JPS63239700A - Ramとpromのデ−タ比較・判定回路 - Google Patents
Ramとpromのデ−タ比較・判定回路Info
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- JPS63239700A JPS63239700A JP62073778A JP7377887A JPS63239700A JP S63239700 A JPS63239700 A JP S63239700A JP 62073778 A JP62073778 A JP 62073778A JP 7377887 A JP7377887 A JP 7377887A JP S63239700 A JPS63239700 A JP S63239700A
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- Japan
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- prom
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- ram
- control signal
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- 101100521334 Mus musculus Prom1 gene Proteins 0.000 claims 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 102100031584 Cell division cycle-associated 7-like protein Human genes 0.000 description 4
- 101000777638 Homo sapiens Cell division cycle-associated 7-like protein Proteins 0.000 description 4
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
この発明は、RAMのデータAをFROMに書き込み、
FROMに書き込まれたデータBを読み出し、データA
とデータBが一致しているかどうかを比較・判定する回
路についてのものである。
FROMに書き込まれたデータBを読み出し、データA
とデータBが一致しているかどうかを比較・判定する回
路についてのものである。
(b)従来技術と問題点
まず、従来回路の構成図を第2図に示す。
第2図の1はCPU12はRAM、3はIlo、4はF
ROM、5は比較器、8は基準電圧、7はスイッチ、8
は比較結果である。
ROM、5は比較器、8は基準電圧、7はスイッチ、8
は比較結果である。
RAM2とFROM4は、それぞれnビットで構成され
ており、RAM2にはFROM4に書き込むデータAを
格納している。
ており、RAM2にはFROM4に書き込むデータAを
格納している。
基準電圧6にはrHJとrLJがあり、例えば「H」を
2.35 V ニL、rLJを0.5V1.:する。
2.35 V ニL、rLJを0.5V1.:する。
基$71f圧6の電圧は、スイッチ7からn個の比較器
5の入力5aにそれぞれ加えられる。
5の入力5aにそれぞれ加えられる。
また、FROM4の読み出しデータは、r1個の比較′
/ri5の入力5bにそれぞれ加えられる。
/ri5の入力5bにそれぞれ加えられる。
第2図は、n=3の場合の例を示している。
次に、第2図の作用を次のア〜オで説明する。
ア CPU1のt旨令で、RAM2から「1」、「0」
で構成されるデータAを読み出し、l103ヘデータA
を転送する。
で構成されるデータAを読み出し、l103ヘデータA
を転送する。
イ l103は、データAをPROM4に送り、データ
AをPROM4に書き込む。
AをPROM4に書き込む。
ウ CPUIの指令で、FROM4に書き込まれたデー
タBを読み出し、基準電圧6をrHJにし、比較器5で
データBが「1」かどうかを判定する。
タBを読み出し、基準電圧6をrHJにし、比較器5で
データBが「1」かどうかを判定する。
工 基準電圧6をrLJに切換え、比較器5でデータB
が「0」かどうかを判定する。
が「0」かどうかを判定する。
オ CPUIでは、RAM2のデータAと比較結果8が
同じかどうかを判定子る。
同じかどうかを判定子る。
FROM4には、1クロツクで「1」か「0」のデータ
A、6(fき込まれるたびに、書き込まれたデータBを
読み出して良否を判定する。
A、6(fき込まれるたびに、書き込まれたデータBを
読み出して良否を判定する。
しかし、第2図の比較・判定回路では、FROM4から
読み出したデータBが「1」か「0」かを比較するため
に、そのたびに基準電圧8をrHJかrLJに切り換え
なければならないこと、PROM4から読み出したデー
タBとRAM2のデータAは、CPU1で判定しなけれ
ばならないことなどの問題がある。
読み出したデータBが「1」か「0」かを比較するため
に、そのたびに基準電圧8をrHJかrLJに切り換え
なければならないこと、PROM4から読み出したデー
タBとRAM2のデータAは、CPU1で判定しなけれ
ばならないことなどの問題がある。
このため、FROM4のベリファイ時間を短縮できない
という問題がある。
という問題がある。
(c)発明の目的
この発明は、「1」、「0」で構成されるデータAでア
ナログスイッチに接続された基準電圧のrHJ、「L」
を切換えるようにし、また、PROM4からの読み出し
データBとRAM2のデータAをハードウェアで比較し
、データAとデータBが違うときだけ信号をCPUIに
送るようにして、FROM4のベリフTイ時間を短くす
ることを目的とする。
ナログスイッチに接続された基準電圧のrHJ、「L」
を切換えるようにし、また、PROM4からの読み出し
データBとRAM2のデータAをハードウェアで比較し
、データAとデータBが違うときだけ信号をCPUIに
送るようにして、FROM4のベリフTイ時間を短くす
ることを目的とする。
(d)発明の実施例
次に、この発明による実施例の構成図を第1図に示す。
第1図の11はドライバ、12はアナログスイッチ、1
3は排他的論理和回路、14はゲート、15は制御信号
であり、その他は第2図と同じである。
3は排他的論理和回路、14はゲート、15は制御信号
であり、その他は第2図と同じである。
次に、制御信号15とCPUIの指令内容を第3図に示
す。
す。
第3図アは制御信号15の波形図であり、第3図イのP
、QはCPUIの指令内容である。
、QはCPUIの指令内容である。
時刻Tl−72の間は、制御信号15がオンで、ドライ
バ11もオンになり、この期間にCPUIの指9P’t
’RAM217)データAをPROM4i、:1き込む
。
バ11もオンになり、この期間にCPUIの指9P’t
’RAM217)データAをPROM4i、:1き込む
。
このとき、l103はデータAをPROM4に送るとと
もに、データAをアナログスイッチ12に加え、データ
Aが「1」のときはアナログスイッチ12が基準電圧6
の「H」を比較″a5の入力5aに加え、データAが「
0」のときはアナログスイッチ12が基準電圧6のrL
Jを比較器5の入力5aに加える。
もに、データAをアナログスイッチ12に加え、データ
Aが「1」のときはアナログスイッチ12が基準電圧6
の「H」を比較″a5の入力5aに加え、データAが「
0」のときはアナログスイッチ12が基準電圧6のrL
Jを比較器5の入力5aに加える。
第3図の時刻T2〜T3の間は、制御信号15がオフで
、ドライバ11もオフになり、この期間にCPUIの指
令QでPROM2に書き込んだデータBを読み出し、F
ROM4に書き込んだデータBとRAM2のデータAが
同じかどうかを比較器5で比較する。
、ドライバ11もオフになり、この期間にCPUIの指
令QでPROM2に書き込んだデータBを読み出し、F
ROM4に書き込んだデータBとRAM2のデータAが
同じかどうかを比較器5で比較する。
このときは、アナログスイッチ12がデータAに対応し
た基準電圧6を比較器5の入力5aに加えているので、
良否をすぐに判定することができる。
た基準電圧6を比較器5の入力5aに加えているので、
良否をすぐに判定することができる。
次に、比較器5の出力とl103からのデータAをn個
の排他的論理和回路9に入れ、排他的論理和回路9の出
力をゲートL4に加える。
の排他的論理和回路9に入れ、排他的論理和回路9の出
力をゲートL4に加える。
第3図も、n=3に場合の例を示している。
ゲート14の出力が「1」の場合は、RAM2のデータ
AとPROM4のデータBが不一致であることを表す。
AとPROM4のデータBが不一致であることを表す。
ドライバ11は、制御信号15は「l」のときオンにな
り、制御信号15は「0」のときオフになって高インピ
ーダンス状態になる。
り、制御信号15は「0」のときオフになって高インピ
ーダンス状態になる。
これは、PROM4からデータBを読み出すとき、l1
03からのデータAとPROM4からのデータBがドラ
イバ11で衝突しないようにするためである。
03からのデータAとPROM4からのデータBがドラ
イバ11で衝突しないようにするためである。
(e)発明の効果
この発明によれば、データAでアナログスイッチを制御
し、データAに対応する基準電圧を比較器に加えている
ので、書き込み読゛み出しを迅速にチェックすることが
できる。
し、データAに対応する基準電圧を比較器に加えている
ので、書き込み読゛み出しを迅速にチェックすることが
できる。
例えば、256にビットのFROMを第2図の回路で判
定するためには、約50秒かかっているが、第1図の回
路によれば、約10秒で判定することができる。
定するためには、約50秒かかっているが、第1図の回
路によれば、約10秒で判定することができる。
第1図はこの発明による実施例の構成図、第2図は従来
回路の構成図、第3図は制御信号15とCPUIの指令
内容説明図である。 l・・・・・・CPU12・・・・・・RAM、3・・
・・・・I 10゜4・・・・・・PROM、5・・・
・・・比較器、6・・・・・・基準電圧、7・・・・・
・比較結果、11・・・・・・ドライバ、12・・・・
・・排他的論理和回路、13・・・・・・アナログスイ
ッチ、14・・・・・・ゲート、15・・・・・・制御
信号。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第 1 図 制御信号
回路の構成図、第3図は制御信号15とCPUIの指令
内容説明図である。 l・・・・・・CPU12・・・・・・RAM、3・・
・・・・I 10゜4・・・・・・PROM、5・・・
・・・比較器、6・・・・・・基準電圧、7・・・・・
・比較結果、11・・・・・・ドライバ、12・・・・
・・排他的論理和回路、13・・・・・・アナログスイ
ッチ、14・・・・・・ゲート、15・・・・・・制御
信号。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第 1 図 制御信号
Claims (2)
- (1)「1」、「0」で構成されるnビットのデータA
を格納するRAM(2)と、 RAM(2)の出力にそれぞれ接続され、制御信号(1
5)が「1」のときオンになり、制御信号(15)が「
0」のときオフになるn個のドライバ(11)と、ドラ
イバ(11)にそれぞれ接続され、データAが書き込ま
れるnビットのPROM(4)と、「H」と「L」の電
圧をもつ基準電圧(6)と、基準電圧(6)を入力とし
、データAの「1」で「H」を出し、データAの「0」
で「L」を出すn個のアナログスイッチ(12)と、 アナログスイッチ(12)の出力を第1の入力に接続し
、PROM(4)の読み出しデータBを第2の入力にそ
れぞれ接続するn個の比較器(5)とを備え、 制御信号(15)が「1」のときは、データAをPRO
M(4)に書き込み、制御信号(15)が「0」のとき
は、PROM(4)の読み出しデータBを比較器(5)
に加え、比較器(5)の出力からデータAとデータBが
同じがどうかを判定するRAMとPROMのデータ比較
・判定回路。 - (2)「1」、「0」で構成されるnビットのデータA
を格納するRAM(2)と、 RAM(2)の出力にそれぞれ接続され、制御信号(1
5)が「1」のときオンになり、制御信号(15)が「
0」のときオフになるn個のドライバ(11)と、ドラ
イバ(11)にそれぞれ接続され、データAを書き込ま
れるnビットのPROM(4)と、「H」と「L」の電
圧をもつ基準電圧(6)と、基準電圧(6)を入力とし
、データAの「1」で「H」を出し、データAの「0」
で「L」を出すn個のアナログスイッチ(12)と、 アナログスイッチ(12)の出力を第1の入力に接続し
、PROM(4)の読み出しデータBを第2の入力に接
続するn個の比較器(5)と、 比較器(5)の出力とデータAをそれぞれ入力とするn
個の排他的論理和回路(13)と、 排他的論理和回路(13)の出力を入力とするゲート(
14)とを備え、 制御信号(15)が「1」のときは、データAをPRO
M(4)に書き込み、制御信号(15)が「0」のとき
は、PROM(4)の読み出しデータBを比較器(5)
に加え、データAとデータBが異なるときはゲート(1
4)から出力が出ることを特徴とするRAMとPROM
のデータ比較・判定回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62073778A JPS63239700A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | Ramとpromのデ−タ比較・判定回路 |
| US07/433,384 US5027354A (en) | 1987-03-27 | 1989-11-06 | Electronic memory testing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62073778A JPS63239700A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | Ramとpromのデ−タ比較・判定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63239700A true JPS63239700A (ja) | 1988-10-05 |
Family
ID=13528000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62073778A Pending JPS63239700A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | Ramとpromのデ−タ比較・判定回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5027354A (ja) |
| JP (1) | JPS63239700A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1247640B (it) * | 1990-04-26 | 1994-12-28 | St Microelectronics Srl | Operazioni booleane tra due qualsiasi bit di due qualsiasi registri |
| DE4028819A1 (de) * | 1990-09-11 | 1992-03-12 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum testen eines halbleiterspeichers mittels paralleltests mit verschiedenen testbitmustern |
| US9898317B2 (en) | 2012-06-06 | 2018-02-20 | Juniper Networks, Inc. | Physical path determination for virtual network packet flows |
| US9479457B2 (en) | 2014-03-31 | 2016-10-25 | Juniper Networks, Inc. | High-performance, scalable and drop-free data center switch fabric |
| US10243840B2 (en) | 2017-03-01 | 2019-03-26 | Juniper Networks, Inc. | Network interface card switching for virtual networks |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62293600A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-21 | Nec Corp | Prom検査装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3622876A (en) * | 1970-12-14 | 1971-11-23 | Datatron Inc | Digital module tester system |
| US4412327A (en) * | 1981-02-25 | 1983-10-25 | Western Electric Company, Inc. | Test circuit for checking memory output state continuously during time window |
| US4517661A (en) * | 1981-07-16 | 1985-05-14 | International Business Machines Corporation | Programmable chip tester having plural pin unit buffers which each store sufficient test data for independent operations by each pin unit |
| US4656632A (en) * | 1983-11-25 | 1987-04-07 | Giordano Associates, Inc. | System for automatic testing of circuits and systems |
| US4696005A (en) * | 1985-06-03 | 1987-09-22 | International Business Machines Corporation | Apparatus for reducing test data storage requirements for high speed VLSI circuit testing |
-
1987
- 1987-03-27 JP JP62073778A patent/JPS63239700A/ja active Pending
-
1989
- 1989-11-06 US US07/433,384 patent/US5027354A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62293600A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-21 | Nec Corp | Prom検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5027354A (en) | 1991-06-25 |
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