JPH01196582A - 論理回路のテストパタン作成方式 - Google Patents

論理回路のテストパタン作成方式

Info

Publication number
JPH01196582A
JPH01196582A JP63022344A JP2234488A JPH01196582A JP H01196582 A JPH01196582 A JP H01196582A JP 63022344 A JP63022344 A JP 63022344A JP 2234488 A JP2234488 A JP 2234488A JP H01196582 A JPH01196582 A JP H01196582A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test pattern
logical circuit
logical formula
input
logic circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63022344A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuma Yoshitani
吉谷 和馬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63022344A priority Critical patent/JPH01196582A/ja
Publication of JPH01196582A publication Critical patent/JPH01196582A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は論理回路のテストパタン作成方式に関する。
〔従来の技術〕
従来、論理回路のテストパタンは、作業者が論理回路図
を見て、論理回路の端子対応に人手によってタイムチャ
ートを作成し、このタイムチャートから作成していた。
例えば、第2図に示すような論理回路に対しては、第3
図に示すようなタイムチャートを作成し、入力A、B、
CおよびDの二値情報のすべての組合せで定まる16個
のテストパタンを作成していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の方式は、人手によってテストパタンの作
成をしているので、テストパタン作成に多くの工数を必
要とするうえ、ミスが多いという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の方式は、論理回路図から論理回路汎用言語で記
述して作成した論理式を入力する入力手段と、入力され
た論理式を論理回路のテストパタンに変換する変換手段
と、テストパタンを出力する出力手段とを有することを
特徴とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の処理フローを示す。
先ず、作業者は、第2図に示すような論理回路に対する
論理回路図5を見て、論理回路汎用言語により論理式1
を作成する。第2図の論理回路に対する、このような論
理式1は、周知のように、X=A −B −C−Dであ
る。
次いで、作業者は論理式1を、キーボード人力2する。
キーボード人力2された論理式1は、入力処理6により
、例えば磁気ディスク装置のような入出力装置に格納さ
れる。続いて、変換処理7が起動され、入出力装置に格
納されている論理式lをテストパタンに変換する。
第2図に示した論理回路に対して、以上のようにして作
成されたテストパタンは、oooo。
0001.0010.0011・・・1111のようで
あり、格納媒体9に格納され、また必要に応じてバタン
リスト10として印字出力される。
なお、本発明は、説明を簡単化するために第2図に示し
た基本的な論理回路に留まらず、このような基本的な論
理回路を多数組合せた複雑な論理回路に対しても有効で
ある。
〔発明の効果〕 以上説明したように本発明によれば、論理回路の論理式
を論理回路汎用言語で記述してキーボード入力すれば、
テストパタンを自動的に作成できるため、テストパタン
作成工数の削減及びテストパタンの作成ミスを少くする
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例、第2図は論理回路の例およ
び第3図は従来作成していたタイムチャート例をそれぞ
れ示す。 1・・・論理式、2・・・キーボード入力、5・・・論
理回路図、6・・・入力処理、7・・・変換処理、8・
・・出力処理、9・・・格納媒体、10・・・バタンリ
スト。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 論理回路図から論理回路汎用言語で記述して作成した論
    理式を入力する入力手段と、該入力された論理式を論理
    回路のテストパタンに変換する変換手段と、該テストパ
    タンを出力する出力手段とを有することを特徴とする論
    理回路のテストパタン作成方式。
JP63022344A 1988-02-01 1988-02-01 論理回路のテストパタン作成方式 Pending JPH01196582A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63022344A JPH01196582A (ja) 1988-02-01 1988-02-01 論理回路のテストパタン作成方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63022344A JPH01196582A (ja) 1988-02-01 1988-02-01 論理回路のテストパタン作成方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01196582A true JPH01196582A (ja) 1989-08-08

Family

ID=12080064

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63022344A Pending JPH01196582A (ja) 1988-02-01 1988-02-01 論理回路のテストパタン作成方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01196582A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3254203A (en) Numerical curve generator, such as for machine tool systems
JPH01196582A (ja) 論理回路のテストパタン作成方式
CN111413918B (zh) Opc通信标签的创建数据处理方法、系统和存储介质
JPH04297923A (ja) 文字コード変換方式
JPH1083213A (ja) 加工データの作成方法
JPH04172529A (ja) データ中心型ソフトウエア部品によるプログラム自動生成方式
JPH04120632A (ja) ロジックアナライザ
JPH01151855A (ja) ネットワークシミュレータ支援方式
JPS6113373A (ja) 文字パタ−ンデ−タ変換方式
JPH04338820A (ja) キーワードによるプログラミング方式
JPH0425973A (ja) 図面認識機能を有するシミュレーション装置
JPH01281845A (ja) 外形加工機の加工順序変換装置
JPH03105472A (ja) 期待値入力方式
JPS5938859A (ja) 高速論理シミユレ−シヨンシステム
JPH03116278A (ja) スキャン論理の自動生成方法
JPH02105279A (ja) アセンブラソース・プログラム入力方式
JPH02173788A (ja) 文字パタン変換回路
JPH03105481A (ja) 自動図形変形方式
Erpenbach The Development of Small Scale Map Control via Digital Paneling of Large Scale Map Source.
JPH02176955A (ja) システム構成図出力方式
JPH02173820A (ja) データ処理方式
JPH0512368A (ja) 論理シミユレーシヨン方式
JPH01209390A (ja) テストデータ自動生成システム
JPH05282011A (ja) Pcアドレス自動割付・付与装置
JPH03238503A (ja) 外形加工機のデータ変換装置