JPS60309A - 印刷物の絵柄検査方法および装置 - Google Patents
印刷物の絵柄検査方法および装置Info
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- JPS60309A JPS60309A JP58108224A JP10822483A JPS60309A JP S60309 A JPS60309 A JP S60309A JP 58108224 A JP58108224 A JP 58108224A JP 10822483 A JP10822483 A JP 10822483A JP S60309 A JPS60309 A JP S60309A
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- G06T7/0004—Industrial image inspection
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- G06V10/98—Detection or correction of errors, e.g. by rescanning the pattern or by human intervention; Evaluation of the quality of the acquired patterns
- G06V10/993—Evaluation of the quality of the acquired pattern
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- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は印刷物の絵柄を検査する方法および装置に関す
る。
る。
従来の印刷物絵柄検査装置は、第１図に示すよりに印刷
物１をラインセンサカメラ２により幅方向に走査しつつ
画像情報を取出し、一方搬送系のシリンダ３に取付けた
ロータリーエンコーダ４の出力によってカメラ２の走査
を同期化することにより試料絵柄５（第２図）をマトリ
クス状の多数の小画素に分割する。
物１をラインセンサカメラ２により幅方向に走査しつつ
画像情報を取出し、一方搬送系のシリンダ３に取付けた
ロータリーエンコーダ４の出力によってカメラ２の走査
を同期化することにより試料絵柄５（第２図）をマトリ
クス状の多数の小画素に分割する。
これら各画素は、同様に分割してメモリに記録した標本
絵柄６（第２図）の対応する小画素と順次濃度比較され
て欠陥有無が検出される。
絵柄６（第２図）の対応する小画素と順次濃度比較され
て欠陥有無が検出される。
このような絵柄検査において、第３図に示すように搬送
系の幅方向位置ずれがあると試料から得られた階調７の
うちのＯ印を付した３画素につき標本から得られた階調
８の該当する３画素分と比較した場合、試料絵柄に欠陥
がな（でも欠陥ありとの誤判定が行われる。
系の幅方向位置ずれがあると試料から得られた階調７の
うちのＯ印を付した３画素につき標本から得られた階調
８の該当する３画素分と比較した場合、試料絵柄に欠陥
がな（でも欠陥ありとの誤判定が行われる。
こｎを防ぐ一法として、試料と標本との階調差に対して
大きなれ容値な設定することが考えられる。
大きなれ容値な設定することが考えられる。
しかしながら、これは欠陥検出精度の低下をもたらすも
ので対策としては必ずしも良好なものではない。
ので対策としては必ずしも良好なものではない。
このような問題のない方法としては、標本絵柄に対する
試料絵柄の位置ずれを補正するものということになり、
各種の方法が考案されている。
試料絵柄の位置ずれを補正するものということになり、
各種の方法が考案されている。
その１は本願出願人による特願５６−１４６３５５号に
示すような、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかなる位置
にあるかを検出し、この位置変化が標本絵柄のデータを
標本画素データメモリに書込むときと試料絵柄のデータ
を読み込むときとで比較した結果所定値以上異なるとき
は、そのときの試料絵柄データを標本画素データメモリ
に書込むものである。
示すような、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかなる位置
にあるかを検出し、この位置変化が標本絵柄のデータを
標本画素データメモリに書込むときと試料絵柄のデータ
を読み込むときとで比較した結果所定値以上異なるとき
は、そのときの試料絵柄データを標本画素データメモリ
に書込むものである。
しかしながら、この方法によると、印刷物の幅方向の位
置変化検出、および位置変化情報にしたがって位置ずれ
補正のための装置が必要となり、ハードウェアの複雑化
、コスト高騰の問題を生じる。
置変化検出、および位置変化情報にしたがって位置ずれ
補正のための装置が必要となり、ハードウェアの複雑化
、コスト高騰の問題を生じる。
その２は特公昭５５−４５９４８号等に示すもので。
試料画素とこれに対応する標本画素の近傍数点の画素と
を比較する方法である。
を比較する方法である。
しかしながら、この方法では検査精度の低下を避は得な
い点で問題がある。
い点で問題がある。
その３は本願出願人による特願昭５７−１５１ 、１１
８に係るもので試料の幅方向絵柄階調データ（以下試料
行データという）を、標本の対応する幅方向絵柄階調デ
ータ（以下標本行データという）と比較し、検出するに
つき、各試料毎に許容する位置ずれ分だけシフトした複
数の標本性を参照し、試料性と最も位相の近い標本性と
試料性とによっ℃絵柄検査を行なう方法であった。
８に係るもので試料の幅方向絵柄階調データ（以下試料
行データという）を、標本の対応する幅方向絵柄階調デ
ータ（以下標本行データという）と比較し、検出するに
つき、各試料毎に許容する位置ずれ分だけシフトした複
数の標本性を参照し、試料性と最も位相の近い標本性と
試料性とによっ℃絵柄検査を行なう方法であった。
しかしながらこの方法では、試料搬送系の位置決め精度
によっては、必要Ｉよ標本性の数が非常に多（なるとと
もに、搬送系の高精度化が要求さｎるためさらに、簡略
かつ低コスト化かはか几る位置ずれ補正方法の開発が望
まｎていた。
によっては、必要Ｉよ標本性の数が非常に多（なるとと
もに、搬送系の高精度化が要求さｎるためさらに、簡略
かつ低コスト化かはか几る位置ずれ補正方法の開発が望
まｎていた。
本発明は上述の点を考慮してなされたもので、試料印刷
物から取出された絵柄データを標本印刷物から予め取出
されメモリに記憶されている絵柄データと比較し絵柄の
良否判定を行うにつき、前記試料から１行毎に検出した
試料行データおよび前記メモリに記憶されている標本行
データの何几か一方を他方に対し相対的に１画素単位で
位置ずれさせて複数のデータを形成し、この複数のデー
タによって前記試料行データと標本行データとの対比を
行い、そのレベル差が最小値となったときの前記両デー
タの位置関係からこれら両データ間の位置ずれをめ、こ
の位置ずれ量に基いて前記両データの一方のアドレスを
補正するような印刷物の絵柄検査方法および装置を提供
するものである。
物から取出された絵柄データを標本印刷物から予め取出
されメモリに記憶されている絵柄データと比較し絵柄の
良否判定を行うにつき、前記試料から１行毎に検出した
試料行データおよび前記メモリに記憶されている標本行
データの何几か一方を他方に対し相対的に１画素単位で
位置ずれさせて複数のデータを形成し、この複数のデー
タによって前記試料行データと標本行データとの対比を
行い、そのレベル差が最小値となったときの前記両デー
タの位置関係からこれら両データ間の位置ずれをめ、こ
の位置ずれ量に基いて前記両データの一方のアドレスを
補正するような印刷物の絵柄検査方法および装置を提供
するものである。
以下第４図乃至第２１図を参照して本発明を実施例につ
き説明する。
き説明する。
第４図（ａ） 、 （ｂ） 、 （Ｃ）は試料行データ
と標本行データとを示したもので、同図（ａ）は本発明
方法において取扱われる試料行データと標本行データと
の基本的な関係を示し、同図（ｂ）は両データの位置ず
れ量と欠陥箇数との関係を示し、同図（Ｃ）は印刷物の
絵柄エツジを特徴とする特殊な部分における試料行デー
タと標本行データとの関係を示したものである。
と標本行データとを示したもので、同図（ａ）は本発明
方法において取扱われる試料行データと標本行データと
の基本的な関係を示し、同図（ｂ）は両データの位置ず
れ量と欠陥箇数との関係を示し、同図（Ｃ）は印刷物の
絵柄エツジを特徴とする特殊な部分における試料行デー
タと標本行データとの関係を示したものである。
まず同図（ａ）によれば、１つの試料行データ９に対し
複数の標本行データ１０〜１６を参照する。これら標本
行データ１０〜１６は基本となる標本行データ１３を搬
送系の精度より予想される位置ずｎ分だけ１画素分ずつ
左右にシフトして得たものである。
複数の標本行データ１０〜１６を参照する。これら標本
行データ１０〜１６は基本となる標本行データ１３を搬
送系の精度より予想される位置ずｎ分だけ１画素分ずつ
左右にシフトして得たものである。
そして、試料行データ９を標本行データ１０〜１６の中
で最も試料行データ９と位相が近いもの１２と濃度比較
することができ、これによって欠陥検出が行われる。
で最も試料行データ９と位相が近いもの１２と濃度比較
することができ、これによって欠陥検出が行われる。
これにより試料行データ９が印刷物の幅方向に位置ずれ
していてもデータ同士を内容的に比較することができる
から精度よ（欠陥検出することができる。複数の標本行
データの内から試料行データと位相の一番近いものを選
択する方法は以下の通りである。
していてもデータ同士を内容的に比較することができる
から精度よ（欠陥検出することができる。複数の標本行
データの内から試料行データと位相の一番近いものを選
択する方法は以下の通りである。
第４図（ｂ）に示すように、複数個の標本行データの各
々についてカメラの１走査期間欠陥検出を行な４５と、
試料行データと最も位相が近い標本行データの欠陥箇数
が他に比べて最小になる。即ち、１走査毎に、欠陥箇数
が最小となる標本行データがその時の試料行データと、
一番位相が近いということになる。ただし、この図示例
は比較的淡い画像に関するものであり、濃淡の度合の強
い画像はより傾斜の大きい特性曲線となる。
々についてカメラの１走査期間欠陥検出を行な４５と、
試料行データと最も位相が近い標本行データの欠陥箇数
が他に比べて最小になる。即ち、１走査毎に、欠陥箇数
が最小となる標本行データがその時の試料行データと、
一番位相が近いということになる。ただし、この図示例
は比較的淡い画像に関するものであり、濃淡の度合の強
い画像はより傾斜の大きい特性曲線となる。
次に同図（Ｃ）によれば、試料行データ１７に対し最も
位相の近い標本行データ１８を対比すると共に、階調差
許容値を大きくとったものである。これにより絵柄エツ
ジ部分のように階調差が極めて大きな場合に適した欠陥
検査を行い得る。すなわち、標本行データ１８は試料行
データ１７に最も位相の近いものであるため、両者の位
相差はＡ画素幅分である。従って差画素幅分の位置ずれ
が生じた場合のエツジに相当する画素における試料と標
本との階調差をその画素に対する許容値とすればよい。
位相の近い標本行データ１８を対比すると共に、階調差
許容値を大きくとったものである。これにより絵柄エツ
ジ部分のように階調差が極めて大きな場合に適した欠陥
検査を行い得る。すなわち、標本行データ１８は試料行
データ１７に最も位相の近いものであるため、両者の位
相差はＡ画素幅分である。従って差画素幅分の位置ずれ
が生じた場合のエツジに相当する画素における試料と標
本との階調差をその画素に対する許容値とすればよい。
この各画素毎の許容値設定については穐々の方法を採る
ことができ（特願昭５６−１７９５９９号参照）、ある
いはエツジに相当する画素をマスキングすることにより
判定対象外としてもよい。
ことができ（特願昭５６−１７９５９９号参照）、ある
いはエツジに相当する画素をマスキングすることにより
判定対象外としてもよい。
第５図に第４図の思想に基づき構成した本発明方法を実
施するための装置構成を示す。
施するための装置構成を示す。
この装置において、印刷物１を搬送する搬送シリンダ３
の回転量がロータリーエンコーダ４により検出され、同
期回路２１に入力される。この同期回路２１には、カメ
ラ２によるスキャニング位置検出信号が同様に入力され
て印刷物Ｉ上の任意位置が検出さｎる。この同期回路２
１の出力に基きＡ／Ｄ変換器ｎがカメラ２より入力され
たアナログ量をディジタル量に変換する。ここで、印刷
物１上に同期回路２１の情報を基にアドレス付けする回
路がアドレス補正回路冴である。この回路の重要な機能
は、試料行パターンに最も位相の近い標本行パターンに
関する判定回路あの出力結果がフィードバックされるこ
とにより次の行を最適アドレスに補正することである。
の回転量がロータリーエンコーダ４により検出され、同
期回路２１に入力される。この同期回路２１には、カメ
ラ２によるスキャニング位置検出信号が同様に入力され
て印刷物Ｉ上の任意位置が検出さｎる。この同期回路２
１の出力に基きＡ／Ｄ変換器ｎがカメラ２より入力され
たアナログ量をディジタル量に変換する。ここで、印刷
物１上に同期回路２１の情報を基にアドレス付けする回
路がアドレス補正回路冴である。この回路の重要な機能
は、試料行パターンに最も位相の近い標本行パターンに
関する判定回路あの出力結果がフィードバックされるこ
とにより次の行を最適アドレスに補正することである。
そして、ディジタル量を検出１画素につき標本画素デー
タメモリ５に格納した後、次の画面からは判定回路おに
おいて試料行データが、標本画素データメモリ５より生
成される複数のシフト行データとリアルタイムで比較さ
れる。一方、判定レベル設定回路２７にて事前に設定さ
れた判定レベルデータメモリ２Ｂのデータと標本画素デ
ータメモリ５のデータとから、リアルタイムで判定レベ
ルがめられ、判定回路乙に出力される。
タメモリ５に格納した後、次の画面からは判定回路おに
おいて試料行データが、標本画素データメモリ５より生
成される複数のシフト行データとリアルタイムで比較さ
れる。一方、判定レベル設定回路２７にて事前に設定さ
れた判定レベルデータメモリ２Ｂのデータと標本画素デ
ータメモリ５のデータとから、リアルタイムで判定レベ
ルがめられ、判定回路乙に出力される。
なお、図においてアドレス補正回路冴から判定回路２３
１Ｃ与えられる破線図示の信号はカメラ２からの試料画
素データを最適アドレスに補正する場合に用いられる。
１Ｃ与えられる破線図示の信号はカメラ２からの試料画
素データを最適アドレスに補正する場合に用いられる。
この場合、判定回路乙はシフトレジスタ等を持っていて
試料画素データを１画素分づつシフトできるようになっ
ていることを要する。
試料画素データを１画素分づつシフトできるようになっ
ていることを要する。
第６図は第５図の装置における判定回路乙のより具体的
構成をシフト量±３画素、１行５１２画素を例にとって
示したもので、標本行データＳＤおよび判定レベルデー
タＭＤを１画素分ずつシフトするためのラッチＬ１〜Ｌ
３によるシフト回路と、試料行データＴＤを１画素分ず
っシフトするためのラッチＬ４〜Ｌ６Ｖｃよるシフト回
路とをそれぞオを判定要素ＪＥ、〜ＪＥ３およびＪＥ４
〜ＪＥ７ による判定要素群と組合わせてなるものであ
る。
構成をシフト量±３画素、１行５１２画素を例にとって
示したもので、標本行データＳＤおよび判定レベルデー
タＭＤを１画素分ずつシフトするためのラッチＬ１〜Ｌ
３によるシフト回路と、試料行データＴＤを１画素分ず
っシフトするためのラッチＬ４〜Ｌ６Ｖｃよるシフト回
路とをそれぞオを判定要素ＪＥ、〜ＪＥ３およびＪＥ４
〜ＪＥ７ による判定要素群と組合わせてなるものであ
る。
各シフト回路は何ｎもカメラ２（第１図）の走査に用い
たクロックＣＬＫがラッチ回路に与えられることにより
シフト動作を行うもので、クロックＣＬＫが１画素毎に
与えら扛るよ５にすればよ（１゜ 例えば試料行データＴＤＩはラッチＬ４． Ｌ。
たクロックＣＬＫがラッチ回路に与えられることにより
シフト動作を行うもので、クロックＣＬＫが１画素毎に
与えら扛るよ５にすればよ（１゜ 例えば試料行データＴＤＩはラッチＬ４． Ｌ。
Ｌ６ニよりカメラの走査に同期して順次シフトさｒシＴ
Ｄ２． ＴＤ３． ＴＤ４となる。同様ＩＣｍ本行デー
タＳＤＩおよび判定レベルデータＭｌ）ｌはラッチＬ１
゜Ｌ２．Ｌ３によりカメラの走査に同期して順次シフト
さｔＬ ＭＤ ２ ｔ ＭＤ３ ｔ ＭＤ４ オ、ｔ：
ヒＳ Ｄ２ ＋ Ｓ Ｄ３ ＋ＳＤ４となる＠ そして試料行データＴＴ）ｌは判定ニレメン）ＪＥ□。
Ｄ２． ＴＤ３． ＴＤ４となる。同様ＩＣｍ本行デー
タＳＤＩおよび判定レベルデータＭｌ）ｌはラッチＬ１
゜Ｌ２．Ｌ３によりカメラの走査に同期して順次シフト
さｔＬ ＭＤ ２ ｔ ＭＤ３ ｔ ＭＤ４ オ、ｔ：
ヒＳ Ｄ２ ＋ Ｓ Ｄ３ ＋ＳＤ４となる＠ そして試料行データＴＴ）ｌは判定ニレメン）ＪＥ□。
ＪＥ２１ ＪＥ３． ＪＥ４に与えられ、標本行データ
および判定レベルデータと比較判定される。すなわち判
定ニレメン）ＪＥ４では試料行データＴＤＩと標本行デ
ータＳＤ１、判定レベルデータＭＤ１による判定を行い
、判定ニレメン）ＪＥｌではＴＤｌとＳＤ２゜ＭＤ２に
よる判定、同じ＜ＪＥ、ではＴＤｌとＳＤ３゜ＭＤ３に
よる判定、ＪＥ３ではＴＤｌとＳＤ４． ＭＤ４による
判定を行う。これにより標本行データおよび判定レベル
データを試料行データに対し遅れさせたときの判定が行
われる。
および判定レベルデータと比較判定される。すなわち判
定ニレメン）ＪＥ４では試料行データＴＤＩと標本行デ
ータＳＤ１、判定レベルデータＭＤ１による判定を行い
、判定ニレメン）ＪＥｌではＴＤｌとＳＤ２゜ＭＤ２に
よる判定、同じ＜ＪＥ、ではＴＤｌとＳＤ３゜ＭＤ３に
よる判定、ＪＥ３ではＴＤｌとＳＤ４． ＭＤ４による
判定を行う。これにより標本行データおよび判定レベル
データを試料行データに対し遅れさせたときの判定が行
われる。
一方、これとは反対に試料行データを標本行データおよ
び画素制御データに対し遅れさせたときの判定は判定エ
レメントＪＥ、、 ＪＥ６． ＪＥ７により行われる。
び画素制御データに対し遅れさせたときの判定は判定エ
レメントＪＥ、、 ＪＥ６． ＪＥ７により行われる。
これにより判定エレメントＪＥ、〜ＪＥ 。
の谷々により第４図（ａ）における試料行データ９と標
本行データ１０〜１６との比較判定が行なわれる。
本行データ１０〜１６との比較判定が行なわれる。
この時の各判定ニレメン） ＪＥ１〜ＪＥ、の出力はカ
メラ１走査の間に検出された欠陥の筒数である。
メラ１走査の間に検出された欠陥の筒数である。
この７つの判定エレメントからの出力は総合判定回路Ｔ
ＪＵに与えられる。総合判定回路ＴＪＵは、各エレメン
トから出力される欠陥筒数のうち最小値を選び出し、そ
の値が閾値を超えているか否かによって良否判定を行な
う。即ち、試料行データと最も位相の合った標本行デー
タとの比較判定が行なわれる訳である。又、この最低欠
陥筒数を与える判定エレメントを総合判定回路ＴＪＵの
演算結果に基き識別することで、現在検査している試料
行データが標本行データから、何画素ずれているかが判
かる。この識別データは出力端子ＳＴからアドレス補正
回路寓に転送され、次のカメラ１走査に対する先頭アド
レスを補正する。
ＪＵに与えられる。総合判定回路ＴＪＵは、各エレメン
トから出力される欠陥筒数のうち最小値を選び出し、そ
の値が閾値を超えているか否かによって良否判定を行な
う。即ち、試料行データと最も位相の合った標本行デー
タとの比較判定が行なわれる訳である。又、この最低欠
陥筒数を与える判定エレメントを総合判定回路ＴＪＵの
演算結果に基き識別することで、現在検査している試料
行データが標本行データから、何画素ずれているかが判
かる。この識別データは出力端子ＳＴからアドレス補正
回路寓に転送され、次のカメラ１走査に対する先頭アド
レスを補正する。
第７図は第６図の判定回路に用いられる判定ニレメン）
ＪＥのより具体的構成を示したもので矛）る。これは、
差の絶対値検出回路ＤＡ、コンパレータＣＰ、カウンタ
ＣＴ、ラッチＬＡにより構成されている。そして、差の
絶対値回路ＤＡは、各試料行データＴＤ（ＴＤ１〜ＴＤ
４）と各標本行データＳ Ｄ （ＳＤ、〜５Ｄ４）との
差のめ対値ＩＴＤ−８ＤＩをめる。この値と判定レベル
設定回路２７から与えられる各判定レベルＭＤ（ＭＤｓ
〜ＭＤ４）とをコンパレータＣＰにて比較し、判定レベ
ル以上の画素を欠陥信号として、カウンタＣＴへ出力ス
ル。
ＪＥのより具体的構成を示したもので矛）る。これは、
差の絶対値検出回路ＤＡ、コンパレータＣＰ、カウンタ
ＣＴ、ラッチＬＡにより構成されている。そして、差の
絶対値回路ＤＡは、各試料行データＴＤ（ＴＤ１〜ＴＤ
４）と各標本行データＳ Ｄ （ＳＤ、〜５Ｄ４）との
差のめ対値ＩＴＤ−８ＤＩをめる。この値と判定レベル
設定回路２７から与えられる各判定レベルＭＤ（ＭＤｓ
〜ＭＤ４）とをコンパレータＣＰにて比較し、判定レベ
ル以上の画素を欠陥信号として、カウンタＣＴへ出力ス
ル。
カウンタＣＴはカメラの１走査開始毎に発生するスキャ
ニング開始信号５ＺＥＲＯが入力される毎に初期化され
、欠陥信号が出力されている間のみカウント可能となる
。カウンタＣＴのクロックＣＬＫは本発明に係る検査装
置のタイミング生成用に使用されているクロックであり
、このクロック１つはカメラによる画像走査における一
画素に相当する。即ち、カウンタＣＴでは、カメラの１
走査期間に発生する欠陥画素数をカウントすることにな
る。ラッチＬＡは、カメラの１走を終了毎に発生するス
キャニング終了信号５ＥＮＤによって前記１走査期間中
に発生する欠陥筒数をＦＮ（ＦＮ□〜ＦＮ７）信号とし
て総合判定回路ＴＪＵに出力する。
ニング開始信号５ＺＥＲＯが入力される毎に初期化され
、欠陥信号が出力されている間のみカウント可能となる
。カウンタＣＴのクロックＣＬＫは本発明に係る検査装
置のタイミング生成用に使用されているクロックであり
、このクロック１つはカメラによる画像走査における一
画素に相当する。即ち、カウンタＣＴでは、カメラの１
走査期間に発生する欠陥画素数をカウントすることにな
る。ラッチＬＡは、カメラの１走を終了毎に発生するス
キャニング終了信号５ＥＮＤによって前記１走査期間中
に発生する欠陥筒数をＦＮ（ＦＮ□〜ＦＮ７）信号とし
て総合判定回路ＴＪＵに出力する。
第８図は第７図の判定エレメントにおける差の絶対値回
路のより具体的構成を示したもので、２つの加算器ＡＤ
１１ＡＤ２、エクスクル−シブオア回路ＥＸおよびイン
バータＩＮＶにより構成され、入力としてＴＤ、ＳＤが
与えられることによりＩＴＤ−８ＤＩ なる出力を形成
する。この回路は周知であるため詳細説明は省略する。
路のより具体的構成を示したもので、２つの加算器ＡＤ
１１ＡＤ２、エクスクル−シブオア回路ＥＸおよびイン
バータＩＮＶにより構成され、入力としてＴＤ、ＳＤが
与えられることによりＩＴＤ−８ＤＩ なる出力を形成
する。この回路は周知であるため詳細説明は省略する。
第９図は第６図の判定回路における総合判定回路ＴＪＵ
の構成をより詳細に示したものであり、６つの低値検出
回路ＭＩＮ１〜■Ｎ６、コンパレータＣＰ、判定エレメ
ント識別回路ＪＡから構成されている。
の構成をより詳細に示したものであり、６つの低値検出
回路ＭＩＮ１〜■Ｎ６、コンパレータＣＰ、判定エレメ
ント識別回路ＪＡから構成されている。
判定エレメントＪＥ□〜ＪＥ７（第６図、第７図。
第８図）からの欠陥筒数ＦＮ１〜ＦＮ７の中で最小のも
のを検出するのが低値検出回路ＭＩ Ｎ１〜ＭＩＮ６で
あり、検出された最小値は、あらかじめ与えられている
欠陥許容数とコンパレータＣＰにて比較され、許容数以
上の走査行は欠陥行として検出信号が出力端子０ＵＴＰ
ＵＴに出力される。ここで与えられる欠陥許容数はノイ
ズ等による誤判定防止のための値に印刷物の品質として
許容できる範囲の値を上乗せしたものである。
のを検出するのが低値検出回路ＭＩ Ｎ１〜ＭＩＮ６で
あり、検出された最小値は、あらかじめ与えられている
欠陥許容数とコンパレータＣＰにて比較され、許容数以
上の走査行は欠陥行として検出信号が出力端子０ＵＴＰ
ＵＴに出力される。ここで与えられる欠陥許容数はノイ
ズ等による誤判定防止のための値に印刷物の品質として
許容できる範囲の値を上乗せしたものである。
又、この総合判定回路ＴＪＵには、±３画素づつシフト
された各標本行データ群と最も位相の近い（欠陥数が最
小）試料行データがどれかを検出するために判定エレメ
ント識別回路ＪＡが設けられている。これの出力ＳＴは
現在、カメラが走査している時の位置ずれ量が標本行デ
ータを検査装置に取り込んだ時と、何画素ずれているか
の情報を与える。
された各標本行データ群と最も位相の近い（欠陥数が最
小）試料行データがどれかを検出するために判定エレメ
ント識別回路ＪＡが設けられている。これの出力ＳＴは
現在、カメラが走査している時の位置ずれ量が標本行デ
ータを検査装置に取り込んだ時と、何画素ずれているか
の情報を与える。
第１０図は第９図における低値検出回路ＭＩＮのより具
体的な構成を示したもので、セレクタＳＥ、コンパレー
タＣＰとにより構成されている、２つの入力Ａ、Ｂをコ
ンパレータＣＰにて比較し、Ａ〉Ｂなる信号を得る。こ
れは１つは判定エレメント識別信号ＪとしてＪＡへいき
、もう１つはセレクタＳＥにて入力Ａ、Ｈの中から低値
を選択する信号となる。この回路の出力が２人力Ａ、Ｂ
から低値を検出した信号ＭＩＮ（Ａ、Ｂ）である。
体的な構成を示したもので、セレクタＳＥ、コンパレー
タＣＰとにより構成されている、２つの入力Ａ、Ｂをコ
ンパレータＣＰにて比較し、Ａ〉Ｂなる信号を得る。こ
れは１つは判定エレメント識別信号ＪとしてＪＡへいき
、もう１つはセレクタＳＥにて入力Ａ、Ｈの中から低値
を選択する信号となる。この回路の出力が２人力Ａ、Ｂ
から低値を検出した信号ＭＩＮ（Ａ、Ｂ）である。
ここに、第９図の総合判定回路は７つの入力を２つずつ
組合わせて低値検出し、この低値検出結果同士を比較し
て低値検出し、さらにもう一段低値検出を行うことによ
り７人力中の最低値を検出するようにしたものである。
組合わせて低値検出し、この低値検出結果同士を比較し
て低値検出し、さらにもう一段低値検出を行うことによ
り７人力中の最低値を検出するようにしたものである。
第１１図は、第９図における判定エレメント識別回路Ｊ
Ａの動作内容を示したものである。第１１図において、
チャート内のＩＩ Ｉ Ｉｔは、低値検出回路の出力Ｊ
がＡ）Ｂを満足している状態、＋１φ書１はＡ〈Ｂを満
足している状態、ＩＩＸＩ＋はそのどちらでもかまわな
い状態である。５１〜Ｊ６がそれぞれ、チャートのよう
な状態を満足している時に７つの判定エレメントＪＥか
らの出力ＦＮＩ〜ＦＮ７のどれが一番小さいかが識別で
きる。
Ａの動作内容を示したものである。第１１図において、
チャート内のＩＩ Ｉ Ｉｔは、低値検出回路の出力Ｊ
がＡ）Ｂを満足している状態、＋１φ書１はＡ〈Ｂを満
足している状態、ＩＩＸＩ＋はそのどちらでもかまわな
い状態である。５１〜Ｊ６がそれぞれ、チャートのよう
な状態を満足している時に７つの判定エレメントＪＥか
らの出力ＦＮＩ〜ＦＮ７のどれが一番小さいかが識別で
きる。
第１２図は、第９図における判定エレメント識別回路Ｊ
Ａのより具体的構成を示したもので、インバータＩＮ■
１〜ＩＮｖ６１．ｔ−７回路ＯＲ１〜ＯＲ６、エンコー
ダＥＮにて前記ロジックを構成した回路例である。
Ａのより具体的構成を示したもので、インバータＩＮ■
１〜ＩＮｖ６１．ｔ−７回路ＯＲ１〜ＯＲ６、エンコー
ダＥＮにて前記ロジックを構成した回路例である。
判定レベルの設定方法は本出願人が既に出願（特願昭５
６−１７９５９９号参照）したものをさらに進め、リア
ルタイムにて判定回路の判定結果に使用できさらに誤判
定し難い構成である。
６−１７９５９９号参照）したものをさらに進め、リア
ルタイムにて判定回路の判定結果に使用できさらに誤判
定し難い構成である。
ここでは、３種類の判定レベルを採用する。第１番目は
、１１固定分１１と呼ばれるものであり、印刷絵柄のシ
ャド一部分（低濃度部分）に対する最低値、あるいは、
検査を必要としない部分（余白部分）に対する最大値（
８ビツトにて２５５）を与える。これは判定レベルデー
タ・メモリ″かに事前に書込んでおく。第２番目は、ｎ
比例分１１と呼ばれるものであり、標本画素データｂに
ある比率Ｋ（Ｋ（１）を乗じた値であり、これにより検
査性能の向上が期待できる。
、１１固定分１１と呼ばれるものであり、印刷絵柄のシ
ャド一部分（低濃度部分）に対する最低値、あるいは、
検査を必要としない部分（余白部分）に対する最大値（
８ビツトにて２５５）を与える。これは判定レベルデー
タ・メモリ″かに事前に書込んでおく。第２番目は、ｎ
比例分１１と呼ばれるものであり、標本画素データｂに
ある比率Ｋ（Ｋ（１）を乗じた値であり、これにより検
査性能の向上が期待できる。
第３番目はＩＩエッヂ分１１と呼ばれるものであり標本
画素データーメモリ５の隣り合う画素の差を判定レベル
として与えることにより、濃度急変部分での誤動作防止
に役立つ。第２．第３の判定レベルは標本画素データ・
メモリ５からリアルタイムに演算される。
画素データーメモリ５の隣り合う画素の差を判定レベル
として与えることにより、濃度急変部分での誤動作防止
に役立つ。第２．第３の判定レベルは標本画素データ・
メモリ５からリアルタイムに演算される。
ある画素の判定レベルを与えるとぎには、前記３種類の
判定レベルの中から最大値を選んで用いることにより、
誤判定し難い検査装置の構成を可能としている。すなわ
ち標本画素データＳＤにおける画素間レベル差が小さい
場合には、第１の判定レベルを用い、階調変化により画
素間レベル差がやや大きい場合には第２の判定レベルを
用い、エッヂ部分で画素間レベル差が著しく大きい場合
は第３の判定レベルを用いる。このような対応により誤
判定を防ぐ。
判定レベルの中から最大値を選んで用いることにより、
誤判定し難い検査装置の構成を可能としている。すなわ
ち標本画素データＳＤにおける画素間レベル差が小さい
場合には、第１の判定レベルを用い、階調変化により画
素間レベル差がやや大きい場合には第２の判定レベルを
用い、エッヂ部分で画素間レベル差が著しく大きい場合
は第３の判定レベルを用いる。このような対応により誤
判定を防ぐ。
第１３図に第５図の判定レベル設定回路ｎの具体的構成
例を示す。
例を示す。
標本画素データＳＤは、１つはラッチ１．Ａ３゜Ｌｉ２
を用いてシフトされインバータＩＮＶ差の絶対値回路Ｄ
Ａ２．ＤＡ３ にて隣り合う画素同士の差がめられる。
を用いてシフトされインバータＩＮＶ差の絶対値回路Ｄ
Ａ２．ＤＡ３ にて隣り合う画素同士の差がめられる。
高値検出回路ＨＬＩにて、左右の隣り合う画素との差の
中で太ぎい方が、高値検出回路ＨＬ２のＢ入力に＋１工
ツヂ分１判定レベルとして送られる。このように左右両
隣りの画素と比較することにより幅方向の位置ずれが左
右どちらに生じても一つの判定レベルで対応できる。標
本画素データＳＤのも５１つは、比例分設定回路Ｒ８に
である係数Ｋ（Ｋ＜１）が乗ぜられ、高値検出回路ＨＬ
２のＣ入力に１１比例分１１判定レベルとして送られる
。
中で太ぎい方が、高値検出回路ＨＬ２のＢ入力に＋１工
ツヂ分１判定レベルとして送られる。このように左右両
隣りの画素と比較することにより幅方向の位置ずれが左
右どちらに生じても一つの判定レベルで対応できる。標
本画素データＳＤのも５１つは、比例分設定回路Ｒ８に
である係数Ｋ（Ｋ＜１）が乗ぜられ、高値検出回路ＨＬ
２のＣ入力に１１比例分１１判定レベルとして送られる
。
ここで標本画素データＳＤをラッチＬＡ４の出力として
いる訳は１１工ツヂ分１１判定レベルと画素の位相を一
致させるためである。同様の目的で、判定レベルデータ
ＣＤから１１固定分１１判定レベルを引用する際もラッ
チＬＡＩ、ＬＡ２ にて位相合せを行ない高値検出回路
ＨＬ２の入力Ａとなっている。
いる訳は１１工ツヂ分１１判定レベルと画素の位相を一
致させるためである。同様の目的で、判定レベルデータ
ＣＤから１１固定分１１判定レベルを引用する際もラッ
チＬＡＩ、ＬＡ２ にて位相合せを行ない高値検出回路
ＨＬ２の入力Ａとなっている。
高値検出回路ＨＬ２では入力Ａ、Ｂ、Ｃの中から最大の
判定レベル、つまり標本画素データＳＤの該当領域にお
ける画素間レベル差から得た最適判定レベルを選定し、
その値をその画素の判定レベルＭＤとして判定回路２７
に送出する。
判定レベル、つまり標本画素データＳＤの該当領域にお
ける画素間レベル差から得た最適判定レベルを選定し、
その値をその画素の判定レベルＭＤとして判定回路２７
に送出する。
この一連の動作は検査装置のタイミング・クロックＣＬ
Ｋと同期して行なわれるため、試料行データと標本行デ
ータの画素毎比較が行なわれる判定回路おヘリアルタイ
ムで判定レベルを与えることができる。
Ｋと同期して行なわれるため、試料行データと標本行デ
ータの画素毎比較が行なわれる判定回路おヘリアルタイ
ムで判定レベルを与えることができる。
ここで、差の絶対値回路ＤＡ２．ＤＡ３は第８図と同様
な構成であり、又、高値検出回路ＨＬＩ。
な構成であり、又、高値検出回路ＨＬＩ。
ＨＬ２は第１０図に示された低値優先回路ＭＩＮの逆の
機能で実現できるため回路図は省略する。
機能で実現できるため回路図は省略する。
第１４図は第１３図の比例分設定回路Ｒ８の具体例を示
したものである。本実施例では簡単のため乗算器などを
用いずにグー）Ｇｌ〜Ｇ４を、デコーダＤＥで選択する
ことにより、特定の判定レベルが得られるようになって
いる。又、比例分設定値は２ビツトとしている。ゲート
Ｇ１の入力は最上位ビットはＬＯＷＫ接続、下位７ビツ
トを標本画素データＳＤの上位７ビツト（残り１ビツト
は無接続）と接続することにより、このゲートＧｌが選
択された時には標本画素データＳＤの５０％の値が出力
される。同様に０２〜Ｇ３を選択することによりそれぞ
れ、ＳＤの２５％、１２．５％、 ６．２５％の値が出
力されるように入力系が接続されている。
したものである。本実施例では簡単のため乗算器などを
用いずにグー）Ｇｌ〜Ｇ４を、デコーダＤＥで選択する
ことにより、特定の判定レベルが得られるようになって
いる。又、比例分設定値は２ビツトとしている。ゲート
Ｇ１の入力は最上位ビットはＬＯＷＫ接続、下位７ビツ
トを標本画素データＳＤの上位７ビツト（残り１ビツト
は無接続）と接続することにより、このゲートＧｌが選
択された時には標本画素データＳＤの５０％の値が出力
される。同様に０２〜Ｇ３を選択することによりそれぞ
れ、ＳＤの２５％、１２．５％、 ６．２５％の値が出
力されるように入力系が接続されている。
印刷機巻返し検査装置などの印刷物１の搬送系を考える
とぎ、第１５図に示すように搬送系の走行精度によって
はかなりの幅方向位置ずれが生じる。
とぎ、第１５図に示すように搬送系の走行精度によって
はかなりの幅方向位置ずれが生じる。
又、本質的に印刷工程においては、給紙部より供給され
るウェブの流れが場合によっては、幅方向にシフトする
ため印刷段階で印刷シリンダを幅方向へ動かすことが多
い。この時には当然、試料行データは幅方向へ犬ぎく移
動することになる。従って、走査位置ａ、ｃ間のような
長期間については、かなりの量の幅方向位置ずれが生じ
ることが予想される。一方、カメラの１走査期間に相当
するａ、ｂ間のような極めて短期間については、はとん
と、幅方向位置ずれは生じていない（１〜２画素程度の
余裕を見れば充分である。）。従って、長期的な幅方向
位置ずれの対策がより必要であるが、このために多数の
標本行データを用意することは、ハードウェアに対する
負荷が非常に太きいものになってしまう。
るウェブの流れが場合によっては、幅方向にシフトする
ため印刷段階で印刷シリンダを幅方向へ動かすことが多
い。この時には当然、試料行データは幅方向へ犬ぎく移
動することになる。従って、走査位置ａ、ｃ間のような
長期間については、かなりの量の幅方向位置ずれが生じ
ることが予想される。一方、カメラの１走査期間に相当
するａ、ｂ間のような極めて短期間については、はとん
と、幅方向位置ずれは生じていない（１〜２画素程度の
余裕を見れば充分である。）。従って、長期的な幅方向
位置ずれの対策がより必要であるが、このために多数の
標本行データを用意することは、ハードウェアに対する
負荷が非常に太きいものになってしまう。
そこで、本発明では、短期的なずれ（ａ、ｂ間で生じる
位置ずれ）に対しては少数ゐ標本行データ（本実施例で
は±３画素）で対応し、長期的な位置ずれ（ａ、ｃ間で
生じる位置ずれ）に対しては、カメラの各走査前に走査
開始アドレスを、一番位置ずれ量の少ないアドレスへ補
正することでハードウェア負荷を大幅に軽減している。
位置ずれ）に対しては少数ゐ標本行データ（本実施例で
は±３画素）で対応し、長期的な位置ずれ（ａ、ｃ間で
生じる位置ずれ）に対しては、カメラの各走査前に走査
開始アドレスを、一番位置ずれ量の少ないアドレスへ補
正することでハードウェア負荷を大幅に軽減している。
第１６図はこのカメラ走査前に行われるアドレス補正を
どのタイミングで行なうかを示している。
どのタイミングで行なうかを示している。
この補正動作はカメラ走査の開始点、終了源を基準にし
て行う。ロータリー・エンコーダ４の信号を元に、シリ
ンダ３の回転方向を分割し、カメラ走査開始点をまとめ
たのが例えばＮｌ、Ｎ２であり、対応する終了点がＥＤ
、、 ＥＤ、である。カメラの走査開始点Ｎｌ、Ｎ２ご
とに、開始信号５ＺＥＲＯが発生し、走査終了点ＥＤ、
、 ＥＤ２ごとに終了信号５ＥＮＤが発生する。
て行う。ロータリー・エンコーダ４の信号を元に、シリ
ンダ３の回転方向を分割し、カメラ走査開始点をまとめ
たのが例えばＮｌ、Ｎ２であり、対応する終了点がＥＤ
、、 ＥＤ、である。カメラの走査開始点Ｎｌ、Ｎ２ご
とに、開始信号５ＺＥＲＯが発生し、走査終了点ＥＤ、
、 ＥＤ２ごとに終了信号５ＥＮＤが発生する。
この走査終了点５ＥＮＤから、走査開始点５ＺＥＲＯま
での間、カメラは光量を蓄積しており、検査装置自身は
何の演算動作も行なっていない。この期間に、判定回路
器から得られるＳＴ倍信号試料行データと最も位相の近
い標本行データのアドレスを与える）を元に、次のカメ
ラ走査開始アドレスを補正してやることによりリアルタ
イムでの位置ずれ補正を可能としている。
での間、カメラは光量を蓄積しており、検査装置自身は
何の演算動作も行なっていない。この期間に、判定回路
器から得られるＳＴ倍信号試料行データと最も位相の近
い標本行データのアドレスを与える）を元に、次のカメ
ラ走査開始アドレスを補正してやることによりリアルタ
イムでの位置ずれ補正を可能としている。
第１７図は判定回路おから出力されるＳＴ倍信号位置ず
れ量の定義を説明したもので、Ｇ１は標本行データを取
り込んだ際の画素位置を表わし、Ｇ２ 、 Ｇ３は、試
料行データに位相を合わせるために標本行データＧ１を
シフトしたデータであり、Ｇ２をｅ方向シフト、Ｇ３を
■方向シフトと定義している。即ち、本実施例では３ビ
ツトの情報を持つＳＴ倍信号解読し℃やることにより、
現在取り込んでいる試料行データが標本行データに対し
±３画素の中でどれに最も近く位置しているかが判かる
。これを整理すると下表のようになる。
れ量の定義を説明したもので、Ｇ１は標本行データを取
り込んだ際の画素位置を表わし、Ｇ２ 、 Ｇ３は、試
料行データに位相を合わせるために標本行データＧ１を
シフトしたデータであり、Ｇ２をｅ方向シフト、Ｇ３を
■方向シフトと定義している。即ち、本実施例では３ビ
ツトの情報を持つＳＴ倍信号解読し℃やることにより、
現在取り込んでいる試料行データが標本行データに対し
±３画素の中でどれに最も近く位置しているかが判かる
。これを整理すると下表のようになる。
第１８図に、アドレス補正回路列の具体的回路構成例を
示す。この回路は、３種類のカウンタＣ１〜Ｃ３、ラッ
チＬＡ５、インバータＩＮＶ、アンド回路ＡＮＤおよび
オア回ｊｌＫ）Ｒから構成されている。
示す。この回路は、３種類のカウンタＣ１〜Ｃ３、ラッ
チＬＡ５、インバータＩＮＶ、アンド回路ＡＮＤおよび
オア回ｊｌＫ）Ｒから構成されている。
ここで、５ＣＬＫ信号はカメラより出力される信号で、
これの１クロツクに同期して一画素の情報が検査装置へ
取り込まれる。そして、検査装置内でこの信号から内部
タイミングを制御するためにＣＬＫ信号を発生させてい
る。５ＣＬＫ信号はカメラが発生している信号なのでア
ドレスが発生していない時、即ち、５ＥＮＤ信号から５
ＺＥＲＯ信号の間にも発生しているが、ＣＬＫ信号は、
検査装置内で作っている信号なのでこの信号５ＺＥＲＯ
とＳ ＥＮＤの間の期間の出力はない。従って、アドレ
ス補正のタイミング信号として利用できるクロックは５
ＣＬＫ（ｉ号となる。
これの１クロツクに同期して一画素の情報が検査装置へ
取り込まれる。そして、検査装置内でこの信号から内部
タイミングを制御するためにＣＬＫ信号を発生させてい
る。５ＣＬＫ信号はカメラが発生している信号なのでア
ドレスが発生していない時、即ち、５ＥＮＤ信号から５
ＺＥＲＯ信号の間にも発生しているが、ＣＬＫ信号は、
検査装置内で作っている信号なのでこの信号５ＺＥＲＯ
とＳ ＥＮＤの間の期間の出力はない。従って、アドレ
ス補正のタイミング信号として利用できるクロックは５
ＣＬＫ（ｉ号となる。
第１９図は各種のクロックφ１〜φ７の発生タイミング
を示したもので、５ＥＮＤ信号と５ＺＥＲＯ信号の間に
アドレス補正が正確に行なわれるようになっている。
を示したもので、５ＥＮＤ信号と５ＺＥＲＯ信号の間に
アドレス補正が正確に行なわれるようになっている。
各カウンタＣ１〜Ｃ３は、プリセット機能付であり、Ｌ
ｏａｄ端子がＬＯＷのときには、プリセット・データが
出力される。Ｃ１は判定回路ｎよりのＳＴ傷信号プリセ
ット・データとし、位置ずれ画素数をカウントする。Ｃ
２は、アップ・ダウン・カウンタであり、１走査前の走
査終了点でのアドレスをプリセット・データとし、Ｃ１
でカウントされた画素数分５ＣＬＫ信号をカウント・ア
ップあるいはカウント・ダウンしたアドレスを現在の試
料行データと位相の一番近いアドレスとして内部アドレ
ス発生用カウンタＣ３のプリセット・データへ出力する
。Ｃ３はＣ２よりのプリセット・データを元に、カメラ
の走査開始アドレスが最適に補正された内部アドレスを
発生していく。ここでは、内部アドレスを１６ビツトと
して扱っている。この出力は、メモリへのデータの書込
み、読出し用アドレスとして使用される。
ｏａｄ端子がＬＯＷのときには、プリセット・データが
出力される。Ｃ１は判定回路ｎよりのＳＴ傷信号プリセ
ット・データとし、位置ずれ画素数をカウントする。Ｃ
２は、アップ・ダウン・カウンタであり、１走査前の走
査終了点でのアドレスをプリセット・データとし、Ｃ１
でカウントされた画素数分５ＣＬＫ信号をカウント・ア
ップあるいはカウント・ダウンしたアドレスを現在の試
料行データと位相の一番近いアドレスとして内部アドレ
ス発生用カウンタＣ３のプリセット・データへ出力する
。Ｃ３はＣ２よりのプリセット・データを元に、カメラ
の走査開始アドレスが最適に補正された内部アドレスを
発生していく。ここでは、内部アドレスを１６ビツトと
して扱っている。この出力は、メモリへのデータの書込
み、読出し用アドレスとして使用される。
次に第１９図のタイミングで発生するクロックφ１〜φ
７それぞれの機能を説明する。
７それぞれの機能を説明する。
判定回路ムより５ＥＮＤ信号に同期してＳＴ傷信号出力
される。このデータが確定する時間的余裕でクロックφ
２にてラッチＬＡ５に取り込む。ラッチＬＡ５の出力の
最上位ビットは試料行データのシフト方向を示すデータ
として、アップ会ダウンｅカウンタＣ２に入力される。
される。このデータが確定する時間的余裕でクロックφ
２にてラッチＬＡ５に取り込む。ラッチＬＡ５の出力の
最上位ビットは試料行データのシフト方向を示すデータ
として、アップ会ダウンｅカウンタＣ２に入力される。
Ｃ２ではアップ状態、ダウン状態が確定した後、クロッ
クφ３にてプリセットデータ（１走査前の走査終了アド
レス）を出力する。但し、クロックφ１がＬｏｗ （プ
リセット−モード）の間はカウントは行なわれない。一
方、ラッチＬＡ５の下位２ビツト出力はインバータＩＮ
Ｖを通してプリセットデータとして位置ずれ画素数検出
カウンタＣ１に入力される。ここでは試料行データが標
本行データから何画素ずれているかをカウントしφ７信
号を発生させる。このφ７信号を元にφ４信号が作られ
、位置ずれの画素数分だけ、Ｓ ＣＬＫ信号をアップ・
ダウン−カウンタＣ７のクロック入力へ通過させる。こ
れにより、カウンタＣ２は、位置ずれ量に応じて内部ア
ドレスをシフトさせ走査開始アドレスを現在のカメラ走
査と最も位相が近いところに補正している。クロックφ
６．φ６は、補正されたアドレスを内部アドレスと置換
させるためのタイミング・クロックを示している。
クφ３にてプリセットデータ（１走査前の走査終了アド
レス）を出力する。但し、クロックφ１がＬｏｗ （プ
リセット−モード）の間はカウントは行なわれない。一
方、ラッチＬＡ５の下位２ビツト出力はインバータＩＮ
Ｖを通してプリセットデータとして位置ずれ画素数検出
カウンタＣ１に入力される。ここでは試料行データが標
本行データから何画素ずれているかをカウントしφ７信
号を発生させる。このφ７信号を元にφ４信号が作られ
、位置ずれの画素数分だけ、Ｓ ＣＬＫ信号をアップ・
ダウン−カウンタＣ７のクロック入力へ通過させる。こ
れにより、カウンタＣ２は、位置ずれ量に応じて内部ア
ドレスをシフトさせ走査開始アドレスを現在のカメラ走
査と最も位相が近いところに補正している。クロックφ
６．φ６は、補正されたアドレスを内部アドレスと置換
させるためのタイミング・クロックを示している。
第九図は、第１９図のタイミング・チャートに基づいて
、クロックφ１〜φ６を実際に発生させるための実施例
である。このクロック発生回路はＤ型フリップフロップ
ＤＦＩ〜ＤＦ５ 、カウンタＣ４、Ｃ５、インバータＩ
ＮＶから構成される。
、クロックφ１〜φ６を実際に発生させるための実施例
である。このクロック発生回路はＤ型フリップフロップ
ＤＦＩ〜ＤＦ５ 、カウンタＣ４、Ｃ５、インバータＩ
ＮＶから構成される。
フリップ７０ツブＤＰＩにて、５ＥＮＤ信号から５ＺＥ
ＲＯ信号の間、カウンタＣ４，Ｃ５をカウント・モード
にすることにより、クロックφ２．φ３を出力させる。
ＲＯ信号の間、カウンタＣ４，Ｃ５をカウント・モード
にすることにより、クロックφ２．φ３を出力させる。
クロックφ３をノリツブフロックＤＦ２． ＤＦ３の入
力として用いることによりクロックφ１を得ている。φ
１はφ３をインバータＩＮＶで反転させて得ている。さ
らに、カウンタＣ１のφ７出力を７リツプフロツプＤＦ
４． ＤＦ、の入力として用いることにより、クロック
φ５．φ６を得ている。
力として用いることによりクロックφ１を得ている。φ
１はφ３をインバータＩＮＶで反転させて得ている。さ
らに、カウンタＣ１のφ７出力を７リツプフロツプＤＦ
４． ＤＦ、の入力として用いることにより、クロック
φ５．φ６を得ている。
以上のような構成により印刷物の絵柄がある程度位置ず
れを伴っていても、正確に絵柄の良否判別を行うことが
でき、高速検査が可能で装置の低コスト化ができる。ま
た、標本行データと試料行データとの比較を行うため、
絵柄同士を全体的に比較する場合に比べ格段に高精度の
検査を行うことができる。
れを伴っていても、正確に絵柄の良否判別を行うことが
でき、高速検査が可能で装置の低コスト化ができる。ま
た、標本行データと試料行データとの比較を行うため、
絵柄同士を全体的に比較する場合に比べ格段に高精度の
検査を行うことができる。
さらに、印刷物の走行方向への位置ずれについても、第
６図に示した判定回路を一部変更したような第２１図の
回路で対応できる。これは判定エレメントＪＣ，〜ＪＣ
７、シフトレジスタＳ Ｒ１〜ＳＲ６及び、総合判定回
路ＴＪＵによって構成されている。
６図に示した判定回路を一部変更したような第２１図の
回路で対応できる。これは判定エレメントＪＣ，〜ＪＣ
７、シフトレジスタＳ Ｒ１〜ＳＲ６及び、総合判定回
路ＴＪＵによって構成されている。
シフトレジスタＳＲはカメラ２（第１図）のセンサーア
レイビット数に等しいビット数であり標本性データＳＤ
、判定レベルＭＤ及び試料行データＴＤを第６図におけ
るラッチのように、１画素づつ遅らせて、判定エレメン
トＪＣ１〜ＪＣ７ニ与え、これら判定ニレメン） ＪＣ
□〜ＪＣ７の各出力」１〜ｊ７は総合判定回路ＴＪＵに
与えられて、最小値が検出される。
レイビット数に等しいビット数であり標本性データＳＤ
、判定レベルＭＤ及び試料行データＴＤを第６図におけ
るラッチのように、１画素づつ遅らせて、判定エレメン
トＪＣ１〜ＪＣ７ニ与え、これら判定ニレメン） ＪＣ
□〜ＪＣ７の各出力」１〜ｊ７は総合判定回路ＴＪＵに
与えられて、最小値が検出される。
本発明は上述のように、試料行データを予めメモリに記
憶されている標本行データと各行毎に対比するにつき、
これら両データの一方を他方に対し適当な画素数分位置
をずらせた複数のデータとして他方のデータと逐一比較
し、その中で最もレベル差の少いときの両データ間の位
置ずれ量を検出してこの位置ずれ量に応じ前記一方のデ
ータのアドレス補正を行うようにしたため、印刷機搬送
系において予想される印刷物の位置ずれに対応するため
の最小限のハードウェアで構成できる。そしてハードウ
ェアが簡単でありながら、高精度の検査をリアルタイム
で行うことができる。
憶されている標本行データと各行毎に対比するにつき、
これら両データの一方を他方に対し適当な画素数分位置
をずらせた複数のデータとして他方のデータと逐一比較
し、その中で最もレベル差の少いときの両データ間の位
置ずれ量を検出してこの位置ずれ量に応じ前記一方のデ
ータのアドレス補正を行うようにしたため、印刷機搬送
系において予想される印刷物の位置ずれに対応するため
の最小限のハードウェアで構成できる。そしてハードウ
ェアが簡単でありながら、高精度の検査をリアルタイム
で行うことができる。
第１図は本発明の対象である絵柄検査装置の画像情報検
出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査のための試料画
素データと標本画素データの記録方式の模型的説明図、
第３図は印刷物搬送系等に方法および絵柄エツジの検査
方法を示す特性図、第５図は本発明方法を実施するため
の装置構成を示すブロック線図、第６図は第５図の装置
における判定回路のより具体的構成を示すブロック線図
、第７図は第６図の判定回路における判定エレメントの
より具体的構成を示すブロック線図、第８図は第７図の
判定エレメントにおける差の絶対値検出回路のより具体
的構成を示すブロック線図、第９図は第６図の判定回路
における総合判定回路のより具体的構成を示すブロック
線図、第１０図は第９図の総合判定回路における低値検
出回路のより具体的構成を示すブロック線図、第１１図
は第９図の総合判定回路における判定エレメント識別回
路の動作説明図、第１２図は同判定エレメント識別回路
のより具体的構成を示す結線図、第１３図は第５図の装
置における判定レベル設定回路のより具体的構成を示す
ブロック線図、第１４図は第１３図の判定レベル設定回
路における比例分設定回路のより具体的構成を示すブロ
ック線図、第１５図は印刷物搬送系における印刷物の幅
方向位置ずれの説明図、第１６図は第５図の装置におけ
るカメラの画像信号アドレス補正動作の説明図、第１７
図は第５図の装置における標本画素データにおける読出
し時のシフト動作を説明する図、第１８図は第５図の装
置におけるアドレス補正回路あのより具体的構成を示ず
ブロック線図、第１９図は第１８図の回路各部の信号の
タイミングチャート、第加図は第１８図の回路に用いる
クロックを発生する回路を示ず図、第２１図は第５図の
装置における判定回路の他の例を示すブロック線図であ
る。 １・・印刷物、２・・・カメラ、３・・・シリンダ、４
・・・ロータリーエンコーダ、５ 、７ 、９ 、１７
・・試料絵柄（試料性）データ、６ 、８ 、１０ 、
１８・・・標本絵柄（標本性）データ。 ＴＤ・・・試料行データ、ＳＤ・・・標本行データ、Ｍ
Ｄ・・・画素制御データ、ＪＣ・・・判定回路、ＪＥ・
・・判定エレメント、Ｌ・・・ラッチ、ＳＲ・・・シフ
トレジスタ、’Ｉ’ＪＵ・・・総合判定回路。 出願人代理人 猪 股 清 ６ 第１図 第２図 画素の位置 第４園 ｍ−画素のイ装置 （目累） 自ｙＡ１■厘 第１８図 １
出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査のための試料画
素データと標本画素データの記録方式の模型的説明図、
第３図は印刷物搬送系等に方法および絵柄エツジの検査
方法を示す特性図、第５図は本発明方法を実施するため
の装置構成を示すブロック線図、第６図は第５図の装置
における判定回路のより具体的構成を示すブロック線図
、第７図は第６図の判定回路における判定エレメントの
より具体的構成を示すブロック線図、第８図は第７図の
判定エレメントにおける差の絶対値検出回路のより具体
的構成を示すブロック線図、第９図は第６図の判定回路
における総合判定回路のより具体的構成を示すブロック
線図、第１０図は第９図の総合判定回路における低値検
出回路のより具体的構成を示すブロック線図、第１１図
は第９図の総合判定回路における判定エレメント識別回
路の動作説明図、第１２図は同判定エレメント識別回路
のより具体的構成を示す結線図、第１３図は第５図の装
置における判定レベル設定回路のより具体的構成を示す
ブロック線図、第１４図は第１３図の判定レベル設定回
路における比例分設定回路のより具体的構成を示すブロ
ック線図、第１５図は印刷物搬送系における印刷物の幅
方向位置ずれの説明図、第１６図は第５図の装置におけ
るカメラの画像信号アドレス補正動作の説明図、第１７
図は第５図の装置における標本画素データにおける読出
し時のシフト動作を説明する図、第１８図は第５図の装
置におけるアドレス補正回路あのより具体的構成を示ず
ブロック線図、第１９図は第１８図の回路各部の信号の
タイミングチャート、第加図は第１８図の回路に用いる
クロックを発生する回路を示ず図、第２１図は第５図の
装置における判定回路の他の例を示すブロック線図であ
る。 １・・印刷物、２・・・カメラ、３・・・シリンダ、４
・・・ロータリーエンコーダ、５ 、７ 、９ 、１７
・・試料絵柄（試料性）データ、６ 、８ 、１０ 、
１８・・・標本絵柄（標本性）データ。 ＴＤ・・・試料行データ、ＳＤ・・・標本行データ、Ｍ
Ｄ・・・画素制御データ、ＪＣ・・・判定回路、ＪＥ・
・・判定エレメント、Ｌ・・・ラッチ、ＳＲ・・・シフ
トレジスタ、’Ｉ’ＪＵ・・・総合判定回路。 出願人代理人 猪 股 清 ６ 第１図 第２図 画素の位置 第４園 ｍ−画素のイ装置 （目累） 自ｙＡ１■厘 第１８図 １
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試料印刷物から取出された絵柄データを標本印刷物
から予め取出されメモリに記憶されている絵柄データと
比較し印刷絵柄の良否判定を行う印刷物の絵柄検査方法
において、前記試料から１行毎に検出した試料行データ
および前記メモリに記憶されている標本行データの何れ
か一方を他方九対し相対的に１画素単位で位置ずれさせ
て複数のデータを形成し、この複数のデータを用いて前
記試料行データと標本行データとのレベル対比を行い、
そのレベル差が最小値となったときの前記両データの位
置関係からこれら両データ間の位置ずれをめ、この位置
ずれ量に基いて前記両データの何れか一方のアドレスを
補正するようにしたことを特徴とする印刷物の絵柄検査
方法。 ２、試料行データから取出された絵柄データを標本印刷
物から予め取出されメモリに記憶されている絵柄データ
と比較し印刷絵柄の良否判定を行う印刷物の絵柄検査方
法において、前記試料から１行毎に検出した試料行デー
タおよび前記メモリに記憶されている標本行データの何
れか一方を他方に対し相対的に１画素単位で位置ずれさ
せて複数のデータを形成し、この複数のデータを用いて
前記試料行データと標本行データとのレベル対比を行い
、そのレベル差が固定値として与えられたもの、前記標
本行データに所定係数が乗ぜられたもの、濃度急変部で
の濃度差としてのものの中から選ばれた１つの判定レベ
ルに対しいかなる関係にあるかによって前記絵柄の良否
判定を行うと共に、前記レベル差が最小値となったとき
の前記両データの位置関係からこれら両データ間の位置
ずれをめ、この位置ずれ量に基いて前記両データの何れ
か一方のアドレスを補正するようにしたことを特徴とす
る印刷物の絵柄検査方法。 ３．印刷物の搬送動作に応じて同期信号を形成する装置
と、前記同期信号に基き前記印刷物の絵柄を走査して画
像情報を取出すカメラと、このカメラにより標本印刷物
から取出した画像情報が書込まｎる標本画素データメモ
リと、予め設定されている複数の判定レベル中から１つ
を選択しこの選択された判定レベルにより前記標本画素
データメモリから読出された画素毎の画像情報のレベル
設定を行って出力する判定レベル設定回路と、この判定
レベル設定回路からの画像情報と前記カメラからの試料
印刷物の画像情報とをレベル比較し画像欠陥の判定を行
う判定回路と、前記同期回路の出力に基き前記標本画素
データメモリの読出しアドレス信号を形成し且つ判定回
路の出力に基ぎ前記アドレス信号のアドレス補正を行う
アドレス補正回路とをそなえた印刷物の絵柄検査装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108224A JPH0625657B2 (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
| US06/527,947 US4677680A (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method and device for inspecting image |
| EP83108547A EP0104477B1 (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method for inspecting image |
| DE8383108547T DE3380997D1 (de) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Verfahren zur bilduntersuchung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58108224A JPH0625657B2 (ja) | 1983-06-16 | 1983-06-16 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60309A true JPS60309A (ja) | 1985-01-05 |
| JPH0625657B2 JPH0625657B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=14479190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58108224A Expired - Lifetime JPH0625657B2 (ja) | 1982-08-31 | 1983-06-16 | 印刷物の絵柄検査方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0625657B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62140009A (ja) * | 1985-12-13 | 1987-06-23 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パタ−ン欠陥検出方法およびその装置 |
| JPS63265103A (ja) * | 1987-04-23 | 1988-11-01 | Nikon Corp | パタ−ン測定装置 |
| JP2006200964A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検査画像撮像装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55157078A (en) * | 1980-04-25 | 1980-12-06 | Hitachi Ltd | Inspecting method for pattern failure |
-
1983
- 1983-06-16 JP JP58108224A patent/JPH0625657B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55157078A (en) * | 1980-04-25 | 1980-12-06 | Hitachi Ltd | Inspecting method for pattern failure |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62140009A (ja) * | 1985-12-13 | 1987-06-23 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パタ−ン欠陥検出方法およびその装置 |
| JPS63265103A (ja) * | 1987-04-23 | 1988-11-01 | Nikon Corp | パタ−ン測定装置 |
| JP2006200964A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検査画像撮像装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0625657B2 (ja) | 1994-04-06 |
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