JPS6251418B2 - - Google Patents
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- JPS6251418B2 JPS6251418B2 JP55115659A JP11565980A JPS6251418B2 JP S6251418 B2 JPS6251418 B2 JP S6251418B2 JP 55115659 A JP55115659 A JP 55115659A JP 11565980 A JP11565980 A JP 11565980A JP S6251418 B2 JPS6251418 B2 JP S6251418B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/447—Systems using electrophoresis
- G01N27/44704—Details; Accessories
- G01N27/44717—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones
- G01N27/44721—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones by optical means
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電気泳動において得られた分画像にも
とづくアナログパターンの分画点設定方法に関す
るものである。
とづくアナログパターンの分画点設定方法に関す
るものである。
一般に電気泳動においては、検体に泳動をかけ
て得られた分画像をデンシトメーターにより測光
してアナログパターンを求める。このアナログパ
ターンは、第1図に示すような形状をしている。
つまりその標準的なものは5つのピークa1,a2,
a3,a4,a5を有するA1,A2,A3,A4,A5の5分
画、つまりアルブミン分画、α1グロブリン分
画,α2グロブリン分画,βグロブリン分画,γ
グロブリン分画の5分画に分画する。そして各分
画の境界である分画点は夫々谷の部分b1,b2,
b3,b4にて設定される。そしてこの各分画点間等
の5つの分画A1,A2,A3,A4,A5の面積の%値
等を求める。このような各分画点の設定や各分画
の%値の計算等は検体の分画像をデンシトメータ
ーにより測光して得られたデーターにもとづいて
コンピユーターにより自動的に計算される。
て得られた分画像をデンシトメーターにより測光
してアナログパターンを求める。このアナログパ
ターンは、第1図に示すような形状をしている。
つまりその標準的なものは5つのピークa1,a2,
a3,a4,a5を有するA1,A2,A3,A4,A5の5分
画、つまりアルブミン分画、α1グロブリン分
画,α2グロブリン分画,βグロブリン分画,γ
グロブリン分画の5分画に分画する。そして各分
画の境界である分画点は夫々谷の部分b1,b2,
b3,b4にて設定される。そしてこの各分画点間等
の5つの分画A1,A2,A3,A4,A5の面積の%値
等を求める。このような各分画点の設定や各分画
の%値の計算等は検体の分画像をデンシトメータ
ーにより測光して得られたデーターにもとづいて
コンピユーターにより自動的に計算される。
この分画点の設定をコンピユーターにて行なう
方法の概略を簡単に説明する。第1図に示すよう
に泳動パターンのスタート点より一定間隔△x毎
に、x1,x2……の各点で分画像の濃度(泳動パタ
ーンのyの位置)y1,y2……を測定しyb-1>y
b,yb<yb+1の関係を満足するようなybを求め
れば、これに対応するxbが分画点bのx座標の
値になる。つまりデンシトメーターにより被検体
の分画像を走査し得られる測光値を△xに相当す
る時間間隔で記憶すると共に、上述の条件を満足
するところを分画点として記憶し更に例えば記録
紙に記録されて行くアナログパターンの谷の部分
に分画点を示す印を付けるようにすれば良い。
方法の概略を簡単に説明する。第1図に示すよう
に泳動パターンのスタート点より一定間隔△x毎
に、x1,x2……の各点で分画像の濃度(泳動パタ
ーンのyの位置)y1,y2……を測定しyb-1>y
b,yb<yb+1の関係を満足するようなybを求め
れば、これに対応するxbが分画点bのx座標の
値になる。つまりデンシトメーターにより被検体
の分画像を走査し得られる測光値を△xに相当す
る時間間隔で記憶すると共に、上述の条件を満足
するところを分画点として記憶し更に例えば記録
紙に記録されて行くアナログパターンの谷の部分
に分画点を示す印を付けるようにすれば良い。
しかし検体によつては谷の位置を分画点とする
のでなく、他の位置を分画点として処理したい場
合もある。又分画点となるべき箇所に谷が存在し
ないために自動的には分画点の設定が出来ず、そ
のため新たに設定する必要がある場合もある。こ
のような時は分画装置を操作する者が不要な分画
点は消去しまた設定したい点で自由に分画点を設
定し、それにもとづく計算が自動的に行ない得る
ようなものが要求される。
のでなく、他の位置を分画点として処理したい場
合もある。又分画点となるべき箇所に谷が存在し
ないために自動的には分画点の設定が出来ず、そ
のため新たに設定する必要がある場合もある。こ
のような時は分画装置を操作する者が不要な分画
点は消去しまた設定したい点で自由に分画点を設
定し、それにもとづく計算が自動的に行ない得る
ようなものが要求される。
以上のような要求を可能にした装置として次の
ようなものが知られている。
ようなものが知られている。
その一つは分画像を測光してアナログパターン
を記録している際に、記録されて行くパターンを
みながら分画点としたい位置が記録されている瞬
間に分画点をセツトするためのスイツチを押して
分画を行なうものである。
を記録している際に、記録されて行くパターンを
みながら分画点としたい位置が記録されている瞬
間に分画点をセツトするためのスイツチを押して
分画を行なうものである。
この従来例では装置の記録スピードを一般の自
動的にアナログパターンが記録される場合よりも
遅くして正確に分画が行われるようにしてある。
しかしアナログパターンが記録されている最中に
分画点のセツトのための操作を行なわなければな
らないために記録し終えたアナログパターン全体
をみて総合的に判断して分画点をセツトすること
が出来ず、セツトしたい分画点の位置の判断がむ
づかしい欠点がある。失敗した場合セツトした分
画点を消すことが出来ないために失敗がゆるされ
ない。しかも記録中にセツトしなればならないた
めに正確な点にセツトすることがむづかしく熟練
を要する。
動的にアナログパターンが記録される場合よりも
遅くして正確に分画が行われるようにしてある。
しかしアナログパターンが記録されている最中に
分画点のセツトのための操作を行なわなければな
らないために記録し終えたアナログパターン全体
をみて総合的に判断して分画点をセツトすること
が出来ず、セツトしたい分画点の位置の判断がむ
づかしい欠点がある。失敗した場合セツトした分
画点を消すことが出来ないために失敗がゆるされ
ない。しかも記録中にセツトしなればならないた
めに正確な点にセツトすることがむづかしく熟練
を要する。
他の従来例としては、装置に既に記録されたア
ナログパターンをセツトする場所が設けられてお
り更に記録されたアナログパターンのセツト位置
に移動するカーソルが設けられていて、このカー
ソルが分画像の測光にもづくアナログパターンの
記録に同期して移動するようにした装置によるも
のである。この従来の装置では、記録されたアナ
ログパターンをセツトし、同じ検体のアナログパ
ターンを再び記録されると共に既に記録されたア
ナログパターンの上を移動するカーソルをみてこ
れが分画すべき位置に来た時に分画点設定ボタン
を押して新たな分画点を設定するものである。
ナログパターンをセツトする場所が設けられてお
り更に記録されたアナログパターンのセツト位置
に移動するカーソルが設けられていて、このカー
ソルが分画像の測光にもづくアナログパターンの
記録に同期して移動するようにした装置によるも
のである。この従来の装置では、記録されたアナ
ログパターンをセツトし、同じ検体のアナログパ
ターンを再び記録されると共に既に記録されたア
ナログパターンの上を移動するカーソルをみてこ
れが分画すべき位置に来た時に分画点設定ボタン
を押して新たな分画点を設定するものである。
この装置は一度分画点設定ボタンを押すと取消
しが出来ない欠点がある。又第1の従来例に比べ
れば分画点の設定は行ないやすいがカーソルの移
動中に行なうために正確な設定は出来ない。
しが出来ない欠点がある。又第1の従来例に比べ
れば分画点の設定は行ないやすいがカーソルの移
動中に行なうために正確な設定は出来ない。
本発明は以上のような従来の方法の欠点を解消
するためになされたもので、分画点の設定位置を
定めるのが容易でしかも正確にセツトし得るよう
にした電気泳動パターンにおける分画位置設定方
法を提供するものである。
するためになされたもので、分画点の設定位置を
定めるのが容易でしかも正確にセツトし得るよう
にした電気泳動パターンにおける分画位置設定方
法を提供するものである。
以下図面にもとづいて本発明の詳細な内容を説
明する。第2図は本発明の構成を示すブロツク図
で、1はコンピユーター部でこのコンピユーター
部では次に述べる各装置の制御を行なうと共に必
要な演算、データー処理等が行なわれる。2は電
気泳動により形成された分画像を測光するデンシ
トメーターで、ここで得られたデーターはコンピ
ユーター1に送られる。3は分画点位置情報等を
入力するための入力用端末、4はCRTやプリン
ター等アナログパターンの表示や記録およびデジ
タル印字がなされる出力用端末である。
明する。第2図は本発明の構成を示すブロツク図
で、1はコンピユーター部でこのコンピユーター
部では次に述べる各装置の制御を行なうと共に必
要な演算、データー処理等が行なわれる。2は電
気泳動により形成された分画像を測光するデンシ
トメーターで、ここで得られたデーターはコンピ
ユーター1に送られる。3は分画点位置情報等を
入力するための入力用端末、4はCRTやプリン
ター等アナログパターンの表示や記録およびデジ
タル印字がなされる出力用端末である。
以上のような構成において、まず測光装置2に
より得られたアナログパターンを記録計により記
録すると共にアナログパターンデーターをメモリ
ーに記録する。つまり記録紙には第3図に示すよ
うなアナログパターン5が記録されると共に符号
6に示すように各分画の%値等が印字される。こ
こでアナログパターンには分画点となる部分に符
号7に示すように分画点マークが印される。
より得られたアナログパターンを記録計により記
録すると共にアナログパターンデーターをメモリ
ーに記録する。つまり記録紙には第3図に示すよ
うなアナログパターン5が記録されると共に符号
6に示すように各分画の%値等が印字される。こ
こでアナログパターンには分画点となる部分に符
号7に示すように分画点マークが印される。
分画像のアナログ信号はA/D変換されてメモ
リーに記憶される。この場合第4図に示すように
アナログ信号は一定時間ごとにサンプリングされ
A/D変換されてデジタル値が記憶される。つま
り第4図に示すx軸上にサンプリング点(0,
1,2,…i,……n)をとり、y軸にサンプリ
ング点に対応するパターン濃度をとれば、各xに
対するyの値がメモリーに記憶されることにな
る。
リーに記憶される。この場合第4図に示すように
アナログ信号は一定時間ごとにサンプリングされ
A/D変換されてデジタル値が記憶される。つま
り第4図に示すx軸上にサンプリング点(0,
1,2,…i,……n)をとり、y軸にサンプリ
ング点に対応するパターン濃度をとれば、各xに
対するyの値がメモリーに記憶されることにな
る。
第5図はメモリーに記憶された状態を示したも
ので、α,α+1,…,αoはメモリーのアドレ
スであり、αはx=0,αoはx=nに対応して
いる。そしてそのアドレス内の濃度y(y0,y1,
y2……)が夫々記憶されている。また分画点のデ
ーターには分画点情報ビツトに1をセツトし分画
点以外は0になつている。
ので、α,α+1,…,αoはメモリーのアドレ
スであり、αはx=0,αoはx=nに対応して
いる。そしてそのアドレス内の濃度y(y0,y1,
y2……)が夫々記憶されている。また分画点のデ
ーターには分画点情報ビツトに1をセツトし分画
点以外は0になつている。
次に分画点を消去又は追加したい時には入力端
末3より分画点情報を入力する。分画点情報には
分画点消去情報と追加分画点情報とがある。これ
ら二つの情報は一方のみ入力する場合又は両方入
力する場合がある。これら情報のうち分画点消去
情報は、例えばアナログパターンに異常分画が存
在していてその点が分画点をなつている場合にこ
れを消去する場合等に用いるものである。又追加
分画情報は例えば分画すべき点に分画がない場合
に新たに分画点を設ける場合等に用いられる。
末3より分画点情報を入力する。分画点情報には
分画点消去情報と追加分画点情報とがある。これ
ら二つの情報は一方のみ入力する場合又は両方入
力する場合がある。これら情報のうち分画点消去
情報は、例えばアナログパターンに異常分画が存
在していてその点が分画点をなつている場合にこ
れを消去する場合等に用いるものである。又追加
分画情報は例えば分画すべき点に分画がない場合
に新たに分画点を設ける場合等に用いられる。
分画点情報を入力する方法について次に述べ
る。まず分画点消去情報のキー(例えばこのキー
には「−」の記をしておく)と共に消去したい分
画点がアルブミンのピーク値の側(スタート側)
から、つまりアドレスαから何番目の分画点であ
るかを示す数字のキー例えば「2」を押す。これ
によつてアルブミンピーク値から2番目の分画点
が消去される。
る。まず分画点消去情報のキー(例えばこのキー
には「−」の記をしておく)と共に消去したい分
画点がアルブミンのピーク値の側(スタート側)
から、つまりアドレスαから何番目の分画点であ
るかを示す数字のキー例えば「2」を押す。これ
によつてアルブミンピーク値から2番目の分画点
が消去される。
次に追加分画情報を入力する場合について述べ
る。追加分画点情報のキー(例えば「+」と記さ
れたキー)を押し又第6図に示すように目盛りが
印刷された記録紙にアナログパターンを記録する
場合には、その目盛りによつて追加する分画点の
位置を読みとり、例えば符号8にて示す点を分画
点とする場合は17.1を入力する。又第7図のよう
に目盛りが印刷されていない記録紙にアナログパ
ターンを記録する場合には、スケール等により記
録開始点0と追加する分画点との間のx軸上の長
さlをはかつてその値を入力する。
る。追加分画点情報のキー(例えば「+」と記さ
れたキー)を押し又第6図に示すように目盛りが
印刷された記録紙にアナログパターンを記録する
場合には、その目盛りによつて追加する分画点の
位置を読みとり、例えば符号8にて示す点を分画
点とする場合は17.1を入力する。又第7図のよう
に目盛りが印刷されていない記録紙にアナログパ
ターンを記録する場合には、スケール等により記
録開始点0と追加する分画点との間のx軸上の長
さlをはかつてその値を入力する。
以上の方法では情報が消去であるか追加である
かを指示するためのキー例えば「+」キー,
「−」キーを用いたが入力データーそのものに消
去、追加の信号も含めることにより消去か追加の
キーを用いることなく処理することが出来る。例
えば消去の時には上位2桁に「0」を入力するこ
とにより区別することが出来る。つまり上述のア
ルブミンピーク位置から2番目の分画点を消去し
たい場合には「002」と入力するようにすれば良
い。
かを指示するためのキー例えば「+」キー,
「−」キーを用いたが入力データーそのものに消
去、追加の信号も含めることにより消去か追加の
キーを用いることなく処理することが出来る。例
えば消去の時には上位2桁に「0」を入力するこ
とにより区別することが出来る。つまり上述のア
ルブミンピーク位置から2番目の分画点を消去し
たい場合には「002」と入力するようにすれば良
い。
入力中に入力の誤まりに気付いた場合にはクリ
アーキー「CE」等により入力をクリアーしてか
ら再度入力する等の修正を行なうことも可能であ
る。
アーキー「CE」等により入力をクリアーしてか
ら再度入力する等の修正を行なうことも可能であ
る。
このようにして分画点情報の入力が終了する
と、例えば「END」キー又は「START」キーを
押すことによつて次の段階へ移行する。つまり入
力された情報によつて、メモリーに記憶されてい
る情報の変更(修正)が行なわれる。次にその具
体的内容を説明する。
と、例えば「END」キー又は「START」キーを
押すことによつて次の段階へ移行する。つまり入
力された情報によつて、メモリーに記憶されてい
る情報の変更(修正)が行なわれる。次にその具
体的内容を説明する。
分画消去情報が入力された場合について説明す
る。デンシトメーターにより測光されたデーター
は第5図に示すようにメモリーに記録されてい
る。これに対して分画消去情報例えば前述の
「−」「2」が入力された場合にはアルブミン分画
のアドレスから順次分画点情報ビツトをしらべ2
回目に現われた「1」をキヤンセルして「0」に
する。これによつてこのメモリーに記憶されたデ
ーター(修正後の)にもとづいてアナログパター
ンを記録すれば、2番目の極小値には分画マーク
が印されずに記録される。又各分画の%値等をコ
ンピユーターにより求める場合にも2番目の極小
値を分画点としないで計算された各値が印字され
る。
る。デンシトメーターにより測光されたデーター
は第5図に示すようにメモリーに記録されてい
る。これに対して分画消去情報例えば前述の
「−」「2」が入力された場合にはアルブミン分画
のアドレスから順次分画点情報ビツトをしらべ2
回目に現われた「1」をキヤンセルして「0」に
する。これによつてこのメモリーに記憶されたデ
ーター(修正後の)にもとづいてアナログパター
ンを記録すれば、2番目の極小値には分画マーク
が印されずに記録される。又各分画の%値等をコ
ンピユーターにより求める場合にも2番目の極小
値を分画点としないで計算された各値が印字され
る。
又追加分画点情報の場合について述べる。アナ
ログパタンはデンシトメーターにより測光された
データーを一定時間間隔毎に出力し、そのデジタ
ル値をD/A変換して得られる。したがつてアナ
ログパターンの記録の長さ(x軸上の長さ)は記
憶されたデーターを順次出力する時間間隔および
記録紙の送り速度により決定される。つまりデー
ターが出力される時間間隔および記録紙の送り速
度が一定であれば、出力データー数と記録長とは
1対1に対応する。
ログパタンはデンシトメーターにより測光された
データーを一定時間間隔毎に出力し、そのデジタ
ル値をD/A変換して得られる。したがつてアナ
ログパターンの記録の長さ(x軸上の長さ)は記
憶されたデーターを順次出力する時間間隔および
記録紙の送り速度により決定される。つまりデー
ターが出力される時間間隔および記録紙の送り速
度が一定であれば、出力データー数と記録長とは
1対1に対応する。
記録長をl、測光開始時のアドレスをα,x番
目のデーターのアドレスをαxとすれば (αx―α)=kl なる関係が成立つ。ただしkは定数である。
目のデーターのアドレスをαxとすれば (αx―α)=kl なる関係が成立つ。ただしkは定数である。
今前述の例のように記録長が17.1の場合を例に
すれば、追加分画情報「+」「17.1」が入力され
る。
すれば、追加分画情報「+」「17.1」が入力され
る。
つまり(αx―α)=k×17.1よりαx=α+k
×17.1であるから、これよりαxを求め、求めら
れたαxの分画点情報ビツトを「1」にセツトす
る。
×17.1であるから、これよりαxを求め、求めら
れたαxの分画点情報ビツトを「1」にセツトす
る。
これによつて再度記録紙に記録すれば17.1の箇
所(極小値でないところ)に分画点の印が記録さ
れる。同様に%値等はこれを分画点とした印字が
なされる。
所(極小値でないところ)に分画点の印が記録さ
れる。同様に%値等はこれを分画点とした印字が
なされる。
ここで記録紙の送り速度の精度等の関係からア
ドレスαxが異なることがある。これをなくしよ
り精度の良い分画を行なうためにはつまり分画点
位置精度を上げるためには、第7図に示すように
スケールで測定する際の目安となるマーク9つま
りスタート点のマークを入れるとか、データー入
力時に追加点までの長さと同時にアナログパター
ンのスタートより終点までの全長をも入力し比を
求めることによつて分画点としたい位置を定める
方法がある。
ドレスαxが異なることがある。これをなくしよ
り精度の良い分画を行なうためにはつまり分画点
位置精度を上げるためには、第7図に示すように
スケールで測定する際の目安となるマーク9つま
りスタート点のマークを入れるとか、データー入
力時に追加点までの長さと同時にアナログパター
ンのスタートより終点までの全長をも入力し比を
求めることによつて分画点としたい位置を定める
方法がある。
比による方法の場合は、追加分画点までの長さ
をl、全長をL、終点のアドレスをαoとする
時、次の関係より追加分画点のアドレスαxを計
算し、このアドレスの分画情報ビツトを1にすれ
ば良い。
をl、全長をL、終点のアドレスをαoとする
時、次の関係より追加分画点のアドレスαxを計
算し、このアドレスの分画情報ビツトを1にすれ
ば良い。
αx―α/αo―α=l/L
この方法によれば、データー出力時間隔や記録
紙送り速度を無視することが出来る。
紙送り速度を無視することが出来る。
以上のようにして新分画点の設定が終了した後
は通常のデーター処理を行なえば良い。即ちコン
ピユーターに記憶されているデーターにもとづき
新しく設定しなおした分画点による値がコンピユ
ーターにて計算され記録紙上にアナログパターン
(新たな分画点の印が記入された)が画かれ又分
画%値が印字される。
は通常のデーター処理を行なえば良い。即ちコン
ピユーターに記憶されているデーターにもとづき
新しく設定しなおした分画点による値がコンピユ
ーターにて計算され記録紙上にアナログパターン
(新たな分画点の印が記入された)が画かれ又分
画%値が印字される。
第8図には新分画点8を印した新たに記録され
たアナログパターンと分画%値等のデーターを印
字した最紙出力が示してある。
たアナログパターンと分画%値等のデーターを印
字した最紙出力が示してある。
尚アナログパターンが分画点を設定するために
用いられる場合には、分画%値の印字は不必要で
ある。したがつて第1回目の記録はアナログパタ
ーンのみにして分画値等の印字を行なわないよう
にしても良い。
用いられる場合には、分画%値の印字は不必要で
ある。したがつて第1回目の記録はアナログパタ
ーンのみにして分画値等の印字を行なわないよう
にしても良い。
以上説明したように本発明の分画点を設定する
方法によれば単に入力端末よりの入力のみの簡単
な操作で良く、したがつて特別な装置が不要であ
る。又アナログ出力が終了した後につまりアナロ
グパターンが記録された後に分画点の設定(分画
点の消去および追加)が行なわれるのでアナログ
パターンをみて総合的に判断した後に分画点の設
定を行なうことが出来、しかもシーケンス動作と
連動していないので時間的制限がなく誰でも容易
に正確に分画点の設定が行なえる。更に入力中に
誤まりに気付いた場合には、誤りを修正すること
が可能である。
方法によれば単に入力端末よりの入力のみの簡単
な操作で良く、したがつて特別な装置が不要であ
る。又アナログ出力が終了した後につまりアナロ
グパターンが記録された後に分画点の設定(分画
点の消去および追加)が行なわれるのでアナログ
パターンをみて総合的に判断した後に分画点の設
定を行なうことが出来、しかもシーケンス動作と
連動していないので時間的制限がなく誰でも容易
に正確に分画点の設定が行なえる。更に入力中に
誤まりに気付いた場合には、誤りを修正すること
が可能である。
第1図は分画像の標準的なアナログパターンを
示す図、第2図は本発明の構成を示すブロツク
図、第3図は新たな分画点の設定前のアナログパ
ターンを示す図、第4図はアナログ信号のサンプ
リング方法を説明するための図、第5図はデータ
ーがメモリーに記憶された状態を示す図、第6
図、第7図は分画点を設定する場合に利用される
アナログパターンの図で第6図は記録紙に目盛り
が印刷されている場合、第7図は目盛りが印刷さ
れていない場合を示す図、第8図は分画点設定後
に記録されたアナログパターンを示す図である。 1……コンピユーター部、2……デンシトメー
ター、3……入力用端末、4……出力用端末。
示す図、第2図は本発明の構成を示すブロツク
図、第3図は新たな分画点の設定前のアナログパ
ターンを示す図、第4図はアナログ信号のサンプ
リング方法を説明するための図、第5図はデータ
ーがメモリーに記憶された状態を示す図、第6
図、第7図は分画点を設定する場合に利用される
アナログパターンの図で第6図は記録紙に目盛り
が印刷されている場合、第7図は目盛りが印刷さ
れていない場合を示す図、第8図は分画点設定後
に記録されたアナログパターンを示す図である。 1……コンピユーター部、2……デンシトメー
ター、3……入力用端末、4……出力用端末。
Claims (1)
- 1 電気泳動された分画像を測光する装置と、前
記測光装置により得られたデーターの処理や記憶
を行なうコンピユーターと、前記コンピユーター
への入力を行なう端末装置とを備え、前記測光装
置よりの分画像をサンプリングして得られたデー
ターおよび各データーに対応した分画点の情報を
前記コンピユーターに記憶する段階と、前記コン
ピユーターに記憶されたデーターと同じアナログ
パターンをもとにして前記端末装置により、分画
点の消去又は新たな分画位置設定の情報を入力す
ることによつて前記コンピユーターに記憶されて
いる分画点の情報を変更する段階とを有する電気
泳動パターンの分画点設定方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55115659A JPS5740634A (en) | 1980-08-22 | 1980-08-22 | Method of setting demarkation point of electrophoresis pattern |
| US06/292,537 US4420384A (en) | 1980-08-22 | 1981-08-13 | Method for determining boundary points on electrophoretic patterns and means therefor |
| DE19813133129 DE3133129A1 (de) | 1980-08-22 | 1981-08-21 | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen von grenzpunkten auf elektrophoretischen mustern |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55115659A JPS5740634A (en) | 1980-08-22 | 1980-08-22 | Method of setting demarkation point of electrophoresis pattern |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5740634A JPS5740634A (en) | 1982-03-06 |
| JPS6251418B2 true JPS6251418B2 (ja) | 1987-10-29 |
Family
ID=14668115
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55115659A Granted JPS5740634A (en) | 1980-08-22 | 1980-08-22 | Method of setting demarkation point of electrophoresis pattern |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4420384A (ja) |
| JP (1) | JPS5740634A (ja) |
| DE (1) | DE3133129A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0352456U (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-21 | ||
| JPH0449259U (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-27 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4720788A (en) * | 1984-06-20 | 1988-01-19 | Helena Laboratories Corporation | Diagnostic densitometer |
| JPH06100534B2 (ja) * | 1985-02-09 | 1994-12-12 | オリンパス光学工業株式会社 | 泳動パターンの記録方法 |
| JPH0735995B2 (ja) * | 1985-02-07 | 1995-04-19 | オリンパス光学工業株式会社 | 泳動パターンの記録方法 |
| US5365455A (en) * | 1991-09-20 | 1994-11-15 | Vanderbilt University | Method and apparatus for automatic nucleic acid sequence determination |
| JP3091176B2 (ja) * | 1998-02-18 | 2000-09-25 | 株式会社ヘレナ研究所 | 分離分析検査データ処理装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4242730A (en) * | 1979-03-09 | 1980-12-30 | Helena Laboratories Corporation | Single scan microprocessor-controlled densitometer |
| JPS55156851A (en) * | 1979-05-25 | 1980-12-06 | Olympus Optical Co Ltd | Fractionation processing method for electrophoresis |
| JPS5670455A (en) * | 1979-11-13 | 1981-06-12 | Olympus Optical Co Ltd | Processing method for demarcation in electrophoresis |
-
1980
- 1980-08-22 JP JP55115659A patent/JPS5740634A/ja active Granted
-
1981
- 1981-08-13 US US06/292,537 patent/US4420384A/en not_active Expired - Fee Related
- 1981-08-21 DE DE19813133129 patent/DE3133129A1/de not_active Ceased
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0352456U (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-21 | ||
| JPH0449259U (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-27 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5740634A (en) | 1982-03-06 |
| US4420384A (en) | 1983-12-13 |
| DE3133129A1 (de) | 1982-05-27 |
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