JPS6348471A - 圧電フイルタ試験回路 - Google Patents

圧電フイルタ試験回路

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JPS6348471A
JPS6348471A JP19225186A JP19225186A JPS6348471A JP S6348471 A JPS6348471 A JP S6348471A JP 19225186 A JP19225186 A JP 19225186A JP 19225186 A JP19225186 A JP 19225186A JP S6348471 A JPS6348471 A JP S6348471A
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Atsushi Tani
谷 厚志
Shinichi Yamamoto
真一 山本
Yoshibumi Nakajima
義文 中島
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 本願は、圧電フィルタの圧電効果に伴う焦電効果による
放電パルスの発生を検出し圧電フィルタの良否を試験す
る回路を開示するものである。
(産業上の利用分野〕 本発明は、圧電フィルタ試験回路に関し、特に圧電フィ
ルタの良否を選別する回路に関するものである。
圧電材料を使用したフィルタ、即ち、圧電フィルタ内で
は周囲の温度急変時に焦電効果による電荷が内部に蓄積
し、ついには放電に至ることがしばしばある。このよう
な場合、圧電フィルタからは放電によるパルスが出力さ
れ、圧電フィルタを用いた装置の正常な動作を損なうこ
とがある。
このような焦電効果に起因するパルスを無(すために圧
電フィルタには様々な方策がなされているが、かかる放
電パルスをな(す有効な技術はまだなく、放電パルスを
発生する悪性な圧電フィルタを予め排除する試験が必要
となっている。
〔従来の技術〕
従来の圧電フィルタの試験回路としては、実際に圧電フ
ィルタが搭載される回路全体をその試験回路として使用
し、その試験回路の動作の良否を判定することにより圧
電フィルタの良否を間接的に判定していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、そのような従来の試験方法では試験回路
の規模が大きくなってしまい、試験効率の点で不都合な
ものであった。
従って、本発明の目的は圧電フィルタ自体の試験を行う
ことのできる回路を得ることである。
(問題点を解決するための手段〕 上記の目的を達成するため、本発明に係る圧電フィルタ
試験回路では、第1図に示すように、圧電フィルタlの
出力パルスを単極性のパルスに変換するパルス単極化回
路2と、このパルス単極化回路2の出力を保持して放電
パルスの存在を知らせるラッチ回路3と、で構成されて
いる。
〔作 用〕
第1図において、圧電フィルタ1から発生された正又は
負のいずれかの極性のパルスがパルス単極化回路2に入
力されて単極性パルスに変換される。この単極性パルス
はランチ回路3により保持されて圧電フィルタの望まし
くない放電パルスの存在を知らせることとなる。
〔実施例〕
以下、第1図に示した本発明の圧電フィルタ試験回路を
第2図及び第3図に示した一実施例に沿って説明する。
本発明の第1の実施例を示す第2図において、パルス単
極化回路2は、圧電フィルタ1の出力と正の閾値電圧と
を比較するコンパレータ21と、圧電フィルタlの出力
と負の閾値電圧とを比較するコンパレータ22と、これ
らコンパレータ21.22の出力を入力するノア回路2
3と、を含んでいる。また、ラッチ回路3は、ノア回路
23に接続されたナンド回路31と、フリップフロップ
を構成する二つのナンド回路32.33と、ナンド回路
32.33のいずれかに接続された発光ダイオードLE
Dと、を含んでおり、これに加えて、ナンド回路31の
他方の入力を構成するリセット回路を発生するリセット
回路34(リセットボタン341と接地抵抗342とを
含む)を含あてもよい。
尚、コンパレータ21.22に入力される正及び負の閾
値は、圧電フィルタlの出力が単なるノイズである場合
にこれを除くために設定されている。
次に、動作を説明すると、圧電フィルタ1から発生され
る放電パルスの内、正極のものが、コンパレータ21の
正極閾値電圧を越えればコンパレータ21の出力がH(
高)レベルとなり、ノア回路23の出力がL (低> 
レベルとなって、ナンド回路31〜33を介して発光ダ
イオードLEDを付勢して放電パルスの発生を知らせる
ことができる。また、圧電フィルタ1から発生される放
電パルスの内、負極のものが、コンパレータ22の負極
閾値電圧を越えればコンパレータ22の出力がH(高)
レベルとなり、ノア回路23の出力がL(低)レベルと
なって、ナンド回路31〜33を介して発光ダイオード
LEDを付勢して放電パルスの発生を知らせることがで
きる。
この場合のパルス単極化回路2の各所の論理状態を表に
表すと次のようになる。
表I 上記の表!より明らかなように、パルス単極化回路2は
放電パルスを入力すると必ず負の単極性パルスを出力す
ることになる。
また、パルス単極化回路2には、ランチ回路3が接続さ
れているため、放電パルスが発生すれば必ずラッチ回路
3の状態が反転してその状態が保持されるようになって
いる。
次に、第2の実施例を第3図について説明する。
この第2の実施例では、パルス単極化回路2は、圧電フ
ィルタ1の正極性出力を分圧する抵抗r1、r2と、そ
の分圧電圧をノイズ除去のための閾値として入力するイ
ンバータrNV1と、圧電フィルタ1の負極性出力を分
圧する抵抗r3、r4と、その分圧電圧を閾値として入
力するインバータINV2と、インバータINV2の出
力を更に反転するインバータINV3と、インバータI
Nν1及びINV3の再出力を入力するアントゲ−)A
tと、を含んでいる。
また、ラッチ回路3は、第1の実施例と同様のものでよ
い。
次に、動作を説明すると、圧電フィルタ1から発生され
る放電パルスの内、正極のものが、インバータINVI
の閾値電圧を越えればインバータTNVIの出力がLレ
ベルとなり、アンドゲートA1の出力がLレベルとなっ
て、リセット回路3の発光ダイオードLEDを付勢して
放電パルスの発生を知、 らせることができる、また、
圧電フィルタ1から発生される放電パルスの内、負極の
ものがインバータINV2の閾値電圧を越えればインバ
ータINV2の出力がHレベルとなり、インバータIN
V3を介してアントゲ−)AIの出力がLレベルとなっ
て、リセット回路3の発光ダイオードLEDを付勢して
放電パルスの発生を知らせることができる。
この場合のパルス単極化回路2の各所の論理状態を表に
表すと次のようになる。
表■ 従って、この第2の実施例においても、パルス単極化回
路2は圧電フィルタ1から出力される放電パルスが正極
性であっても負極性であっても、負の単極性パルスが発
生される構成になっている。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明の圧電フィルタの試験回路によれ
ば、正負いずれのパルスの発生に対しても、それを感知
して情軸を保持できる機能を有するので、特に圧電フィ
ルタを組み込んで信号を供給するための回路を用いる必
要がなく非常に簡単な構造の試験回路が実現でき、試験
の効率を向上させることができるという効果が得られる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る圧電フィルタ試験回路の原理ブロ
ック図、 第2図は第1図の圧電フィルタ試験回路の原理ブロック
図の第1の実施例を示す回路図、第3図は第1図の圧電
フィルタ試験回路の原理ブロック図の第2の実施例を示
す回路図、である。 第1図及び第2図において、 1は圧電フィルタ、 2はパルス単極化回路、 3はランチ回路、 21.22はコンパレータ、 23はノア回路、 31〜33はアンドゲート、 34はリセット回路、 r1〜r4は抵抗、 INVI 〜INV3はインバータ、 A1はアンドゲート、 尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 特 許出願人  富 士 通 株式会社代理人弁理士 
 森 1)寛 (外1名)本発明の圧電フィルタ試験回
路の原理図第1図 本発明の第1の実施例の回路図 第2図 本発明の第2の実施例の回路図 第3図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)圧電フィルタ(1)と、 該圧電フィルタ(1)の出力パルスを単極性のパルスに
    変換するパルス単極化回路(2)と、該パルス単極化回
    路(2)の出力を保持して放電パルスの存在を知らせる
    ラッチ回路(3)と、 を備えたことを特徴とする圧電フィルタ試験回路。
  2. (2)前記パルス単極化回路(2)が、前記圧電フィル
    タ(1)の出力と正の閾値電圧とを比較するコンパレー
    タ(21)と、前記圧電フィルタ(1)の出力と負の閾
    値電圧とを比較するコンパレータ(22)と、これらコ
    ンパレータ(21、22)の出力を入力するノア回路(
    23)と、を含んでいる特許請求の範囲第1項記載の圧
    電フィルタ試験回路。
  3. (3)前記パルス単極化回路(2)が、前記圧電フィル
    タ(1)の正極性出力を分圧する抵抗(r1、r2)と
    、その分圧電圧をノイズ除去のための閾値として入力す
    る第1のインバータ(INV1)と、前記圧電フィルタ
    (1)の負極性出力を分圧する抵抗(r3、r4)と、
    その分圧電圧を閾値として入力する第2のインバータ(
    INV2)と、該インバータ(INV2)の出力を更に
    反転する第3のインバータ(INV3)と、前記第1及
    び第3のインバータ(INV1、INV3)の両出力を
    入力するアンドゲート(A1)と、を含んでいる特許請
    求の範囲第1項記載の圧電フィルタ試験回路。
  4. (4)前記ラッチ回路(3)が、リセット回路(34)
    を含んでいる特許請求の範囲第1項記載の圧電フィルタ
    試験回路。
JP19225186A 1986-08-18 1986-08-18 圧電フイルタ試験回路 Granted JPS6348471A (ja)

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JPH0533751B2 JPH0533751B2 (ja) 1993-05-20

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104142443A (zh) * 2014-07-03 2014-11-12 浙江理工大学 一种压电陶瓷作动器正反二位动作自检测电路及检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104142443A (zh) * 2014-07-03 2014-11-12 浙江理工大学 一种压电陶瓷作动器正反二位动作自检测电路及检测方法
CN104142443B (zh) * 2014-07-03 2016-08-17 浙江理工大学 一种压电陶瓷作动器正反二位动作自检测电路及检测方法

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