JPH01295104A - 電子部品の位置検出方法 - Google Patents
電子部品の位置検出方法Info
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- JPH01295104A JPH01295104A JP63123898A JP12389888A JPH01295104A JP H01295104 A JPH01295104 A JP H01295104A JP 63123898 A JP63123898 A JP 63123898A JP 12389888 A JP12389888 A JP 12389888A JP H01295104 A JPH01295104 A JP H01295104A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はプリント基板に実装された電子部品の位置を
検出する方法に関するものである。
検出する方法に関するものである。
最近、特開昭６１−７６９０３号公報、特開昭６１−１
０７１０５号公報に示されるように、プリント基板に実
装された電子部品に斜めの方向からスリット光を照射し
た状態で、プリント基板の上方からテレビカメラで撮映
し、スリット光の照射によって生じた光切断線の形状か
ら電子部品の位置を検出することが行なわれている。
０７１０５号公報に示されるように、プリント基板に実
装された電子部品に斜めの方向からスリット光を照射し
た状態で、プリント基板の上方からテレビカメラで撮映
し、スリット光の照射によって生じた光切断線の形状か
ら電子部品の位置を検出することが行なわれている。
従来のスリット光を用いた電子部品の位置検出方法にお
いては、あらかじめしきい値を設定しておき、プリント
基板面上の光切断線からしきい値以上前れた光切断線が
存在するとき、その点を電子部品の端部上の点と判断し
、電子部品の位置を検出している。
いては、あらかじめしきい値を設定しておき、プリント
基板面上の光切断線からしきい値以上前れた光切断線が
存在するとき、その点を電子部品の端部上の点と判断し
、電子部品の位置を検出している。
ところで、通常プリント配線基板に電子部品をハンダ付
けする前に、電子部品の位置を検出するが、ハンダ付は
工程の際に電子部品の位置がずれることがあるので、プ
リント配線基板に電子部品をハンダ付けしたのちにも、
電子部品の位置を検出する必要がある。
けする前に、電子部品の位置を検出するが、ハンダ付は
工程の際に電子部品の位置がずれることがあるので、プ
リント配線基板に電子部品をハンダ付けしたのちにも、
電子部品の位置を検出する必要がある。
そして、第６図に示すように、電子部品４をハンダ１１
でハンダ付けしたときには、画像データは第７図（ａ）
に示すようになり、光切断線３１が電子部品４の端部に
対応する部分すなわち端点て破断されておらず、しきい
値をＴＨＩとして電子部品４の位置を検出したときには
、第７図（ｂ）に示すように、端点の正しい位置が１１
であるにもかかわらず、端点の位置を１２と判断するか
ら、電子部品４の位置を精度良く検出することはできな
い。この問題を解決するためには、ＴＨ２のような適正
なしきい値を設定すればよいが、プリント基板面上の光
切断線３１と電子部品４上の光切断線３１との距離は照
明状態、電子部品４の種類等によって大きく変化するの
で、適正なしきい値を設定するのは困難である。
でハンダ付けしたときには、画像データは第７図（ａ）
に示すようになり、光切断線３１が電子部品４の端部に
対応する部分すなわち端点て破断されておらず、しきい
値をＴＨＩとして電子部品４の位置を検出したときには
、第７図（ｂ）に示すように、端点の正しい位置が１１
であるにもかかわらず、端点の位置を１２と判断するか
ら、電子部品４の位置を精度良く検出することはできな
い。この問題を解決するためには、ＴＨ２のような適正
なしきい値を設定すればよいが、プリント基板面上の光
切断線３１と電子部品４上の光切断線３１との距離は照
明状態、電子部品４の種類等によって大きく変化するの
で、適正なしきい値を設定するのは困難である。
また、第８図に示すように、ハンダ１１の光沢等によっ
てスリット光が正反射して、光切断線３１が切れてしま
う場合があり、この場合の画像データは第９図（ａ）に
示すようになり、しきい値をＴＨＩとして電子部品４の
位置を検出したときには、第９図（ｂ）に示すように、
端点の位置をｉ３ と判断するから、電子部品４の位置
を精度良く検出することはできない。
てスリット光が正反射して、光切断線３１が切れてしま
う場合があり、この場合の画像データは第９図（ａ）に
示すようになり、しきい値をＴＨＩとして電子部品４の
位置を検出したときには、第９図（ｂ）に示すように、
端点の位置をｉ３ と判断するから、電子部品４の位置
を精度良く検出することはできない。
この発明は上述の課題を解決するためになされたもので
、光切断線が端点て破断されていないとしても、電子部
品の位置を精度良く検出することができる電子部品の位
置検出方法を提供することを目的とする。
、光切断線が端点て破断されていないとしても、電子部
品の位置を精度良く検出することができる電子部品の位
置検出方法を提供することを目的とする。
この目的を達成するため、この発明においては、プリン
ト基板に実装された電子部品の位置を検出する方法にお
いて、上記電子部品に斜めの方向からスリット光を照射
し、カメラによって上記スリット光の照射によって生じ
た光切断線を撮映し、上記光切断線の形状からあらかじ
め記憶された上記電子部品の寸法データの値があてはま
る適合部分を検出し、上記適合部分の位置から上記電子
部品の位置を求める。
ト基板に実装された電子部品の位置を検出する方法にお
いて、上記電子部品に斜めの方向からスリット光を照射
し、カメラによって上記スリット光の照射によって生じ
た光切断線を撮映し、上記光切断線の形状からあらかじ
め記憶された上記電子部品の寸法データの値があてはま
る適合部分を検出し、上記適合部分の位置から上記電子
部品の位置を求める。
この電子部品の位置検出方法においては、光切断線が端
点て破断されていないとしても、光切断−３＝ 線の端点を検出することができる。
点て破断されていないとしても、光切断−３＝ 線の端点を検出することができる。
第１図はこの発明に係る電子部品の位置検出方法を実施
するための装置を示す概略図である。図において、５は
プリント基板で、プリント基板５には電子部品４が実装
されている。６は光源、７は光源６から発生した光をス
リット光にするスリット、１はスリット光の照射によっ
て生じた光切断線３１を撮映するテレビカメラ、２はテ
レビカメラ１で撮映した画像データを処理する画像処理
装置、３は画像処理装置２に接続されたモニタテレビで
ある。
するための装置を示す概略図である。図において、５は
プリント基板で、プリント基板５には電子部品４が実装
されている。６は光源、７は光源６から発生した光をス
リット光にするスリット、１はスリット光の照射によっ
て生じた光切断線３１を撮映するテレビカメラ、２はテ
レビカメラ１で撮映した画像データを処理する画像処理
装置、３は画像処理装置２に接続されたモニタテレビで
ある。
第２図は第１図に示した装置の一部を示す図である。図
において、２１は画像入出力回路、２２は画像メモリ、
２３は汎用入出力回路、２４はＣＰＵ、２５はフロッピ
ィディスクコントローラ、２６はプログラムメモリ、２
７は演算回路、２８はシステムバスで、画像入出力回路
２１、画像メモリ２２、ＣＰＵ２４等によって画像処理
装置２が構成されている。８はＣＰＵ２４に接続された
操作パネル、９はＣＰＵ２４に接続されたプリンタ、１
０はフロッピィディスクコントローラ２５によって制御
されるフロッピィディスクである・つぎに、第１図、第
２図に示した装置を用いた電子部品の位置検出方法を第
３図の処理手順フローチャートに基づいて説明する。ま
ず、第４図（ａ）に示すようなテレビカメラ１で撮映し
た光切断線３１の原画像から第４図（ｂ）に示すような
画像データを抽出し、その画像データを画像メモリ２２
に格納する。つぎに、横軸の位置ｉ＝０とする（１）。
において、２１は画像入出力回路、２２は画像メモリ、
２３は汎用入出力回路、２４はＣＰＵ、２５はフロッピ
ィディスクコントローラ、２６はプログラムメモリ、２
７は演算回路、２８はシステムバスで、画像入出力回路
２１、画像メモリ２２、ＣＰＵ２４等によって画像処理
装置２が構成されている。８はＣＰＵ２４に接続された
操作パネル、９はＣＰＵ２４に接続されたプリンタ、１
０はフロッピィディスクコントローラ２５によって制御
されるフロッピィディスクである・つぎに、第１図、第
２図に示した装置を用いた電子部品の位置検出方法を第
３図の処理手順フローチャートに基づいて説明する。ま
ず、第４図（ａ）に示すようなテレビカメラ１で撮映し
た光切断線３１の原画像から第４図（ｂ）に示すような
画像データを抽出し、その画像データを画像メモリ２２
に格納する。つぎに、横軸の位置ｉ＝０とする（１）。
つぎに、ＧＵＰにあらかじめ入力された値＄ＦＦを初期
設定する（２）。この場合、値 。
設定する（２）。この場合、値 。
＄ＦＦとしてはプリント基板５面上の光切断線と電子部
品４上の光切断線との距離すなわち段差の最大値に対応
した値をあらかじめ入力しておく。
品４上の光切断線との距離すなわち段差の最大値に対応
した値をあらかじめ入力しておく。
つぎに、あらかじめ記憶されている電子部品４の長さデ
ータをＬとしたとき、ｉ、ｉ＋Ｌにおける光切断線３１
のパタンの縦軸の位置ｍ（ｉ）、ｍ（ｉ＋Ｌ）を検知し
、ｍ（ｉ）、ｍ（ｉ＋Ｌ）の差の絶対値をＤＩＳに代入
する（３）。つぎに、ＧＵＰとＤＩＳとを比較する（４
）。そして、ＤＩＳがＧＵＰより小さいときには、ＧＵ
ＰにＤＩＳの値を代入するとともに、そのときのｉをＰ
ＯＩＮＴに代入する（５）。つぎに、ｉと（ｎ−Ｌ）と
を比較する（６）。そして、ｉが（ｎ−Ｌ）より小さい
ときには、ｉ＝ｉ＋１としたのち、（３）に戻る（７）
。また、ｊが（ｎ−Ｌ）より大きいときには、処理を終
了する。したがって、ｉ＝０のときには、ＤＮ Ｓ＝
ｌ ｍｏ−ｍｘ ｌであり、１ｍｏ−ｍ□ｌが＄ＦＦよ
り小さければ、ＧＵＰ＝１ｍｏ−ｍ１１となり、ＰＯＩ
ＮＴ＝Ｏとなり、さらにｉ＝１となる。このようにして
、第４図（ｂ）に示すように、ｉ：ｉａ□となったとき
にも、ＤＩＳ＝１ｍｏ−ｍ１１であり、ＱＵＰ＝ ｌ
ｍ、−ｍ、ｌ、Ｐ○ＩＮＴ＝Ｏのままである。そして、
第４図（ｃ）に示すように、ｉ ＝ ｉ ｈｚとなった
ときには、ＤＩＳ＝１ｍ１−ｍｉＩ＝０となるから、Ｇ
ＵＰ＝０、Ｐ ＯＩ Ｎ Ｔ ” ｉ ｂ□となる。さ
らに、第４図（ｄ）に示すように、ｉ：ｉｏｌとなった
ときには、ＤＮＳ＝１ｍ、−ｍ。１であるから、ＧＵＰ
＝Ｏ１Ｐ○ＩＮＴ”ｉｂｌのままである。そして、１＝
ｎ−Ｌとなったときには、処理が終了する。この場合の
端点の位置はｉｈよ、ｉｈ２となり、この値から電子部
品４の位置を検出することができる。
ータをＬとしたとき、ｉ、ｉ＋Ｌにおける光切断線３１
のパタンの縦軸の位置ｍ（ｉ）、ｍ（ｉ＋Ｌ）を検知し
、ｍ（ｉ）、ｍ（ｉ＋Ｌ）の差の絶対値をＤＩＳに代入
する（３）。つぎに、ＧＵＰとＤＩＳとを比較する（４
）。そして、ＤＩＳがＧＵＰより小さいときには、ＧＵ
ＰにＤＩＳの値を代入するとともに、そのときのｉをＰ
ＯＩＮＴに代入する（５）。つぎに、ｉと（ｎ−Ｌ）と
を比較する（６）。そして、ｉが（ｎ−Ｌ）より小さい
ときには、ｉ＝ｉ＋１としたのち、（３）に戻る（７）
。また、ｊが（ｎ−Ｌ）より大きいときには、処理を終
了する。したがって、ｉ＝０のときには、ＤＮ Ｓ＝
ｌ ｍｏ−ｍｘ ｌであり、１ｍｏ−ｍ□ｌが＄ＦＦよ
り小さければ、ＧＵＰ＝１ｍｏ−ｍ１１となり、ＰＯＩ
ＮＴ＝Ｏとなり、さらにｉ＝１となる。このようにして
、第４図（ｂ）に示すように、ｉ：ｉａ□となったとき
にも、ＤＩＳ＝１ｍｏ−ｍ１１であり、ＱＵＰ＝ ｌ
ｍ、−ｍ、ｌ、Ｐ○ＩＮＴ＝Ｏのままである。そして、
第４図（ｃ）に示すように、ｉ ＝ ｉ ｈｚとなった
ときには、ＤＩＳ＝１ｍ１−ｍｉＩ＝０となるから、Ｇ
ＵＰ＝０、Ｐ ＯＩ Ｎ Ｔ ” ｉ ｂ□となる。さ
らに、第４図（ｄ）に示すように、ｉ：ｉｏｌとなった
ときには、ＤＮＳ＝１ｍ、−ｍ。１であるから、ＧＵＰ
＝Ｏ１Ｐ○ＩＮＴ”ｉｂｌのままである。そして、１＝
ｎ−Ｌとなったときには、処理が終了する。この場合の
端点の位置はｉｈよ、ｉｈ２となり、この値から電子部
品４の位置を検出することができる。
つぎに、第５図（ａ）に示すような原画像がら第５図（
ｂ）に示すような画像データが抽出された場合の電子部
品の位置検出方法を説明する。まず、ｉ＝ｏのときには
、Ｄ Ｉ Ｓ ＝ｌ ｒｎ ｏ ｒｎ １１であり、
１ｍｏ−ｍ□１が＄ＦＦより小さければ、ＧＵＰ＝１ｍ
ｏ−ｍ１１となり、Ｐ○ＩＮＴ＝Ｏとなり、さらにｉ＝
１となる。このようにして、第５図（ｂ）に示すように
、ｉ＝ｉ、１１となったときには、ＤＩＳ＝１ｍｏ−ｍ
□ｌであり、Ｇ Ｕ Ｐ ＝ ｌ ｍｏ ｍ□ｌ、Ｐ
○ＩＮＴ＝Ｏのままである。また、第５図（ｃ）に示す
ように、ｉ ＝ｉ８１となったときには、ＤＩＳ＝１ｍ
２−ｍ１１であるから、ＧＵＰ＝１ｍ２−ｍ１１となり
、Ｐ ＯＩ Ｎ Ｔ ” ｉｅｘとなる。
ｂ）に示すような画像データが抽出された場合の電子部
品の位置検出方法を説明する。まず、ｉ＝ｏのときには
、Ｄ Ｉ Ｓ ＝ｌ ｒｎ ｏ ｒｎ １１であり、
１ｍｏ−ｍ□１が＄ＦＦより小さければ、ＧＵＰ＝１ｍ
ｏ−ｍ１１となり、Ｐ○ＩＮＴ＝Ｏとなり、さらにｉ＝
１となる。このようにして、第５図（ｂ）に示すように
、ｉ＝ｉ、１１となったときには、ＤＩＳ＝１ｍｏ−ｍ
□ｌであり、Ｇ Ｕ Ｐ ＝ ｌ ｍｏ ｍ□ｌ、Ｐ
○ＩＮＴ＝Ｏのままである。また、第５図（ｃ）に示す
ように、ｉ ＝ｉ８１となったときには、ＤＩＳ＝１ｍ
２−ｍ１１であるから、ＧＵＰ＝１ｍ２−ｍ１１となり
、Ｐ ＯＩ Ｎ Ｔ ” ｉｅｘとなる。
このように、ｉが紙面左側のハンダ１１の位置に対応す
る値の場合には、ｉが増加するとＤＮＳが減少するから
、ＧＵＰが減少し、ＰＯＩＮＴが増加する。そして、第
４図（ｄ）に示すように、１−１ｆ１となったときには
、ＤＩＳ＝１ｍｔ ｍｔｌ＝０となるから、ＧＵＰ＝
Ｏ，Ｐ○ＩＮＴ＝ｉｆ、となる。さらに、第４図（ｅ）
に示すように、ｉ＝ｊｇ□となったときには、ＤＩＳに
１ｍ□−ｍ３１であるから、ＧＵＰ＝Ｏ１Ｐ ＯＩ Ｎ
Ｔ ＝ ｉ ４工のままである。すなわち、ｉが紙面
右側のハンダ１１の位置に対応する値の場合には、ｉが
増加するとＤＩＳが増加するから、ＧＵＰ、ＰＯＩＮＴ
はそのままである。そして、１＝ｎ−Ｌとなったときに
は、処理が終了する。この場合の端点の位置はｌｆｔ、
ｌｆｚとなり、この値から電子部品４の位置を検出する
ことができる。
る値の場合には、ｉが増加するとＤＮＳが減少するから
、ＧＵＰが減少し、ＰＯＩＮＴが増加する。そして、第
４図（ｄ）に示すように、１−１ｆ１となったときには
、ＤＩＳ＝１ｍｔ ｍｔｌ＝０となるから、ＧＵＰ＝
Ｏ，Ｐ○ＩＮＴ＝ｉｆ、となる。さらに、第４図（ｅ）
に示すように、ｉ＝ｊｇ□となったときには、ＤＩＳに
１ｍ□−ｍ３１であるから、ＧＵＰ＝Ｏ１Ｐ ＯＩ Ｎ
Ｔ ＝ ｉ ４工のままである。すなわち、ｉが紙面
右側のハンダ１１の位置に対応する値の場合には、ｉが
増加するとＤＩＳが増加するから、ＧＵＰ、ＰＯＩＮＴ
はそのままである。そして、１＝ｎ−Ｌとなったときに
は、処理が終了する。この場合の端点の位置はｌｆｔ、
ｌｆｚとなり、この値から電子部品４の位置を検出する
ことができる。
なお、上述実施例においては、ＤＩＳを求め、ＤＩＳが
最小となる点すなわちＰＯＩＮＴを求めが、段差が最大
である段差最大点を検出し、段差最大点に電子部品４の
長さデータＬの１／２を加算した点の段差が段差最大点
の段差と等しいとき、段差最大点を端点としてもよく、
また光切断線の直線部の長さを検出し、直線部の長さが
電子部品４の長さデータＬと等しいとき、上記直線部の
端部を端点としてもよい。すなわち、光切断線の形状か
らあらかじめ記憶された電子部品の寸法データの値があ
てはまる適合部分を検出し、適合部分の位置から電子部
品の位置を求めればよい。
最小となる点すなわちＰＯＩＮＴを求めが、段差が最大
である段差最大点を検出し、段差最大点に電子部品４の
長さデータＬの１／２を加算した点の段差が段差最大点
の段差と等しいとき、段差最大点を端点としてもよく、
また光切断線の直線部の長さを検出し、直線部の長さが
電子部品４の長さデータＬと等しいとき、上記直線部の
端部を端点としてもよい。すなわち、光切断線の形状か
らあらかじめ記憶された電子部品の寸法データの値があ
てはまる適合部分を検出し、適合部分の位置から電子部
品の位置を求めればよい。
以上説明したように、この発明に係る電子部品の位置検
出方法においては、光切断線が端点で破断されていない
としても、光切断線の端点を検出することができるから
、電子部品の位置を精度良く検出すること′力１できる
。このように、この発明の効果は顕著である。
出方法においては、光切断線が端点で破断されていない
としても、光切断線の端点を検出することができるから
、電子部品の位置を精度良く検出すること′力１できる
。このように、この発明の効果は顕著である。
第１図はこの発明に係る電子部品の位置検出方法を実施
するための装置を示す概略図、第２図は第１図に示した
装置の一部を示す図、第３図は第１図、第２図に示した
装置を用いた電子部品の位置検出方法の処理手順フロー
チャート、第４図、第５図はそれぞれ第１図、第２図に
示した装置を用いた電子部品の位置検出方法の説明図、
第６図は電子部品にスリン１へ光を照射した状態を示す
斜視図、第７図は従来の電子部品の位置検出方法の説明
図、第８図は電子部品にスリット光を照射した状態を示
す斜視図、第９図は従来の電子部品の位置検出方法の説
明図である。 ４・・・電子部品 ５・・プリント基板６・・
・光源 ７・・スリット３１・・・光切断
線 代理人 弁理士 中 村 純之助 第１図 Ｕ）
するための装置を示す概略図、第２図は第１図に示した
装置の一部を示す図、第３図は第１図、第２図に示した
装置を用いた電子部品の位置検出方法の処理手順フロー
チャート、第４図、第５図はそれぞれ第１図、第２図に
示した装置を用いた電子部品の位置検出方法の説明図、
第６図は電子部品にスリン１へ光を照射した状態を示す
斜視図、第７図は従来の電子部品の位置検出方法の説明
図、第８図は電子部品にスリット光を照射した状態を示
す斜視図、第９図は従来の電子部品の位置検出方法の説
明図である。 ４・・・電子部品 ５・・プリント基板６・・
・光源 ７・・スリット３１・・・光切断
線 代理人 弁理士 中 村 純之助 第１図 Ｕ）
Claims (1)
- １．プリント基板に実装された電子部品の位置を検出す
る方法において、上記電子部品に斜めの方向からスリッ
ト光を照射し、カメラによって上記スリット光の照射に
よって生じた光切断線を撮映し、上記光切断線の形状か
らあらかじめ記憶された上記電子部品の寸法データの値
があてはまる適合部分を検出し、上記適合部分の位置か
ら上記電子部品の位置を求めることを特徴とする電子部
品の位置検出方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63123898A JPH0820213B2 (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | 電子部品の位置検出方法 |
| EP88117015A EP0312046B1 (en) | 1987-10-14 | 1988-10-13 | Apparatus and method for inspecting defect of mounted component with slit light |
| DE3850840T DE3850840T2 (de) | 1987-10-14 | 1988-10-13 | Vorrichtung und Verfahren zur Fehlerinspektion in befestigten Bauteilen, unter Verwendung eines Lichtschlitzes. |
| US07/257,969 US5076697A (en) | 1987-10-14 | 1988-10-14 | Apparatus and method for inspecting defect of mounted component with slit light |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63123898A JPH0820213B2 (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | 電子部品の位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01295104A true JPH01295104A (ja) | 1989-11-28 |
| JPH0820213B2 JPH0820213B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=14872070
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63123898A Expired - Lifetime JPH0820213B2 (ja) | 1987-10-14 | 1988-05-23 | 電子部品の位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820213B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2364119A (en) * | 2000-02-01 | 2002-01-16 | Notionlight Ltd | Circuit board testing |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10224099A (ja) | 1997-02-04 | 1998-08-21 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 回路部品装着方法および回路部品装着システム |
-
1988
- 1988-05-23 JP JP63123898A patent/JPH0820213B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2364119A (en) * | 2000-02-01 | 2002-01-16 | Notionlight Ltd | Circuit board testing |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820213B2 (ja) | 1996-03-04 |
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