JPS6298657A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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Publication number
JPS6298657A
JPS6298657A JP60238776A JP23877685A JPS6298657A JP S6298657 A JPS6298657 A JP S6298657A JP 60238776 A JP60238776 A JP 60238776A JP 23877685 A JP23877685 A JP 23877685A JP S6298657 A JPS6298657 A JP S6298657A
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JP
Japan
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circuit
signals
output
signal
selecting
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Application number
JP60238776A
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English (en)
Inventor
Isao Kimura
功 木村
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS6298657A publication Critical patent/JPS6298657A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、集積回路、特に、論理機能の検査が容易な集
積回路に関する。
〔従来の技術〕
従来の集積回路は、内部回路数が増加した場合それだけ
入力信号2よび出力信号の数が増加するため内部信号を
観測するための出力信号ピンはとても設ける余裕がなく
、あっても現測点ごとに個別に出力ピンに接続してい虎
〔発明が解決しようとする問題点〕
すなわち、従来の集積回路は、内部観測点とその出力信
号ピンとが1対1に対応しているため観測点を堆1とそ
れに比例して出力信号ピンが必要になるので、多くの内
部観測点をとれないという欠点がある。
〔問題点を解決する之めの手段〕
回路内の複数個の内部信号を観測するための複数個の出
力信号ピンと該内部観測信号を選択するための選択回路
と選択入力信号ピンとを有して構成される。
〔実施例〕
次に1本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例を示すプローツク図である。
第1図に示す集積回路1は入力信号ピン2〜7から入力
信号を印加して、AND回路B、9゜NAND回路10
.11とOR回路12によって演算を行いその出力信号
は出力信号ピン14に出力される。
この場合、AND回路8,9からの出力信号21.20
とNAND回路10からの出力1号23とOR,回路1
2からの出力信号22を観測するため、これらの出力猶
号20〜23を選択回路で外部へ取出すことができる。
〔発明の効果〕
本発明の集積回路は、観測する内部信号を選択回路によ
って選択してしばり込むことによりて。
観測の丸めの入出力ピンと削成でさるという効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数個の入力信号を供給するための複数個の入力信号ピ
    ンと、複数の内部信号を処理した結果を出力するための
    1以上の出力信号ピンと、前記複数の内部信号のいずれ
    かを選択するための選択信号を供給するための複数個の
    選択入力信号ピンとを含むことを特徴とする集積回路。
JP60238776A 1985-10-24 1985-10-24 集積回路 Pending JPS6298657A (ja)

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JP60238776A JPS6298657A (ja) 1985-10-24 1985-10-24 集積回路

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JP60238776A JPS6298657A (ja) 1985-10-24 1985-10-24 集積回路

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JPS6298657A true JPS6298657A (ja) 1987-05-08

Family

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Family Applications (1)

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JP (1) JPS6298657A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6441257A (en) * 1987-08-07 1989-02-13 Nec Corp Lsi
JPS6464249A (en) * 1987-09-03 1989-03-10 Nec Corp Semiconductor integrated circuit
JPH04301782A (ja) * 1991-03-29 1992-10-26 Nec Eng Ltd テスト容易化回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6441257A (en) * 1987-08-07 1989-02-13 Nec Corp Lsi
JPS6464249A (en) * 1987-09-03 1989-03-10 Nec Corp Semiconductor integrated circuit
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