JPS6239799A - 放射線画像変換パネル - Google Patents
放射線画像変換パネルInfo
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Landscapes
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
本発明は輝尽性蛍光体を用いた放射線画像変換パネルに
関するものであり、さらに詳しくは鮮鋭性の高い放射線
画像を与える放射線画像変換パネル及びその製造方法に
関するものである。
関するものであり、さらに詳しくは鮮鋭性の高い放射線
画像を与える放射線画像変換パネル及びその製造方法に
関するものである。
X線画像のような放射線画像は病気診断用などに多く用
いられる。このX線画像を得るために、被写体を透過し
たX#Iを蛍光体N(蛍光スクリーン)に照射し、これ
により可視光を生じさせてこの 可傾 乎 か ;山
堂め 冗宵 番 ン ス と 誕 と 闇 1− 十
へ 17瀞塩を使用したフィルムに照射して現像した、
いわゆる放射線写真が利用されている。しかし、近年銀
塩を塗布したフィルムを使用しないで蛍光体層から直接
画像を取り出す方法が工夫されるようになった。 この方法としでは被写体を透過した放射線を蛍光体に吸
収せしめ、しかる後この蛍光体を例えば光又は熱エネル
ギーで励起することによりこの蛍光体が上記吸収により
蓄積している放射線エネルギーを蛍光として放射せしめ
、この蛍光を検出して画像化する方法がある。兵体的に
は、例えば米国特許3,859,527号及び特開昭5
5−12]44号には輝尽性蛍光体を用い可視光線又は
赤外線を輝尽励起光とした放射線画像変換方法が示され
ている。この方法は支持体上に1III尽性蛍光性蛍光
形成した放射線画像変換パネルを使用するもので、この
放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体層に被写体を透過
した放射線を当てて被写体各部の放射線透過度に対応す
る放射線エネルギーを蓄vtさせて潜像を形成し、しか
る後にこの輝尽性蛍光体層を輝尽励旭光で走査すること
によって各部の蓄積された放射線エネルギーを放射させ
てこれを光に変換し、この光の強弱による光信号により
画像を得るものである。この最終的な画像はノ)−トコ
ビーとして再生しても良いし、CRT上に再生してもよ
い。 さて、この放射線画像変換方法に用いられる輝尽性蛍光
体層を有する放射線画像変換パネルは、前述の蛍光スク
リーンを用いる放射線写真法の場合と同様に放射線吸収
率及び光変換率(両者を含めて以下「放射線感度」とい
う)が高いことは言うに及ばず画像の粒状性が良く、し
かも高鮮鋭性であることが要求される。 ところが、一般に輝尽性蛍光体層を有する放射線画像変
換パネルは粒径1〜3077111程度の粒子状のX1
fl尽性蛍光体と有機結着剤とを含む分散液を支持体あ
るいは保護層上に塗布・乾燥して作成されるので、輝尽
性蛍光体の光’1ffi度が低く(充填率50%)、放
射線感度を充分高くするには第5図(a)に示すように
輝尽性蛍光体層の層厚を厚くする必要があった。 同図から明らかなようにIII尽性蛍光体屑の層厚20
0μIffのときに輝尽性蛍光体の附着量は50 +n
g/ c If12であり、層厚が350μmまでは
放射線感度は直線的に増大して450μm以上で飽和す
る。尚、放射線感度が飽和するのは、輝尽性蛍光体層が
厚くなり過ぎると、XI′11尽性蛍光体性蛍光体粒子
間性蛍光体層の散乱のため輝尽性蛍光体層内部での輝尽
発光が外部に出てこなくなるためである。 一方、これに対し前記放射線画像変換方法における画像
の鮮鋭性は第5図(IJ)に示すように、放射線゛画像
変換パネルの111E、性蛍光体層の層厚が薄いほど高
い傾向にあり、鮮鋭性の向上のためには、輝ぶ性蛍光体
層の薄層化が必要であった。 また、前記放射線画像変換方法における画像の粒状性は
放射Mffi子数の場所的ゆらぎ(量子モトル)あるい
は放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体層の構逍的乱れ
(構造モトル)等によって決定されるので、輝尽性蛍光
体層の層厚が薄くなると、III尽性電性蛍光体層収さ
れる放射線量子数が減少して量子モトルが増加したす補
遺的6Lれが顕在化して構造モトルが増加したりして画
質の低下を生ずる。よって画像の粒状性を向上させるた
めには輝尽性蛍光体層の層厚は厚い必要があった。 即ち、前述のように、従来の放射線画像変換パネルは放
射線に対する感度及び画像の粒状性と、画像の鮮鋭性と
が輝尽性蛍光体層の層厚に対してまったく逆の傾向を示
すので、前記放射線画像変換パネルは放射線に対する感
度と粒状性と鮮鋭性のある程度の犠牲によって作成され
てきた。 ところで従来の放射線写真法における画像の鮮鋭性が蛍
光スクリーンの中の蛍光体の瞬間発光(放射線照射時の
発光)の広がりによって決定されるのは周知の通りであ
るが、これに対し、前述の輝尽性蛍光体を利用した放射
線画像変換方法における画像の鮮鋭性は放射線画像変換
パネル中の輝尽性蛍光体の輝尽発光の広がりによって決
定されるのではなく、すなわち放射線写真法におけるよ
うに蛍光体の発光の広がりによって決定されるのではな
く、輝尽励起光の該パネル内での広がりに依存して決ま
る。なぜならばこの放射線画像変換方法においては、放
射線画像変換パネルに蓄積された放射線画像情報は時系
列化されて取り出されるので、ある時間(Li)に照射
された輝)′?−励起光による輝尽発光は望ましくは全
て採光されその時間に輝尽励起光が照射されていた該パ
ネル上のある画素(xi+yi)からの出力として記録
されるが、もし輝尽励起光が該パネル内で散乱等により
広がり、照射画素(×i+yi)の外側に存在する輝尽
性蛍光体をも励起してしまうと、上記(xi、yi)な
る画素からの出力としてその画素よりも広い領域からの
出力が記録されてしょうがらである。従って、ある時間
(ti)に照射された輝尽励起光による輝尽発光が、そ
の時間(ti)に輝尽励起光が真に照射されていた該パ
ネル上の画素(にi、yi)からの発光のみであれば、
その発光がいかなる広がりを持つものであろうと得られ
る画像の鮮鋭性には影響がない。 このような状況の中で、放射線画像の鮮鋭性改善する方
法がいくつか考案されて米だ。例えば特開昭55−14
6447号記載の放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体
層中に白色粉体を混入する方法、特開明55−1635
00号記載の放射M画像変換パネルを輝尽性蛍光体の輝
尽励起波長頭載における平均反射率が前記輝尽性蛍光体
の輝尽発光波長領域における平均反射率よりも小さくな
るように着色する方法等である。しかし、これらの方法
は鮮鋭性を改良すると必然的に感度が者しく低下してし
ま−・、好ましい方法とは言えない。 一方これに灯し本出願人は既に特願昭59−19636
5号においで前述のようなITI尽性微性蛍光体いた放
射線画像変換パネルにおける従来の欠点を改良した新規
な放射線画像変換パネルとして11坪尽性蛍光体層が結
着剤を含有しない放射線画像変換パネルを提案している
。これによれば、放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体
層が結着剤を含有しないので輝尽性蛍光体の充填率が著
しく向上すると共に輝尽性蛍光体層の透明性が向上する
ので、前記放射線画像変換パネルの放射線に対する感度
と画像の粒状性が改善されると同時に、画像の鮮鋭性も
改善される。 しかしながら前記放射線画像変換方法に於いて、感度、
粒状性を損つことなく且つ鮮鋭性の浸れた画質の要求は
更に厳しくなって米でいる。
いられる。このX線画像を得るために、被写体を透過し
たX#Iを蛍光体N(蛍光スクリーン)に照射し、これ
により可視光を生じさせてこの 可傾 乎 か ;山
堂め 冗宵 番 ン ス と 誕 と 闇 1− 十
へ 17瀞塩を使用したフィルムに照射して現像した、
いわゆる放射線写真が利用されている。しかし、近年銀
塩を塗布したフィルムを使用しないで蛍光体層から直接
画像を取り出す方法が工夫されるようになった。 この方法としでは被写体を透過した放射線を蛍光体に吸
収せしめ、しかる後この蛍光体を例えば光又は熱エネル
ギーで励起することによりこの蛍光体が上記吸収により
蓄積している放射線エネルギーを蛍光として放射せしめ
、この蛍光を検出して画像化する方法がある。兵体的に
は、例えば米国特許3,859,527号及び特開昭5
5−12]44号には輝尽性蛍光体を用い可視光線又は
赤外線を輝尽励起光とした放射線画像変換方法が示され
ている。この方法は支持体上に1III尽性蛍光性蛍光
形成した放射線画像変換パネルを使用するもので、この
放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体層に被写体を透過
した放射線を当てて被写体各部の放射線透過度に対応す
る放射線エネルギーを蓄vtさせて潜像を形成し、しか
る後にこの輝尽性蛍光体層を輝尽励旭光で走査すること
によって各部の蓄積された放射線エネルギーを放射させ
てこれを光に変換し、この光の強弱による光信号により
画像を得るものである。この最終的な画像はノ)−トコ
ビーとして再生しても良いし、CRT上に再生してもよ
い。 さて、この放射線画像変換方法に用いられる輝尽性蛍光
体層を有する放射線画像変換パネルは、前述の蛍光スク
リーンを用いる放射線写真法の場合と同様に放射線吸収
率及び光変換率(両者を含めて以下「放射線感度」とい
う)が高いことは言うに及ばず画像の粒状性が良く、し
かも高鮮鋭性であることが要求される。 ところが、一般に輝尽性蛍光体層を有する放射線画像変
換パネルは粒径1〜3077111程度の粒子状のX1
fl尽性蛍光体と有機結着剤とを含む分散液を支持体あ
るいは保護層上に塗布・乾燥して作成されるので、輝尽
性蛍光体の光’1ffi度が低く(充填率50%)、放
射線感度を充分高くするには第5図(a)に示すように
輝尽性蛍光体層の層厚を厚くする必要があった。 同図から明らかなようにIII尽性蛍光体屑の層厚20
0μIffのときに輝尽性蛍光体の附着量は50 +n
g/ c If12であり、層厚が350μmまでは
放射線感度は直線的に増大して450μm以上で飽和す
る。尚、放射線感度が飽和するのは、輝尽性蛍光体層が
厚くなり過ぎると、XI′11尽性蛍光体性蛍光体粒子
間性蛍光体層の散乱のため輝尽性蛍光体層内部での輝尽
発光が外部に出てこなくなるためである。 一方、これに対し前記放射線画像変換方法における画像
の鮮鋭性は第5図(IJ)に示すように、放射線゛画像
変換パネルの111E、性蛍光体層の層厚が薄いほど高
い傾向にあり、鮮鋭性の向上のためには、輝ぶ性蛍光体
層の薄層化が必要であった。 また、前記放射線画像変換方法における画像の粒状性は
放射Mffi子数の場所的ゆらぎ(量子モトル)あるい
は放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体層の構逍的乱れ
(構造モトル)等によって決定されるので、輝尽性蛍光
体層の層厚が薄くなると、III尽性電性蛍光体層収さ
れる放射線量子数が減少して量子モトルが増加したす補
遺的6Lれが顕在化して構造モトルが増加したりして画
質の低下を生ずる。よって画像の粒状性を向上させるた
めには輝尽性蛍光体層の層厚は厚い必要があった。 即ち、前述のように、従来の放射線画像変換パネルは放
射線に対する感度及び画像の粒状性と、画像の鮮鋭性と
が輝尽性蛍光体層の層厚に対してまったく逆の傾向を示
すので、前記放射線画像変換パネルは放射線に対する感
度と粒状性と鮮鋭性のある程度の犠牲によって作成され
てきた。 ところで従来の放射線写真法における画像の鮮鋭性が蛍
光スクリーンの中の蛍光体の瞬間発光(放射線照射時の
発光)の広がりによって決定されるのは周知の通りであ
るが、これに対し、前述の輝尽性蛍光体を利用した放射
線画像変換方法における画像の鮮鋭性は放射線画像変換
パネル中の輝尽性蛍光体の輝尽発光の広がりによって決
定されるのではなく、すなわち放射線写真法におけるよ
うに蛍光体の発光の広がりによって決定されるのではな
く、輝尽励起光の該パネル内での広がりに依存して決ま
る。なぜならばこの放射線画像変換方法においては、放
射線画像変換パネルに蓄積された放射線画像情報は時系
列化されて取り出されるので、ある時間(Li)に照射
された輝)′?−励起光による輝尽発光は望ましくは全
て採光されその時間に輝尽励起光が照射されていた該パ
ネル上のある画素(xi+yi)からの出力として記録
されるが、もし輝尽励起光が該パネル内で散乱等により
広がり、照射画素(×i+yi)の外側に存在する輝尽
性蛍光体をも励起してしまうと、上記(xi、yi)な
る画素からの出力としてその画素よりも広い領域からの
出力が記録されてしょうがらである。従って、ある時間
(ti)に照射された輝尽励起光による輝尽発光が、そ
の時間(ti)に輝尽励起光が真に照射されていた該パ
ネル上の画素(にi、yi)からの発光のみであれば、
その発光がいかなる広がりを持つものであろうと得られ
る画像の鮮鋭性には影響がない。 このような状況の中で、放射線画像の鮮鋭性改善する方
法がいくつか考案されて米だ。例えば特開昭55−14
6447号記載の放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体
層中に白色粉体を混入する方法、特開明55−1635
00号記載の放射M画像変換パネルを輝尽性蛍光体の輝
尽励起波長頭載における平均反射率が前記輝尽性蛍光体
の輝尽発光波長領域における平均反射率よりも小さくな
るように着色する方法等である。しかし、これらの方法
は鮮鋭性を改良すると必然的に感度が者しく低下してし
ま−・、好ましい方法とは言えない。 一方これに灯し本出願人は既に特願昭59−19636
5号においで前述のようなITI尽性微性蛍光体いた放
射線画像変換パネルにおける従来の欠点を改良した新規
な放射線画像変換パネルとして11坪尽性蛍光体層が結
着剤を含有しない放射線画像変換パネルを提案している
。これによれば、放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体
層が結着剤を含有しないので輝尽性蛍光体の充填率が著
しく向上すると共に輝尽性蛍光体層の透明性が向上する
ので、前記放射線画像変換パネルの放射線に対する感度
と画像の粒状性が改善されると同時に、画像の鮮鋭性も
改善される。 しかしながら前記放射線画像変換方法に於いて、感度、
粒状性を損つことなく且つ鮮鋭性の浸れた画質の要求は
更に厳しくなって米でいる。
【発明の目的1
本発明はR1尽性蛍光体を用いた防泥提案の放射線画像
変換パネルに関連し、これをさらに改良するものであり
、本発明の目的は放射線に対する感度が向上すると共に
鮮鋭性の高い画像を与える放射線画像変換パネルを提供
することにある。 本発明の他の目的は、粒状性が向上すると共に、鮮鋭性
の高い画像を与える放射線画像変換パネルを提供するこ
とにある。 【発明の構成】 前記した本発明の目的は、−1!、属支持体上に多孔性
クロム層を有し、該多孔性クロム層の北に少なくとも一
層の輝尽性蛍光体層を有することをfi−徴とする放射
線画像変換パネルによって達成される。 次に本発明を具体的に説明する。 第1図(a)は本発明の放射線画像変換パネル(以後意
味明晰な場合には単にパネルと略称することがある)の
厚み方向の断面図である。 同図に叢いて10は本発明のパネルの形態を示す。 11はアルミニウムからなる支持体であり、12は支持
体11の表面を被覆する多孔性クロム層である。 多孔性クロム層とは、一般にめっき技術の分野において
、ポーラスクロムと称されるもので、表面に多数の微細
な亀裂を有するクロムの薄層であり、かつその亀裂は開
口部が狭く底部の広い袋状の空孔を呈していることが多
い。本発明のパネルにおいて、多孔性クロム層12に形
成される亀裂(12ij)は5000〜50000個/
Cm”程度の密度で存在することが好ましい。また亀
裂の深さdは多孔性クロム層の厚さしに対して5〜70
%程度が好ましく、多孔性クロム112の空孔率は10
〜45%程度となるのが好ましい。 第2図に前記多孔性クロム層の表面のW徽鏡写真を示す
。 このような多孔性クロム層表面には第1図に示すように
、輝尽性蛍光体の微細柱状ブロック13ijを気相堆積
法により形成することができる。(13i柱状ブロツク
13ijの平均的径は1〜400μmが好ましく、また
間隙(13ij)は前記微細柱状ブロック13ijが互
いに独立していればいかなる間隔でもよいが、平均的に
はO〜2011I11が好ましい。前記13ij及び(
13ij)によって本発明に関わる1¥I尽性微性蛍光
13が形成される輝尽性蛍光体[13の表面には保護層
14が設けられることが好ましい。 また、前記多孔性クロム層と前記輝尽性蛍光体層との間
に必要に応じ輝尽性蛍光体の接着を助けるための接着層
、あるいは輝尽励起光および/または11I尽発光の反
射層あるいは吸収層を設けてもよい。 第1図(b)に、本発明のパネルの別の一例を厚み方向
の断面図として示す。なお、第1図(a)及び第1図(
I))において同記号は機能的に互いに同義である。 第1図(b)においては、多孔性クロム層】2に形成さ
れる亀裂(12ij)は支持体11の表W1まで達して
おり、前記亀裂(12ij)を充填して形成されたaI
腺50000−50000個/ c to 2種度の密
度で存在することが好ましい。また細線網15の高さ1
1と多孔性クロム層12の厚さしとは11≧しなる関係
にあることが好ましい。 前述のようにして得た輝尽性蛍光体の微細柱状ブロック
は特願昭59−266912号〜266916号に記載
されている方法c得たものよりその径が微細な柱状のブ
ロックとなる。 前記した光学的に互いに独立な微細柱状ブロック構造を
有する輝尽性蛍光体層に輝尽励起光が入射すると該励起
光は微細柱状ブロック構造の光誘導効果により柱状ブロ
ック内面で反射を繰り返しながら柱状ブロック外に散逸
することなく柱状ブロックの底まで到着する。従って輝
尽発光による画像の鮮鋭性を者しく増大することができ
る。 本発明のパネルの輝尽性蛍光体層3の厚みはパネルの放
射線に対する感度、輝尽性蛍光体の種類等によって異な
るが10〜800μ「nの範囲であることが好ましく、
50〜500μInの範囲であることが更に好ましい。 本発明の放射線画像変換パネルにおいて111I尽性蛍
光体とは、最初の光もしくは高エネルギー放射線が照射
された後に、光的、熱的、PIi械的、光学的または電
気的等の刺f11(v$尽励起)により、最初の光もし
くは高エネルギーの放射線の照射量に対応した輝尽発光
を示す蛍光体を言うが、実用的な面から好ましくは50
0nm以上の輝尽励起光によって輝尽発光を示す蛍光体
である。本発明の放射線画像変換パネルに用いられるI
TI尽性蛍光体としては、例えば特開昭48−8048
7号に記載されているB aS O4:A X(但しA
はDy+Tb及ゾTIfiのうち少なくとも1種であり
、Xはo、ooi≦x<1モル96である。)で表され
る蛍光体、特開昭48−80488号記載のMH8O,
:Ax(但しAはト(o或いはDyのうちいずれかであ
り、0.001≦X≦1モル%である)で表される蛍光
体、特開昭48−80489号に記載されているS r
S O<:1. x(但しAはDy+Tb及びTmのう
ち少なくとも1種でありとは0.001≦x<1モル%
ある。)で表わされている蛍光体、特開昭51−298
89号に記載されているN a2S O4,Ca S
O、及びBaSO4等にMn、Dy及びTbのうち少な
くともIMを添加した蛍光体、特開昭52−30487
号に記載されているB e O+ L + F + M
g S O4及びCaF2等の蛍光体、特開昭53−
39277号に記載されているL i 2 B 40
? ’、 Cu e A g等の蛍光体、特開昭54−
47883号に記載されているL i20 ・(B 2
02)X:Cu(但しxl、t2<xS3)、及tp
L i20− (B 202)X:Cu、Ag(但しX
は2<xS3)等の蛍光体、米国特許3゜859.52
7号に記fi3#tてぃ7+srs:CetSI[I、
SrS :E u、S +n、 L 11202S
:E u、S m及び(Zn、Cd)S:Mn、X(但
しXはハロゲン)で表わされる蛍光体が挙げられる。ま
た、特開昭55−12142号に記載されているZnS
:Cu、Pb蛍光体、一般式がBaO・XA 120
):E 11(但し0.8≦X≦10)で表わされるア
ルミン酸バリワム蛍光体、及び一般式がMIIo−xS
io □:A (但しM”はM g + Ca r
S r r Z n r Cd又はBaでありAはCe
、Tb、Eu、Tu、Pb、T I、B i及びMi]
のうち少なくとも1種であり、×は0.5≦X≦2.5
である。)で表わされるアルカリ土類金R珪酸塩M
’ili’ fk めC巣 げ ム 引 入
十 す・ −轟ル ;卜 講1(Ba
MF3 Ca )FX:eEu”l
X Y X y(但し
XはB「及びCIの中の少なくとも1つであり、XvY
及びeはそれぞれO<x+y≦0.6、×y≠O及び1
0−6≦C≦5X10−2なる条件を満たす数である。 )で表される蛍光体が挙げられる。また、一般式が L no X :xA (但しL nはLn、Y、Gd及びL uの少なくとも
1つを、XはCI及び/又はBrを、AはCe及び/又
はT I+を、Xは0〈に〈0.1を満足する数を表す
。)で表される蛍光体、特開昭55−1.2145号に
記載されている一般式が (B a M ”x)F X :yA重−X (但しM″′は、Mg+Ca、Sr、Zn及びCdyう
ち。 少なくとも1つを、X1iCI、Br及び工のうち少な
くとも1つを、AはE u r T b + Ce r
T m + D y r P r +11 o、 N
d、 Y b及びE「のうちの少なくとも1つを、X
及びyはO≦に≦0.6及び0≦y≦0.2なる条件を
満たす数を表す。)で表される蛍光体、特開昭55−8
4389号に記載されている一般式がB aF X :
xCe。 yA(但し、XはCI、Br及(/Iのうちの少なくと
も1つ、AはI n、T I、G d、S 1fi及び
Zrのうちの少なくとも1つであり、X及びyはそれぞ
れO<x≦2X10−’及びo<y≦5X10−”であ
る。)で表される蛍光体、特開昭55−1600’78
号に記載されている一般式が MπF X +xA :yL n (但しM!IはMg+Ca+I3a、Sr、Zn及びC
dのうちの少なくとも1種、AはBeO、MgO+Ca
O。 Sr○、BaO,Z n O、A I 203 、Y
203 、L a 20 s 。 I n20 Its IO2,TiO2,ZrO2,G
eO2HS n O2+N b20 s、T n20
s及びTI+02のうちの少なくとも1種、L nはE
u+Tl)、Ce+Tm+Dy+Pr+Ho+NcLY
l】、Er、S+n及びGclのうちの少なくとも1種
であり、XはCI、Br及び■のうちの少なくとも1種
であり、X及びyはそれぞれ5X10−5≦×≦0.5
及び(’)<y≦0.2なる条件を満たす数である。)
で表される希土類元素付活2価金属フルオロノ1ライド
蛍光体、一般式がZnS :A、 (Zn、Cd)S
:A、 CdS:A、ZnS:A、X及びCdS:A、
X(但しAはCu r A gHA u H又はM n
であり、Xはハロゲンである。)で表される蛍光体、特
開昭57−148285号に記載されている一般式(r
)又は[I[)、一般式(1) xM、(PO,)
2・NX2:l’A一般式(II ) M3(P
O,)2・yA(式中、M及びNはそれぞれM g +
Ca t S r + B a tZ n及びCdの
うち少なくとも1!!!l、XはF 、CI。 Br+及び■のうち少なくとも1種、AはEu、Tb。 Ce+T+n+Dy+P r+Ho、Nd、Er+S
b、T !+Mn及びS nのうち少なくとも1種を表
す。また、X及びyは0<x≦6.0≦y≦1なる条件
を満たす数である。)で表される蛍光体、一般式(II
I)又は[IV)一般式CIff ] nReX
コ・+nA X ’ 2:xEu一般式(■) n
ReXコ・toAX’z:xEu+yS+n(式中、’
ReはLa、Gd、Y、Luのうち少なくとも1!!1
、Aはアルカリ土類金属、Ba、Sr、Caのうち少な
くとも1種、X及びX′はF、CI、Brのうち少なく
とも1種を表わす。また、X及びyは、1X IF’
< x< 3 X 10−’、 I Xl0−1’<y
< I Xl0−1なる条件を満たす数であり、n/+
aはI X 10−’ < n/、。< 7 Xl0−
1なる条件を満たす。)C′表される蛍光体、及び 一般式 %式%: (但し、M工はLi、Na、に、Rb、及びCsから選
ばれる少なくとも一種のアルカリ金属であり、M”はB
e + M g t Ca + S r t B a
+ Z n + Cd v Cu及びNiから選ばれ
る少なくとも一種の二価金属である。M“はS c、Y
、L n、Ce、P r、N d、P 111.S
FIlyE u、G d、T b。 Dy+Ho+Er、Tm+Yb、Lu、A I+Gat
及びI nから選ばれる少なくとも一種の二価金属であ
る。 x、x’及びX#はF、CI、Br及び■から選ばれる
少なくとも一種のハロゲンである。Alj:Eu。 TbtCe、T+n+Dy、Pr、Ho+Nd、YIg
Er、Gd、LutS ll1e Y v T l r
N a t A Fl + Cu及びMgから選ばれ
る少なくとも一種の金属である。 また8は0≦a<0.5範囲の数値であり、1〕は0≦
b<0.5の範囲の数値であり、CはO<c≦0.2の
範蛍光体等が挙げられる。特にアルカリハライド蛍光体
は真空蒸着、スパッタ等の方法でR尽性蛍光体屑を形成
させやすく好ましい。 しかし、本発明の放射線画像変換パネルに用いられる輝
尽性蛍光体は、前述の蛍光体に限られるものではなく、
放射線を照射した後輝尽励起光を照射した場合に輝尽発
光を示す蛍光体であればいかなる蛍光体であってもよい
。 本発明の放射線画像変換パネルは前記の輝尽性蛍光体の
少なくとも一種類を含む一つ若しくは二つ以上の輝尽性
蛍光体層から成る輝尽性蛍光体層群を有してもよい。ま
た、それぞれの輝尽性蛍光体層に含まれる輝尽性蛍光体
は同一であってもよいが異なっていてもよい。 本発明の放射線画像変換パネルにおいて、金属支持体と
してはアルミニウム、銅、鉄及びそれらの合金が用いら
れる。尚、クロムメッキを行なうにはアルミニウムが都
合がよい。支持体の層厚は一般的には500μW〜5I
であり、取り扱い上の点#−L t a I−1
′+ 67 中 ] イ I千1 1nch −9
+nm F Jk 7.−支持体の多孔性クロム層
は、たとえばアルミニツム支持体表面あるいはアルミニ
ウム支持体上に、下地メッキを施した面にクロムをメン
キした後、多孔性処理を行なうことにより形成される。 下地メッキ層はクロムメッキ層のTi着性をよくするた
めに設けられ、たとえば支持体上に亜鉛、胴、ニッケル
の順に各層を約0.5μm程度メッキしてもよいし、あ
るいは亜鉛、ニッケルの順に各層を約0.5μIn程度
メッキするが、または鍔、ニッケルの順に各層を約0.
5μI11程度メッキしてもよい。 クロムメッキ浴としてはクロム酸−硫酸浴またはクロム
酸−ケイ7ン化ナトリウム−硫酸浴などが用いられる。 クロム酸−硫酸浴の場合には、Cro3tA度200−
300g/ l 、 H2S O,8度2.0−3.0
FI/9、メッキ温度45〜60℃、電流密度10〜7
0A/dIII2とするのが好ましい。クロム酸−ケイ
フ/化ナトリウム−硫酸浴の場合には、Cry、濃度2
00−300g/ Q 、 N a2s iF 6tn
度5−10g/ Q SH2SO1濃度O,]−1,5
g/Q 、l ツキ温度50−60″c電流密度30℃
60A/d1112とするのが好ましい。クロムメッキ
厚は5〜300μm程度が好ましい。 クロムメッキ層は、電析過程において発生する電着応力
によって自然発生的に網状の多数のマイフロラ・7りを
生じることが知られでいる。このマイクロランクを溶解
拡大することにより、本発明に関わる多孔性クロム層が
形成される。 この多孔性処理法としては機械的加工法、化学的エツチ
ング法、電解エツチング性及び加熱加工法等が上げられ
る。 機械的加工法はサンドブラスト、シシットビーニング、
ローレット等によるものである。 化学的エツチング法は鉱酸またはそれらの混酸を用いて
行なわれ、f(解エツチング法はaquaCr○、を主
成分に83PO,、(CO’0)T)2、クエン酸すU
)ラム、H2SO,等を添加剤とした浴中で電解され
る。以上の方法により形成された多孔性クロム層は、輝
尽性蛍光体層を形成する前に加熱処理を施してもよい。 更に前記加熱加工法はクロムメンキ層上に輝尽性蛍光体
層を設けた後に加熱してマイクロクラックを成長させる
方法である。 クロムメッキ層にはメッキ時に発生する水素がスが吸着
されており、これを加熱することにより水素ガスが膨張
してマイクロクラックが拡大し、同時にクロム層上の輝
尽性蛍光体層にも亀裂を生じる。加熱処理は真空中ある
いは大気中で行ない、温度は350℃以上とするのが好
ましい。また、加熱処理を施した後、さらに10〜20
μI11厚の輝尽性蛍光体層を堆積させてもよい。 前記機械的加工法、化学的エツチング法、電解エツチン
グ法及び加熱加工法の内エツチング法及び加熱加工法が
好ましく、加熱加工法が最も好ましい。 多孔性クロム層に加えて、その亀裂を充填して形成され
た細線網を設ける場合、すなわち第1図(b)に示すご
とき構造のパネルを製造する場合には、たとえば以下に
述べる方法を用いる。 支持体としては、前述した支持体と同様のものを使用し
く下地メッキに関しても同様)、前述したロムメッキ層
の厚さは5〜50μW程度とするの力!好ましい。次に
前述した化学的エツチング法あるいは電解エツチング法
を用いて多孔性処理を行ない、クロムメッキ層のマイク
ロクラックを支持体表面が裸出する深さまで成長させて
多孔性クロム層を作成する。 前記細fa網の素材としては輝尽性蛍光体と結晶条件の
異なる、第3上び/または熱膨張など物性の異なるもの
が好ましく、実用的には金属であることが好ましい。前
記多孔性クロム層を上部に有する支持体をN a OI
(により処理して、多孔性クロム層の亀裂表面に被着し
ている酸化アルミニウムを除去した後、金属メッキたと
えばニッケルメンキを施すと、ニッケルの電着は前記亀
裂部分に優先的に行なわれて、ニッケルからなる細線t
4が形成される。この際多孔性クロム層上に輝尽性蛍光
体を微細柱状ブロックとして都合よく堆積させるには前
記細R網の高さが前記多孔性クロム層の厚さと等しいが
、より大きい方が好ましい。 般的に前記輝尽性蛍光体層が露呈する面に、11[尽性
蛍光体層群を物理的にあるν1は化学的に保護するため
の保護層を設けることが好ましく1゜この保護層は、保
ig!層用塗布液を輝尽性蛍光体層上に直接塗布して形
成してもよいし、あるいはあらかじめ別途形成した保護
層を輝尽性蛍光体層上に接着してもよい。保護層の材料
としては酢酸セルロース、ニトロセルロース、ポリメチ
ルメタクリレート。 ポリビニルブチラール、ポリビニルホルマール、ポリカ
ーボネート、ポリエステル、ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリエチレン、ポリプロピレン1.ポリ塩化ビニリ
デン、ナイロン、ポリ四7)化エチレン、ポリ三7ツ化
−塩化エチレン、四7ツ化エチレンー六7ツ化プロピレ
ン共重合体、塩化ビニリデン−塩化ビニル共重合体、塩
化ビニリデン−7クリロニトリル共重合体等の保v1層
用材料が用いられる。 また、この保護層は真空蒸着法、スパッタ法等により、
S iC=S io 2.S iN 、A I□03な
どの無機物質を積層して形成してもよい。 次に前記輝尽性蛍光体層の気相堆積法につν1て説明す
る。 f51の方法として真空蒸着法がある。該方法に於いて
は、まず支持体を蒸着装置内に設置した後装置内を排気
して10−’Torr程度の真空度とする。 次いで、支持体加熱用ヒーターにより300〜500℃
に加熱して支持体表面を清浄にした後、支持体を100
℃に設定し、そしてアルゴンガスなどを導入して真空度
を5 X 1O−6Torr程度にした後、輝尽性蛍光
体たとえばタリウムを付活剤とした臭化ルビノウム蛍光
体を!厚が約250μIOになるまで蒸着する。 この結果結着剤を含有しない輝尽性蛍光体層が形成され
るが、前記蒸着工程では複数の抵抗加熱器あるいはエレ
クトロンビームを用いて共蒸着を行うことも可能である
。 蒸着終了後、必要に応じて前記輝尽性蛍光体層の支持体
側とは反対の側に好ましくは保護層を設は本発明の放射
線画像変換パネルが製造される。 尚、保1!層上に輝尽性蛍光体層を形成した後、支持体
を設ける手順をとってもよい。 また、前記真空蒸着法においては、輝尽性蛍光体原料を
複数の抵抗加熱器あるいはエレクトロンビームを用いて
共蒸着し、支持体上で目的とする輝尽性蛍光体を合成す
ると同時に輝尽性蛍光体層を形成することも可能である
。 さらに前記真空蒸着法においては、蒸着時必要に応じて
被蒸着物(支持体あるいは保護層)を冷却あるいは加熱
してもよい。 第2の方法としてスパッタ法がある。該方法においては
、蒸着法と同様に支持体をスパッタ装置内に設置した後
装置内を一旦排気して10””Torr程度の真空度と
し、次いでスパッタ用のガスとしてAr、He等の不活
性ガスをスパッタ装置内に導入して10−、’Torr
程度のガス圧とする。 この層12上に例えばタリウムを付活剤とした臭化ルビ
ジウムをターデッドとしてスパッタリングすることによ
り微細柱状ブロック構造の輝尽性蛍光体を所望の厚さに
堆積させる。 前記スバツタ工程では真空蒸着法と同様に複数回に分け
て輝尽性蛍光体層を形成することも可能であるし、また
それぞれ異なった輝尽性蛍光体からなる複数のターデッ
ドを用いて、同時あるいは順次、前記ターデッドをスパ
ッタリングして輝尽性蛍光体層を形成することも可能で
ある。 スパッタ終了後、真空蒸着法と同様に必要に応じて前記
輝尽性蛍光体層の支持体側とは反対の側に好ましくは保
護層を設は本発明の放射線画像変換パネルが′al遺さ
れる。尚、保護層上に輝尽性蛍光体層を形成した後、支
持体を設ける手順をとってもよい。 前記スパッタ法においては、複数の輝尽性蛍光体原料を
ターデッドして用いこれを同時あるいは順次スパッタリ
ングして、支持体上で目的とする輝尽性蛍光体を合成す
ると同時に輝尽性蛍光体層を形成することも可能である
。また、前記スパッタ法においては、必要に応じて02
.H2等のガスを導入して反応性スパッタを行ってもよ
い。 さらに前記スパッタ法においては、スパッタ時必要に応
じて被蒸着物(支持体あるいは保護層)を冷却あるいは
加熱してもよい。 その他の方法としてCVD法がある。該方法は目的とす
る輝尽性蛍光体あるいは輝尽性蛍光体原料を含有する有
機金属化合物を熱、高周波電力等のエネルギーで分解す
ることにより、支持体上に結着剤を含有しないX1ll
尽性蛍光体層を得る。 第3図(a)は気相堆積法によってえられた本発明の放
射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体層及び該層厚に対応
する輝尽性蛍光体原料量と放射線感度の関係の一例を表
している。 本発明に係る気相堆積法によるQl尽性蛍光体層は結着
剤を含んでいないので輝尽性蛍光体の附着量(充填室)
が従来の輝尽性蛍光体を塗設した輝尽性蛍光体層の約2
倍あり、輝尽性蛍光体層単位厚さ当たりの放射線吸収率
が向上し放射線に対して高感度となるばかりか、画像の
粒状性が向上する。 更に前記気相堆積法による輝尽性蛍光体層は透明性に優
れており、輝尽励起光及び輝尽発光の透過性が高く、従
来の塗膜性による輝尽性蛍光体層よりN厚を厚くするこ
とが可能であり、放射線に対して一層高感度となる。 前記のようにして得られた微細柱状ブロック構造の輝尽
性蛍光体層を有する本発明のパネル鮮鋭性の一例を第3
図(I))の31に於いて特性面KQ31によって示す
。 本発明のパネルは特願昭59−266912号〜26[
3916号に記載されている微細柱状ブロック構造より
その構造が微細であって、光誘導効果により、llI尽
励起光が柱状ブロック内面で反射を繰り返し、柱状ブロ
ック外に散逸することが少ないので、例えば特願昭59
−266914号に指名されるタイル状補遺を引き継い
だもの特性を示す第3図(1))の32と比較すると明
らかなように、画像の鮮鋭性が向上すると共に輝尽性蛍
光体の層厚の増大にともなう鮮鋭性をより向上すること
が可能である。 また輝尽性蛍光体粒子を結着剤に分散塗布して得られる
従来のパネルの特性を第3図の33に示す。 これより明らかに画像の鮮鋭性が優れていることがわか
る。 本発明の放射線画像変換パネルは第4図に概略的に示さ
れる放射#X1iI像変換方法に用いられた場合、優れ
た鮮鋭性粒状性及び感度を与える。すなわち、第4図に
おいて、41は放射線発生装置、42は被写体、43は
本発明の放射線画像変換パネル、44は輝尽励起光源、
45は該放射線画像変換パネルより放射された輝尽発光
を検出する光電変換装置、4Gは45で検出された信号
を画像として再生する装置47は再生された画像を表示
する装置、48は輝尽励起光と輝尽発光とを分離し、輝
尽発光のみを透過させるフィルターである。尚45以降
は43がらの光情報を何らかの形で画像として再生でき
るものであればよく、上記に限定されるものではない。 第4図に示されるように放射線吸収率ji!41からの
放射線は被写体42を通して本発明の放射線画像変換放
射線画像変換パネル43に入射する。この入射した放射
線はパネル43の輝尽性蛍光体層に吸収され、そのエネ
ルギーが蓄積され放射線透過像のW積像が形成される。 次にこの蓄積像を輝尽励起光源44からの輝尽励起光で
励起して輝尽発光として放出せしめる。本発明の放射線
画像変換パネル43は、jIll尽性蛍光性蛍光体層柱
状ブロックvItを有しているため、上記輝尽励起光に
よる走査の際に、輝尽励起光が輝尽性蛍光体層中で拡散
するのが抑制される。 放射される輝尽発光の強弱は蓄積された放射線エネルギ
ー量に比例するので、この光信号を例えば光電子増倍管
等の光電変換装置45で光電変換し、画像再生装置46
によって画像として再生し画像表示装置47によって表
示することにより、被写体の放射線透過像を観察するこ
とができる。
変換パネルに関連し、これをさらに改良するものであり
、本発明の目的は放射線に対する感度が向上すると共に
鮮鋭性の高い画像を与える放射線画像変換パネルを提供
することにある。 本発明の他の目的は、粒状性が向上すると共に、鮮鋭性
の高い画像を与える放射線画像変換パネルを提供するこ
とにある。 【発明の構成】 前記した本発明の目的は、−1!、属支持体上に多孔性
クロム層を有し、該多孔性クロム層の北に少なくとも一
層の輝尽性蛍光体層を有することをfi−徴とする放射
線画像変換パネルによって達成される。 次に本発明を具体的に説明する。 第1図(a)は本発明の放射線画像変換パネル(以後意
味明晰な場合には単にパネルと略称することがある)の
厚み方向の断面図である。 同図に叢いて10は本発明のパネルの形態を示す。 11はアルミニウムからなる支持体であり、12は支持
体11の表面を被覆する多孔性クロム層である。 多孔性クロム層とは、一般にめっき技術の分野において
、ポーラスクロムと称されるもので、表面に多数の微細
な亀裂を有するクロムの薄層であり、かつその亀裂は開
口部が狭く底部の広い袋状の空孔を呈していることが多
い。本発明のパネルにおいて、多孔性クロム層12に形
成される亀裂(12ij)は5000〜50000個/
Cm”程度の密度で存在することが好ましい。また亀
裂の深さdは多孔性クロム層の厚さしに対して5〜70
%程度が好ましく、多孔性クロム112の空孔率は10
〜45%程度となるのが好ましい。 第2図に前記多孔性クロム層の表面のW徽鏡写真を示す
。 このような多孔性クロム層表面には第1図に示すように
、輝尽性蛍光体の微細柱状ブロック13ijを気相堆積
法により形成することができる。(13i柱状ブロツク
13ijの平均的径は1〜400μmが好ましく、また
間隙(13ij)は前記微細柱状ブロック13ijが互
いに独立していればいかなる間隔でもよいが、平均的に
はO〜2011I11が好ましい。前記13ij及び(
13ij)によって本発明に関わる1¥I尽性微性蛍光
13が形成される輝尽性蛍光体[13の表面には保護層
14が設けられることが好ましい。 また、前記多孔性クロム層と前記輝尽性蛍光体層との間
に必要に応じ輝尽性蛍光体の接着を助けるための接着層
、あるいは輝尽励起光および/または11I尽発光の反
射層あるいは吸収層を設けてもよい。 第1図(b)に、本発明のパネルの別の一例を厚み方向
の断面図として示す。なお、第1図(a)及び第1図(
I))において同記号は機能的に互いに同義である。 第1図(b)においては、多孔性クロム層】2に形成さ
れる亀裂(12ij)は支持体11の表W1まで達して
おり、前記亀裂(12ij)を充填して形成されたaI
腺50000−50000個/ c to 2種度の密
度で存在することが好ましい。また細線網15の高さ1
1と多孔性クロム層12の厚さしとは11≧しなる関係
にあることが好ましい。 前述のようにして得た輝尽性蛍光体の微細柱状ブロック
は特願昭59−266912号〜266916号に記載
されている方法c得たものよりその径が微細な柱状のブ
ロックとなる。 前記した光学的に互いに独立な微細柱状ブロック構造を
有する輝尽性蛍光体層に輝尽励起光が入射すると該励起
光は微細柱状ブロック構造の光誘導効果により柱状ブロ
ック内面で反射を繰り返しながら柱状ブロック外に散逸
することなく柱状ブロックの底まで到着する。従って輝
尽発光による画像の鮮鋭性を者しく増大することができ
る。 本発明のパネルの輝尽性蛍光体層3の厚みはパネルの放
射線に対する感度、輝尽性蛍光体の種類等によって異な
るが10〜800μ「nの範囲であることが好ましく、
50〜500μInの範囲であることが更に好ましい。 本発明の放射線画像変換パネルにおいて111I尽性蛍
光体とは、最初の光もしくは高エネルギー放射線が照射
された後に、光的、熱的、PIi械的、光学的または電
気的等の刺f11(v$尽励起)により、最初の光もし
くは高エネルギーの放射線の照射量に対応した輝尽発光
を示す蛍光体を言うが、実用的な面から好ましくは50
0nm以上の輝尽励起光によって輝尽発光を示す蛍光体
である。本発明の放射線画像変換パネルに用いられるI
TI尽性蛍光体としては、例えば特開昭48−8048
7号に記載されているB aS O4:A X(但しA
はDy+Tb及ゾTIfiのうち少なくとも1種であり
、Xはo、ooi≦x<1モル96である。)で表され
る蛍光体、特開昭48−80488号記載のMH8O,
:Ax(但しAはト(o或いはDyのうちいずれかであ
り、0.001≦X≦1モル%である)で表される蛍光
体、特開昭48−80489号に記載されているS r
S O<:1. x(但しAはDy+Tb及びTmのう
ち少なくとも1種でありとは0.001≦x<1モル%
ある。)で表わされている蛍光体、特開昭51−298
89号に記載されているN a2S O4,Ca S
O、及びBaSO4等にMn、Dy及びTbのうち少な
くともIMを添加した蛍光体、特開昭52−30487
号に記載されているB e O+ L + F + M
g S O4及びCaF2等の蛍光体、特開昭53−
39277号に記載されているL i 2 B 40
? ’、 Cu e A g等の蛍光体、特開昭54−
47883号に記載されているL i20 ・(B 2
02)X:Cu(但しxl、t2<xS3)、及tp
L i20− (B 202)X:Cu、Ag(但しX
は2<xS3)等の蛍光体、米国特許3゜859.52
7号に記fi3#tてぃ7+srs:CetSI[I、
SrS :E u、S +n、 L 11202S
:E u、S m及び(Zn、Cd)S:Mn、X(但
しXはハロゲン)で表わされる蛍光体が挙げられる。ま
た、特開昭55−12142号に記載されているZnS
:Cu、Pb蛍光体、一般式がBaO・XA 120
):E 11(但し0.8≦X≦10)で表わされるア
ルミン酸バリワム蛍光体、及び一般式がMIIo−xS
io □:A (但しM”はM g + Ca r
S r r Z n r Cd又はBaでありAはCe
、Tb、Eu、Tu、Pb、T I、B i及びMi]
のうち少なくとも1種であり、×は0.5≦X≦2.5
である。)で表わされるアルカリ土類金R珪酸塩M
’ili’ fk めC巣 げ ム 引 入
十 す・ −轟ル ;卜 講1(Ba
MF3 Ca )FX:eEu”l
X Y X y(但し
XはB「及びCIの中の少なくとも1つであり、XvY
及びeはそれぞれO<x+y≦0.6、×y≠O及び1
0−6≦C≦5X10−2なる条件を満たす数である。 )で表される蛍光体が挙げられる。また、一般式が L no X :xA (但しL nはLn、Y、Gd及びL uの少なくとも
1つを、XはCI及び/又はBrを、AはCe及び/又
はT I+を、Xは0〈に〈0.1を満足する数を表す
。)で表される蛍光体、特開昭55−1.2145号に
記載されている一般式が (B a M ”x)F X :yA重−X (但しM″′は、Mg+Ca、Sr、Zn及びCdyう
ち。 少なくとも1つを、X1iCI、Br及び工のうち少な
くとも1つを、AはE u r T b + Ce r
T m + D y r P r +11 o、 N
d、 Y b及びE「のうちの少なくとも1つを、X
及びyはO≦に≦0.6及び0≦y≦0.2なる条件を
満たす数を表す。)で表される蛍光体、特開昭55−8
4389号に記載されている一般式がB aF X :
xCe。 yA(但し、XはCI、Br及(/Iのうちの少なくと
も1つ、AはI n、T I、G d、S 1fi及び
Zrのうちの少なくとも1つであり、X及びyはそれぞ
れO<x≦2X10−’及びo<y≦5X10−”であ
る。)で表される蛍光体、特開昭55−1600’78
号に記載されている一般式が MπF X +xA :yL n (但しM!IはMg+Ca+I3a、Sr、Zn及びC
dのうちの少なくとも1種、AはBeO、MgO+Ca
O。 Sr○、BaO,Z n O、A I 203 、Y
203 、L a 20 s 。 I n20 Its IO2,TiO2,ZrO2,G
eO2HS n O2+N b20 s、T n20
s及びTI+02のうちの少なくとも1種、L nはE
u+Tl)、Ce+Tm+Dy+Pr+Ho+NcLY
l】、Er、S+n及びGclのうちの少なくとも1種
であり、XはCI、Br及び■のうちの少なくとも1種
であり、X及びyはそれぞれ5X10−5≦×≦0.5
及び(’)<y≦0.2なる条件を満たす数である。)
で表される希土類元素付活2価金属フルオロノ1ライド
蛍光体、一般式がZnS :A、 (Zn、Cd)S
:A、 CdS:A、ZnS:A、X及びCdS:A、
X(但しAはCu r A gHA u H又はM n
であり、Xはハロゲンである。)で表される蛍光体、特
開昭57−148285号に記載されている一般式(r
)又は[I[)、一般式(1) xM、(PO,)
2・NX2:l’A一般式(II ) M3(P
O,)2・yA(式中、M及びNはそれぞれM g +
Ca t S r + B a tZ n及びCdの
うち少なくとも1!!!l、XはF 、CI。 Br+及び■のうち少なくとも1種、AはEu、Tb。 Ce+T+n+Dy+P r+Ho、Nd、Er+S
b、T !+Mn及びS nのうち少なくとも1種を表
す。また、X及びyは0<x≦6.0≦y≦1なる条件
を満たす数である。)で表される蛍光体、一般式(II
I)又は[IV)一般式CIff ] nReX
コ・+nA X ’ 2:xEu一般式(■) n
ReXコ・toAX’z:xEu+yS+n(式中、’
ReはLa、Gd、Y、Luのうち少なくとも1!!1
、Aはアルカリ土類金属、Ba、Sr、Caのうち少な
くとも1種、X及びX′はF、CI、Brのうち少なく
とも1種を表わす。また、X及びyは、1X IF’
< x< 3 X 10−’、 I Xl0−1’<y
< I Xl0−1なる条件を満たす数であり、n/+
aはI X 10−’ < n/、。< 7 Xl0−
1なる条件を満たす。)C′表される蛍光体、及び 一般式 %式%: (但し、M工はLi、Na、に、Rb、及びCsから選
ばれる少なくとも一種のアルカリ金属であり、M”はB
e + M g t Ca + S r t B a
+ Z n + Cd v Cu及びNiから選ばれ
る少なくとも一種の二価金属である。M“はS c、Y
、L n、Ce、P r、N d、P 111.S
FIlyE u、G d、T b。 Dy+Ho+Er、Tm+Yb、Lu、A I+Gat
及びI nから選ばれる少なくとも一種の二価金属であ
る。 x、x’及びX#はF、CI、Br及び■から選ばれる
少なくとも一種のハロゲンである。Alj:Eu。 TbtCe、T+n+Dy、Pr、Ho+Nd、YIg
Er、Gd、LutS ll1e Y v T l r
N a t A Fl + Cu及びMgから選ばれ
る少なくとも一種の金属である。 また8は0≦a<0.5範囲の数値であり、1〕は0≦
b<0.5の範囲の数値であり、CはO<c≦0.2の
範蛍光体等が挙げられる。特にアルカリハライド蛍光体
は真空蒸着、スパッタ等の方法でR尽性蛍光体屑を形成
させやすく好ましい。 しかし、本発明の放射線画像変換パネルに用いられる輝
尽性蛍光体は、前述の蛍光体に限られるものではなく、
放射線を照射した後輝尽励起光を照射した場合に輝尽発
光を示す蛍光体であればいかなる蛍光体であってもよい
。 本発明の放射線画像変換パネルは前記の輝尽性蛍光体の
少なくとも一種類を含む一つ若しくは二つ以上の輝尽性
蛍光体層から成る輝尽性蛍光体層群を有してもよい。ま
た、それぞれの輝尽性蛍光体層に含まれる輝尽性蛍光体
は同一であってもよいが異なっていてもよい。 本発明の放射線画像変換パネルにおいて、金属支持体と
してはアルミニウム、銅、鉄及びそれらの合金が用いら
れる。尚、クロムメッキを行なうにはアルミニウムが都
合がよい。支持体の層厚は一般的には500μW〜5I
であり、取り扱い上の点#−L t a I−1
′+ 67 中 ] イ I千1 1nch −9
+nm F Jk 7.−支持体の多孔性クロム層
は、たとえばアルミニツム支持体表面あるいはアルミニ
ウム支持体上に、下地メッキを施した面にクロムをメン
キした後、多孔性処理を行なうことにより形成される。 下地メッキ層はクロムメッキ層のTi着性をよくするた
めに設けられ、たとえば支持体上に亜鉛、胴、ニッケル
の順に各層を約0.5μm程度メッキしてもよいし、あ
るいは亜鉛、ニッケルの順に各層を約0.5μIn程度
メッキするが、または鍔、ニッケルの順に各層を約0.
5μI11程度メッキしてもよい。 クロムメッキ浴としてはクロム酸−硫酸浴またはクロム
酸−ケイ7ン化ナトリウム−硫酸浴などが用いられる。 クロム酸−硫酸浴の場合には、Cro3tA度200−
300g/ l 、 H2S O,8度2.0−3.0
FI/9、メッキ温度45〜60℃、電流密度10〜7
0A/dIII2とするのが好ましい。クロム酸−ケイ
フ/化ナトリウム−硫酸浴の場合には、Cry、濃度2
00−300g/ Q 、 N a2s iF 6tn
度5−10g/ Q SH2SO1濃度O,]−1,5
g/Q 、l ツキ温度50−60″c電流密度30℃
60A/d1112とするのが好ましい。クロムメッキ
厚は5〜300μm程度が好ましい。 クロムメッキ層は、電析過程において発生する電着応力
によって自然発生的に網状の多数のマイフロラ・7りを
生じることが知られでいる。このマイクロランクを溶解
拡大することにより、本発明に関わる多孔性クロム層が
形成される。 この多孔性処理法としては機械的加工法、化学的エツチ
ング法、電解エツチング性及び加熱加工法等が上げられ
る。 機械的加工法はサンドブラスト、シシットビーニング、
ローレット等によるものである。 化学的エツチング法は鉱酸またはそれらの混酸を用いて
行なわれ、f(解エツチング法はaquaCr○、を主
成分に83PO,、(CO’0)T)2、クエン酸すU
)ラム、H2SO,等を添加剤とした浴中で電解され
る。以上の方法により形成された多孔性クロム層は、輝
尽性蛍光体層を形成する前に加熱処理を施してもよい。 更に前記加熱加工法はクロムメンキ層上に輝尽性蛍光体
層を設けた後に加熱してマイクロクラックを成長させる
方法である。 クロムメッキ層にはメッキ時に発生する水素がスが吸着
されており、これを加熱することにより水素ガスが膨張
してマイクロクラックが拡大し、同時にクロム層上の輝
尽性蛍光体層にも亀裂を生じる。加熱処理は真空中ある
いは大気中で行ない、温度は350℃以上とするのが好
ましい。また、加熱処理を施した後、さらに10〜20
μI11厚の輝尽性蛍光体層を堆積させてもよい。 前記機械的加工法、化学的エツチング法、電解エツチン
グ法及び加熱加工法の内エツチング法及び加熱加工法が
好ましく、加熱加工法が最も好ましい。 多孔性クロム層に加えて、その亀裂を充填して形成され
た細線網を設ける場合、すなわち第1図(b)に示すご
とき構造のパネルを製造する場合には、たとえば以下に
述べる方法を用いる。 支持体としては、前述した支持体と同様のものを使用し
く下地メッキに関しても同様)、前述したロムメッキ層
の厚さは5〜50μW程度とするの力!好ましい。次に
前述した化学的エツチング法あるいは電解エツチング法
を用いて多孔性処理を行ない、クロムメッキ層のマイク
ロクラックを支持体表面が裸出する深さまで成長させて
多孔性クロム層を作成する。 前記細fa網の素材としては輝尽性蛍光体と結晶条件の
異なる、第3上び/または熱膨張など物性の異なるもの
が好ましく、実用的には金属であることが好ましい。前
記多孔性クロム層を上部に有する支持体をN a OI
(により処理して、多孔性クロム層の亀裂表面に被着し
ている酸化アルミニウムを除去した後、金属メッキたと
えばニッケルメンキを施すと、ニッケルの電着は前記亀
裂部分に優先的に行なわれて、ニッケルからなる細線t
4が形成される。この際多孔性クロム層上に輝尽性蛍光
体を微細柱状ブロックとして都合よく堆積させるには前
記細R網の高さが前記多孔性クロム層の厚さと等しいが
、より大きい方が好ましい。 般的に前記輝尽性蛍光体層が露呈する面に、11[尽性
蛍光体層群を物理的にあるν1は化学的に保護するため
の保護層を設けることが好ましく1゜この保護層は、保
ig!層用塗布液を輝尽性蛍光体層上に直接塗布して形
成してもよいし、あるいはあらかじめ別途形成した保護
層を輝尽性蛍光体層上に接着してもよい。保護層の材料
としては酢酸セルロース、ニトロセルロース、ポリメチ
ルメタクリレート。 ポリビニルブチラール、ポリビニルホルマール、ポリカ
ーボネート、ポリエステル、ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリエチレン、ポリプロピレン1.ポリ塩化ビニリ
デン、ナイロン、ポリ四7)化エチレン、ポリ三7ツ化
−塩化エチレン、四7ツ化エチレンー六7ツ化プロピレ
ン共重合体、塩化ビニリデン−塩化ビニル共重合体、塩
化ビニリデン−7クリロニトリル共重合体等の保v1層
用材料が用いられる。 また、この保護層は真空蒸着法、スパッタ法等により、
S iC=S io 2.S iN 、A I□03な
どの無機物質を積層して形成してもよい。 次に前記輝尽性蛍光体層の気相堆積法につν1て説明す
る。 f51の方法として真空蒸着法がある。該方法に於いて
は、まず支持体を蒸着装置内に設置した後装置内を排気
して10−’Torr程度の真空度とする。 次いで、支持体加熱用ヒーターにより300〜500℃
に加熱して支持体表面を清浄にした後、支持体を100
℃に設定し、そしてアルゴンガスなどを導入して真空度
を5 X 1O−6Torr程度にした後、輝尽性蛍光
体たとえばタリウムを付活剤とした臭化ルビノウム蛍光
体を!厚が約250μIOになるまで蒸着する。 この結果結着剤を含有しない輝尽性蛍光体層が形成され
るが、前記蒸着工程では複数の抵抗加熱器あるいはエレ
クトロンビームを用いて共蒸着を行うことも可能である
。 蒸着終了後、必要に応じて前記輝尽性蛍光体層の支持体
側とは反対の側に好ましくは保護層を設は本発明の放射
線画像変換パネルが製造される。 尚、保1!層上に輝尽性蛍光体層を形成した後、支持体
を設ける手順をとってもよい。 また、前記真空蒸着法においては、輝尽性蛍光体原料を
複数の抵抗加熱器あるいはエレクトロンビームを用いて
共蒸着し、支持体上で目的とする輝尽性蛍光体を合成す
ると同時に輝尽性蛍光体層を形成することも可能である
。 さらに前記真空蒸着法においては、蒸着時必要に応じて
被蒸着物(支持体あるいは保護層)を冷却あるいは加熱
してもよい。 第2の方法としてスパッタ法がある。該方法においては
、蒸着法と同様に支持体をスパッタ装置内に設置した後
装置内を一旦排気して10””Torr程度の真空度と
し、次いでスパッタ用のガスとしてAr、He等の不活
性ガスをスパッタ装置内に導入して10−、’Torr
程度のガス圧とする。 この層12上に例えばタリウムを付活剤とした臭化ルビ
ジウムをターデッドとしてスパッタリングすることによ
り微細柱状ブロック構造の輝尽性蛍光体を所望の厚さに
堆積させる。 前記スバツタ工程では真空蒸着法と同様に複数回に分け
て輝尽性蛍光体層を形成することも可能であるし、また
それぞれ異なった輝尽性蛍光体からなる複数のターデッ
ドを用いて、同時あるいは順次、前記ターデッドをスパ
ッタリングして輝尽性蛍光体層を形成することも可能で
ある。 スパッタ終了後、真空蒸着法と同様に必要に応じて前記
輝尽性蛍光体層の支持体側とは反対の側に好ましくは保
護層を設は本発明の放射線画像変換パネルが′al遺さ
れる。尚、保護層上に輝尽性蛍光体層を形成した後、支
持体を設ける手順をとってもよい。 前記スパッタ法においては、複数の輝尽性蛍光体原料を
ターデッドして用いこれを同時あるいは順次スパッタリ
ングして、支持体上で目的とする輝尽性蛍光体を合成す
ると同時に輝尽性蛍光体層を形成することも可能である
。また、前記スパッタ法においては、必要に応じて02
.H2等のガスを導入して反応性スパッタを行ってもよ
い。 さらに前記スパッタ法においては、スパッタ時必要に応
じて被蒸着物(支持体あるいは保護層)を冷却あるいは
加熱してもよい。 その他の方法としてCVD法がある。該方法は目的とす
る輝尽性蛍光体あるいは輝尽性蛍光体原料を含有する有
機金属化合物を熱、高周波電力等のエネルギーで分解す
ることにより、支持体上に結着剤を含有しないX1ll
尽性蛍光体層を得る。 第3図(a)は気相堆積法によってえられた本発明の放
射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体層及び該層厚に対応
する輝尽性蛍光体原料量と放射線感度の関係の一例を表
している。 本発明に係る気相堆積法によるQl尽性蛍光体層は結着
剤を含んでいないので輝尽性蛍光体の附着量(充填室)
が従来の輝尽性蛍光体を塗設した輝尽性蛍光体層の約2
倍あり、輝尽性蛍光体層単位厚さ当たりの放射線吸収率
が向上し放射線に対して高感度となるばかりか、画像の
粒状性が向上する。 更に前記気相堆積法による輝尽性蛍光体層は透明性に優
れており、輝尽励起光及び輝尽発光の透過性が高く、従
来の塗膜性による輝尽性蛍光体層よりN厚を厚くするこ
とが可能であり、放射線に対して一層高感度となる。 前記のようにして得られた微細柱状ブロック構造の輝尽
性蛍光体層を有する本発明のパネル鮮鋭性の一例を第3
図(I))の31に於いて特性面KQ31によって示す
。 本発明のパネルは特願昭59−266912号〜26[
3916号に記載されている微細柱状ブロック構造より
その構造が微細であって、光誘導効果により、llI尽
励起光が柱状ブロック内面で反射を繰り返し、柱状ブロ
ック外に散逸することが少ないので、例えば特願昭59
−266914号に指名されるタイル状補遺を引き継い
だもの特性を示す第3図(1))の32と比較すると明
らかなように、画像の鮮鋭性が向上すると共に輝尽性蛍
光体の層厚の増大にともなう鮮鋭性をより向上すること
が可能である。 また輝尽性蛍光体粒子を結着剤に分散塗布して得られる
従来のパネルの特性を第3図の33に示す。 これより明らかに画像の鮮鋭性が優れていることがわか
る。 本発明の放射線画像変換パネルは第4図に概略的に示さ
れる放射#X1iI像変換方法に用いられた場合、優れ
た鮮鋭性粒状性及び感度を与える。すなわち、第4図に
おいて、41は放射線発生装置、42は被写体、43は
本発明の放射線画像変換パネル、44は輝尽励起光源、
45は該放射線画像変換パネルより放射された輝尽発光
を検出する光電変換装置、4Gは45で検出された信号
を画像として再生する装置47は再生された画像を表示
する装置、48は輝尽励起光と輝尽発光とを分離し、輝
尽発光のみを透過させるフィルターである。尚45以降
は43がらの光情報を何らかの形で画像として再生でき
るものであればよく、上記に限定されるものではない。 第4図に示されるように放射線吸収率ji!41からの
放射線は被写体42を通して本発明の放射線画像変換放
射線画像変換パネル43に入射する。この入射した放射
線はパネル43の輝尽性蛍光体層に吸収され、そのエネ
ルギーが蓄積され放射線透過像のW積像が形成される。 次にこの蓄積像を輝尽励起光源44からの輝尽励起光で
励起して輝尽発光として放出せしめる。本発明の放射線
画像変換パネル43は、jIll尽性蛍光性蛍光体層柱
状ブロックvItを有しているため、上記輝尽励起光に
よる走査の際に、輝尽励起光が輝尽性蛍光体層中で拡散
するのが抑制される。 放射される輝尽発光の強弱は蓄積された放射線エネルギ
ー量に比例するので、この光信号を例えば光電子増倍管
等の光電変換装置45で光電変換し、画像再生装置46
によって画像として再生し画像表示装置47によって表
示することにより、被写体の放射線透過像を観察するこ
とができる。
次に実施例によって本発明を説明する。
実施例1゜
支持体として1.5mm厚のアルミニウム板を用い、ア
ルミニウム板表面なバブ研磨したのち脱脂及び水洗を行
い、Cro 3250g/ Q % H2S O42,
5g/Ω、温度60℃、電流密度40A/da2のメッ
キ浴において約60μmの厚さにクロムをメッキした。 次にこれを水洗した後Cro 2250g/ Q 1H
2S O42゜5g/Q、温度60℃、電流密度50A
/d!n2の浴を用いて電解エツチングを行い、深さ7
0〜20μ鵡の亀裂を有する多孔性クロム層を作成した
。 その後、この多孔性クロム層を上部に有する支持体を水
洗、乾燥し、蒸着器中に設置した。次に抵抗加熱用のモ
リブデンボート中に輝尽性蛍光体R[3r:o、004
T Qを入れ、抵抗加熱用電極にセットし、続いて蒸着
器を排気してI X 10−’T orrの真空度とし
た。次いで支持体加熱用ヒーターにより300〜500
℃に加熱して支持体表面を清浄した後、支持体を100
℃に設置し、アルゴンガスを導入して5 X 10−’
T orr程度の真空度とした。 次に輝尽性蛍光体RbB r:o、004T Qを抵抗
加熱法によりRbBrを蒸発させ膜厚が約250μ論の
RI+B r:o、004T Qの微細柱状ブロック構
造を有する輝尽性蛍光体層を形成して本発明の放射線画
像変換パネルAを得た。 このようにして得られた本発明のパネルA」こ管電圧8
0K V p)X #i ヲ10mR照Jit I、
タa、半導体レーザ光(780nm)で輝尽励起し、輝
尽性蛍光体層から放射される輝尽発光を光検出器(光電
子増倍管)で充電変換し、この信号を画像再生装置によ
って画像として再生し、銀塩フィルム上に記録した。 信号の大きさより、放射線画像変換パネルAのX線に対
する感度を調べ、また得られた画像より、画像の変調伝
達関数(M T F )及び粒状性を調べ第1表に示す
。 第1表において、X線に対する感度は、本発明の放射線
画像変換パネルAを100として相対値で示しである。 また、変調伝達関数(M T F )は、空間周波数が
2サイクル/lの時の値である。 実施例2゜ 実施例1と同様の支持体を用い、パブ研磨、脱脂、水洗
の後、実施例1と同様のメッキ条件のもとで支持体上に
クロムをメッキした。 その後、このクロムメッキ層を上部に有する支持体を水
洗、乾燥し、実施例1と同様の蒸着法を用いて輝尽性蛍
光体RbB r:o、004T Qを蒸着し、膜厚が約
250μ−の輝尽性蛍光体層を形成した0次にこれを真
空内で約400℃の加熱処理を打い、本発明の放射線画
像変換パネルBを得た。 この本発明のパネルBは、実施例1と同様にして評価し
、結果を第1表に併記する。 比較例1゜ 輝尽性蛍光体RbB r:o、004T Q 8 i!
111部とポリビニルブチラール樹脂1重量部と溶剤(
シクロヘキサノン)5重量部を用いて混合、分散し、輝
尽性蛍光体層用塗布液をis2した1次にこの塗布液を
水平に置いた300μm厚の支持体としての黒色ポリエ
チレンテレフタレートフィルム上に均一に塗布し、自然
乾燥させて250μm厚の輝尽性蛍光体層を形成した。 このようにして得られた比較のパネルPは実施例1と同
様にして評価し、結果を第1表に併記する。 第 12!2 W&1表より明らかなように本発明の放射線画像変換パ
ネルA、Bは、比較の放射線画像変換パネルPに比べて
Xls感度が約2倍高くしかも画像の粒状性が優れでい
た。これは本発明の放射線画像変換パネルは輝尽性蛍光
体層中に結着剤を含んでおらず輝尽性蛍光体の充填率が
比較のパネルに比べて高くX線の吸収率が良いためであ
る。 また、本発明の放射線画像変換パネルA、Bは比較の放
射線画像変換パネルPに比べでX#l感度が高いにもか
がわらず鮮鋭性の点でも優れていた。 これは、本発明の放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体
層は微細柱状ブロック構造を有しているので、輝尽励起
光である半導体レーザの輝尽性蛍光体層中での散乱が減
少するためである。
ルミニウム板表面なバブ研磨したのち脱脂及び水洗を行
い、Cro 3250g/ Q % H2S O42,
5g/Ω、温度60℃、電流密度40A/da2のメッ
キ浴において約60μmの厚さにクロムをメッキした。 次にこれを水洗した後Cro 2250g/ Q 1H
2S O42゜5g/Q、温度60℃、電流密度50A
/d!n2の浴を用いて電解エツチングを行い、深さ7
0〜20μ鵡の亀裂を有する多孔性クロム層を作成した
。 その後、この多孔性クロム層を上部に有する支持体を水
洗、乾燥し、蒸着器中に設置した。次に抵抗加熱用のモ
リブデンボート中に輝尽性蛍光体R[3r:o、004
T Qを入れ、抵抗加熱用電極にセットし、続いて蒸着
器を排気してI X 10−’T orrの真空度とし
た。次いで支持体加熱用ヒーターにより300〜500
℃に加熱して支持体表面を清浄した後、支持体を100
℃に設置し、アルゴンガスを導入して5 X 10−’
T orr程度の真空度とした。 次に輝尽性蛍光体RbB r:o、004T Qを抵抗
加熱法によりRbBrを蒸発させ膜厚が約250μ論の
RI+B r:o、004T Qの微細柱状ブロック構
造を有する輝尽性蛍光体層を形成して本発明の放射線画
像変換パネルAを得た。 このようにして得られた本発明のパネルA」こ管電圧8
0K V p)X #i ヲ10mR照Jit I、
タa、半導体レーザ光(780nm)で輝尽励起し、輝
尽性蛍光体層から放射される輝尽発光を光検出器(光電
子増倍管)で充電変換し、この信号を画像再生装置によ
って画像として再生し、銀塩フィルム上に記録した。 信号の大きさより、放射線画像変換パネルAのX線に対
する感度を調べ、また得られた画像より、画像の変調伝
達関数(M T F )及び粒状性を調べ第1表に示す
。 第1表において、X線に対する感度は、本発明の放射線
画像変換パネルAを100として相対値で示しである。 また、変調伝達関数(M T F )は、空間周波数が
2サイクル/lの時の値である。 実施例2゜ 実施例1と同様の支持体を用い、パブ研磨、脱脂、水洗
の後、実施例1と同様のメッキ条件のもとで支持体上に
クロムをメッキした。 その後、このクロムメッキ層を上部に有する支持体を水
洗、乾燥し、実施例1と同様の蒸着法を用いて輝尽性蛍
光体RbB r:o、004T Qを蒸着し、膜厚が約
250μ−の輝尽性蛍光体層を形成した0次にこれを真
空内で約400℃の加熱処理を打い、本発明の放射線画
像変換パネルBを得た。 この本発明のパネルBは、実施例1と同様にして評価し
、結果を第1表に併記する。 比較例1゜ 輝尽性蛍光体RbB r:o、004T Q 8 i!
111部とポリビニルブチラール樹脂1重量部と溶剤(
シクロヘキサノン)5重量部を用いて混合、分散し、輝
尽性蛍光体層用塗布液をis2した1次にこの塗布液を
水平に置いた300μm厚の支持体としての黒色ポリエ
チレンテレフタレートフィルム上に均一に塗布し、自然
乾燥させて250μm厚の輝尽性蛍光体層を形成した。 このようにして得られた比較のパネルPは実施例1と同
様にして評価し、結果を第1表に併記する。 第 12!2 W&1表より明らかなように本発明の放射線画像変換パ
ネルA、Bは、比較の放射線画像変換パネルPに比べて
Xls感度が約2倍高くしかも画像の粒状性が優れでい
た。これは本発明の放射線画像変換パネルは輝尽性蛍光
体層中に結着剤を含んでおらず輝尽性蛍光体の充填率が
比較のパネルに比べて高くX線の吸収率が良いためであ
る。 また、本発明の放射線画像変換パネルA、Bは比較の放
射線画像変換パネルPに比べでX#l感度が高いにもか
がわらず鮮鋭性の点でも優れていた。 これは、本発明の放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体
層は微細柱状ブロック構造を有しているので、輝尽励起
光である半導体レーザの輝尽性蛍光体層中での散乱が減
少するためである。
以上述べてきたように、本発明によれば輝尽性蛍光体層
が微細柱状ブロック構造を有するため、輝尽励起光の輝
尽性蛍光体層中での散乱が着しく減少し、その結果画像
の鮮鋭性を向上させることが可能である。 また、本発明によれば輝尽性蛍光体層厚の増大による画
像の鮮鋭性の低下が小さいため、輝尽性蛍光体層厚を大
きくすることにより、画像の鮮鋭性を低下させることな
く放射線感度を向上させることが可能である。 また、本発明によれば輝尽性蛍光体層厚の増大による画
像の鮮鋭性の低下が小さいため、輝尽性蛍光体M厚を大
きくすることにより、画像の鮮鋭性を低下させることな
く画像の粒状性を向上させることが可能である。 また、本発明によれば本発明の放射線画像変換パネルを
安価に安定して製造することが可能である。 本発明はその効果が極めて大きく、工業的に有用である
。
が微細柱状ブロック構造を有するため、輝尽励起光の輝
尽性蛍光体層中での散乱が着しく減少し、その結果画像
の鮮鋭性を向上させることが可能である。 また、本発明によれば輝尽性蛍光体層厚の増大による画
像の鮮鋭性の低下が小さいため、輝尽性蛍光体層厚を大
きくすることにより、画像の鮮鋭性を低下させることな
く放射線感度を向上させることが可能である。 また、本発明によれば輝尽性蛍光体層厚の増大による画
像の鮮鋭性の低下が小さいため、輝尽性蛍光体M厚を大
きくすることにより、画像の鮮鋭性を低下させることな
く画像の粒状性を向上させることが可能である。 また、本発明によれば本発明の放射線画像変換パネルを
安価に安定して製造することが可能である。 本発明はその効果が極めて大きく、工業的に有用である
。
第1図(a)(b)は本発明の一例の放射線画像変換パ
ネルの一部を示す断面図である。第2図は本発明の一例
の放射線画像変換パネルの多孔性クロム層表面の顕微鏡
写真である。第3図(a)は本発明の一例に関する放射
線画像変換パネルにお(九、Z輝尽性蛍光体層厚及び付
着量と放射線に対する感度とを示す図であり、(b)は
空間周波数と変調伝達関数(M T F )との関係を
示す図である。第4図は本発明のパネルがmいられる放
射線画像変換装置の概略図である。@5図(a)は従来
の放射線画像変換パネルにおける輝尽性蛍光体層成ゾ付
着量と放射線に対°する感度とを示す図であり、(b)
は前記従来の放射線画像変換パネルにおける輝尽性蛍光
体/!y厚及び付着量と空間周波数が2サイクル/ml
11における変調伝達関数(M T F )とを示す図
である。 11・・・・・・アルミニウム支持体 12・・・・・・多孔性クロム層 13・・・・・・輝尽性蛍光体層 14・・・・・・保護層 31・・・・・・本発明の放射線画像変換パネルの特性
32・・・・・・微細柱状ブロック構造を有する放射線
画像変換パネルの特性 33・・・・・・従来の放射線画像変換パネルの特性4
1・・・・・・放射線発生VC置 42・・・・・・被写体 43・・・・・・放射線画像変換パネル44・・・・・
・V$尽励起光源 45・・・・・・光電変換装置 46・・・・・・画像再生装置 47・・・・・・画像表示装置 48・・・・・・フィルター 出願人 小西六写真工業株式会社 第3図 (1つ) 9簡n4数(1強い) 第4図 第5図 (b) 手 糸龜 h’FT 正 社F(方式)昭和60年1
2月24日 1、事件の表示 昭和60年特許願第180706号 2、発明の名称 放射線画像変換パネル 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都新宿区西新宿1丁目26番2号連絡先 〒191 東京都日野市さくら町1番地 小西六写真工業株式会社(電話0425−83−152
1)特 許 部 5、補正の対象 図 面 6、補正の内容 (1)第2図を添付図面代用写真に差し替えまず。
ネルの一部を示す断面図である。第2図は本発明の一例
の放射線画像変換パネルの多孔性クロム層表面の顕微鏡
写真である。第3図(a)は本発明の一例に関する放射
線画像変換パネルにお(九、Z輝尽性蛍光体層厚及び付
着量と放射線に対する感度とを示す図であり、(b)は
空間周波数と変調伝達関数(M T F )との関係を
示す図である。第4図は本発明のパネルがmいられる放
射線画像変換装置の概略図である。@5図(a)は従来
の放射線画像変換パネルにおける輝尽性蛍光体層成ゾ付
着量と放射線に対°する感度とを示す図であり、(b)
は前記従来の放射線画像変換パネルにおける輝尽性蛍光
体/!y厚及び付着量と空間周波数が2サイクル/ml
11における変調伝達関数(M T F )とを示す図
である。 11・・・・・・アルミニウム支持体 12・・・・・・多孔性クロム層 13・・・・・・輝尽性蛍光体層 14・・・・・・保護層 31・・・・・・本発明の放射線画像変換パネルの特性
32・・・・・・微細柱状ブロック構造を有する放射線
画像変換パネルの特性 33・・・・・・従来の放射線画像変換パネルの特性4
1・・・・・・放射線発生VC置 42・・・・・・被写体 43・・・・・・放射線画像変換パネル44・・・・・
・V$尽励起光源 45・・・・・・光電変換装置 46・・・・・・画像再生装置 47・・・・・・画像表示装置 48・・・・・・フィルター 出願人 小西六写真工業株式会社 第3図 (1つ) 9簡n4数(1強い) 第4図 第5図 (b) 手 糸龜 h’FT 正 社F(方式)昭和60年1
2月24日 1、事件の表示 昭和60年特許願第180706号 2、発明の名称 放射線画像変換パネル 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都新宿区西新宿1丁目26番2号連絡先 〒191 東京都日野市さくら町1番地 小西六写真工業株式会社(電話0425−83−152
1)特 許 部 5、補正の対象 図 面 6、補正の内容 (1)第2図を添付図面代用写真に差し替えまず。
Claims (1)
- 金属支持体上に多孔性クロム層を有し、該多孔性クロム
層の上に少なくとも一層の輝尽性蛍光体層を有すること
を特徴とする放射線画像変換パネル。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18070685A JPS6239799A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 放射線画像変換パネル |
| EP19850309128 EP0185534B1 (en) | 1984-12-17 | 1985-12-16 | Radiation image storage panel |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18070685A JPS6239799A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 放射線画像変換パネル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6239799A true JPS6239799A (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=16087888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18070685A Pending JPS6239799A (ja) | 1984-12-17 | 1985-08-16 | 放射線画像変換パネル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6239799A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1068627A (ja) * | 1997-03-19 | 1998-03-10 | Pioneer Electron Corp | ナビゲーション装置 |
| JP2004117347A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-15 | Siemens Ag | 蛍光体シート |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54120576A (en) * | 1978-03-13 | 1979-09-19 | Toshiba Corp | Input screen of image multiplication tube |
| JPS59202100A (ja) * | 1983-04-30 | 1984-11-15 | コニカ株式会社 | 放射線画像変換パネル及びその製造方法 |
-
1985
- 1985-08-16 JP JP18070685A patent/JPS6239799A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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| JPS54120576A (en) * | 1978-03-13 | 1979-09-19 | Toshiba Corp | Input screen of image multiplication tube |
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| JP2004117347A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-15 | Siemens Ag | 蛍光体シート |
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