8
および第3 +[ilj御信号Bl乃至B8のレベルを
決定する。
第2表
この結果、L)BO乃至L)B7の8ビツト構成の入力
ディジタルデータが“1”ずつ増加するたびに、第1の
電流出力端子21から発生される出力電流ioは1/2
電流セルCCooの電流容量値ずつ増加し、第2の電流
出力端子22からの電流IOはその電流値ずつ減少する
。
ディジタルデータが“1”ずつ増加するたびに、第1の
電流出力端子21から発生される出力電流ioは1/2
電流セルCCooの電流容量値ずつ増加し、第2の電流
出力端子22からの電流IOはその電流値ずつ減少する
。
第5図に電流セルCCo1乃至CC71gの各々の具体
的回路図を示する。各トランジスタの導電型を現わすた
めに、Pチャンネル型のものには″P#を、Nチャンネ
ル型のものには′N”を第5図に示す。電流VDD−G
NJ)間にトランジスタQxs乃至Q s 5が直列に
接続されてお’)s Qsse Qssのゲートに第3
入力端子CI、f、介して第3 tltlJ御信号Bが
供給される。Qxsのドレイン−GNIJ間にQas乃
至Qszが直列接続され、Qs。、Q31のゲートに第
1入力端子C11を介して第1制御信号Cが供給される
。Qsz、Q34のゲートに第2入力端子を介して第2
制御信号人が供給される。したがって、第1および第2
制御信号C,Aが共にハイレベルにあるとき又は第2制
御信号Bがハイレベルにあるとき、Q34 + Qll
の接続点にロウレベルが現われる。このレベルハQss
、 Qstのインバータで反転され、Qss 、 Q
41のゲートに供給される。Q10がQzs*見41見
間1挿入され、Q311がQllと並列接続されている
。トランジスタQ42のゲートにはバイアス端子BIを
介してバイアス電圧が供給されており、したがってこの
トランジスタは定電流源として動作する。コンデンサC
2はフィルタ用である。トランジスタQ43 、 Q4
7のソースがQ42のドレインに接続されている。Qn
s 、 Q47のバックゲートには、本発明に従って、
トランジスタQ44゜Qnsで構成される利得1のノー
スフォロワ増幅器を介してQns # Q47のソース
電圧が供給されてお’)s Qas e Q4?の閾値
増加が防止されている。Q47のゲートtiQSs 、
Q46の接続点に接続され、Q47のゲートはQ46
、 Q411の接続点に接続されている。
的回路図を示する。各トランジスタの導電型を現わすた
めに、Pチャンネル型のものには″P#を、Nチャンネ
ル型のものには′N”を第5図に示す。電流VDD−G
NJ)間にトランジスタQxs乃至Q s 5が直列に
接続されてお’)s Qsse Qssのゲートに第3
入力端子CI、f、介して第3 tltlJ御信号Bが
供給される。Qxsのドレイン−GNIJ間にQas乃
至Qszが直列接続され、Qs。、Q31のゲートに第
1入力端子C11を介して第1制御信号Cが供給される
。Qsz、Q34のゲートに第2入力端子を介して第2
制御信号人が供給される。したがって、第1および第2
制御信号C,Aが共にハイレベルにあるとき又は第2制
御信号Bがハイレベルにあるとき、Q34 + Qll
の接続点にロウレベルが現われる。このレベルハQss
、 Qstのインバータで反転され、Qss 、 Q
41のゲートに供給される。Q10がQzs*見41見
間1挿入され、Q311がQllと並列接続されている
。トランジスタQ42のゲートにはバイアス端子BIを
介してバイアス電圧が供給されており、したがってこの
トランジスタは定電流源として動作する。コンデンサC
2はフィルタ用である。トランジスタQ43 、 Q4
7のソースがQ42のドレインに接続されている。Qn
s 、 Q47のバックゲートには、本発明に従って、
トランジスタQ44゜Qnsで構成される利得1のノー
スフォロワ増幅器を介してQns # Q47のソース
電圧が供給されてお’)s Qas e Q4?の閾値
増加が防止されている。Q47のゲートtiQSs 、
Q46の接続点に接続され、Q47のゲートはQ46
、 Q411の接続点に接続されている。
Qas 、 Q4(1のゲートにはQns 、 Q47
のソース電圧が供給されている。コンデンサC1もフィ
ルタ用である。
のソース電圧が供給されている。コンデンサC1もフィ
ルタ用である。
したがって、Qsa t Qssの接続点にロウレベル
が現われると、Qnsのゲート電圧Q4?よシも低くな
り、Qnsによる定電流源の電流は% Q4sを介して
第1の出力端子Oに発生する。Q34 y Qssの接
続点がハイレベルのときは、Q47を介して第2の出力
端子OKt流出力が得られる。
が現われると、Qnsのゲート電圧Q4?よシも低くな
り、Qnsによる定電流源の電流は% Q4sを介して
第1の出力端子Oに発生する。Q34 y Qssの接
続点がハイレベルのときは、Q47を介して第2の出力
端子OKt流出力が得られる。
以上のとおり、ソース電位を入力とQた利得″′l”の
低インピーダンスの増#A器の出力をMOSトランジス
タのバックゲートに接続することにより、MOS)り/
ジスタのソース容量の増大やしきい値電圧の増加を押え
られる効果がある。
低インピーダンスの増#A器の出力をMOSトランジス
タのバックゲートに接続することにより、MOS)り/
ジスタのソース容量の増大やしきい値電圧の増加を押え
られる効果がある。
第1図乃至第3図は本発明のTjIJl乃至第3の実施
例を示す回路図、第4図および第5図は本発明の第4の
実施例を示すブロック図および回路図である。 Qt 、 Qll # Qxz 、 Qss + Qz
x・・・・・・MOSトランジスタtAl、A2411
1増幅器&”0UTI、几OUT 2・・・・・・負荷
抵抗、凡If、ル1. 、 R13・旧・・抵抗、”1
e111、I21・・・・・・定電流電源。 べ;°)、 代理人 弁理士 内 原 晋 ′・・:第 /
ffi 第2図 第3図
例を示す回路図、第4図および第5図は本発明の第4の
実施例を示すブロック図および回路図である。 Qt 、 Qll # Qxz 、 Qss + Qz
x・・・・・・MOSトランジスタtAl、A2411
1増幅器&”0UTI、几OUT 2・・・・・・負荷
抵抗、凡If、ル1. 、 R13・旧・・抵抗、”1
e111、I21・・・・・・定電流電源。 べ;°)、 代理人 弁理士 内 原 晋 ′・・:第 /
ffi 第2図 第3図
Claims (1)
- ソース電極、バックゲート電極、ドレイン電極およびゲ
ート電極を有するMOSトランジスタと、概略“1”倍
の利得を有する増幅器とを有し、該増幅器の入力に前記
MOSトランジスタのソース電極が接続され、かつ該増
幅器の出力が前記MOSトランジスタのバックゲート電
極に接続されていることを特徴とするMOS型集積回路
。
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|---|---|---|---|
| JP60-85813 | 1985-04-22 | ||
| JP8581385 | 1985-04-22 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6230421A true JPS6230421A (ja) | 1987-02-09 |
| JPH0640621B2 JPH0640621B2 (ja) | 1994-05-25 |
Family
ID=13869299
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|---|---|---|---|
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4725813A (ja) |
| JP (1) | JPH0640621B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6094068A (en) * | 1997-06-19 | 2000-07-25 | Nec Corporation | CMOS logic circuit and method of driving the same |
| JP2009147430A (ja) * | 2007-12-11 | 2009-07-02 | Nec Electronics Corp | バッファ回路 |
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-
1986
- 1986-04-17 US US06/853,293 patent/US4725813A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-04-22 JP JP61093601A patent/JPH0640621B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| JPH0640621B2 (ja) | 1994-05-25 |
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