JPH01191318A - 垂直磁気記録媒体 - Google Patents
垂直磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPH01191318A JPH01191318A JP1493588A JP1493588A JPH01191318A JP H01191318 A JPH01191318 A JP H01191318A JP 1493588 A JP1493588 A JP 1493588A JP 1493588 A JP1493588 A JP 1493588A JP H01191318 A JPH01191318 A JP H01191318A
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- JP
- Japan
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- perpendicular magnetic
- alloy
- thin film
- magnetic recording
- recording medium
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気特性や実用特性に優れ、高密度記録に対
応する新規な垂直磁気記録媒体に関するものである。
応する新規な垂直磁気記録媒体に関するものである。
本発明は、所定の組成を有するCo−Pd合金薄膜を磁
性層とすることにより、優れた磁気特性を有する垂直磁
気記録媒体の提供を可能とするものである。
性層とすることにより、優れた磁気特性を有する垂直磁
気記録媒体の提供を可能とするものである。
近年、磁気記録における短波長化と狭トラツク化による
記録密度の向上は目覚ましく、磁化容易軸を記録層形成
面に対して垂直に有する垂直磁気記録媒体が高密度記録
に対応する方式として期待されている。
記録密度の向上は目覚ましく、磁化容易軸を記録層形成
面に対して垂直に有する垂直磁気記録媒体が高密度記録
に対応する方式として期待されている。
このような垂直磁気記録媒体の記録層の材料として、従
来よりCo−Cr合金磁性膜が提案されており、実用化
に向けて各方面で盛んに研究されている。
来よりCo−Cr合金磁性膜が提案されており、実用化
に向けて各方面で盛んに研究されている。
しかしながら、Co−Cr合金磁性膜はその物理的性質
、特に膜が非常に硬いことから耐久性。
、特に膜が非常に硬いことから耐久性。
ヘッド摩耗等の実用特性の点で問題が多く、未だ実用に
至らないのが実情である。
至らないのが実情である。
一方、Co−Cr合金以外の材料よりなる垂直磁気記録
媒体に関する研究も行われているが、いずれもCo−C
r合金磁性膜には及ばない。言い換えれば、Go−Cr
合金と同程度の特性を示す材料でさえ見出されていない
。
媒体に関する研究も行われているが、いずれもCo−C
r合金磁性膜には及ばない。言い換えれば、Go−Cr
合金と同程度の特性を示す材料でさえ見出されていない
。
そこで本発明は、前述の従来の状況に鑑みて提案された
ものであって、Co−Cr系垂直磁気記録媒体に代わる
新規な垂直磁気記録媒体の提供を目的とし、特に保磁力
、角形比等の磁気特性の点でCo−Cr系垂直磁気記録
媒体に匹敵する特性を存する垂直磁気記録媒体を提供す
ることを目的とする。
ものであって、Co−Cr系垂直磁気記録媒体に代わる
新規な垂直磁気記録媒体の提供を目的とし、特に保磁力
、角形比等の磁気特性の点でCo−Cr系垂直磁気記録
媒体に匹敵する特性を存する垂直磁気記録媒体を提供す
ることを目的とする。
本発明者等は、前述の目的を達成すべく鋭意研究を重ね
た結果、Co−Pd合金薄膜が特定の組成範囲で優れた
垂直異方性を示すとの知見を得るに至った。
た結果、Co−Pd合金薄膜が特定の組成範囲で優れた
垂直異方性を示すとの知見を得るに至った。
本発明はかかる知見にもとづいて完成されたものであっ
て、C010〜40原子%及びPd60〜90原子%よ
りなる合金薄膜を磁性層とすることを特徴とするもので
ある。
て、C010〜40原子%及びPd60〜90原子%よ
りなる合金薄膜を磁性層とすることを特徴とするもので
ある。
したがって、6〃性層となる合金薄膜は、一般弐Co、
Pd、。。−8(ただしXは組成を原子%で表し、lO
≦X≦40である。)で表すことができる。
Pd、。。−8(ただしXは組成を原子%で表し、lO
≦X≦40である。)で表すことができる。
上記磁性層となるCo−Pd合金薄膜は、スパッタリン
グ、真空蒸着あるいは分子線エピタキシー(MBE)等
によって形成することができる。
グ、真空蒸着あるいは分子線エピタキシー(MBE)等
によって形成することができる。
このとき使用する蒸発源は、Co−Pd合金莫発源であ
っても、各元素の独立した蒸発源であっても良い。たと
えばスパッタリングにより合金薄膜を作成する際には、
Co−Pd合金ターゲットを使用しても、あるいは円形
のCoターゲットの上に扇型のPdのチップを!!!i
するいわゆる複合ターゲットを使用しても良い。
っても、各元素の独立した蒸発源であっても良い。たと
えばスパッタリングにより合金薄膜を作成する際には、
Co−Pd合金ターゲットを使用しても、あるいは円形
のCoターゲットの上に扇型のPdのチップを!!!i
するいわゆる複合ターゲットを使用しても良い。
ここで、上述のCo−Pd合金薄膜の組成は良好な垂直
磁気異方性を達成する観点から選ばれたものである。垂
直磁気異方性は、次式で表される垂直磁気異方性定数K
uが正の値をとる時に現れる。
磁気異方性を達成する観点から選ばれたものである。垂
直磁気異方性は、次式で表される垂直磁気異方性定数K
uが正の値をとる時に現れる。
K、−−2λσ/3 ・・・(])式(1)式中、
λは磁歪定数、σは内部応力である。
λは磁歪定数、σは内部応力である。
ここで、種々の組成を有するCo−Pd合金の組成と磁
歪定数との関係を第4図に示す。図中、縦軸は磁歪定数
λを表し、横軸はCo−Pd合金の組成をPdの割合(
原子%)で表す。この図かられかるように、本発明にお
いて限定する組成範囲においてはCo−Pd合金の磁歪
定数λはいずれも負の大きな値をとるので、垂直磁気異
方性定数Kuを正の値とするためには内部応力σが正の
値をとること、すなわ内部応力σが引っ張り応力として
働くことが必要である。内部応力σの値の正負はCo−
Pd合金薄膜の成膜条件によって変わり、たとえば蒸着
では常に正の値をとらせることができるが、スパッタリ
ングでは雰囲気ガスとして使用するアルゴンガス圧によ
って変化する。この−例として、Co340066合金
をスパッタリングにより成膜する際のアルゴンガス圧と
得られる合金薄膜の内部応力との関係を第5図に示す。
歪定数との関係を第4図に示す。図中、縦軸は磁歪定数
λを表し、横軸はCo−Pd合金の組成をPdの割合(
原子%)で表す。この図かられかるように、本発明にお
いて限定する組成範囲においてはCo−Pd合金の磁歪
定数λはいずれも負の大きな値をとるので、垂直磁気異
方性定数Kuを正の値とするためには内部応力σが正の
値をとること、すなわ内部応力σが引っ張り応力として
働くことが必要である。内部応力σの値の正負はCo−
Pd合金薄膜の成膜条件によって変わり、たとえば蒸着
では常に正の値をとらせることができるが、スパッタリ
ングでは雰囲気ガスとして使用するアルゴンガス圧によ
って変化する。この−例として、Co340066合金
をスパッタリングにより成膜する際のアルゴンガス圧と
得られる合金薄膜の内部応力との関係を第5図に示す。
図中、縦軸は内部応力σ(dyn/cm”)を、横軸は
アルゴンガス圧(mTorr)をそれぞれ表す。この図
をみると、アルゴンガス圧12 mTorr付近を境と
じて内部応力σの正負が逆転しており、これより低いガ
ス圧では応力は圧縮応力、高いガス圧では引っ張り応力
となっていることがわかる。したがって、得られる合金
薄膜に垂直磁気異方性を発現させるためには、アルゴン
ガス圧を12 mTorr以上に選べば良いことになる
。
アルゴンガス圧(mTorr)をそれぞれ表す。この図
をみると、アルゴンガス圧12 mTorr付近を境と
じて内部応力σの正負が逆転しており、これより低いガ
ス圧では応力は圧縮応力、高いガス圧では引っ張り応力
となっていることがわかる。したがって、得られる合金
薄膜に垂直磁気異方性を発現させるためには、アルゴン
ガス圧を12 mTorr以上に選べば良いことになる
。
また上記磁性層は、添加元素効果や下地膜効果。
基板力i熱効果(アニール効果)等により一層の特性改
善を図るようにしてもよい。添加元素としては、Al、
Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe。
善を図るようにしてもよい。添加元素としては、Al、
Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe。
Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、Zr、Nb、Mo、R
u、Rh、Ag、In、Sn、Sb、Hf。
u、Rh、Ag、In、Sn、Sb、Hf。
Ta、W、Re、Os、I r、Au、Pb、B i等
が例示される。
が例示される。
さらに、面内磁化膜と前記Co−Pd合金薄膜を積層し
、いわゆる二層構造垂直磁気記録媒体とし、効率の改善
を図ることも可能である。
、いわゆる二層構造垂直磁気記録媒体とし、効率の改善
を図ることも可能である。
Co−Pd合金薄膜では、特にPdの含有量を40〜9
0原子%としたときに磁歪定数が負の大きな値となり、
内部応力σを引っ張り応力とすることで逆磁歪効果によ
り優れた垂直磁気異方性が発現される。
0原子%としたときに磁歪定数が負の大きな値となり、
内部応力σを引っ張り応力とすることで逆磁歪効果によ
り優れた垂直磁気異方性が発現される。
以下、本発明の好適な実施例について図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
本実施例は、Co、□Pd、sの組成を有する合金薄膜
を磁性層とする垂直磁気記録媒体の例である。
を磁性層とする垂直磁気記録媒体の例である。
このような垂直磁気記録媒体は、以下のようにして作成
した。
した。
まずマグネトロン・スパッタリング装置のチャンバー内
に100mm径のCoターゲットを設置し、MK Co
ターゲットの上にさらに種々の中心角を有する扇型のP
dターゲットを載置して、いわゆる複合ターゲットとし
た。ここで、Pdターゲットの中心角や枚数を変えてC
oターゲットとの面積比を変化させることにより、得ら
れる金属薄膜の組成を変えることができる。この複合タ
ーゲットに対してガス圧25 X 10−3Torrの
アルゴン雰囲気下でスパッタリングを行い、ガラス基板
上にCo−Pd合金薄膜を被着形成し、垂直磁気記録媒
体を作成した。上記Co−Pd合金薄膜はEPMA(電
子プローブ微量分析)によりCO*tPd、aの組成を
有し、また、X線回折により多結晶構造を有することが
確認された。
に100mm径のCoターゲットを設置し、MK Co
ターゲットの上にさらに種々の中心角を有する扇型のP
dターゲットを載置して、いわゆる複合ターゲットとし
た。ここで、Pdターゲットの中心角や枚数を変えてC
oターゲットとの面積比を変化させることにより、得ら
れる金属薄膜の組成を変えることができる。この複合タ
ーゲットに対してガス圧25 X 10−3Torrの
アルゴン雰囲気下でスパッタリングを行い、ガラス基板
上にCo−Pd合金薄膜を被着形成し、垂直磁気記録媒
体を作成した。上記Co−Pd合金薄膜はEPMA(電
子プローブ微量分析)によりCO*tPd、aの組成を
有し、また、X線回折により多結晶構造を有することが
確認された。
このようにして作成された垂直磁気記録媒体の磁気特性
を振動試料型磁力計を使用して測定した結果を第1図(
A)および第1図(B)に示す。
を振動試料型磁力計を使用して測定した結果を第1図(
A)および第1図(B)に示す。
第1図(A)は垂直方向、第1図(B)は面内方向にて
測定した磁化曲線をそれぞれ示し、縦軸は磁化の強さM
(任意単位)、また横軸は外部磁場の強さH(kOe)
を表す。これらの図から、上記垂直磁気記録媒体が垂直
磁気異方性を有していることがわかる。第1表には上記
垂直磁気記録媒体の磁気特性のデータをまとめる。なお
比較のために、この表には磁性層として従来の代表的材
料であるCo−Cr合金薄膜を使用した垂直磁気記録媒
体に関するデータも併せて示す。
測定した磁化曲線をそれぞれ示し、縦軸は磁化の強さM
(任意単位)、また横軸は外部磁場の強さH(kOe)
を表す。これらの図から、上記垂直磁気記録媒体が垂直
磁気異方性を有していることがわかる。第1表には上記
垂直磁気記録媒体の磁気特性のデータをまとめる。なお
比較のために、この表には磁性層として従来の代表的材
料であるCo−Cr合金薄膜を使用した垂直磁気記録媒
体に関するデータも併せて示す。
この表をみると、CozzPd、eを磁性層とする垂直
磁気記録媒体は、Go−Cr合金薄膜を磁性層とする垂
直磁気記録媒体と同等の磁気特性を有することが明らか
である。
磁気記録媒体は、Go−Cr合金薄膜を磁性層とする垂
直磁気記録媒体と同等の磁気特性を有することが明らか
である。
第2′図には、Co−Pd合金の組成による保磁力およ
び角形比の変化を示す。図中、縦軸は垂直方向の保磁力
(Oe)及び角形比を、横軸はCo−Pd合金の組成を
Pdの割合(原子%)で表し、黒丸(・)のプロットは
保磁力を、白丸 (0)のプロットは角形比をそれぞれ
表す。この図より、保磁力および角形比は共に組成依存
性を示し、特にPdが60〜90原子%の領域において
良好な結果が得られていることがわかる。
び角形比の変化を示す。図中、縦軸は垂直方向の保磁力
(Oe)及び角形比を、横軸はCo−Pd合金の組成を
Pdの割合(原子%)で表し、黒丸(・)のプロットは
保磁力を、白丸 (0)のプロットは角形比をそれぞれ
表す。この図より、保磁力および角形比は共に組成依存
性を示し、特にPdが60〜90原子%の領域において
良好な結果が得られていることがわかる。
さらに第3図には、Co−Pd合金の組成による飽和磁
化と飽和磁束密度の変化を示す。図中、縦軸は飽和磁化
(emu/cmff)あるいは飽和磁束密度(kGau
ss)を、横軸はCo−Pd合金の組成をPdの割合(
原子%)で表し、黒丸(・)のプロットは飽和磁化を、
白丸(0)のプロットは飽和磁束密度をそれぞれ表す。
化と飽和磁束密度の変化を示す。図中、縦軸は飽和磁化
(emu/cmff)あるいは飽和磁束密度(kGau
ss)を、横軸はCo−Pd合金の組成をPdの割合(
原子%)で表し、黒丸(・)のプロットは飽和磁化を、
白丸(0)のプロットは飽和磁束密度をそれぞれ表す。
この図より、飽和磁化および飽和磁束密度はPdの割合
が増加するにしたがって減少する回向を示し、上述の第
2図において良好な保磁力および角形比が達成されてい
たPd60〜90原子%の領域では飽和磁化は100〜
400emu/cm’ 、飽和磁束密度は2〜5 kG
aussである。
が増加するにしたがって減少する回向を示し、上述の第
2図において良好な保磁力および角形比が達成されてい
たPd60〜90原子%の領域では飽和磁化は100〜
400emu/cm’ 、飽和磁束密度は2〜5 kG
aussである。
なお、Co−Pd合金薄膜を磁性層とする上述の各垂直
磁気記録媒体には、温度80°C,温度90%の恒温恒
温下に100時間放置した後にもまったく磁気特性の劣
化や腐食はみられなかった。
磁気記録媒体には、温度80°C,温度90%の恒温恒
温下に100時間放置した後にもまったく磁気特性の劣
化や腐食はみられなかった。
本発明にかかる垂直磁気記録媒体において磁性層として
使用されたGo−Pd合金薄膜は、従来の代表的な材料
であるGo−Cr合金薄膜と同等かそれ以上の磁気特性
を示す。
使用されたGo−Pd合金薄膜は、従来の代表的な材料
であるGo−Cr合金薄膜と同等かそれ以上の磁気特性
を示す。
したがって、本発明によれば、優れた垂直磁気異方性を
有するとともに膜特性等の実用特性にも優れた垂直磁気
記録媒体の提供が可能となり、高品質かつ高密度の垂直
磁気記録が可能となる。
有するとともに膜特性等の実用特性にも優れた垂直磁気
記録媒体の提供が可能となり、高品質かつ高密度の垂直
磁気記録が可能となる。
また、本発明は、垂直磁気記録の分野において磁性層材
料の選択の幅を広げるという点でもその技術的意義は大
きいと言える。
料の選択の幅を広げるという点でもその技術的意義は大
きいと言える。
第1図(A)および第1図(B)はCO□xPdvs合
金薄膜を磁性層とする垂直磁気記録媒体の磁気特性を示
す磁化曲線であり、第1図(A)は垂直方向、第1図(
B)は面内方向の磁気特性にそれれぞれ対応するもので
ある。第2図はCo−Pd合金における保磁力および角
形比の組成依存性を示す特性図であり、第3図は飽和磁
化および飽和磁束密度の組成依存性を示す特性図である
。第4図はCo−Pd合金の組成と磁歪定数との関係を
示す特性図である。第5図はCOx4Pdbb合金薄膜
をスパッタリングにより作成する際のアルゴンガス圧と
内部応力の関係を示す特性図である。 特許出願人 ソニー株式会社 代理人 弁理士 小 池 晃(他2名)第1図な)
第1図(B)Pd 力筈り合 (R
’)’ム) 第2図 ゛ 第3図
金薄膜を磁性層とする垂直磁気記録媒体の磁気特性を示
す磁化曲線であり、第1図(A)は垂直方向、第1図(
B)は面内方向の磁気特性にそれれぞれ対応するもので
ある。第2図はCo−Pd合金における保磁力および角
形比の組成依存性を示す特性図であり、第3図は飽和磁
化および飽和磁束密度の組成依存性を示す特性図である
。第4図はCo−Pd合金の組成と磁歪定数との関係を
示す特性図である。第5図はCOx4Pdbb合金薄膜
をスパッタリングにより作成する際のアルゴンガス圧と
内部応力の関係を示す特性図である。 特許出願人 ソニー株式会社 代理人 弁理士 小 池 晃(他2名)第1図な)
第1図(B)Pd 力筈り合 (R
’)’ム) 第2図 ゛ 第3図
Claims (1)
- Co10〜40原子%及びPd60〜90原子%よりな
る合金薄膜を磁性層とする垂直磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1493588A JPH01191318A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 垂直磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1493588A JPH01191318A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 垂直磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01191318A true JPH01191318A (ja) | 1989-08-01 |
Family
ID=11874826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1493588A Pending JPH01191318A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 垂直磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01191318A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0505783A1 (en) * | 1991-03-28 | 1992-09-30 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Magnetic recording medium |
| US5242762A (en) * | 1991-02-19 | 1993-09-07 | Sony Corporation | Magnetic recording medium having an underlayer and a thin film magnetic layer which consists of a specified cobalt-platinum-palladium alloy |
| JP2003022523A (ja) * | 2001-07-05 | 2003-01-24 | Fuji Electric Co Ltd | 垂直磁気記録媒体およびその製造方法 |
| US20180145339A1 (en) * | 2016-11-18 | 2018-05-24 | City University Of Hong Kong | Method of fabricating nanoporous metal structure |
-
1988
- 1988-01-26 JP JP1493588A patent/JPH01191318A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5242762A (en) * | 1991-02-19 | 1993-09-07 | Sony Corporation | Magnetic recording medium having an underlayer and a thin film magnetic layer which consists of a specified cobalt-platinum-palladium alloy |
| EP0505783A1 (en) * | 1991-03-28 | 1992-09-30 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Magnetic recording medium |
| US5413868A (en) * | 1991-03-28 | 1995-05-09 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Perpendicular magnetic recording medium comprising a magnetic thin film of cobalt, palladium, chromium and oxygen |
| JP2003022523A (ja) * | 2001-07-05 | 2003-01-24 | Fuji Electric Co Ltd | 垂直磁気記録媒体およびその製造方法 |
| US20180145339A1 (en) * | 2016-11-18 | 2018-05-24 | City University Of Hong Kong | Method of fabricating nanoporous metal structure |
| US10612152B2 (en) * | 2016-11-18 | 2020-04-07 | City University Of Hong Kong | Method of fabricating nanoporous metal structure |
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