JPS6286739A - プロ−ブカ−ド - Google Patents
プロ−ブカ−ドInfo
- Publication number
- JPS6286739A JPS6286739A JP60226465A JP22646585A JPS6286739A JP S6286739 A JPS6286739 A JP S6286739A JP 60226465 A JP60226465 A JP 60226465A JP 22646585 A JP22646585 A JP 22646585A JP S6286739 A JPS6286739 A JP S6286739A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe card
- main body
- relay
- relay member
- prober
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体基板(以下ウェハという)上に形成され
た集積回路素子(以下チップという)の検査用プローバ
に取り付けるプローブカードに関する。
た集積回路素子(以下チップという)の検査用プローバ
に取り付けるプローブカードに関する。
従来、第3図に示すようにプローブカード1′において
、ターミナルビン13はプローブ3が形成されている面
に対して裏側の面の外周部に形成されていた。
、ターミナルビン13はプローブ3が形成されている面
に対して裏側の面の外周部に形成されていた。
従って、このようなプローブカード1′をプローバに取
り付けるためには、ターミナルビン13を差し込むソケ
ット14の開口部を中継部材γに対して図中で下向きに
なるように形成し、さらに中継部材支持部11を図中で
上方向へ上げ、プローブカード1′を中継部材支持部1
1の下から上方向へ押し上げるようにしてターミナルビ
ン13をソケット14に差し込んでいた・ また、プローブカードの位置がずれないようにトメねシ
12によってプローブカード1′を中継部材7′に固定
するわけであるが、この場合においてもとめねじ12を
中継部材7′の下方向から取フ付けてイタ。当然ながら
、プローブカード1′を取り外すときも、中継部材支持
部11を上方向へ上げ、中継部材7′の下方向からとめ
ねじ12を外し、プローブカード1′を下方向へ引き下
げて取り外していた。
り付けるためには、ターミナルビン13を差し込むソケ
ット14の開口部を中継部材γに対して図中で下向きに
なるように形成し、さらに中継部材支持部11を図中で
上方向へ上げ、プローブカード1′を中継部材支持部1
1の下から上方向へ押し上げるようにしてターミナルビ
ン13をソケット14に差し込んでいた・ また、プローブカードの位置がずれないようにトメねシ
12によってプローブカード1′を中継部材7′に固定
するわけであるが、この場合においてもとめねじ12を
中継部材7′の下方向から取フ付けてイタ。当然ながら
、プローブカード1′を取り外すときも、中継部材支持
部11を上方向へ上げ、中継部材7′の下方向からとめ
ねじ12を外し、プローブカード1′を下方向へ引き下
げて取り外していた。
このように従来のプローブカードをプローバに取り付け
るときは、プローブカードを取り付ける作業者の姿勢が
中継部材の下の方からのぞき上げる形になり作業環境の
面から好ましくなかった。
るときは、プローブカードを取り付ける作業者の姿勢が
中継部材の下の方からのぞき上げる形になり作業環境の
面から好ましくなかった。
また設備的な面からも、チップを検査する際には絶対に
位置が変わらないようプローバ本体に固定しなければな
らない中継部材支持部をプローブカードを取り付けると
きあるいは取り外すとき上方向へ移動させなければなら
ず、この作業の頻度゛が多くなれば中継部材支持部を上
下させる機構部に摩擦などにより劣化がおこり、中継部
材支持部の固定時の位置精度が悪化し、チップの検査に
支障を与えるという欠点があった。
位置が変わらないようプローバ本体に固定しなければな
らない中継部材支持部をプローブカードを取り付けると
きあるいは取り外すとき上方向へ移動させなければなら
ず、この作業の頻度゛が多くなれば中継部材支持部を上
下させる機構部に摩擦などにより劣化がおこり、中継部
材支持部の固定時の位置精度が悪化し、チップの検査に
支障を与えるという欠点があった。
本発明は前記問題点を解消し、中継部材を上下させるこ
となく、取り付は及び取り外しを行うことができるプロ
ーブカードを提供するものである。
となく、取り付は及び取り外しを行うことができるプロ
ーブカードを提供するものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明はプローバの中継部材に支持させてプローブカー
ド本体の下端面のプローブを集積回路素子の電極に接触
させるプローブカードにおいて、前記中継部材の下端面
にプローブカード本体を挿通させる貫通孔を設け、かつ
プローブカード本体に、中継部材の上端面に支持させる
鍔部を形成し、プローブカード本体の鍔部の下端面と中
継部材の上端面とに電気的接続用コンタクトパッドをそ
れぞれ付設したことを特徴とするプローブカードである
。
ド本体の下端面のプローブを集積回路素子の電極に接触
させるプローブカードにおいて、前記中継部材の下端面
にプローブカード本体を挿通させる貫通孔を設け、かつ
プローブカード本体に、中継部材の上端面に支持させる
鍔部を形成し、プローブカード本体の鍔部の下端面と中
継部材の上端面とに電気的接続用コンタクトパッドをそ
れぞれ付設したことを特徴とするプローブカードである
。
以下、本発明の一実施例を図によって説明する。
第1図、第2図において、プローバの中継部材7の上端
面にプローブカード本体1を挿通する貫通孔7αを設け
、かつプローブカード本体1には中継部材7の上端面に
支持させる鍔部ICLを形成し、中継部材7の上端面と
プローブカード本体1の鍔部1αの下端面とにコンタク
トパッド6.2をそれぞれ付設する。
面にプローブカード本体1を挿通する貫通孔7αを設け
、かつプローブカード本体1には中継部材7の上端面に
支持させる鍔部ICLを形成し、中継部材7の上端面と
プローブカード本体1の鍔部1αの下端面とにコンタク
トパッド6.2をそれぞれ付設する。
そして、第2図に示すようにプローブ3を下に向けてプ
ローブカード本体1を中継部材7の貫通孔7αに挿通し
、中継部材7の上端面にプローブカード本体1の鍔部l
αを支持させ・プローブカード本体1のコンタクトパッ
ド2を中継部材7に形成されたコンタクトパッド6と合
致させ、とめねじ12により固定する。プローブ3はウ
エノ14内に形成されたチップの電極パッドに接触する
。ウエノ14はチャック5に真空吸着されている。ター
ミナルパッド2はコンタクトパッド6と電気的に接触し
、コンタクトパッド6から中継部材7に形成されたボゴ
コンタクトビン8に電気的回路で接続されている。
ローブカード本体1を中継部材7の貫通孔7αに挿通し
、中継部材7の上端面にプローブカード本体1の鍔部l
αを支持させ・プローブカード本体1のコンタクトパッ
ド2を中継部材7に形成されたコンタクトパッド6と合
致させ、とめねじ12により固定する。プローブ3はウ
エノ14内に形成されたチップの電極パッドに接触する
。ウエノ14はチャック5に真空吸着されている。ター
ミナルパッド2はコンタクトパッド6と電気的に接触し
、コンタクトパッド6から中継部材7に形成されたボゴ
コンタクトビン8に電気的回路で接続されている。
また、中継部材7は中継部材支持部11に固定されてい
る。中継部材支持部11は図には示していないが、プロ
ーバ本体に取り付けられている。
る。中継部材支持部11は図には示していないが、プロ
ーバ本体に取り付けられている。
ポゴコンタクトピン8は中継ボード9を介してテストヘ
ッド10に接続される。テストヘッドはテスタの測定部
であり、このテストヘッドから試験信号が出力され、試
験信号は前記ポゴコンタクトビン8、コンタクトパッド
6、ターミナルノくラド2を経てプローブ3へ伝送され
る。またチップからの応答信号はこの経路の逆を経てテ
ストヘッドに伝送される。
ッド10に接続される。テストヘッドはテスタの測定部
であり、このテストヘッドから試験信号が出力され、試
験信号は前記ポゴコンタクトビン8、コンタクトパッド
6、ターミナルノくラド2を経てプローブ3へ伝送され
る。またチップからの応答信号はこの経路の逆を経てテ
ストヘッドに伝送される。
第2図において、プローブカード本体1を取り付けるた
めには、まずテストヘッド10は中継ボード9とともに
プローバから離しておく必要がある。
めには、まずテストヘッド10は中継ボード9とともに
プローバから離しておく必要がある。
そしてプローブカード本体1を中継部材支持部11の上
方よシコンタクトパッド6にターミナルパッド2が合致
するように位置決めを行ってプローブカード本体lの鍔
部1αを中継部材7の上端面にとめねじ12にて固定す
る。このあと、テストへラド10をプローバに接近させ
、中継ボード9上の電極パッドとポゴコンタクトピン8
が整合するように取り付ける。
方よシコンタクトパッド6にターミナルパッド2が合致
するように位置決めを行ってプローブカード本体lの鍔
部1αを中継部材7の上端面にとめねじ12にて固定す
る。このあと、テストへラド10をプローバに接近させ
、中継ボード9上の電極パッドとポゴコンタクトピン8
が整合するように取り付ける。
当然ながら、プローブカード本体1を取り外すときは前
記作業を逆の手順で行えばよく、プローブカード本体l
は中継部材支持部11の上方へ引き上げるようにすれば
、取り外すことができる。
記作業を逆の手順で行えばよく、プローブカード本体l
は中継部材支持部11の上方へ引き上げるようにすれば
、取り外すことができる。
以上説明したように本発明はプローブカード上のコンタ
クトパッドの取付面の向きをプローブ取付面と同一の向
きにすることにより、ブロープカ−ドをプローバの上方
から取り付けあるいは取り外すことができ、プローブカ
ードの固定もプローバの上方から作業できるようになり
、工数の低減を実現できる。さらにプローブカードの取
り付は取り外しの際に中継部材支持部を持ち上げたり裏
返すなどの機構動作がなくなるため、プローバの機械的
精度の劣化を少なくすることができる効果を有するもの
である。
クトパッドの取付面の向きをプローブ取付面と同一の向
きにすることにより、ブロープカ−ドをプローバの上方
から取り付けあるいは取り外すことができ、プローブカ
ードの固定もプローバの上方から作業できるようになり
、工数の低減を実現できる。さらにプローブカードの取
り付は取り外しの際に中継部材支持部を持ち上げたり裏
返すなどの機構動作がなくなるため、プローバの機械的
精度の劣化を少なくすることができる効果を有するもの
である。
第1図は本発明のプローブカードの一実施例の外観図、
第2図は本発明のプローブカードをプローバニ取す付け
たときのプローブカード付近の断面図、第3図は従来の
プローブカードをプローバに取り付けたときのプローブ
カード付近の断面図である。
第2図は本発明のプローブカードをプローバニ取す付け
たときのプローブカード付近の断面図、第3図は従来の
プローブカードをプローバに取り付けたときのプローブ
カード付近の断面図である。
Claims (1)
- (1)プローバの中継部材に支持させてプローブカード
本体の下端面のプローブを集積回路素子の電極に接触さ
せるプローブカードにおいて、前記中継部材の上端面に
プローブカード本体を挿通させる貫通孔を設け、かつプ
ローブカード本体に、中継部材の上端面に支持させる鍔
部を形成し、プローブカード本体の鍔部の下端面と中継
部材の上端面とに電気的接続用コンタクトパッドをそれ
ぞれ付設したことを特徴とするプローブカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60226465A JPS6286739A (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | プロ−ブカ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60226465A JPS6286739A (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | プロ−ブカ−ド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6286739A true JPS6286739A (ja) | 1987-04-21 |
Family
ID=16845522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60226465A Pending JPS6286739A (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | プロ−ブカ−ド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6286739A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6448439A (en) * | 1987-08-18 | 1989-02-22 | Tokyo Electron Ltd | Mounting structure of probing card |
| CN117434318A (zh) * | 2023-12-20 | 2024-01-23 | 安盈半导体技术(常州)有限公司 | 一种组合式探针卡 |
-
1985
- 1985-10-11 JP JP60226465A patent/JPS6286739A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6448439A (en) * | 1987-08-18 | 1989-02-22 | Tokyo Electron Ltd | Mounting structure of probing card |
| CN117434318A (zh) * | 2023-12-20 | 2024-01-23 | 安盈半导体技术(常州)有限公司 | 一种组合式探针卡 |
| CN117434318B (zh) * | 2023-12-20 | 2024-03-05 | 安盈半导体技术(常州)有限公司 | 一种组合式探针卡 |
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