JPS6344300B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6344300B2
JPS6344300B2 JP56114042A JP11404281A JPS6344300B2 JP S6344300 B2 JPS6344300 B2 JP S6344300B2 JP 56114042 A JP56114042 A JP 56114042A JP 11404281 A JP11404281 A JP 11404281A JP S6344300 B2 JPS6344300 B2 JP S6344300B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frame
plating liquid
plating
mask
mask plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP56114042A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5815244A (ja
Inventor
Kenji Yamamoto
Junichi Tezuka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON EREKUTOROPUREITEINGU ENJINYAAZU KK
Original Assignee
NIPPON EREKUTOROPUREITEINGU ENJINYAAZU KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON EREKUTOROPUREITEINGU ENJINYAAZU KK filed Critical NIPPON EREKUTOROPUREITEINGU ENJINYAAZU KK
Priority to JP56114042A priority Critical patent/JPS5815244A/ja
Publication of JPS5815244A publication Critical patent/JPS5815244A/ja
Publication of JPS6344300B2 publication Critical patent/JPS6344300B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/01Manufacture or treatment
    • H10W70/04Manufacture or treatment of leadframes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/01Manufacture or treatment
    • H10W72/0198Manufacture or treatment batch processes

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はICフレームに対する金、銀等の貴金
属メツキに用いる部分メツキ装置に関する。
従来のICフレームの部分メツキ装置としては
例えば第1図及び第2図で示すようなものがあ
る。即ち「スパージヤー」と称するメツキボツク
ス1があり、その上蓋兼用のマスク板2上にメツ
キ対象物であるICフレーム3を押圧板4の進退
動を利用して当接させるようにしてあり、上記マ
スク板2に予め開口したメツキ液噴射口5めがけ
ノズル6より図中矢印方向にメツキ液Aを噴射し
てメツキ液噴射口5に露呈しているICフレーム
3の部分、具体的にはアイランド部分7、リード
ピン部分8及びアイランド部分の支持ピン9など
にメツキ液Aを施すようにしている。尚ノズル6
にはアノード10が設けてありICフレーム3は
カソード化自在としてある。
しかしながらこのような従来のICフレームの
部分メツキ装置にあつては、金や銀などの貴金属
を節約するためにメツキ厚さを薄くしてきたにも
かかわらずマスク板2のメツキ液噴射口5より施
されるメツキ液はアイランド部分7、リードピン
部分8及び支持ピン9をメツキすることになるの
で貴金属の節約にも限界があつた。
本発明はICフレームにあつて本当にメツキが
必要であるのはワイヤボンデイングする時に要求
されるリードピン部分であること及び従来アイラ
ンド部分に貴金属メツキを施し、例えば金―シリ
コン共晶を形成させDIEボンドさせていたがアイ
ランド部分にはメツキせずとも導電性を有する接
着材の使用が可能であることに着目してなされた
ものであり、マスク板のメツキ液を施す部分の形
状構造に工夫を加えることにより金や銀などの貴
金属の節約をより一層図ろうとするものである。
以下本発明の詳細を図面を参照して説明する。
第3図〜第4図は本発明〔第1発明〕の一実施例
を示すものである。尚以下の説明において従来と
同一乃至類似する部分は同一符号を以て示し重複
説明を省略するものとする。
マスク板2にはメツキ液通路20が凹設してあ
る。このメツキ液通路20はICフレーム3のア
イランド部分7に相応するマスク部21を残して
その周囲に凹設されるものである。22は区画壁
で、支持ピン9に相応する位置、サイズで形成さ
れている。第4図で示す実施例では、区画壁22
は左右一対で形成してありメツキ液通路20は従
つて前後で一対凹設された状態を呈することにな
る。メツキ液通路20はICフレーム3のリード
ピン部分8と相応する位置、サイズのものとされ
ており、一方にメツキ液Aの供給口23が他方に
排出口24がマスク板2の裏面にまで貫通形成し
てある。25はプレート状のアノードで、一対の
メツキ液通路20の各底部に敷設されている。
次に作用を説明する。
ノズル6より噴射されたメツキ液Aは供給口2
3よりメツキ液通路20内に入りそこで充満する
とともに排出口24よりメツキボツクス1内へ排
出・回収される。ICフレーム3は押圧板4を介
してマスク板2上へ当接せしめられており、IC
フレーム3のリードピン部分8のみがこのメツキ
液通路20の開口部位に臨ませられて露出状態と
され、アイランド部分7及び支持ピン9の部分は
各々マスク部21と区画壁22とで遮蔽されメツ
キ液通路20に対しては非露出の状態とされてい
るので、従つてメツキ液Aはメツキ液通路20内
を流れる間にICフレーム3のリードピン部分8
のみに触れそこが貴金属メツキされるものであ
る。
第5図イ及びロは他の実施例を示す図である。
これらの実施例は、メツキ液通路26が1つの
区画壁27で区画され逆C字形状のものとされて
おり、このC字形状に合わせたプレート状のアノ
ード28がメツキ液通路26の底面に設けてあり
そして1つのメツキ液の供給口29及び排出口3
0が形成されていて〔第5図イ〕、また一対の区
画壁22で区画された1対のメツキ液通路20に
は各々ワイヤ状のアノード31が配置されている
〔第5図ロ〕ほかは、先の実施例と略同様のもの
にしてある。第5図イの実施例はメツキ液通路2
6の凹設、具体的にはマスク板2の彫刻、を容易
とするものでありまた第5図ロの実施例はアノー
ド31をワイヤ状としてその配設を容易とするも
のである。その他の構成・作用については先の実
施例と略同様につき説明を省略する。
第6図〜第7図は本発明〔第2発明〕の実施例
を示す図である。マスク板2にはメツキ液噴射口
32が設けられてある。この噴射口32はICフ
レーム3のアイランド部分7に相応するマスク部
33を残してその周囲に形成したものであり、
ICフレーム3のリードピン部分8と相応する位
置、サイズのものにしてある。メツキ液噴射口3
2はマスク板2の表面より裏面側へかけて貫通形
成してある。マスク部33は支持アーム34を介
してノズル35で支持するようにしてあり、マス
ク部33の胴部36にはテーパ面37が施されそ
の全体があたかも逆角錐形状を呈し、下部38に
は楔形状のテーパ面39が施されている。ノズル
35の先端にはアノード40が配置されている。
次に作用を説明する。
ノズル35より噴射されたメツキ液Aは下部3
8のテーパ面39及び胴部36のテーパ面37に
沿つて液抵抗を殆ど受けずにメツキ液噴射口32
に到りそこで露呈されているICフレーム3のリ
ードピン部分8に触れそこに貴金属メツキを施す
ものである。リードピン部分8に衝突した後メツ
キ液Aはメツキボツクス1内へ回収される。
尚その他の構成作用については第1発明(第3
図〜第4図)と略同様につき説明を省略する。
以上説明してきた如く、本発明によれば、その
構成を、メツキ対象物であるICフレームを当接
させるマスク板に、ICフレームのアイランド部
分に相応するマスク部を残してその周囲にICフ
レームのリードピン部分と相応するメツキ液通路
を凹設し、このメツキ液通路にメツキ液の供給及
び排出口を設け且つアノードを配し、ノズルより
メツキ液を噴射して施すものとし〔第1発明〕、
またメツキ対象物であるICフレームを当接させ
るマスク板に、ICフレームのアイランド部分に
相応するマスク部を残してその周囲にICフレー
ムのリードピン部分と相応するメツキ液噴射口を
設け、アノードを配したノズルよりメツキ液を噴
射して施すICフレームの部分メツキ液装置にお
いて、上記マスク部が支持アームを介してノズル
に支持されているものとし〔第2発明〕たので、
ICフレームに施される金、銀などの貴金属メツ
キはICフレームのリードピン部分にのみに主に
施されることとなり上記マスク部の存在により
ICフレームのアイランド部分にはメツキ液が触
れず従つて従来アイランド部分をもメツキしてい
たのに比べその分貴金属の節約を図ることができ
る。そしてリードピン部分のみを貴金属メツキす
るに際し、メツキ液は、供給口より入りメツキ液
通路内に充満し次いで排出口から迅速に回収され
〔第1発明〕、またマスク板に貫通形成してあるメ
ツキ液噴射口めがけて噴射され且つ迅速に回収さ
れ〔第2発明〕るので高品質で効率のよい部分メ
ツキを、ICフレームのメツキを必要とする部分
即ち「ワイヤボンデイング時にメツキの施されて
いることが要求される部分」としてのリードピン
部分に、施すことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はICフレームの部分メツキ装置の従来
例を示す概略断面図、第2図は第1図のマスク板
とICフレームの相対位置関係を示す部分拡大斜
視図、第3図は本発明〔第1発明〕の一実施例を
示す拡大概略断面図、第4図はマスク板とICフ
レームの相対位置関係を示す部分拡大斜視図、第
5図イ,ロは第1発明の他の実施例を各々示すメ
ツキ液通路の拡大斜視図、第6図は本発明〔第2
発明〕の一実施例を示す概略断面図、第7図はマ
スク部の部分拡大斜視図である。 1……メツキボツクス、2……マスク板、3…
…ICフレーム、4……押圧板、5,32……メ
ツキ液噴射口、6,35……ノズル、7……アイ
ランド部分、8……リドピン部分、9……支持ピ
ン、10,25,28,31,40……アノー
ド、20,26……メツキ液通路、21,33…
…マスク部、22,27……区画壁、23,29
……供給口、24,30……排出口、34……支
持アーム、36……胴部、37,39……テーパ
面、38……下部、A……メツキ液。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 メツキ対象物であるICフレームを当接させ
    るマスク板に、ICフレームのアイランド部分に
    相応するマスク部を残してその周囲にICフレー
    ムのリードピン部分と相応するメツキ液通路を凹
    設し、このメツキ液通路にメツキ液の供給及び排
    出口を設け且つアノードを配し、ノズルよりメツ
    キ液を噴射して施すアノードの部分メツキ装置。 2 メツキ対象物であるICフレームを当接させ
    るマスク板に、ICフレームのアイランド部分に
    相応するマスク部を残してその周囲にICフレー
    ムのリードピン部分と相応するメツキ液噴射開口
    を設け、アノードを配したノズルよりメツキ液を
    噴射して施すICフレームの部分メツキ装置にお
    いて、 上記マスク部が支持アームを介してノズルに支
    持されていることを特徴とするICフレームの部
    分メツキ装置。
JP56114042A 1981-07-21 1981-07-21 Icフレ−ムの部分メツキ装置 Granted JPS5815244A (ja)

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JP56114042A JPS5815244A (ja) 1981-07-21 1981-07-21 Icフレ−ムの部分メツキ装置

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JP56114042A JPS5815244A (ja) 1981-07-21 1981-07-21 Icフレ−ムの部分メツキ装置

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Publication Number Publication Date
JPS5815244A JPS5815244A (ja) 1983-01-28
JPS6344300B2 true JPS6344300B2 (ja) 1988-09-05

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6433799A (en) * 1987-07-30 1989-02-03 Sony Corp Sample holding circuit

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JPS5815244A (ja) 1983-01-28

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