JPH0161678U - - Google Patents

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JPH0161678U
JPH0161678U JP15676187U JP15676187U JPH0161678U JP H0161678 U JPH0161678 U JP H0161678U JP 15676187 U JP15676187 U JP 15676187U JP 15676187 U JP15676187 U JP 15676187U JP H0161678 U JPH0161678 U JP H0161678U
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JP
Japan
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board
mounting plate
pin
board mounting
inspected
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JP15676187U
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例に係る回路基板検査
装置を正面から見た一部断面正面図、第２図は第
１図の装置を右方から見た全体構成図、第３図は
第１図の要部詳細図、第４図は第３図の平面図で
ある。 ３……Ｙ方向スライダ、４……Ｙ方向調整ねじ
、６……Ｘ方向スライダ、７……Ｘ方向調整ねじ
、９……基板取付板、１０……開口孔、１２……
ガイドピン、１３……押えレール、１４……押え
部材、１９……コンタクトピン、２０……ピンボ
ード、２１……昇降板、２２……スプリング、２
６……カム板、２７……レバー、３０……顕微鏡
。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 中央部に形成された開口部上に被検査基板が
    下面を露出させて位置決め載置される基板取付板
    と、この基板取付板の開口部の両側にそれぞれ設
    けられ基板取付板上を被検査基板の縁部に接近離
    隔する方向にスライドして被検査基板の縁部を押
    え被検査基板を固定する一対の押え部材と、前記
    基板取付板の下方に昇降可能に配置され上向きの
    コンタクトピンを有するピンボードと、このピン
    ボードを昇降駆動しコンタクトピンを前記開口部
    を通して被検査基板の下面に接触させる駆動機構
    とを具備することを特徴とする回路基板検査装置
    。 ２ ピンボードの上面から上方へ突設されたガイ
    ドピンが摺動可能に挿通される挿通孔が基板取付
    板に設けられ、ガイドピンは被検査基板縁部の孔
    にも挿通されるようになつていることを特徴とす
    る実用新案登録請求の範囲第１項記載の回路基板
    検査装置。
JP15676187U 1987-10-15 1987-10-15 Pending JPH0161678U (ja)

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JP15676187U JPH0161678U (ja) 1987-10-15 1987-10-15

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JPH0161678U true JPH0161678U (ja) 1989-04-19

Family

ID=31435591

Family Applications (1)

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JP15676187U Pending JPH0161678U (ja) 1987-10-15 1987-10-15

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57173769A (en) * 1981-03-24 1982-10-26 Biruherumu Yungu Testing or treating apparatus for electromechanical and electrical member

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57173769A (en) * 1981-03-24 1982-10-26 Biruherumu Yungu Testing or treating apparatus for electromechanical and electrical member

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