JPS6352768B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6352768B2 JPS6352768B2 JP56028034A JP2803481A JPS6352768B2 JP S6352768 B2 JPS6352768 B2 JP S6352768B2 JP 56028034 A JP56028034 A JP 56028034A JP 2803481 A JP2803481 A JP 2803481A JP S6352768 B2 JPS6352768 B2 JP S6352768B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- objective lens
- projection
- optical axis
- wafer
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
- G03F9/70—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、投影型の露光装置、特に、LSIや
VLSI等の製造に用いられる縮小投影型露光装置
におけるアライメント光学系に関する。
VLSI等の製造に用いられる縮小投影型露光装置
におけるアライメント光学系に関する。
縮小投影型の露光装置では、1回の露光面積が
小さいため、ウエハーを露光ごとに移動させて同
一の露光を繰り返すいわゆるステツプ露光が行わ
れている。
小さいため、ウエハーを露光ごとに移動させて同
一の露光を繰り返すいわゆるステツプ露光が行わ
れている。
ステツプ露光を行う方式には大きく分けて次の
2方式がある。
2方式がある。
(イ) レテイクルとウエハーを全く別個に位置決め
し、あとは所定のステツプ量ずつウエハーを送
つて露光を行う方式(オフアクシス方式) (ロ) レテイクル上のパターンとウエハー上のパタ
ーンの相対位置関係を、投影レンズを通してそ
の対応をとりながらステツプ露光を行う方式
(スルーザレンズ方式) これら2つの方式には、それぞれ種々の長所と
短所があるが、スループツトを主として考えれば
(イ)の方式精度のことを主として考えれば一般に(ロ)
の方式、が有利となる。
し、あとは所定のステツプ量ずつウエハーを送
つて露光を行う方式(オフアクシス方式) (ロ) レテイクル上のパターンとウエハー上のパタ
ーンの相対位置関係を、投影レンズを通してそ
の対応をとりながらステツプ露光を行う方式
(スルーザレンズ方式) これら2つの方式には、それぞれ種々の長所と
短所があるが、スループツトを主として考えれば
(イ)の方式精度のことを主として考えれば一般に(ロ)
の方式、が有利となる。
位置合せの精度を高めるためには、アライメン
ト用の光は露光光と同一波長であることが必要で
ある。また1回の露光でウエハー上に焼付けられ
るパターンの領域の大きさ(一般にチツプサイズ
と呼ばれる)は、一定ではない。そして一回の露
光毎に、レテイクル上のパターンとウエハー上の
パターンの相対位置関係をとり直すことが必要で
ある。これをステツプアライメントと呼ぶ。ステ
ツプアライメントに使われるウエハー上のアライ
メントマークは、一般に有効領域のすぐ外側にあ
るスクライブライン上に置かれる。ステツプアラ
イメントの際に、このスクライブライン以外の有
効領域をも照明すると、それは正規の露光以外の
露光を有効領域に与えることになり、露光ムラ及
びフレアーやゴーストの原因になる。しかもこの
ようなステツプアライメント用の光学系は、レテ
イクルと露光照明用のコンデンサーレンズとの間
に挿入されるため、露光にケラレを生ずることの
ないように配置しなければならず制約の大きいも
のであつた。
ト用の光は露光光と同一波長であることが必要で
ある。また1回の露光でウエハー上に焼付けられ
るパターンの領域の大きさ(一般にチツプサイズ
と呼ばれる)は、一定ではない。そして一回の露
光毎に、レテイクル上のパターンとウエハー上の
パターンの相対位置関係をとり直すことが必要で
ある。これをステツプアライメントと呼ぶ。ステ
ツプアライメントに使われるウエハー上のアライ
メントマークは、一般に有効領域のすぐ外側にあ
るスクライブライン上に置かれる。ステツプアラ
イメントの際に、このスクライブライン以外の有
効領域をも照明すると、それは正規の露光以外の
露光を有効領域に与えることになり、露光ムラ及
びフレアーやゴーストの原因になる。しかもこの
ようなステツプアライメント用の光学系は、レテ
イクルと露光照明用のコンデンサーレンズとの間
に挿入されるため、露光にケラレを生ずることの
ないように配置しなければならず制約の大きいも
のであつた。
本発明の目的は、上述のごときステツプアライ
メント光学系の制約や問題点にもかかわらず、ウ
エハーの露光領域に悪影響を及ぼすことなくウエ
ハーのアライメントマークと投影原版の基準マー
クとを正確に観察することのできるアライメント
光学系を提供することにある。
メント光学系の制約や問題点にもかかわらず、ウ
エハーの露光領域に悪影響を及ぼすことなくウエ
ハーのアライメントマークと投影原版の基準マー
クとを正確に観察することのできるアライメント
光学系を提供することにある。
本発明の構成は、投影型露光装置における投影
原版とウエハーとの位置合せのために、該投影原
版上の基準マークと、主投影対物レンズによつて
該投影原版上に形成されるウエハー上のアライメ
ントマークの像とを観察するアライメント光学系
において、 投影原版上の基準マークと投影原版上に形成さ
れるウエハー上のアライメントマークの像とを観
察手段へ投影するために投影原版上で投影原版に
平行な光軸を有する如く配置された第1対物レン
ズと、第1対物レンズの光軸を投影原版に対して
垂直にして第1対物レンズの焦点面を投影原版上
に合致させるために対物レンズと投影原版との間
の光路中に第1対物レンズの光軸に対して斜設さ
れる反射部材と、第1対物レンズを射出する投影
原版及びウエハーからの概略平行光束を集光する
ための第2対物レンズと、第2対物レンズの焦点
位置に配置された絞り部材と、光源からの光束を
絞り部材、第1及び第2対物レンズを通して投影
原版へ供給すると共に、さらに主投影対物レンズ
を通してウエハー面へ供給するためのコンデンサ
ーレンズと、第1対物レンズを通過してくる投影
原版及びウエハーからの反射光を観察手段に導く
ためにコンデンサーレンズと第1対物レンズとの
間に配置された光路分岐部材とを有し、第1、第
2対物レンズ及びコンデンサーレンズは同一光軸
上に配置され、さらに、第1対物レンズの焦点が
投影原版上を移動するように、第1対物レンズと
反射部材とが、対物レンズの光軸を含む面内で投
影原版にそつて一体的に移動可能に設けられてい
る。
原版とウエハーとの位置合せのために、該投影原
版上の基準マークと、主投影対物レンズによつて
該投影原版上に形成されるウエハー上のアライメ
ントマークの像とを観察するアライメント光学系
において、 投影原版上の基準マークと投影原版上に形成さ
れるウエハー上のアライメントマークの像とを観
察手段へ投影するために投影原版上で投影原版に
平行な光軸を有する如く配置された第1対物レン
ズと、第1対物レンズの光軸を投影原版に対して
垂直にして第1対物レンズの焦点面を投影原版上
に合致させるために対物レンズと投影原版との間
の光路中に第1対物レンズの光軸に対して斜設さ
れる反射部材と、第1対物レンズを射出する投影
原版及びウエハーからの概略平行光束を集光する
ための第2対物レンズと、第2対物レンズの焦点
位置に配置された絞り部材と、光源からの光束を
絞り部材、第1及び第2対物レンズを通して投影
原版へ供給すると共に、さらに主投影対物レンズ
を通してウエハー面へ供給するためのコンデンサ
ーレンズと、第1対物レンズを通過してくる投影
原版及びウエハーからの反射光を観察手段に導く
ためにコンデンサーレンズと第1対物レンズとの
間に配置された光路分岐部材とを有し、第1、第
2対物レンズ及びコンデンサーレンズは同一光軸
上に配置され、さらに、第1対物レンズの焦点が
投影原版上を移動するように、第1対物レンズと
反射部材とが、対物レンズの光軸を含む面内で投
影原版にそつて一体的に移動可能に設けられてい
る。
以下、本発明による実施例の構成を図面を用い
て説明する。
て説明する。
第1図は、縮小投影型露光装置の露光光学系と
アライメント光学系との概略を示す光学配置図で
ある。露光光束1は図示なき光源部より供給さ
れ、メインコンデンサー2によつて投影原版とし
てのレテイクル3を照明する。そしてメインコン
デンサー2により主投影レンズ5の入射瞳面6内
に光源の像が形成される。レテイクル3のパター
ン面3a上には、所定のパターンが形成されてお
り、このパターンが主投影レンズ5によりウエハ
ー7のパターン面7a上に所定の倍率で縮小投影
される。露光光束1はウエハー7のパターン面7
a上に塗られたフオトレジストを感光させるのに
有効な光で、例えば超高圧水銀灯より発生する波
長435.8nm(g線)や404.7nm(h線)が用いら
れる。
アライメント光学系との概略を示す光学配置図で
ある。露光光束1は図示なき光源部より供給さ
れ、メインコンデンサー2によつて投影原版とし
てのレテイクル3を照明する。そしてメインコン
デンサー2により主投影レンズ5の入射瞳面6内
に光源の像が形成される。レテイクル3のパター
ン面3a上には、所定のパターンが形成されてお
り、このパターンが主投影レンズ5によりウエハ
ー7のパターン面7a上に所定の倍率で縮小投影
される。露光光束1はウエハー7のパターン面7
a上に塗られたフオトレジストを感光させるのに
有効な光で、例えば超高圧水銀灯より発生する波
長435.8nm(g線)や404.7nm(h線)が用いら
れる。
このような露光光学系に対して、ウエハー7上
のスクライブラインに設けられたアライメントマ
ークAと、レテイクル3のパターン面3aの周辺
部に設けられた基準マークBとの位置関係を観察
するためのアライメント光学系は次のようであ
り、露光光と同一の光が用いられる。レテイクル
3の周縁の上部に反射鏡14、第1対物レンズ1
5、第2対物レンズ16が設けられている。第1
対物レンズ15の光軸13は反射鏡14によりレ
テイクル3のパターン面3aと直交し、従つて、
主投影レンズ5の光軸9と実質的に平行であり、
また第1対物レンズ15の前側焦点面はレテイク
ル3のパターン面3a上に位置している。そし
て、この位置関係を維持しつつ、第1対物レンズ
15と反射鏡14とが光軸13にそつて一体的に
移動可能である。従つて第1対物レンズ15と第
2対物レンズ16との間は常に平行系となつてお
り、第2対物レンズ16の後側焦点位置に設けら
れた絞り18とレテイクル3のパターン面3aと
は第1、第2対物レンズに関して共役であり、さ
らに主投影対物レンズ5に関してウエハー7のパ
ターン面7aとも共役である。絞り18の後方に
はコンデンサーレンズ19が設けられ、その焦点
は絞り18の位置に合致している。コンデンサー
レンズ19は第1、第2対物レンズの光軸13と
同軸上に配置されている。そして、照明光を供給
するためのライトガイド20の射出面20aはそ
の中心が光軸13から外れて設けられている。一
方、絞り18の近傍に設けられたビームスプリツ
ター17を介してITV撮像管21が設けられ、
撮像管21の撮像面21aは、絞り18と同じく
第1、第2対物レンズ15,16に関してパター
ン面3aと共役であり、またウエハー7のパター
ン面7aとも共役である。
のスクライブラインに設けられたアライメントマ
ークAと、レテイクル3のパターン面3aの周辺
部に設けられた基準マークBとの位置関係を観察
するためのアライメント光学系は次のようであ
り、露光光と同一の光が用いられる。レテイクル
3の周縁の上部に反射鏡14、第1対物レンズ1
5、第2対物レンズ16が設けられている。第1
対物レンズ15の光軸13は反射鏡14によりレ
テイクル3のパターン面3aと直交し、従つて、
主投影レンズ5の光軸9と実質的に平行であり、
また第1対物レンズ15の前側焦点面はレテイク
ル3のパターン面3a上に位置している。そし
て、この位置関係を維持しつつ、第1対物レンズ
15と反射鏡14とが光軸13にそつて一体的に
移動可能である。従つて第1対物レンズ15と第
2対物レンズ16との間は常に平行系となつてお
り、第2対物レンズ16の後側焦点位置に設けら
れた絞り18とレテイクル3のパターン面3aと
は第1、第2対物レンズに関して共役であり、さ
らに主投影対物レンズ5に関してウエハー7のパ
ターン面7aとも共役である。絞り18の後方に
はコンデンサーレンズ19が設けられ、その焦点
は絞り18の位置に合致している。コンデンサー
レンズ19は第1、第2対物レンズの光軸13と
同軸上に配置されている。そして、照明光を供給
するためのライトガイド20の射出面20aはそ
の中心が光軸13から外れて設けられている。一
方、絞り18の近傍に設けられたビームスプリツ
ター17を介してITV撮像管21が設けられ、
撮像管21の撮像面21aは、絞り18と同じく
第1、第2対物レンズ15,16に関してパター
ン面3aと共役であり、またウエハー7のパター
ン面7aとも共役である。
このような構成によつてウエハー7のパターン
面7a上に設けられたアライメントマークAとレ
テイクル3のパターン面3a上に設けられた基準
マークBとにライトガイド20からの光束が供給
され、両者の像がITV撮像管21を通して観察
される。第1図中にはアライメントマークAと基
準マークBとを通る主光線11の様子を実線で記
入した。第1図に示されるとおり、投影レンズ5
を射出する主光線11は、主投影レンズ5の光軸
9に平行となり、ウエハー面7aをほぼ垂直に照
明し、ウエハー面7aで反射されて同一経路を戻
る主光線11は第1対物レンズ15を射出した後
第1対物レンズ15の光軸13に平行となり、ビ
ームスプリツター17で反射された後、撮像管2
1の撮像面21aの中心に達する。一方、ビーム
スプリツター17を通過する主光線11は絞り1
8の中心を通り、コンデンサーレンズ19で屈折
されて光軸13に平行になりライトガイド20の
ほぼ中心に達する。すなわちこの主光線11がラ
イトガイド20から供給される照明光の主光線に
相当する。
面7a上に設けられたアライメントマークAとレ
テイクル3のパターン面3a上に設けられた基準
マークBとにライトガイド20からの光束が供給
され、両者の像がITV撮像管21を通して観察
される。第1図中にはアライメントマークAと基
準マークBとを通る主光線11の様子を実線で記
入した。第1図に示されるとおり、投影レンズ5
を射出する主光線11は、主投影レンズ5の光軸
9に平行となり、ウエハー面7aをほぼ垂直に照
明し、ウエハー面7aで反射されて同一経路を戻
る主光線11は第1対物レンズ15を射出した後
第1対物レンズ15の光軸13に平行となり、ビ
ームスプリツター17で反射された後、撮像管2
1の撮像面21aの中心に達する。一方、ビーム
スプリツター17を通過する主光線11は絞り1
8の中心を通り、コンデンサーレンズ19で屈折
されて光軸13に平行になりライトガイド20の
ほぼ中心に達する。すなわちこの主光線11がラ
イトガイド20から供給される照明光の主光線に
相当する。
第1対物レンズ15と第2対物レンズ16との
間は平行系に構成されているから、この間の間隔
が変化してもレテイクルパターン面3aと絞り1
8及びITV撮影面21aとの共役関係は変らな
い。従つて、チツプサイズの変更に伴い、アライ
メント用マークの位置が変つても、第1対物レン
ズ15及び反射鏡14を一体にして、その新しい
アライメントマーク位置に移動することにより、
絶えずモニターTV上で焦点の合つた像を見るこ
とが出来、しかも絞り18が視野絞りとして機能
することにより照明領域が限定されているため、
スクライブライン以外の領域を照明する恐れは全
くない。
間は平行系に構成されているから、この間の間隔
が変化してもレテイクルパターン面3aと絞り1
8及びITV撮影面21aとの共役関係は変らな
い。従つて、チツプサイズの変更に伴い、アライ
メント用マークの位置が変つても、第1対物レン
ズ15及び反射鏡14を一体にして、その新しい
アライメントマーク位置に移動することにより、
絶えずモニターTV上で焦点の合つた像を見るこ
とが出来、しかも絞り18が視野絞りとして機能
することにより照明領域が限定されているため、
スクライブライン以外の領域を照明する恐れは全
くない。
今、アライメントマークの位置が一定の所にあ
る場合を考えると、ライトガイド20の端面20
aの大きさと位置は、第1と第2の対物レンズ1
5,16及びコンデンサーレンズ19による主投
影対物レンズの瞳6の像の大きさと位置に合わせ
ればよい。
る場合を考えると、ライトガイド20の端面20
aの大きさと位置は、第1と第2の対物レンズ1
5,16及びコンデンサーレンズ19による主投
影対物レンズの瞳6の像の大きさと位置に合わせ
ればよい。
本実施例においては、主投影対物レンズの瞳6
は明らかに第1及び第2対物レンズの光軸13か
ら外れた位置にあるため、この瞳との共役点も光
軸外にあるため、光源としてのライトガイドの端
面20aを光軸外に位置させることが望ましい。
このようにして、第1対物レンズ15は、第2対
物レンズ16及びコンデンサーレンズ19と協働
して、光源としてのライトガイドの端面20aと
主投影対物レンズの瞳6とをほぼ共役に形成し、
主投影対物レンズ5を射出するアライメント光学
系の主光線が、図示の如くウエハー面7a上で主
投影対物レンズの光軸にほぼ平行になり、ウエハ
ー面をほぼ垂直に照明することができる。そし
て、主投影対物レンズの瞳6を開口絞りとするケ
ーラー照明が形成され、しかもインコヒーレント
な照明となるので、均一な明るさの、高い解像を
示す像が、モニターTV上で観察される。
は明らかに第1及び第2対物レンズの光軸13か
ら外れた位置にあるため、この瞳との共役点も光
軸外にあるため、光源としてのライトガイドの端
面20aを光軸外に位置させることが望ましい。
このようにして、第1対物レンズ15は、第2対
物レンズ16及びコンデンサーレンズ19と協働
して、光源としてのライトガイドの端面20aと
主投影対物レンズの瞳6とをほぼ共役に形成し、
主投影対物レンズ5を射出するアライメント光学
系の主光線が、図示の如くウエハー面7a上で主
投影対物レンズの光軸にほぼ平行になり、ウエハ
ー面をほぼ垂直に照明することができる。そし
て、主投影対物レンズの瞳6を開口絞りとするケ
ーラー照明が形成され、しかもインコヒーレント
な照明となるので、均一な明るさの、高い解像を
示す像が、モニターTV上で観察される。
ところが、実際にはチツプサイズの変化に応じ
てアライメントマークの位置も変わる。レテイク
ル上に設けられるアライメント基準マークは、そ
の像がウエハーのスクライプライン上に形成され
なければならないため、レテイクルのパターンの
周囲にごく接近して設けられる。このため第2図
のレテイクル平面図に示すごとく、パターン部4
が小さい場合にはこのパターン用の基準マーク
B′はパターン部が大きな場合の基準マークBよ
り内側に位置することとなる。この場合、第1対
物レンズ15と反射鏡14とが一体的に、第1図
中点線で示した位置まで移動することにより、基
準マークB′が観察可能となる。この状態におけ
る主光線の様子も第1図中に点線で記されてい
る。図示のように、第1、第2対物レンズ15,
16での主光線の高さは変化するが、撮像管21
の撮像面21aがレテイクル3のパターン面3a
と共役であることに変わりはない。
てアライメントマークの位置も変わる。レテイク
ル上に設けられるアライメント基準マークは、そ
の像がウエハーのスクライプライン上に形成され
なければならないため、レテイクルのパターンの
周囲にごく接近して設けられる。このため第2図
のレテイクル平面図に示すごとく、パターン部4
が小さい場合にはこのパターン用の基準マーク
B′はパターン部が大きな場合の基準マークBよ
り内側に位置することとなる。この場合、第1対
物レンズ15と反射鏡14とが一体的に、第1図
中点線で示した位置まで移動することにより、基
準マークB′が観察可能となる。この状態におけ
る主光線の様子も第1図中に点線で記されてい
る。図示のように、第1、第2対物レンズ15,
16での主光線の高さは変化するが、撮像管21
の撮像面21aがレテイクル3のパターン面3a
と共役であることに変わりはない。
しかしながら、ライトガイド20における主光
線の高さHはいくらか変化する。さらに、第1対
物レンズ15と第2対物レンズ16の間の空気間
隔が変化する為に、主投影対物レンズ5の入射瞳
6の第1、第2対物レンズ及びコンデンサーレン
ズによる像の位置は、光軸13方向にも若干変化
する。従つて厳密なケーラー照明系を形成する為
には、アライメントマークの位置に応じて、ライ
トガイド20の端面20aの位置を、光軸13方
向にもそれと直角方向にも移動させることが望ま
しい。位置の移動と同時にライトガイドの太さも
変更することが望ましいが、こちらの方は別に開
口絞りが設けられているので、少し太めのライト
ガイドを用いることとすれば、太さを可変にする
必要はない。
線の高さHはいくらか変化する。さらに、第1対
物レンズ15と第2対物レンズ16の間の空気間
隔が変化する為に、主投影対物レンズ5の入射瞳
6の第1、第2対物レンズ及びコンデンサーレン
ズによる像の位置は、光軸13方向にも若干変化
する。従つて厳密なケーラー照明系を形成する為
には、アライメントマークの位置に応じて、ライ
トガイド20の端面20aの位置を、光軸13方
向にもそれと直角方向にも移動させることが望ま
しい。位置の移動と同時にライトガイドの太さも
変更することが望ましいが、こちらの方は別に開
口絞りが設けられているので、少し太めのライト
ガイドを用いることとすれば、太さを可変にする
必要はない。
図示した実施例では、反射鏡14がレテイクル
3のパターン面3aに対して45°に斜設されてい
るため、第1対物レンズ15の光軸は、レテイク
ルのパターン面3aに直交しつつ反射によつて、
レテイクル3と平行に配置されており、この構成
が最も簡単である。しかしながらこれに限らず、
レテイクル3のパターン面3aで第1対物レンズ
15の光軸が直交しさえすれば、反射鏡14を
45°以外の傾きとし、反射後の第1対物レンズの
光軸13がレテイクル3と非平行になつてもよ
い。この場合には、第1対物レンズ15と反射鏡
14とが光軸を含む面内でレテイクル3に沿つて
一体的に移動することが必要である。
3のパターン面3aに対して45°に斜設されてい
るため、第1対物レンズ15の光軸は、レテイク
ルのパターン面3aに直交しつつ反射によつて、
レテイクル3と平行に配置されており、この構成
が最も簡単である。しかしながらこれに限らず、
レテイクル3のパターン面3aで第1対物レンズ
15の光軸が直交しさえすれば、反射鏡14を
45°以外の傾きとし、反射後の第1対物レンズの
光軸13がレテイクル3と非平行になつてもよ
い。この場合には、第1対物レンズ15と反射鏡
14とが光軸を含む面内でレテイクル3に沿つて
一体的に移動することが必要である。
このように、チツプサイズが変わつた場合にも
第1対物レンズ15と反射鏡14とを一体的に移
動することによつて、ステツプアライメントをほ
ぼ同様の精度で行なうことができる。しかもアラ
イメントを行なう必要のない時には、第1対物レ
ンズ15と反射鏡14とを一体に第2対物レンズ
16側へ移動すれば、露光光束1の光路から完全
に退避させることができるため、露光時に何ら悪
影響を及ぼすことがない。
第1対物レンズ15と反射鏡14とを一体的に移
動することによつて、ステツプアライメントをほ
ぼ同様の精度で行なうことができる。しかもアラ
イメントを行なう必要のない時には、第1対物レ
ンズ15と反射鏡14とを一体に第2対物レンズ
16側へ移動すれば、露光光束1の光路から完全
に退避させることができるため、露光時に何ら悪
影響を及ぼすことがない。
尚、第1図では省略したが、本装置には上述し
たアライメント光学系と同一のもう1つのアライ
メント光学系が図の紙面に垂直な方向に設けら
れ、2つのアライメント光学系によつて、第2図
に示したごとき直交する2方向のアライメントマ
ークをそれぞれ観察し、レテイクルのパターンと
ウエハーのパターンとの正確な位置決めがなされ
る。また、アライメントマークと基準マークとの
観察はITV撮像管によつて行なうものに限られ
るものではない。
たアライメント光学系と同一のもう1つのアライ
メント光学系が図の紙面に垂直な方向に設けら
れ、2つのアライメント光学系によつて、第2図
に示したごとき直交する2方向のアライメントマ
ークをそれぞれ観察し、レテイクルのパターンと
ウエハーのパターンとの正確な位置決めがなされ
る。また、アライメントマークと基準マークとの
観察はITV撮像管によつて行なうものに限られ
るものではない。
以上のように本発明のアライメント光学系によ
れば、ウエハーの有効領域には何ら悪影響を及ぼ
すことなく、ステツプアライメントを行なうこと
ができ、チツプサイズが変わつても光学系の一部
を移動するだけの簡単な構成で対応できるのみな
らず、露光光路から退避することによつてウエハ
ーの露光には何ら支障を与えることがない。しか
も、レテイクルのパターン面と第1対物レンズの
前側焦点面が実質的に常に合致しているため、パ
ターン面の広範囲を鮮明に観察することができ
る。
れば、ウエハーの有効領域には何ら悪影響を及ぼ
すことなく、ステツプアライメントを行なうこと
ができ、チツプサイズが変わつても光学系の一部
を移動するだけの簡単な構成で対応できるのみな
らず、露光光路から退避することによつてウエハ
ーの露光には何ら支障を与えることがない。しか
も、レテイクルのパターン面と第1対物レンズの
前側焦点面が実質的に常に合致しているため、パ
ターン面の広範囲を鮮明に観察することができ
る。
第1図は縮小投影型露光装置の露光光学系とア
ライメント光学系との概略を示す光学配置図、第
2図はレテイクルの平面図である。 〔主要部分の符号の説明〕、3……レテイクル、
7……ウエハー、15……第1対物レンズ、14
……反射鏡、16……第2対物レンズ、18……
絞り、19……コンデンサーレンズ、20……ラ
イトガイド、17……ビームスプリツター。
ライメント光学系との概略を示す光学配置図、第
2図はレテイクルの平面図である。 〔主要部分の符号の説明〕、3……レテイクル、
7……ウエハー、15……第1対物レンズ、14
……反射鏡、16……第2対物レンズ、18……
絞り、19……コンデンサーレンズ、20……ラ
イトガイド、17……ビームスプリツター。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 投影型露光装置における投影原版とウエハー
との位置合せのために、該投影原版上の基準マー
クと、主投影対物レンズによつて該投影原版上に
形成されるウエハー上のアライメントマークの像
とを観察するアライメント光学系において、 前記投影原版上の基準マークと該投影原版上に
形成される前記ウエハー上のアライメントマーク
の像とを観察手段へ投影するために前記投影原版
上で該投影原版に平行な光軸を有する如く配置さ
れた第1対物レンズと、 該第1対物レンズの光軸を前記投影原版に対し
て垂直にして該第1対物レンズの焦点面を前記投
影原版上に合致させるために該対物レンズと前記
投影原版との間の光路中に該第1対物レンズの光
軸に対して斜設される反射部材と、 該第1対物レンズを射出する前記投影原版及び
前記ウエハーからの概略平行光束を集光するため
の第2対物レンズと、 該第2対物レンズの焦点位置に配置された絞り
部材と、 光源からの光束を前記絞り部材、前記第1及び
第2対物レンズを通して前記投影原版へ供給する
と共に、さらに前記主投影対物レンズを通して前
記ウエハー面へ供給するためのコンデンサーレン
ズと、 前記第1対物レンズを通過してくる前記投影原
版及びウエハーからの反射光を前記観察手段に導
くために前記コンデンサーレンズと前記第1対物
レンズとの間に配置された光路分岐部材とを有
し、 前記第1、第2対物レンズ及び前記コンデンサ
ーレンズは同一光軸上に配置され、さらに、該第
1対物レンズの焦点が前記投影原版上を移動する
ように、前記第1対物レンズと前記反射部材と
が、前記光軸を含む面内で前記投影原版にそつて
一体的に移動可能であることを特徴とするアライ
メント光学系。 2 第1対物レンズは、第2対物レンズ及びコン
デンサーレンズと協働して、光源と主投影対物レ
ンズの入射瞳とをほぼ共役に形成し、前記主投影
対物レンズを射出するアライメント光学系の主光
線がウエハー面上で前記主投影対物レンズの光軸
にほぼ平行になることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のアライメント光学系。 3 光路分岐部材はコンデンサーレンズと第2対
物レンズとの間に配置されたビームスプリツター
であることを特徴とする特許請求の範囲第2項記
載のアライメント光学系。 4 光源は、第1及び第2対物レンズの光軸に対
して偏芯した位置に配置されていることを特徴と
する特許請求の範囲第2項記載のアライメント光
学系。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56028034A JPS57142612A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Alignment optical system of projection type exposure device |
| US06/345,645 US4402596A (en) | 1981-02-27 | 1982-02-04 | Projection type exposure device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56028034A JPS57142612A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Alignment optical system of projection type exposure device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57142612A JPS57142612A (en) | 1982-09-03 |
| JPS6352768B2 true JPS6352768B2 (ja) | 1988-10-20 |
Family
ID=12237450
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56028034A Granted JPS57142612A (en) | 1981-02-27 | 1981-02-27 | Alignment optical system of projection type exposure device |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4402596A (ja) |
| JP (1) | JPS57142612A (ja) |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2523323A1 (fr) * | 1982-03-09 | 1983-09-16 | Euromask | Dispositif d'alignement pour machines de fabrication de circuits integres |
| JPS5919320A (ja) * | 1982-07-23 | 1984-01-31 | Canon Inc | 検出光学系 |
| JPS5972728A (ja) * | 1982-10-20 | 1984-04-24 | Canon Inc | 自動整合装置 |
| JPS5989416A (ja) * | 1982-11-15 | 1984-05-23 | Canon Inc | 位置検出方法 |
| JPS5998525A (ja) * | 1982-11-26 | 1984-06-06 | Canon Inc | 分割焼付け装置のアライメント方法 |
| JPH0616476B2 (ja) * | 1984-05-11 | 1994-03-02 | 株式会社ニコン | パターン露光方法 |
| JPS6175522A (ja) * | 1984-09-21 | 1986-04-17 | Hitachi Ltd | 縮小投影式アライメント装置 |
| JPS6159829A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-27 | Hitachi Ltd | 縮小投影式アライメント装置 |
| US5262822A (en) * | 1984-11-09 | 1993-11-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure method and apparatus |
| JPH079500B2 (ja) * | 1985-04-04 | 1995-02-01 | 株式会社ニコン | アライメント光学装置 |
| JPH0723933B2 (ja) * | 1985-08-20 | 1995-03-15 | 株式会社ニコン | 光路長補償光学系 |
| JPS62262426A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-14 | Canon Inc | 露光装置 |
| US5137363A (en) * | 1986-06-04 | 1992-08-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Projection exposure apparatus |
| US4782368A (en) * | 1986-07-11 | 1988-11-01 | Matsushita Electric Industrial, Co., Ltd. | Method for correction for chromatic aberration and exposure apparatus using the same |
| JPH07123103B2 (ja) * | 1986-11-26 | 1995-12-25 | 株式会社ニコン | 位置合わせ装置 |
| JP2773147B2 (ja) * | 1988-08-19 | 1998-07-09 | 株式会社ニコン | 露光装置の位置合わせ装置及び方法 |
| US5734478A (en) * | 1988-10-12 | 1998-03-31 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus |
| US5171999A (en) * | 1989-02-28 | 1992-12-15 | Nikon Corporation | Adjustable beam and interference fringe position |
| US5489986A (en) * | 1989-02-28 | 1996-02-06 | Nikon Corporation | Position detecting apparatus |
| JP2897355B2 (ja) * | 1990-07-05 | 1999-05-31 | 株式会社ニコン | アライメント方法,露光装置,並びに位置検出方法及び装置 |
| US6141107A (en) * | 1991-02-28 | 2000-10-31 | Nikon Corporation | Apparatus for detecting a position of an optical mark |
| JPH0574684A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-26 | Nikon Corp | 位置合わせ装置 |
| US5559601A (en) * | 1994-01-24 | 1996-09-24 | Svg Lithography Systems, Inc. | Mask and wafer diffraction grating alignment system wherein the diffracted light beams return substantially along an incident angle |
| KR950034479A (ko) * | 1994-05-24 | 1995-12-28 | 오노 시게오 | 조명광학계 |
| EP1393140A4 (en) * | 2001-02-22 | 2013-04-24 | Robert Bosch Co Ltd | TOOLS WITH ORIENTATION DETECTION |
| JP7038562B2 (ja) * | 2018-02-13 | 2022-03-18 | キヤノン株式会社 | 検出装置、リソグラフィ装置、および物品の製造方法 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3984186A (en) * | 1969-02-27 | 1976-10-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Projection masking system |
| JPS4928362A (ja) * | 1972-07-05 | 1974-03-13 | ||
| US3853398A (en) * | 1972-07-05 | 1974-12-10 | Canon Kk | Mask pattern printing device |
| US3865483A (en) * | 1974-03-21 | 1975-02-11 | Ibm | Alignment illumination system |
| JPS5426874A (en) * | 1977-07-30 | 1979-02-28 | Okamoto Riken Gomu Kk | Manufacture of glass condom mold |
| JPS5541739A (en) * | 1978-09-20 | 1980-03-24 | Hitachi Ltd | Micro-projection type mask alignment device |
| DE2845603C2 (de) * | 1978-10-19 | 1982-12-09 | Censor Patent- und Versuchs-Anstalt, 9490 Vaduz | Verfahren und Einrichtung zum Projektionskopieren |
| DE2905636C2 (de) * | 1979-02-14 | 1985-06-20 | Censor Patent- Und Versuchs-Anstalt, Vaduz | Verfahren zum Kopieren von Masken auf ein Werkstück |
| FR2450470A1 (fr) * | 1979-02-27 | 1980-09-26 | Thomson Csf | Systeme optique de projection en photorepetition |
| FR2472208A1 (fr) * | 1979-12-18 | 1981-06-26 | Thomson Csf | Systeme optique d'alignement de deux motifs et photorepeteur mettant en oeuvre un tel systeme |
-
1981
- 1981-02-27 JP JP56028034A patent/JPS57142612A/ja active Granted
-
1982
- 1982-02-04 US US06/345,645 patent/US4402596A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4402596A (en) | 1983-09-06 |
| JPS57142612A (en) | 1982-09-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6352768B2 (ja) | ||
| US7236254B2 (en) | Exposure apparatus with interferometer | |
| US5721605A (en) | Alignment device and method with focus detection system | |
| US6208707B1 (en) | X-ray projection exposure apparatus | |
| JPS593791B2 (ja) | 物体の像認識方法 | |
| JPS59100805A (ja) | 物体観察装置 | |
| US6249382B1 (en) | Illumination optical system and projection exposure apparatus using same | |
| JPH0245324B2 (ja) | ||
| JP2633028B2 (ja) | 観察方法及び観察装置 | |
| JPH1050585A5 (ja) | ||
| JPH1063011A (ja) | 走査型露光装置及び走査露光方法 | |
| JP3392034B2 (ja) | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 | |
| JPH10189428A (ja) | 照明光学装置 | |
| JP2756862B2 (ja) | 露光装置 | |
| JPH10172900A (ja) | 露光装置 | |
| JPS6349367B2 (ja) | ||
| JPH0729816A (ja) | 投影露光装置及びそれを用いた半導体素子の製造方法 | |
| JPH0744138B2 (ja) | 位置合わせ装置 | |
| JPH05343292A (ja) | 露光装置 | |
| JP3326446B2 (ja) | 露光方法及び装置、リソグラフィ方法、マーク焼き付け装置、及びプロキシミティ露光装置 | |
| JPH11304422A (ja) | 位置検出装置及び位置検出方法並びに露光装置 | |
| JPH0261131B2 (ja) | ||
| JPH086263A (ja) | 面位置検出装置 | |
| JPH079500B2 (ja) | アライメント光学装置 | |
| JP3584298B2 (ja) | アライメント装置 |