JPS6251093A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS6251093A
JPS6251093A JP60189502A JP18950285A JPS6251093A JP S6251093 A JPS6251093 A JP S6251093A JP 60189502 A JP60189502 A JP 60189502A JP 18950285 A JP18950285 A JP 18950285A JP S6251093 A JPS6251093 A JP S6251093A
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address signal
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篠田 孝司
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、半導体記憶装置に関するもので、例えば、
周辺回路がスタティック型回路により構成されたダイナ
ミック型RAM (ランダム・アクセス・メモリ)に利
用して有効な技術に関するものである。
〔背景技術〕
ダイナミック型RAMにおける連続アクセス動作として
、ロウ系選択回路により1つのワード線を選択状態にし
ておいて、カラムアドレスストローブ信号CASに同期
してカラム系のアドレス信号を変化させてデータ線を次
々に切り換えることによって、上記ワード線に結合され
たメモリセルの連続的な読み出し/書き込み動作を行う
ようにしたページモードと、カラム系選択回路をスタテ
ィック型回路により構成し、ワード線を選択状態にした
ままカラムアドレス信号を変化させてデータ線を次々に
切り換えることによって、上記ワード線に結合されたメ
モリセルの連続的な読み出し/Wき込み動作を行うよう
にした、いわゆるスタティックカラムモードとが公知で
ある。
前者のページモードは、カラムアドレスストローブ信号
をクロックとして外部端子から供給されるアドレス信号
の取り込みを行うので、比較的高速に連続アクセスが可
能になる反面、外部端子からクロック信号を供給する必
要がある。後者のカラムスタティックモードは、カラム
系のアドレス信号の変化させるのみで連続アクセスが可
能になる反面、外部端子から供給されるアドレス信号の
スキュー(アドレス信号の変化タイミング差)によって
その動作速度が比較的遅(なる、すなわち、多ビットか
らなるアドレス信号のうちの最も遅く変化するアドレス
信号を待ってカラム選択動作が行われることになる。こ
のように、両者には、それぞれ一長一短があり、従来の
ダイナミック型RAMは、上記いずれかの機能を持つよ
うにされるものである。
なお、上記連続アクセス機能を備えたダイナミック型R
AMに関しては、例えば日経マグロウヒル社1983年
7月18日付の雑誌「日経エレクトロニクスj第169
頁ないし193頁、■日立製作所昭和58年9月発行「
日立ICメモリデータブック」参照)。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、動作の多機能化と高速動作化を図っ
たダイナミック型RAMを提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、外部端子から供給されるアドレス信号をその
まま伝える機能と、外部端子から供給される所定の制御
信号のエツジに同期して外部端子から供給されるアドレ
ス信号を保持するラッチ機能を備えたアドレスバッファ
を用いて、ページモードとスタティックカラムモードの
両機能を実現するものである。また、アドレスバッフ1
にマルチプレクサ機能を持たせて外部端子からのアドレ
ス信号と内部で形成されたアドレス信号とを選択的に受
は付けるようにし、これらを外部制御端子で制御して上
記内部アドレス信号による連続アクセスも行えるように
するものである。
〔実施例〕
第1図には、この発明の一実施例のダイナミック型RA
Mのブロック図が示されている。同図のダイナミック型
RAMは、特に制限されないが、8ピントの単位でアク
セスするダイナミック型RAMであり、公知の半導体集
積回路の製造技術によって、単結晶シリコンのような半
導体基板上において形成される。
この実施例では、特に制限されないが、メモリアレイは
、M−ARYI、M−ARY2のように左右2つに分け
て配置されている。各メモリアレイM−ARYI、M−
ARY2において、8本の相補データ線対が一組とされ
、同図においては縦方向に向かうよう形成されている。
すなわち、メモリアレイを8ブロツク(マット)に分け
て構成するのではなく、8ビツトのデータ線、同一のメ
モリアレイ内の互いに隣合う8本の相補データ線対に対
して、1つのアドレスが割り当てられ、同図では横方向
に順に配置される。このようにすることによって、メモ
リアレイ及びその周辺回路の簡素化を図ることができる
。上記メモリアレイM−ARY1.M−ARY2にマト
リックス配置されるメモリセルは、情軸記憶用のキャパ
シタとアドレス選択用のMOSFETとからなる1MO
3型のダイナミック型メモリセルが用いられる。このメ
モリセルのアドレス選択用のMOSFETのゲートは、
ワード線に結合され、そのドレイン(ソース)は、デー
タ線に結合される。
ロウ系アドレス選択線(ワード線)は、上記各メモリア
レイM−/RY1.M−ARY2に対して左右の横方向
に向かうよう形成され、同図では縦方向に順に配置され
る。
上記相補データ線対は、カラムスイッチC−8Wl、C
−3W2を介して8本の共通相補データ線対CDI、C
D2に選択的に接続される。同図おいては、上記共通相
補データ線対は横方向に走っている。これらの共通相補
データ線対CDI。
CD2は、メインアンプMAI、MA2の入力端子にそ
れぞれ接続される。
センスアンプSAI、SA2は、上記メモリアレイの相
補データ線対の微少読み出し電圧を受け、そのタイミン
グ信号φpaにより動作状態とされ上記読み出し電圧に
従って相補データ線対をハイレベル/ロウレベルに増幅
するものである。
ロウアドレスバッファR−ADBは、チップ選択信号C
Eに基づいて形成されたタイミング信号Cθにより動作
状態にされ、外部端子から供給されるm+1ビツトから
なるロウ系のアドレス信号AXO〜AXmを受け、内部
相補アドレス信号aO〜am、丁O−丁mを形成して、
ロウアドレスデコーダR−DCRへ送出する。なお、以
後の説明及び図面においては、一対の内部相補アドレス
信号、例えばaQ、TOを内部相補アドレス信号土0と
表すことにする。したがって、上記内部相補アドレス信
号aO〜am、ao−wamは、内部相補アドレス信号
10〜1mと表す。ロウアドレスデコーダR−DCRは
、上記アドレス信号10〜amに従って1本のワード線
をワード線選択タイミング信号φXに同期して選択する
カラムアドレスバッファC−ADBは、後述するような
3種類の連続アクセスモードを実現するため、チップ選
択信号CEに基づいて形成されたタイミング信号C6に
より動作状態にされ、外部端子から供給されるfi+l
ビットからなるカラム系のアドレス信号AYO〜AYn
をそのまま伝える機能及び後述する内部制御信号csの
エツジに同期して上記アドレス信号A Y O−A Y
 nを保持するラッチ機能及び4iLfflするアドレ
スカウンタ回路ADCにより形成されたアドレス信号を
受は付けるマルチプレクサ機能とが設けられる。なお、
上記内部相補アドレス信号の表し方に従って、図面及び
以下の説明では、内部相補アドレス信号a0〜an、a
Qxanを内部相補アドレス信号且0〜土nと表す。
カラムアドレスバッファC−ADBにより形成された内
部相補アドレス信号aO〜an、aQ〜anは、カラム
デコーダC−DCHに伝えられる。
カラムデコーダC−DCRは、その動作がデータ線選択
タイミング信号φyによって制御され、それに伝えられ
たアドレス信号をデコードしてデータ線選択タイミング
信号φyに同期して8本からなるデータ線の選択動作を
行う。
カラムスイッチC−3WI、C−5W2は、上記データ
線の選択信号を受け、上記8対の相補データ線を対応す
る8対の共通相補データ線に接続する。なお、同図では
、例示的に示された上記相補データ線対及び共通相補デ
ータ線対は、1本の線により実現している。
入出力回路I10は、読み出しのためのデータ出カバ7
フアと、書込みのためのデータ入力バッファとにより構
成される。上記データ出力バッファは、読み出し時に動
作状態にされ、動作状態にされた一方のメインアンプM
AL又はMA2の出力信号を増幅して外部端子Do−D
?へ送出する。
また、上記データ入力バッファは、書込み動作の時に動
作状態にされ、外部端子DO〜D7から供給される書込
み信号を上記共通相補データ線対CDi又はCD2に供
給する。なお、同図ではこの書込み系の信号経路が省略
されている。上記データ出力バッファとデータ入力バッ
ファは、トライステート出力機能を持ち、それが非動作
状態におかれるとき、その出力をハイインピーダンス(
又はフローティング)状態にさせる。
内部制御信号発生回路TGは、4つの外部制御信号CE
(チップイネーブル信号)、WE(ライトイネーブル信
号)、OE(出力イネーブル信号)と、C5(クロンク
ドシリアル信号)と、特に制限されないが、上記アドレ
ス信号aQ−am及びaO〜a rtを受けるアドレス
信号変化検出回路ATDで形成されたアドレス信号の変
化検出信号φとを受けて、その動作モードに応じたメモ
リ動作に必要な各種タイミング信号を形成して送出され
る。上記のようなアドレス信号変化検出回路AT Dに
より形成された検出信号φに基づいて内部動作のための
一連のタイミングを形成することによりRAMを内部同
期式により動作させる。これにより、上記のようなダイ
ナミック型メモリセルを用いたにもかかわらず、外部か
らはスタティック型RAMと同じようにアクセスするこ
とができる(いわゆる、擬似スタティック型RAMを構
成するものである)、このような動作のために、上記ア
ドレスバッファR−ADB、C−ADB及びアドレスデ
コーダR−DCR,C−DCRI、C−DCR2等の各
周辺回路は、CMOS (相補型MO3)スタティック
型回路によって構成される。
特に制限されないが、自動リフレッシュ回路REFCは
、フレッシュアドレスカウンタ、タイマー等を含んでお
り、外部端子から供給されたリフレッシュ信号REFを
ロウレベルにすることにより起動される。すなわち、内
部チップイネーブル信号へがハイレベルとされた非選択
(保持)状態において、リフレッシュ信号REFをロウ
レベルにすると自動リフレッシュ回路REFCは、図示
しない制御信号によってロウアドレスバッファR−AD
Bの入力部に設けられたマルチプレクサを切り換えて、
内蔵のりフレッシュアドレスカウンタにより形成された
りフレッシュアドレス信号をロウデコーダR−DCRに
伝えて一本のワード線選択と、センスアンプSAの増幅
動作とによるリフレッシュ動作(オートリフレッシュ)
を行う。
マタ、リフレッシュ信号REFをロウレベルにしつづけ
るとタイマーが作動して、一定時間毎にリフレッシュア
ドレスカウンタが歩進させられて、この間連続的なりフ
レッシュ動作(セルフリフレッシュ)を行うものである
第2図には、上記カラムアドレスバッファC−ADHと
アドレスカウンタ回路ADCの一実施例の回路図が示さ
れている。同図において、Pチャンネル部分 S F 
ETは、そのチャンネル部分に直線が付加されることに
より、NチャンネルMOSFETと区別される。
同図には、代表として1ビット分のアドレスバッファの
単位回路が示されている。外部端子AYnから供給され
るアドレス信号は、内部チップイネーブル信号ceによ
って制御されるナンド(NAND)ゲート回路Glを介
してマルチプレクサ回路を構成する一方の入力端子であ
るPチャンネルMO3FETQ2とNチャンネル部分 
S F ETQ3のゲートに供給される。上記Pチャン
ネルMO3FETQ2のソースと電源電圧Vccとの間
には、反転の制御信号乙を受けるPチャンネルMO3F
ETQIが設けられ、NチャンネルMO3FETQ3の
ソースと回路の接地電位点との間には、制御信号csを
受けるNチャンネルMO3FETQ4が設けられている
。なお、上記外部端子から供給されるアドレス信号AY
nと内部チップイネーブル信号とを受けるCMOSナン
トゲート回路に、上記制御信号cs、csを受けるスイ
ッチMOSFETQI、Q4を付加することにより、両
回路を1つの回路として構成するものであってもよい。
上記マルチプレクサ回路の他方の入力端子であるPチャ
ンネルMOSFETQ6とNチャンネルMO3FETQ
7のゲートには、アドレスカウンタ回路ADCの対応さ
れた出力信号71°が供給される。これらのMO5FE
TQ6.Q7にも上記同様なPチャンネルMO3FET
Q5とNチャンネルM’03FETQBがそれぞれ設け
られる。
これらのMO3FE’l’Q5.Q8のゲートは、上記
MO3FETQI、Q4のゲートと交差接続されること
によって、上記制御信号cs、csが交差して供給され
る。
上記2つの回路の出力端子は共通接続され、ラッチ回路
を構成する入力回路としてのCMOSインバータ回路I
VIの入力端子に接続される。この・fンバータ回路I
VIは、クロックドインバータ回路とされ、クロック信
号φcsにより動作状態にされる。上記インバータ回路
IVIの出力信号は、CMOSインバータ回路IV2の
入力端子に伝えられる。このインバータ回路IV2の出
力信号は、クロックドインバータ回路[V3を介してそ
の入力に帰還される。このクロックドインバー夕回路I
V3は、上記クロック信号φcsの反転信号によって動
作状態にされる。上記クロックドインバータ回路IVI
−IV3によるラッチ回路は、その動作モードに応じて
クロックドシリアル信号C8がロウレベルからハイレベ
ルに変化するタイミングで、上記マルチプレクサ回路を
通した信号の取り込み動作と、クロックドインバータ回
路■Vlが動作状態にされ、クロックドインバータ回路
IV3が非動作状態にされることにより、マルチプレク
サ回路からの信号をそのまま伝えるスタティック回路と
しての動作を行う。
上記ラッチ回路を構成するCMOSインバータ回路IV
3の出力信号は、CMOSインバータ回路IV4の入力
端子に供給され、このインバータ回路IV4の出力端子
から、反転内部アドレス信号aiが送出される。このイ
ンバータ回路IV4の出力信号は、CMOSインバータ
回路IV5の入力端子に供給され、このインバータ回路
IV5の出力端子から非反転の内部アドレス信号aiが
送出される。
アドレスカウンタ回路ADCは、縦列形態にされたフリ
ップフロップ回路FF0−FFnと、それぞれのフリッ
プフロップ回路FF0=FFnのセント入力にナントゲ
ート回路GO〜Gnを介してアドレスバッファC−AD
Bの内部アドレス信号aOwanがそれぞれ供給される
。これらのゲート回路GO〜Gnは、後述するように、
内部アドレス信号による高速連続動作モードにされた時
に発生されるlショットパルスφcs’ によりゲート
を開き、上記外部端子から供給されたアドレス信号と対
応したアドレス信号が初期値として各フリップフロップ
回路FFO〜F F nに取り込まれる。また、初段の
フリップフロップ回路FFOの計数入力には、クロック
ドシリアル信号C−8に基づいて形成された内部信号c
sのエツジ、例えばハイレベルからロウレベルへの立ち
下がり時にその計数動作を行う、フリップフロップ回路
FFOのキャリー信号は、次段FFIの計数入力に供給
される。これによって、バイナリ−カウンタ動作が行わ
れる。
次に、第3図ないし第5図にに示した各タイミング図を
参照して、上記アドレスバッファC−ADHとアドレス
カウンタ回路ADCの選択的な動作により実現される3
種類の連続アクセスモードを説明する。
第3図には、スタティックカラムモードによる読み出し
動作を説明するためのタイミング図が示されている。
チップイネーブル信号CEがハイレベルからロウレベル
に変化するタイミングにおいて、クロックドシリアル信
号C8がハイレベルなら、外部端子から供給されるアド
レス信号AYO〜AYnによる連続アクセスモードとさ
れる。スタティックカラムモードでは、上記クロックド
シリアル信号C5は、ハイレベルのままに維持される。
このようにすることによって、第2図に示したマルチプ
レクサ回路の制御信号CSがハイレベルに、τ1がロウ
レベルに固定される。この結果、PチャンネルMO3F
’ETQIとNチ中ンネルM OS I” ETQ4が
オン状態に維持されるため、マルチプレクサ回路は外部
端子側の回路が動作状態にされる。
上記チップイネーブル信号CEのロウレベルにより、内
部信号caがハイレベルにされ、外部端子から供給され
るアドレス信号AYO−AYnは、それに対応されたナ
ントゲート回路G1等と上記マルチプレクサ回路を通し
てラッチ回路を構成するクロックドインバータ回路IV
Iの入力に伝えられる。このとき、クロック信号φCa
が、例えばハイレベルに維持されることにより、クロッ
クドインバータ回路IVIが動作状態に、帰還用のクロ
ックドインバータ回路IV3が非動作状態にされる。こ
の結果、ラッチ回路は、その入力信号をそのまま伝える
バッファ回路としての動作を行うものとなる。
したがって、外部端子から供給されるロウ系のアドレス
信号AXとカラム系のアドレス信号AVにより、メモリ
セルの選択動作が行われる0例えば、図示しないが、ラ
イトイネーブル信号WEがハイレベルの読み出し動作の
時、出力イネーブル信号OEがロウレベルにされると、
選択されたメモリセルの記憶情報Doutが外部端子り
へ送出される。上記状態において、カラム系のアドレス
信号p、Y (AYO−AYn)を変化させると、上記
アドレスバッファC−ADBがこれに応答して内部アド
レス信号を変化させる。これにより、カラムデコーガC
−DCR1又はC−D CR2がそれを解読してカラム
スイッチ回路の切り換えが行われ、その都度切り換えら
れたメモリアレ、イの相補データ線の信号が外部端子り
へ送出される。以上がスタティックカラムモードでの読
み出し動作である。このスタティックカラムモードでは
、任意のタイミングでのアドレス切り換えによる連続ア
クセスが可能にされる。なお、書込み動作の場合には、
上記アドレス信号AYの変化に同期して外部端子りへ書
込み信号Dinを供給することによって、連続的な書込
み動作が実行される。
第4図には、ページモードによる読み出し動作を説明す
るためのタイミング図が示されている。
」−記聞様に、チップイネーブル信号GEがハイレベル
からロウレベルに変化するタイミングにおいて、クロッ
クドシリアル信号csがハイレベルなら、外部端子から
供給されるアドレス信号AYO〜AYnによる連続アク
セスモードとされる。
上記クロックドシリアル信号C8は、最初の1サイクル
期間においてハイレベルのままに維持される。これによ
り、上記スタティックカラムモードと同様に、最初の8
ビット分の読み出し動作が行われる。ページモードでは
、高速アクセスを実現するため、カラム系のアドレス切
り換えをクロック信号により同期して行う、この実施例
では、上記クロックドシリアル信号C8が上記アドレス
切り換えのためのクロック信号として使用される。
すなわち、クロックドシリアル信号csをロウレベルに
すると、ランチ回路の入力インバータ回路IVIが非動
作状態に、帰還用インバータ回路■v3が動作状態にさ
れる。これにより、外部端子から供給されるアドレス信
号AYが無効にされ、前に取り込んだアドレス信号を一
旦保持する。次に、クロックドシリアル信号C8をロウ
レベルからハイレベルに変化させると、このタイミング
において、一時的に入力用インバータ回路IVIが動作
状態に、帰還用インバータ回路IV3が非動作状態にさ
れる。この結果、上記クロックドシリアル信号C8のハ
イレベルへの立ち上がりエツジにおいて、外部端子から
供給されたアドレス信号AY(AYO〜AYn)の取り
込みと保持が行われ、このラッチ回路の出力信号により
内部アドレス信号が形成される。このようなタイミング
信号による外部アドレス信号の取り込み方式により、ア
ドレス信号のスキューを考慮することなく、直ちにカラ
ム切り換えを行うことができるので、高速な連続アクセ
ス(ページモード)を実現できるものである。なお、書
込め動作の場合には、上記クロックドシリアル信号cs
と同期して外部端子りへ書込み信号Dinを供給するこ
とによって、連続的な書込み動作が実行される。
第5図には、高速シリアルモード(拡張ニブルモード)
による読み出し動作を説明するためのタイミング図が示
されている。
チップイネーブル信号CEがハイレベルからロウレベル
に変化するタイミングにおいて、クロックドシリアル信
号C3がロウレベルなら、内部回路で形成されるアドレ
ス信号による連続アクセスモード(高速シリアルモード
)とされる。高速シリアルモードにおいては、外部端子
から供給されるアドレス信号AYの取り込みのために、
チップイネーブル信号OEがロウレベルにされたタイミ
ングで一時的に第2図に示したマルチプレクサ回路の1
ilJa信qcsがハイレベルに、乙がロウレベルにさ
れる。この結果、外部端子から供給されるアドレス信号
AYの取り込みが行われ、これらのアドレス信号AYは
、そのときに発生するタイミング信号φcs’ によっ
てアドレスカウンタ回路ADCに初期値として取り込ま
れる。
上記クロックドシリアル信号csのロウレベルにより、
マルチプレクサ回路の制御信号csがロウレベルに、C
Sがハイレベルにされる結果、PチャンネルMOSFE
TQ5とNチャンネルMO3FETQtlがオン状態に
なり、マルチプレクサ回路はアドレスカウンタ回路AD
C側の回路が動作状態にされる。これにより、上記取り
込まれたアドレス信号AYに対応された内部アドレス信
号an″等がランチ回路に伝えられる。そして、特に制
限されないが、クロックドシリアル信号C8がハイレベ
ルにされたタイミングにおいて、カラム系の選択動作が
開始される。上記クロックドシリアル信号C3のハイレ
ベルへの立ち上がりにおいて、前記ページモードと同様
に、ラッチ回路の人力用インバータ回路IVIが一時的
に動作状態に、帰還用インバータ回路IV3が非動作状
態にされる。これにより、上記初期値アドレス信号に対
応されたアドレス信号5′等のの取り込みと保持が行わ
れ、このランチ回路の出力信号により内部アドレス信号
が形成される。このカラムデコーダ回路C−DCR1又
はC−DCR2は、このアドレス信号を解読してデータ
線選択信号を形成するので、既に取り込まれているロウ
系のアドレス信号Axに従って選ばれているワード線に
結合されたメモリセルのうち、上記アドレス信号an°
等により選択されたデータ線に結合されたメモリセルか
らの記憶情報が外部端子りへ送出される。
上記クロックドシリアル信号C8をロウレベルに変化さ
せると、アドレスカウンタ回路ADCの計数動作が行わ
れ、その歩進されたアドレス信号が、上記クロックドシ
リアル信号C8のロウレベルによって制御信号csがロ
ウレベルに、丁1がハイレベルにされるため、上記同様
にラッチ回路の入力に伝えられる。クロックドシリアル
信号C8をロウレベルからハイレベルに変化させると、
このタイミングにおいて、ラッチ回路が上記歩進された
アドレス信号の取り込み保持を行うため、カラム系の内
部アドレス信号が変化される。これに応じてカラム切り
換え動作が行われ、連続読み出し動作が行われる。この
高速シリアルモードでは、前記のように外部端子からア
ドレス信号を供給するスタティックカラムモードのよう
にアドレス信号のスキューを考慮する必要が無いから、
その分高速アクセス動作を行うことができる。なお、書
込み動作のときには、上記クロックドシリアル信号に同
期して外部端子りへ書込み信号Dinを供給すればよい
〔効 果〕
(11アドレスバツフアに外部端子から供給されるアド
レス信号をそのまま伝える機能と、外部端子から供給さ
れる所定の制御信号のエツジに同期して外部端子から供
給されるアドレス信号を保持するラッチ機能を設けるこ
とにより、スタティックカラムモードのような非同期で
のアドレス切り換えによる連続アクセスモードと、ペー
ジモードのような連続アクセスモードの両機能を併せ持
つ半導体記憶装置を得ることができるという効果が得ら
れる。
(2)アドレスバッファにマルチプレクサ機能を付加す
ることにより、外部端子からのアドレス信号と内部で形
成されたアドレス信号とを選択的に受は付けるようにし
、これらを外部制御端子で制御することにより、アドレ
ス信号のスキューを考慮することなく、高速にメモリセ
ルの連続アクセスを行うことができるという機能を持た
せることができるという効果が得られる。
(3)上記(1)及び/又は(2)により、2ないし3
種類の連続アクセスモードの中から、そのシステム又は
その時々の動作形態に応じて最も適切な連続アクセスモ
ードを選ぶことができるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、クロックドシ
リアル信号C8は、動作モードを指示する制御信号と、
クロック信号から構成されてもよい。また、アドレスバ
ッファに設けられるマルチプレクサ回路及びソチ回路と
、アドレスカウンタ回路の具体的回路は、種々の実施形
態を採ることができるものである。
さらに、外部アドレス信号は、共通の外部端子からロウ
アドレスス]・ロープ信号RASとカラムアドレススト
ローブ信号CASにより時系列的に供給するものとして
もよい。この場合、カラムアドレスストローブ信号CA
Sに基づいて上記アトレスバッファに設けられるランチ
回路に供給されるクロック信号を形成するものとすれば
よく、上記高速シリアル動作モードとページモードとを
区別するための制御信号を追加すればよい。
〔利用分野〕
この発明は、少なくともカラム系選択回路がスタティッ
ク型回路により構成されるダイナミック型RAMの他、
スタティック型RAM等にも同様に利用することができ
るものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明に係るダイナミック型RAMの一実
施例を示す内部構成ブロック図、第2図は、そのアドレ
スバッファとアドレスバッファの一実施例を示す回路図
、 第3図は、その動作の1つであるスタティックカラムモ
ードを説明するためのタイミング図、第4図は、その動
作の他の1つであるページモードを説明するためのタイ
ミング図、 第5図は、その動作の更に他の1つである高速シリアル
モードを説明するためのタイミング図である。 M−ARYI、M−ARY2・・メモリアレイ、SAI
、SA2・・センスアンプ、R−ADH・・ロウアドレ
スバッファ、C−3WI、C−5W2・・カラムスイッ
チ、C−ADB・・カラムアドレスバッファ、R−DC
R・・ロウアドレスデコーダ、C−DCRl、C−DC
R2・−;hラムアドレスデコーダ、MAl、MA2・
・メインアンプ、TG・・内部制御信号発生回路、AT
D・・アドレス信号変化検出回路、Ilo・・入出力回
路、ADC・・アドレスカウンタ回路、REFC・・自
動リフレッシュ回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、外部端子から供給されるアドレス信号をそのまま伝
    える機能と、外部端子から供給される所定の制御信号の
    エッジに同期して外部端子から供給されるアドレス信号
    を保持するラッチ機能を備えたアドレスバッファを含む
    ことを特徴とする半導体記憶装置。 2、上記アドレスバッファは、カラム系のアドレス信号
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
    導体記憶装置。 3、上記アドレスバッファは、外部端子から供給される
    所定の制御信号の組み合わせにより、その動作モードが
    指示され、外部端子から供給されるアドレス信号が初期
    値とされ、所定の制御信号に従って歩進動作を行うアド
    レスカウンタ回路により形成されるアドレス信号と上記
    外部端子から供給されるアドレス信号とを選択的に伝え
    るマルチプレクサ機能を持つものであることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1又は第2項記載の半導体記憶装置
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