JPH01148798A - 超電導薄膜の製造方法 - Google Patents
超電導薄膜の製造方法Info
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- JPH01148798A JPH01148798A JP62309048A JP30904887A JPH01148798A JP H01148798 A JPH01148798 A JP H01148798A JP 62309048 A JP62309048 A JP 62309048A JP 30904887 A JP30904887 A JP 30904887A JP H01148798 A JPH01148798 A JP H01148798A
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- Japan
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- thin film
- superconducting thin
- crystal growth
- growth chamber
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は有機金属化合物を用いた気相成長法によシ超電
導薄膜を作成する方法に関するものである。
導薄膜を作成する方法に関するものである。
従来の技術
最近、高温超電導体としてY−Ba−Cu−0系が提案
され注目されている( M 、 K 、 WuM、 K
、Wnetan、フィジカル レビュー レターズ(
PhysicalReview Letters)Vo
w、 5 B 、 A 9 、909−910(19
87)]。
され注目されている( M 、 K 、 WuM、 K
、Wnetan、フィジカル レビュー レターズ(
PhysicalReview Letters)Vo
w、 5 B 、 A 9 、909−910(19
87)]。
この材料系が提案されるまではニオブとゲルマニウムの
化合物、Nb5Gθ薄膜の23Kが最高の転移温度であ
った。これまでの超電導材料は金属あるいは半導体であ
りBC3理論から転移温度限界が予測されていた。
化合物、Nb5Gθ薄膜の23Kが最高の転移温度であ
った。これまでの超電導材料は金属あるいは半導体であ
りBC3理論から転移温度限界が予測されていた。
Y−Ba−Cu−0系材料は酸化物セラミクスであり詳
細は明らかではないが転移温度が室温あるいはそれ以上
に高くなる可能性があシ高温超電導体として期待される
。
細は明らかではないが転移温度が室温あるいはそれ以上
に高くなる可能性があシ高温超電導体として期待される
。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、Y−Ba−Cu−0系の材料は、現在焼
結法でしか形成できないためセラミックの粉末あるいは
ブロックの形状でしか得られない。−方、実用化を考え
た場合、セラミックの粉末あるいはブロックとしての用
途もあるが薄膜化することが強く望まれている。また、
この種の焼結体では、−度焼結させたのち、含まれる酸
素の量をコントロールするだめに、再度酸素雰囲気中で
アニールする必要があり酸素量によっては超電導になら
ない場合もある。
結法でしか形成できないためセラミックの粉末あるいは
ブロックの形状でしか得られない。−方、実用化を考え
た場合、セラミックの粉末あるいはブロックとしての用
途もあるが薄膜化することが強く望まれている。また、
この種の焼結体では、−度焼結させたのち、含まれる酸
素の量をコントロールするだめに、再度酸素雰囲気中で
アニールする必要があり酸素量によっては超電導になら
ない場合もある。
問題点を解決するだめの手段
これらの問題点を解決するために、本発明は有機金属化
合物を用いて気相成長法により超電導薄膜を形成するも
のであシ、原料ガスに有機金属化合物を用いることによ
り、成長温度は幅広くとることができる。また、成長雰
囲気も水素や不活性ガス雰囲気中に所定の酸素を混入さ
せることにより成膜中の酸素量を容易にコントロールす
ることができる。また、エキシマレーザ等の光を用いる
ことによシ超電導薄膜の構成元素と酸素間の結合を切っ
たり、酸素と炭素間の結合を切ったりできるので、この
方法によっても成膜中の酸素量はコントロールできる。
合物を用いて気相成長法により超電導薄膜を形成するも
のであシ、原料ガスに有機金属化合物を用いることによ
り、成長温度は幅広くとることができる。また、成長雰
囲気も水素や不活性ガス雰囲気中に所定の酸素を混入さ
せることにより成膜中の酸素量を容易にコントロールす
ることができる。また、エキシマレーザ等の光を用いる
ことによシ超電導薄膜の構成元素と酸素間の結合を切っ
たり、酸素と炭素間の結合を切ったりできるので、この
方法によっても成膜中の酸素量はコントロールできる。
作 用
本発明によると、超電導体が容易に薄膜化でき、また成
膜後のアニールを必要とせず一度の成長で超電導薄膜が
形成できる。従来の焼結体に比べて均質である。
膜後のアニールを必要とせず一度の成長で超電導薄膜が
形成できる。従来の焼結体に比べて均質である。
実施例
本発明の一実施例を図面とともに説明する。第1図に第
1の実施例を示す。1は結晶成長室、2はサセプターた
とえば炭素製サセプター、3は基板たとえばSrTiO
3,4はキャリアガスとして用いる水素(H)、6は酸
素(02)、6はトリスジピバロイルメタナトイツトリ
ウム(Y(C11H19o2)3)(以下Y(DPM)
と記す)、7はバリウムヘキサフルオロアセチルアセト
ナト錯体(Ba (C5HF602)2)(以下Ba(
HFA)2と記す)、8はビスヘキサフルオロアセチル
アセトナト鋼(Cu(C6HF602)2(以下Cu
(HF A ) 2と記す)、9は反応ガスを結晶成長
室に導く反応ガス導入管、10はサセプターを熱する高
周波誘導コイルである。
1の実施例を示す。1は結晶成長室、2はサセプターた
とえば炭素製サセプター、3は基板たとえばSrTiO
3,4はキャリアガスとして用いる水素(H)、6は酸
素(02)、6はトリスジピバロイルメタナトイツトリ
ウム(Y(C11H19o2)3)(以下Y(DPM)
と記す)、7はバリウムヘキサフルオロアセチルアセト
ナト錯体(Ba (C5HF602)2)(以下Ba(
HFA)2と記す)、8はビスヘキサフルオロアセチル
アセトナト鋼(Cu(C6HF602)2(以下Cu
(HF A ) 2と記す)、9は反応ガスを結晶成長
室に導く反応ガス導入管、10はサセプターを熱する高
周波誘導コイルである。
この方法は基本的には化合物半導体の単結晶薄膜の結晶
成長に用いられている方法と類似したM○VPE (M
etal Organic Vapor Phase
Epitary)法であり焼結させる場合と異なシ非平
衡状態で作成するため成長温度を幅広く検討することが
でき非常に都合がよい。以下に具体的に述べる。
成長に用いられている方法と類似したM○VPE (M
etal Organic Vapor Phase
Epitary)法であり焼結させる場合と異なシ非平
衡状態で作成するため成長温度を幅広く検討することが
でき非常に都合がよい。以下に具体的に述べる。
水素4、酸素6はマスフローコントロラーにより正確に
流量制御される。また、Y(DPM)3e、Ba(HF
A) 7、Cu (HF A ) 2 Bは、恒温槽
の中で正確に蒸気圧が制御され、マスフローコントロラ
ーにより正確に流量制御された水素ガスを導入すること
により結晶成長室への供給量が決定される。基板3の温
度は高周波誘導によシ熱せられたサセプター2からの熱
で所望の温度にされる。単結晶の薄膜を作成するには基
板温度は300〜60C)Cの範囲がこの成長方法では
最適である。
流量制御される。また、Y(DPM)3e、Ba(HF
A) 7、Cu (HF A ) 2 Bは、恒温槽
の中で正確に蒸気圧が制御され、マスフローコントロラ
ーにより正確に流量制御された水素ガスを導入すること
により結晶成長室への供給量が決定される。基板3の温
度は高周波誘導によシ熱せられたサセプター2からの熱
で所望の温度にされる。単結晶の薄膜を作成するには基
板温度は300〜60C)Cの範囲がこの成長方法では
最適である。
この温度より低い温度では成膜自体は超電導を示すが、
単結晶にはならない。この温度よシ高い温度では成膜自
体は超電導を示すが、多結晶膜となる場合が多い。
単結晶にはならない。この温度よシ高い温度では成膜自
体は超電導を示すが、多結晶膜となる場合が多い。
第2の実施例を第2図に示す。サセプター3の上流に発
振波長が300nm付近のレーザ光入射する窓21を結
晶成長室1に設け、レーザ光20を入射する。この場合
、第1の実施例に比べて装置は複雑になるが、有機金属
化合物の特定のボンドで切り放すことができ、基板温度
をさらに低くできる。たとえば100℃付近まで良好な
単結晶薄膜が容易に作成することができる。これらの方
法で作成された超電導薄膜の成長速度は1μm/hであ
シ典型的な転移温度は210にであった。
振波長が300nm付近のレーザ光入射する窓21を結
晶成長室1に設け、レーザ光20を入射する。この場合
、第1の実施例に比べて装置は複雑になるが、有機金属
化合物の特定のボンドで切り放すことができ、基板温度
をさらに低くできる。たとえば100℃付近まで良好な
単結晶薄膜が容易に作成することができる。これらの方
法で作成された超電導薄膜の成長速度は1μm/hであ
シ典型的な転移温度は210にであった。
以上述べた方法は水素と酸素の混合雰囲気で作成したも
のであるが、酸素雰囲気はもちろんあこと、Ar、Xe
、Ne、Krのような不活性ガスとの混合雰囲気でも良
好な超電導薄膜が得られるのけ言うまでもない。さらに
Y(イツトリウム)をSc(スカンジウム)やLa (
ランタン)、さらにランタン系列の元素(原子番号57
〜71)に置き換えてもよい。また、Ba (バリウ
ム)についてもSr(ストロンチウム)、Ca(カルシ
ウム)等のIIa 族元素に置き換えてもよいことはも
ちろんである。また、基板3は、ペロブスカイト構造あ
るいはスピネル構造を有する酸化物、Si、Geあるい
はI−V、n −Vl化合物半導体等を用いることがで
きる。
のであるが、酸素雰囲気はもちろんあこと、Ar、Xe
、Ne、Krのような不活性ガスとの混合雰囲気でも良
好な超電導薄膜が得られるのけ言うまでもない。さらに
Y(イツトリウム)をSc(スカンジウム)やLa (
ランタン)、さらにランタン系列の元素(原子番号57
〜71)に置き換えてもよい。また、Ba (バリウ
ム)についてもSr(ストロンチウム)、Ca(カルシ
ウム)等のIIa 族元素に置き換えてもよいことはも
ちろんである。また、基板3は、ペロブスカイト構造あ
るいはスピネル構造を有する酸化物、Si、Geあるい
はI−V、n −Vl化合物半導体等を用いることがで
きる。
発明の効果
本発明にかかる超電導薄膜の製造方法は超電導体を均一
性のよい薄膜化している所に大きな特徴がある。しかも
従来成膜後酸素雰囲気でアニールする必要があったが成
膜中に酸素濃度を容易にコントロールできるため成膜後
のアニールは必要がない。したがって本発明により形成
された超電導薄膜は良好な特性を示すだけでなく、非常
に低価格で作成することができ、工業的価値は高く、実
用的効果は大である。
性のよい薄膜化している所に大きな特徴がある。しかも
従来成膜後酸素雰囲気でアニールする必要があったが成
膜中に酸素濃度を容易にコントロールできるため成膜後
のアニールは必要がない。したがって本発明により形成
された超電導薄膜は良好な特性を示すだけでなく、非常
に低価格で作成することができ、工業的価値は高く、実
用的効果は大である。
第1図は本発明の第1の実施例の方法を示す概略図、第
2図は本発明の第2の実施例の方法を示す概略図である
。 1・・・・・・結晶成長室、2・・・・・・サセプター
、3・・・・・・・ 基板、4・・・・・・水素ガス、
6・・・・・・酸素ガス、6・・・・・・Y(C11H
19o2)3.7・・・・・・Ba(C2HF6o2)
2.8・・・・・・Cu(C5HF6o2)2.10・
・・・・・高周波誘導コイル、2o・・・・・・エキシ
マレーザ。
2図は本発明の第2の実施例の方法を示す概略図である
。 1・・・・・・結晶成長室、2・・・・・・サセプター
、3・・・・・・・ 基板、4・・・・・・水素ガス、
6・・・・・・酸素ガス、6・・・・・・Y(C11H
19o2)3.7・・・・・・Ba(C2HF6o2)
2.8・・・・・・Cu(C5HF6o2)2.10・
・・・・・高周波誘導コイル、2o・・・・・・エキシ
マレーザ。
Claims (5)
- (1)結晶成長室内に反応ガスを導入し、前記結晶成長
室内に載置されたサセプター上の基板上に超電導薄膜を
作成する際、前記反応ガスの内少なくとも一種は有機金
属化合物を用いる超電導薄膜の製造方法。 - (2)反応ガスは高周波誘導あるいは電流による熱によ
り分解および反応が行われる特許請求の範囲第1項に記
載の超電導薄膜の製造方法。 - (3)反応ガスは光によって分解および反応が行われる
特許請求の範囲第1項に記載の超電導薄膜の製造方法。 - (4)光はエキシマレーザである特許請求の範囲第3項
に記載の超電導薄膜の製造方法。 - (5)有機金属化合物は超電導薄膜の構成元素の一元素
とC、H、O、Fからなり、結晶成長室内の雰囲気は酸
素雰囲気あるいは酸素と水素からなる雰囲気あるいは酸
素と不活性ガスからなる雰囲気である特許請求の範囲第
1項に記載の超電導薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62309048A JPH01148798A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 超電導薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62309048A JPH01148798A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 超電導薄膜の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01148798A true JPH01148798A (ja) | 1989-06-12 |
Family
ID=17988246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62309048A Pending JPH01148798A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 超電導薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01148798A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01294506A (ja) * | 1988-05-19 | 1989-11-28 | Nichicon Corp | エキシマレーザーによる金属酸化物および金属酸化物薄膜の製造方法 |
| JPH01308807A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法 |
| JPH01308806A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法 |
| JPH01308804A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法 |
| JPH01308802A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法及びその装置 |
| JPH0254769A (ja) * | 1988-08-18 | 1990-02-23 | Mitsubishi Metal Corp | 超伝導体薄膜の製造方法 |
-
1987
- 1987-12-07 JP JP62309048A patent/JPH01148798A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01294506A (ja) * | 1988-05-19 | 1989-11-28 | Nichicon Corp | エキシマレーザーによる金属酸化物および金属酸化物薄膜の製造方法 |
| JPH01308807A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法 |
| JPH01308806A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法 |
| JPH01308804A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法 |
| JPH01308802A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法及びその装置 |
| JPH0254769A (ja) * | 1988-08-18 | 1990-02-23 | Mitsubishi Metal Corp | 超伝導体薄膜の製造方法 |
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