JPH0132045Y2 - - Google Patents

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JPH0132045Y2
JPH0132045Y2 JP1986047300U JP4730086U JPH0132045Y2 JP H0132045 Y2 JPH0132045 Y2 JP H0132045Y2 JP 1986047300 U JP1986047300 U JP 1986047300U JP 4730086 U JP4730086 U JP 4730086U JP H0132045 Y2 JPH0132045 Y2 JP H0132045Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、縮小投影露光法によりフオトマスク
ブランク上等に微細なパターンを形成するために
用いるレテイクルに関する。
〔従来の技術〕
従来10:1あるいは5:1等の縮小投影露光装
置を用いて所望のパターンを形成する場合、所望
パターンに対し10倍あるいは5倍等に拡大した寸
法のパターンを有するレテイクルを支持台上にセ
ツトして行なう。例えば、第8図bに示すように
透光性のガラス基板21上に図示のようなクロム
等の金属からなる遮光性膜のパターン22を形成
したフオトマスク2Aを得るには、同図aに示す
ようなレテイクル1Aを用いる。同図において、
11は透光性のガラス基板、12はクロムからな
る遮光性膜のパターンである。
はじめに、ガラス基板21の一主表面全面にク
ロム等の遮光性膜を被着したフオトマスクブラン
ク上に、ポジ形のフオトレジストを塗布し、この
レジストを上記レテイクル1Aを介して露光し現
像した後、残つたレジストをマスクとして遮光性
膜をエツチングし、不要となつたレジストを除去
することによつて同図bに示したようなフオトマ
スク2Aが得られる。このとき、レテイクル1A
を縮小投影露光装置にセツトする際に、13,1
4で示したような+状および−状の1対の位置合
せ用マークを、破線で示したようなレテイクル支
持台上のマークに対応させることによつて位置合
せを行なう。同様に、第9図bに示したようなパ
ターンのフオトマスク2Bを得るためには、同図
aに示したようなレテイクル1Bを用いる。な
お、マークが+,−の組合せになつているのは、
レテイクルの表裏および回転の判別を容易にする
ためである。
〔考案が解決しようとする問題点〕
上述した従来の方法では、例えば第8図bおよ
び第9図bに示したように、実質上全く同一の形
状であつて、ただその角度だけが異なるようなパ
ターンを形成するに当つても、それぞれ異なるレ
テイクルが必要となる。のみならず、第9図aに
示すようなX,Y方向に対して斜めの線をもつパ
ターンを電子ビームによる直接描画によつて形成
しようとする場合、電子ビームはXおよびY方向
の移動しか行なわないため、斜め線は微視的に見
れば段階状に表現され、そのためにパターン端部
が凹凸になつて、フオトマスクのパターン精度に
も悪影響を与えていた。
〔問題点を解決するための手段〕
本考案のレテイクルは、レテイクル支持台上の
1組のマークのそれぞれに対応する位置合せ用マ
ークを、パターンのまわりに相互に角度θ(θ≠
0゜)だけ回転させて配置したものである。
〔作用〕
1組の位置合せ用マークに対しθ回転したマー
クで位置合せして縮小投影露光装置にセツトすれ
ば、θ回転したパターンが転写される。
〔実施例〕
第1図aは本考案の一実施例を示すレテイクル
の平面図である。本実施例のレテイクル1aは、
遮光性膜(その材質は任意である)からなるパタ
ーン12(図示の例ではF字状であるがこの形状
は任意である)に対し、同心円上に45゜間隔で4
対の位置合せ用マーク13a,14a,13b,
14b,13c,14cおよび13d,14dを
配置してある。
各1対の位置合せ用マークは、それぞれ同図b
に示すように縮小投影露光装置のレテイクル支持
台3a上に設けた1対のマーク31,32に対応
しており、マーク31の十字状の白抜き部分に+
状の位置合せ用マーク13a〜13dが入り、マ
ーク32の帯状の白抜き部分に対向する−状の位
置合せ用マーク14a〜14dが入るように位置
合せを行なう。33は真空吸着用の透孔であり、
レテイクル支持台3a上にレテイクル1aを載置
し、光学顕微鏡等を用いて上述したように位置合
せを行なつた後、真空吸着により固定する。
第2図は縮小投影露光装置の構成を模式的に示
す斜視図である。上述したようにレテイクル1a
をレテイクル支持台3a上に固定する一方、XY
移動テーブル4上に、フオトマスクブランクにフ
オトレジストを塗布してなる被転写基板5を固定
し、光源6からの光を照射して露光を行なう。7
はコンデンサレンズ、8は露光面積を制御する遮
光板、9は縮小投影光学系である。
前述したようにレテイクル支持台3a上に固定
したレテイクル1aを用いて露光を行なうが、そ
の際、第3図aに示すようにレテイクル支持台3
a上のマーク31,32に対し位置合せマーク1
3b,14bを合せれば、同図bに示したフオト
マスク2aのように正立したパターンが得られ
る。これに対し第4図aに示すようにマーク3
1,32に対して位置合せ用マーク13a,14
aを合せれば、同図bに示したフオトマスク2b
のように右回りに45゜回転したパターンが得られ
る。同様に位置合せ用マーク13c,14cある
いは13d,14dの対を使用することにより、
第3図bのパターンに対しそれぞれ左回りに45゜
および90゜回転したパターンが得られ、結局、本
実施例では4対の位置合せ用マークを用いて第5
図a〜dに示すようなパターンが同一レテイクル
によつて形成できる。
先にも述べたように、レテイクルの表裏および
回転の判別を容易にするため、+状と−状の相互
に異なる形状の位置合せ用マークを用いている関
係上、第1図に示したようなレテイクル1aとレ
テイクル支持台3aとの組合せでは上記4通りの
パターンしか形成できないが、1対の+形と−形
の位置合せ用マークの位置を入れ換えたレテイク
ルを用いるか、レテイクル支持台3a上の+字状
と帯状のマークの位置を入れ換えれば、第6図a
〜dに示すようなパターンが形成できる。
また、必ずしも位置合せ用マークによつて上記
表裏および回転の判別をしなければならないもの
ではなく、その意味で、1対の位置合せ用マーク
は、必ずしも異なつた形状にしなくてもよい。特
に、例えば第7図aに示すように配置が非対称で
あれば、同形の位置合せ用マークを用いても、そ
の配置によつてレテイクルの表裏および回転を判
別することも可能である。なお、この実施例のレ
テイクル1bは、同形の+状の位置合せ用マーク
15a〜15fを45゜間隔で6個配置してあるが、
同図bに示すよう2個の+字状のマーク34,3
5を90゜間隔で配置したレテイクル支持台3bと
組合せることにより、第5図a〜dに示したと同
様のパターンを形成することが可能である。ま
た、本実施例の場合相互に90゜回転した位置合せ
用マークが1対をなすことはいうまでもないが、
相互に90゜回転した2つのパターンの形成に用い
られる2対の位置合せ用マークは、互いにその一
方のマークを共通にしている。例えば、第5図a
に示したパターンを形成する際には位置合せ用マ
ーク15b,15dが用いられ、同図dに示した
パターンの形成には位置合せ用マーク15d,1
5fが用いられ、位置合せ用マーク15dは各対
の共通の構成要素となつている。
以上、+状あるいは−状の1対の位置合せ用マ
ークを用いて45゜ずつ回転したパターンを形成す
る例について説明したが、個々の位置合せ用マー
クの形状は任意であり、その配置も45゜間隔に限
定されるものではなく、また等間隔に限定される
ものでもない。さらに、例えば3個の位置合せ用
マークを1回の位置合せ用として(もちろんそれ
ぞれに対応してレテイクル支持台にも3個のマー
クを設ける)、それを複数組配置してもよい。
また、上述した実施例ではポジ形のフオトレジ
ストを用い、フオトマスクを形成する場合につい
て説明したが、本考案は、これらレジストの種類
および被転写物の種類もしくは用途について何ら
制限するものでないことはいうまでもない。
なお、レテイクル支持台上に複数組のマークを
配置することによつても本考案と同様の効果を得
ることが可能であるが、レテイクル支持台につい
ては汎様性を高くしておくことが望ましく、その
意味で本考案のようにレテイクル側に複数組の位
置合せ用マークを配置する方が望ましい。
〔考案の効果〕
以上説明したように、本考案によれば、レテイ
クル支持台上のマークに対応する位置合せ用マー
クを複数組配置したことにより、同形で角度のみ
異なる複数のパターンが同一のレテイクルにより
形成できる。また、レテイクルのパターンを形成
する際にXY方向に対し平行な線が多くなるよう
な角度を選ぶことにより、斜め線を減らし、パタ
ーン端部の凹凸を少なくして精度を上げることが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第5図は本考案の一実施例を示す
図で、第1図aはレテイクルの平面図、同図bは
レテイクル支持台の平面図、第2図は縮小投影露
光装置の構成図、第3図および第4図はレテイク
ルの位置合せ角度と形成されるパターンとの関係
を示す平面図、第5図は形成可能なパターンを示
す平面図、第6図は本考案の他の実施例により形
成可能なパターンを示す平面図、第7図は本考案
の他の実施例を示すレテイクルおよびレテイクル
支持台の平面図、第8図および第9図は従来例を
示す平面図である。 1a,1b……レテイクル、3a,3b……レ
テイクル支持台、5……被転写基板、11……ガ
ラス基板、12……遮光性膜、13a〜13d,
14a〜14d,15a〜15f……位置合せ用
マーク、31,32,34,35……マーク。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 所定のパターンを有し、縮小投影露光法により
    上記パターンを被転写物に転写するためのレテイ
    クルにおいて、縮小投影露光装置のレテイクル支
    持台上に設けた1組のマークのそれぞれに対応す
    る位置合せ用マークを、上記パターンのまわりに
    相互に角度θ(θ≠0゜)だけ回転させて複数組配
    置したことを特徴とするレテイクル。
JP1986047300U 1986-03-31 1986-03-31 Expired JPH0132045Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986047300U JPH0132045Y2 (ja) 1986-03-31 1986-03-31

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986047300U JPH0132045Y2 (ja) 1986-03-31 1986-03-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62158449U JPS62158449U (ja) 1987-10-08
JPH0132045Y2 true JPH0132045Y2 (ja) 1989-10-02

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JP1986047300U Expired JPH0132045Y2 (ja) 1986-03-31 1986-03-31

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