JPH0193405A - 酸化物超伝導体薄膜形成用原料混合物および酸化物超伝導体薄膜の形成方法 - Google Patents
酸化物超伝導体薄膜形成用原料混合物および酸化物超伝導体薄膜の形成方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、酸化物超伝導体薄膜形成用錯化合物および酸
化物の超伝導体薄膜を形成する方法に関するものである
。
化物の超伝導体薄膜を形成する方法に関するものである
。
〈従来の技術および発明が
解決しようとする課題〉
超伝導体薄膜は高速コンピューター用各種デバイスおよ
びその配線、超伝導光検出素子等に利用されるものであ
る。
びその配線、超伝導光検出素子等に利用されるものであ
る。
従来、超伝導体薄膜を形成する方法としてはスパッタリ
ング法がある。 この方法で薄膜を作製するには、例え
ばランタノイド、アルカリ土類金属、銅から成る酸化物
薄膜の場合、Lri*0s(Ln:イツトリウム、スカ
ンジウムおよびランタノイド)、SrCO3(或いはB
aC03)、CuOを種々混合比で混ぜ合わせた後、空
気中で700〜1000℃の温度範囲で数時間加熱後、
さらに加圧成型したものを700〜1000℃の温度範
囲で数時間焼成してスパッリング法のターゲットを作製
しなければならない。
ング法がある。 この方法で薄膜を作製するには、例え
ばランタノイド、アルカリ土類金属、銅から成る酸化物
薄膜の場合、Lri*0s(Ln:イツトリウム、スカ
ンジウムおよびランタノイド)、SrCO3(或いはB
aC03)、CuOを種々混合比で混ぜ合わせた後、空
気中で700〜1000℃の温度範囲で数時間加熱後、
さらに加圧成型したものを700〜1000℃の温度範
囲で数時間焼成してスパッリング法のターゲットを作製
しなければならない。
従って、この方法ではターゲットを作製するのに長時間
かかり、且つ、ここで作製したターゲットを用いて薄膜
を作製しても各元素のスパッタリングイールドが異なる
為、薄膜の組成とターゲットの組成が一致することが殆
どない。 また、各種の組成の薄膜酸化物を試作、作製
するためには、組成の異なる多くのターゲットを作らね
ばならず、労力、時間および費用が必要となる。 さら
にスパッタリング法では超伝導体の膜特性(Tcの向上
、膜質安定性等)を向上させる為に良いとされている種
々の不純物(F%Ag等)の添加が非常に困難である。
かかり、且つ、ここで作製したターゲットを用いて薄膜
を作製しても各元素のスパッタリングイールドが異なる
為、薄膜の組成とターゲットの組成が一致することが殆
どない。 また、各種の組成の薄膜酸化物を試作、作製
するためには、組成の異なる多くのターゲットを作らね
ばならず、労力、時間および費用が必要となる。 さら
にスパッタリング法では超伝導体の膜特性(Tcの向上
、膜質安定性等)を向上させる為に良いとされている種
々の不純物(F%Ag等)の添加が非常に困難である。
また、薄膜を作製する為に系の真空度を10 ””’
Torr以下にしなければならず、薄膜作製の効率が悪
く装置の保守が大変である。
Torr以下にしなければならず、薄膜作製の効率が悪
く装置の保守が大変である。
一方、反応管内に複数種の有機金属化合物のガスを導入
し、該反応管内に加熱状態に保持された基板上に、気相
反応で生成した金属化合物を堆積させ薄膜を形成するM
OCVD (有機金属化学気相成長)方法は、反応ガス
中の反応物質の濃度比および生成物の結晶性等を反応ガ
ス流量、ガスの流し方、および基板温度といった成膜条
件を変化させることによって容易に制御できるものであ
る。 従って、MOCVD法を用いることによフてスパ
ッタリング法が有する問題点を解決できる可能性がある
。 しかし、従来の方法そのままでは、金属酸化物の超
伝導体薄膜を形成するには、問題が多く存在した。
し、該反応管内に加熱状態に保持された基板上に、気相
反応で生成した金属化合物を堆積させ薄膜を形成するM
OCVD (有機金属化学気相成長)方法は、反応ガス
中の反応物質の濃度比および生成物の結晶性等を反応ガ
ス流量、ガスの流し方、および基板温度といった成膜条
件を変化させることによって容易に制御できるものであ
る。 従って、MOCVD法を用いることによフてスパ
ッタリング法が有する問題点を解決できる可能性がある
。 しかし、従来の方法そのままでは、金属酸化物の超
伝導体薄膜を形成するには、問題が多く存在した。
従来のMOCVD法で、金属酸化物の超伝導体薄膜を形
成するには、次の様な問題点が種々存在する。
成するには、次の様な問題点が種々存在する。
■ 一般に有機金属化合物ガスは酸素中で非常に不安定
であるので(発火し易い、分解し易い等)、反応系内に
酸素を導入すると爆発や基板上外での早期反応が起こり
易い。
であるので(発火し易い、分解し易い等)、反応系内に
酸素を導入すると爆発や基板上外での早期反応が起こり
易い。
■ Hl a族元素やアルカリ土類金属の有機金属化合
物は、大部分室温程度で固体で存在する為、通常の恒温
槽(液体型、温風加熱型)では充分な蒸気圧を得ること
ができない。
物は、大部分室温程度で固体で存在する為、通常の恒温
槽(液体型、温風加熱型)では充分な蒸気圧を得ること
ができない。
■ ランタノイド系の有機金属化合物は、蒸気圧が半導
体用の有機金属化合物に比べ非常に低いので、反応管の
内壁で凝縮し易い。
体用の有機金属化合物に比べ非常に低いので、反応管の
内壁で凝縮し易い。
■ 酸化物超伝導体を作製するためには、基板温度を高
くする必要がある。
くする必要がある。
従って、本発明では上記の様な欠点を解決し、酸化物超
伝導体薄膜形成用錯化合物およびMOCVD法を用いた
金属酸化物の超伝導体薄膜の作製方法を提供することを
目的とする。
伝導体薄膜形成用錯化合物およびMOCVD法を用いた
金属酸化物の超伝導体薄膜の作製方法を提供することを
目的とする。
く課題を解決するための手段〉
すなわち、本発明は、配位子として
と、アルカリ土類金属との錯化合物であって、前記有機
化合物の内の3個または6個のプロトンがハロゲンに置
換されていることを特徴とする形成用錯化合物を提供す
るものである。
化合物の内の3個または6個のプロトンがハロゲンに置
換されていることを特徴とする形成用錯化合物を提供す
るものである。
ここで、有機化合物はアセチルアセトン、アルカリ土類
金属はBaまたはSr、ハロゲンはFまたはCIlであ
るのが好ましい。
金属はBaまたはSr、ハロゲンはFまたはCIlであ
るのが好ましい。
本発明はまた、上述した錯化合物のガスと、III a
属元素の少なくとも1種の有機金属化合物および/また
はそのハロゲン化物のガスと、遷移金属の少なくとも1
種の有機金属化合物および/またはそのハロゲン化物の
ガスとを不活性ガスとともに混合し、さらにこの混合ガ
スに所定の酸素分圧となるように酸素含有ガスを混合し
、この混合ガスを基板上で熱分解することにより基板上
に複合酸化物の薄膜を形成することを特徴とする酸化物
超伝導体薄膜の形成方法を提供するものである。
属元素の少なくとも1種の有機金属化合物および/また
はそのハロゲン化物のガスと、遷移金属の少なくとも1
種の有機金属化合物および/またはそのハロゲン化物の
ガスとを不活性ガスとともに混合し、さらにこの混合ガ
スに所定の酸素分圧となるように酸素含有ガスを混合し
、この混合ガスを基板上で熱分解することにより基板上
に複合酸化物の薄膜を形成することを特徴とする酸化物
超伝導体薄膜の形成方法を提供するものである。
ここで、遷移金属はCu、NiまたはAgの1種以上の
ものを用いるのがよい。
ものを用いるのがよい。
そして、前記混合ガスの基板上での熱分解は反応の活性
化エネルギーを供給しながら行い、前記反応の活性化エ
ネルギーの供給は基板の熱または基板への光照射により
行うのがよい。
化エネルギーを供給しながら行い、前記反応の活性化エ
ネルギーの供給は基板の熱または基板への光照射により
行うのがよい。
また、前記ガス中の各金属の組成比が、アルカリ土類金
属: III a属元素:遷移金属−1:0.5〜10
0:0.5〜1.5であり、酸素分圧が50 Torr
以上300 Torr以下、基板の温度が450℃以上
800℃以下であるのが好ましい。
属: III a属元素:遷移金属−1:0.5〜10
0:0.5〜1.5であり、酸素分圧が50 Torr
以上300 Torr以下、基板の温度が450℃以上
800℃以下であるのが好ましい。
本発明はさらに、アルカリ土類金属の少なくとも1種の
有機金属化合物のガスと、III a属元素の少なくと
も1種の有機金属化合物および/またはそのハロゲン化
物のガスと、遷移金属の少なくとも1種の有機金属化合
物および/またはそのハロゲン化物のガスとを不活性ガ
スとともに混合し、さらにこの混合ガスに所定の酸素分
圧となるように酸素含有ガスを混合し、この混合ガスを
基板上で熱分解することにより基板上に複合酸化物の薄
膜を形成することを特徴とする酸化物超伝導薄膜の形成
方法を提供するものである。
有機金属化合物のガスと、III a属元素の少なくと
も1種の有機金属化合物および/またはそのハロゲン化
物のガスと、遷移金属の少なくとも1種の有機金属化合
物および/またはそのハロゲン化物のガスとを不活性ガ
スとともに混合し、さらにこの混合ガスに所定の酸素分
圧となるように酸素含有ガスを混合し、この混合ガスを
基板上で熱分解することにより基板上に複合酸化物の薄
膜を形成することを特徴とする酸化物超伝導薄膜の形成
方法を提供するものである。
ここで、遷移金属はCu%NiまたはAgの1種以上の
ものを用いるのがよい。
ものを用いるのがよい。
そして、前記混合ガスの基板上での熱分解は反応の活性
化エネルギーを供給しながら行い、前記反応の活性化エ
ネルギーの供給は基板の加熱または基板への光照射によ
り行うのが好ましい。
化エネルギーを供給しながら行い、前記反応の活性化エ
ネルギーの供給は基板の加熱または基板への光照射によ
り行うのが好ましい。
また、前記ガス中の各金属の組成比が、III a属元
素:アルカリ土類金属:遷移金属寓1:0.1〜100
:0.01〜40であり、酸素分圧が50 Torr以
上300 Torr以下、基板の温度が450℃以上9
50℃以下であるのが好ましい。
素:アルカリ土類金属:遷移金属寓1:0.1〜100
:0.01〜40であり、酸素分圧が50 Torr以
上300 Torr以下、基板の温度が450℃以上9
50℃以下であるのが好ましい。
以下に本発明をさらに詳細に説明する。
基板上に超伝導体を薄膜状に形成させるためには、基板
の近傍に超伝導体を構成する各元素が必要な濃度比で供
給されることが重要であり、そのためには、各元素の有
機化合物の選択、酸素分圧、および基板温度が重要な因
子であることを見い出し本発明に至った。
の近傍に超伝導体を構成する各元素が必要な濃度比で供
給されることが重要であり、そのためには、各元素の有
機化合物の選択、酸素分圧、および基板温度が重要な因
子であることを見い出し本発明に至った。
本発明者らは、上述したMOCVD法に利用できるアル
カリ土類金属の有機化合物について鋭意研究を重ねたと
ころ、低い基板温度でも酸化物超伝導体薄膜が形成でき
る新規な材料としする有機化合物とアルカリ土類金属の
錯化合物で、有機化合物内の3個または6個のプロトン
がFやCLなどのハロゲンと置換された錯化合物が有効
であるを発見した。
カリ土類金属の有機化合物について鋭意研究を重ねたと
ころ、低い基板温度でも酸化物超伝導体薄膜が形成でき
る新規な材料としする有機化合物とアルカリ土類金属の
錯化合物で、有機化合物内の3個または6個のプロトン
がFやCLなどのハロゲンと置換された錯化合物が有効
であるを発見した。
上記有機化合物としてはアセチルアセトンが、アルカリ
土類金属としてはBaまたはSrが、ハロゲンとしては
FまたはClが好ましい。
土類金属としてはBaまたはSrが、ハロゲンとしては
FまたはClが好ましい。
そして、この錯化合物として、
Ba (CBHFaOa) 2、Ba (C5HFaO
2)a、Ba(C5H4FsOz)z、Ba(CsHF
aOz) (C5H4Fs02)や Sr (CsH
Fs(h) 2、Sr (C5H4F302) 2、S
r (CsHFaOz) (C5H4Fs02)などを
代表例として挙げることができる。
2)a、Ba(C5H4FsOz)z、Ba(CsHF
aOz) (C5H4Fs02)や Sr (CsH
Fs(h) 2、Sr (C5H4F302) 2、S
r (CsHFaOz) (C5H4Fs02)などを
代表例として挙げることができる。
このような錯化合物は昇華性および安定性があり、比較
的低い気化温度を有しており、上記化合物の気化する温
度は次のとおりである。
的低い気化温度を有しており、上記化合物の気化する温
度は次のとおりである。
Ba (C8HFII02) 2180℃Ba (C5
HFaO2) a 90℃Ba(Cs8
4FsOt)2120℃ Ba(Cs)lFaoz) (C5H4F302)
115℃sr (C8HF802) 2
200℃5r(C5H4Fs(h)* 2
20℃Sr (CsHFaOt) (c3o4p3o2
) 210℃また、アルカリ土類金属の有機化合物
としては、上記のものに限られず、アルカリ土類金属が
BaまたはSrで、有機化合物がアセチルアセトン、シ
クロペンタジェンである以下に述べるようなものを用い
ることができる。
HFaO2) a 90℃Ba(Cs8
4FsOt)2120℃ Ba(Cs)lFaoz) (C5H4F302)
115℃sr (C8HF802) 2
200℃5r(C5H4Fs(h)* 2
20℃Sr (CsHFaOt) (c3o4p3o2
) 210℃また、アルカリ土類金属の有機化合物
としては、上記のものに限られず、アルカリ土類金属が
BaまたはSrで、有機化合物がアセチルアセトン、シ
クロペンタジェンである以下に述べるようなものを用い
ることができる。
その代表例としては、ジシクロペンタジェンバリウム、
ジアセチルアセトンバリウム、ジペンタジエンストロン
チウム、ジアセチルアセトンストロンチウムなどが挙げ
られる。
ジアセチルアセトンバリウム、ジペンタジエンストロン
チウム、ジアセチルアセトンストロンチウムなどが挙げ
られる。
これらの気化温度は下記の通りである。
Ba(CsHs)z ’ 480℃
Ba(CaHyOz)z
2 5 0 ℃5r(CB)1B)2
450℃5r(Cs)It02)2
2 4 0
℃超伝導体薄膜の作製にあたっては、上記のアルカリ土
類金属の有機化合物のほかに、III a族元素の有機
化合物および/またはハロゲン化物ならびに遷移金属の
有機化合物および/またはハロゲン化物を用いる。
Ba(CaHyOz)z
2 5 0 ℃5r(CB)1B)2
450℃5r(Cs)It02)2
2 4 0
℃超伝導体薄膜の作製にあたっては、上記のアルカリ土
類金属の有機化合物のほかに、III a族元素の有機
化合物および/またはハロゲン化物ならびに遷移金属の
有機化合物および/またはハロゲン化物を用いる。
III a族元素の有機化合物は、III a族元素と
して7%Scおよびランタノイド、有機化合物としてシ
クロペンタジェン、アセチルアセトンなどを用いたもの
が好ましく、またハロゲン化特にフッ素化したものを用
いてもよい。
して7%Scおよびランタノイド、有機化合物としてシ
クロペンタジェン、アセチルアセトンなどを用いたもの
が好ましく、またハロゲン化特にフッ素化したものを用
いてもよい。
その代表例としては、トリシク口ベンタジェン・イツト
リウム、トリシクロペンタジェン・ランタンなどのLn
(CaHs) 3(ただし、LnはY、Scおよびラ
ンタノイド)、あるいはLn(トリフルオロアセチルア
セトン)3などを挙げることかできる。
リウム、トリシクロペンタジェン・ランタンなどのLn
(CaHs) 3(ただし、LnはY、Scおよびラ
ンタノイド)、あるいはLn(トリフルオロアセチルア
セトン)3などを挙げることかできる。
遷移金属の有機化合物は、遷移金属としてCu、Niお
よびAg1有機化合物としてアセチルアセトン、シクロ
ペンタジェンなどを用いたものが好ましく、またハロゲ
ン化特にフッ素化したものを用いてもよい。
よびAg1有機化合物としてアセチルアセトン、シクロ
ペンタジェンなどを用いたものが好ましく、またハロゲ
ン化特にフッ素化したものを用いてもよい。
その代表例としては、ジアセチルアセトン銅、ジトリフ
ルオロアセチルアセトン銅、ジトリフルオロアセチルア
セトン銅などを挙げることができる。
ルオロアセチルアセトン銅、ジトリフルオロアセチルア
セトン銅などを挙げることができる。
またAg化合物のガスを導入する事によって、酸化物中
のCu原子をAg原子に容易に置換でき、このような置
換のために、例えばCuの有機化合物ガスとAgの有機
化合物ガスをその混合比Ag/(Cu+Ag)がO,a
以下となるように混合して用いることが望ましい。
のCu原子をAg原子に容易に置換でき、このような置
換のために、例えばCuの有機化合物ガスとAgの有機
化合物ガスをその混合比Ag/(Cu+Ag)がO,a
以下となるように混合して用いることが望ましい。
以上に詳述したようなアルカリ土類金属を一部ハロゲン
で置換した有機化合物との錯化合物またはアルカリ土類
金属の有機化合物、III a族元素の有機化合物(ハ
ロゲン化物)および遷移金属の有機化合物(ハロゲン化
物)をガス化して混合し、これらを熱分解して基板上に
これらの金属の酸化物超伝導体薄膜を形成するのである
が、このとき酸化物超伝導体薄膜の特性改善のために上
記したランタノイド系列の元素から選ばれた1種または
2 f!1以上の元素、Cu。
で置換した有機化合物との錯化合物またはアルカリ土類
金属の有機化合物、III a族元素の有機化合物(ハ
ロゲン化物)および遷移金属の有機化合物(ハロゲン化
物)をガス化して混合し、これらを熱分解して基板上に
これらの金属の酸化物超伝導体薄膜を形成するのである
が、このとき酸化物超伝導体薄膜の特性改善のために上
記したランタノイド系列の元素から選ばれた1種または
2 f!1以上の元素、Cu。
NiおよびAgから選ばれた1種または2種以上の元素
およびアルカリ土類金属元素から選ばれた1種または2
種以上の元素以外の元素を添加するに際しても、その元
素の1 fffiまたは2種以上の有機化合物および/
または1種または2種以上のハロゲン化物のガスとして
供給すれば良い。
およびアルカリ土類金属元素から選ばれた1種または2
種以上の元素以外の元素を添加するに際しても、その元
素の1 fffiまたは2種以上の有機化合物および/
または1種または2種以上のハロゲン化物のガスとして
供給すれば良い。
前記各元素の有機化合物ないしハロゲン化物(以下、原
料ガスと記す)のキャリヤガスとして、通常の半導体用
MOCVD装置ではN2またはH,+Ar (またはN
2)を用いているが、本発明ではHe、ArおよびN2
等の不活性ガスを使用する。
料ガスと記す)のキャリヤガスとして、通常の半導体用
MOCVD装置ではN2またはH,+Ar (またはN
2)を用いているが、本発明ではHe、ArおよびN2
等の不活性ガスを使用する。
酸素含有ガスと有機化合物ガスは基板直前で混合する様
に、酸素含有ガスを基板に接近して吐出するようにする
。
に、酸素含有ガスを基板に接近して吐出するようにする
。
酸素含有ガスとしては、純酸素、酸素を不活性ガスで希
釈したもの等を用いることができる。
釈したもの等を用いることができる。
さらにこの際、原料の有機化合物および/またはハロゲ
ン化物のガスを基板上で酸化せしめるため、反応の活性
化エネルギーを供給するのが望ましく、その手段として
は基板の加熱による熱エネルギーの供給または、基板へ
の光照射による光エネルギーの供給等によって好適に行
うことができる。
ン化物のガスを基板上で酸化せしめるため、反応の活性
化エネルギーを供給するのが望ましく、その手段として
は基板の加熱による熱エネルギーの供給または、基板へ
の光照射による光エネルギーの供給等によって好適に行
うことができる。
アルカリ土類金属と一部ハロゲンで置換された有機化合
物との錯化合物を用いて超伝導薄膜を形成するときには
、混合ガス中の各金属の組成比が、アルカリ土類金属:
III a属元素:遷移金属=1 : 0.5〜10
0 : 0. 5〜1.5テあり、酸素分圧が50 T
orr以上300 Torr以下、基板の温度が450
℃以上800℃以下という条件で実施するのがよい。
このような範囲をはずれると、超伝導を示す相が生成し
ないか、あるいはその生成量が少ない。
物との錯化合物を用いて超伝導薄膜を形成するときには
、混合ガス中の各金属の組成比が、アルカリ土類金属:
III a属元素:遷移金属=1 : 0.5〜10
0 : 0. 5〜1.5テあり、酸素分圧が50 T
orr以上300 Torr以下、基板の温度が450
℃以上800℃以下という条件で実施するのがよい。
このような範囲をはずれると、超伝導を示す相が生成し
ないか、あるいはその生成量が少ない。
また、アルカリ土類金属の有機化合物を用いて超伝導体
薄膜を形成するときには、ガス中の各金属の組成比が、
ma属元素:アルカリ土類金属:遷移金属=1:0.1
〜100:0.01〜40であり、酸素分圧が50 T
orr以上300 Torr以下、基板の温度が450
tl:以上950℃以下という条件で実施するのがよい
。
薄膜を形成するときには、ガス中の各金属の組成比が、
ma属元素:アルカリ土類金属:遷移金属=1:0.1
〜100:0.01〜40であり、酸素分圧が50 T
orr以上300 Torr以下、基板の温度が450
tl:以上950℃以下という条件で実施するのがよい
。
このような範囲をはずれると、超伝導を示す相が生成し
ないか、あるいはその生成量が少ない。
ないか、あるいはその生成量が少ない。
次に本発明の超伝導体薄膜の形成方法につぃて、第1図
を参照しつつ説明する。 第1図は本発明の実施に用い
た装置の一例にすぎず、これに限定されることはない。
を参照しつつ説明する。 第1図は本発明の実施に用い
た装置の一例にすぎず、これに限定されることはない。
新規なアルカリ土類金属と一部ハロゲンで置換された有
機□化合物との錯化合物またはアルカリ土類金属の有機
化合物、ma属元素の有機化合物(ハロゲン化物)およ
び遷移金属の有機化合物(ハロゲン化物)のガスは、そ
れぞれのガス流量計1a、lbおよび1cにより計量さ
れつつ不活性ガスとともに各々の有機金属化合物ボンベ
2a、2bおよび2Cに入り、ここで各加熱装置3a、
3bおよび3Cにより加熱されて、加熱装置8により加
熱されている反応管5内に装入混合される。 反応管5
の下流側には基板フが保持装置9上に保持され、基板加
熱装置10により基板は加熱されている。
機□化合物との錯化合物またはアルカリ土類金属の有機
化合物、ma属元素の有機化合物(ハロゲン化物)およ
び遷移金属の有機化合物(ハロゲン化物)のガスは、そ
れぞれのガス流量計1a、lbおよび1cにより計量さ
れつつ不活性ガスとともに各々の有機金属化合物ボンベ
2a、2bおよび2Cに入り、ここで各加熱装置3a、
3bおよび3Cにより加熱されて、加熱装置8により加
熱されている反応管5内に装入混合される。 反応管5
の下流側には基板フが保持装置9上に保持され、基板加
熱装置10により基板は加熱されている。
反応管5は排気装置11により排気減圧されているから
、有機金属化合物のガスは各ポンベ2a、2bおよび2
cから混合ガスとなって基板7に向けて流れる。
、有機金属化合物のガスは各ポンベ2a、2bおよび2
cから混合ガスとなって基板7に向けて流れる。
このとき、基板7の上流の近傍において、基板7付近で
所定の酸素分圧となるように酸素含有ガスが流量計1d
で計量されつつ誘導管6を経て混合ガス中に供給される
。 基板フ上には、各有機金属ガスから熱分解されたア
ルカリ土類金属、HIa属元素および遷移元素が酸化物
を主体とした超伝導体の薄膜を形成する。
所定の酸素分圧となるように酸素含有ガスが流量計1d
で計量されつつ誘導管6を経て混合ガス中に供給される
。 基板フ上には、各有機金属ガスから熱分解されたア
ルカリ土類金属、HIa属元素および遷移元素が酸化物
を主体とした超伝導体の薄膜を形成する。
このときの反応の一例を以下に記す。
L n (Cs Hs)s 、Cu (aCaC)2お
よびB B (acac)、を用いた場合の反応例を式
で表すと、 2Ln (CsHs) s + 4Ba (acac)
2 +6Cu(acac)2+ 10202→2Ln
BazCtlsOy + 130 COz+ 85
H2Oである。 ここで、acacはアセチルアセトン
を表わす。
よびB B (acac)、を用いた場合の反応例を式
で表すと、 2Ln (CsHs) s + 4Ba (acac)
2 +6Cu(acac)2+ 10202→2Ln
BazCtlsOy + 130 COz+ 85
H2Oである。 ここで、acacはアセチルアセトン
を表わす。
この場合、例えばBaの有機化合物の代わりにSrの有
機化合物を使用することもできる。
機化合物を使用することもできる。
これによって(Lnl−,5rx)CuO4−、系超伝
導薄膜が作製できる。
導薄膜が作製できる。
〈実施例〉
以下に本発明を実施例に基づいて具体的に説明する。
(実施例1)
第1図に示す構成の装置を用い、キャリアガスとしてA
rガスを、さらに基板として5rTiOsを用い、有機
化合物とアルカリ土類金属の錯化合物ガスとしてジ・ヘ
キサフルオロアセチルアセトン・バリウムBa (Cs
HFa02) *ガスを、III a属元素の有機金属
化合物ガスとして、トリ・シクロペンタジェン・イツト
リウムY (CsHs) 3ガスを、遷移金属の有機金
属化合物ガスとしてジアセチルアセトン・銅Cu (C
8)I2O3) 2ガスを用い、種々の混合比で混合し
、混合ガスを原料ガスとして、酸素分圧100 Tor
r、基板温度500℃で基板上に薄膜を作製した。
rガスを、さらに基板として5rTiOsを用い、有機
化合物とアルカリ土類金属の錯化合物ガスとしてジ・ヘ
キサフルオロアセチルアセトン・バリウムBa (Cs
HFa02) *ガスを、III a属元素の有機金属
化合物ガスとして、トリ・シクロペンタジェン・イツト
リウムY (CsHs) 3ガスを、遷移金属の有機金
属化合物ガスとしてジアセチルアセトン・銅Cu (C
8)I2O3) 2ガスを用い、種々の混合比で混合し
、混合ガスを原料ガスとして、酸素分圧100 Tor
r、基板温度500℃で基板上に薄膜を作製した。
薄膜の生成物と原料ガス混合比との関係を第1表に示す
0、ガス混合比は混合ガス中の各元素の濃度比で示した
。
0、ガス混合比は混合ガス中の各元素の濃度比で示した
。
生成物の確認はx1回折によった。
第1表
O印超伝導性を示す。 ()少量
(実施例2)
実施例1と同様な装置を用い、原料ガスとして、ジ・ヘ
キサフルオロアセチルアセトン・バリウムガス、トリ・
シクロペンタジェン・イツトリウムガス、およびジアセ
チルアセトン銅ガスの混合ガスを用い、混合ガス中の各
元素の濃度比をBa:Y:Cu=1 :10:1とし、
酸素分圧が100 Torrにおける、基板温度と薄膜
生成物との関係を第2表に示す。
キサフルオロアセチルアセトン・バリウムガス、トリ・
シクロペンタジェン・イツトリウムガス、およびジアセ
チルアセトン銅ガスの混合ガスを用い、混合ガス中の各
元素の濃度比をBa:Y:Cu=1 :10:1とし、
酸素分圧が100 Torrにおける、基板温度と薄膜
生成物との関係を第2表に示す。
(実施例3)
実施例1と同様な装置を用い、原料ガスとして、ジ・ヘ
キサフルオロアセチルアセトン・バリウム、トリ・シク
ロペンタジェン・イツトリウム、およびジアセチルアセ
トン銅の混合ガスを用い、混合ガス中の各元素の濃度比
をBa:Y:Cu=1:10:1とし、基板温度を50
0℃とし、酸素分圧と薄膜生成物との関係を第3表に示
す。
キサフルオロアセチルアセトン・バリウム、トリ・シク
ロペンタジェン・イツトリウム、およびジアセチルアセ
トン銅の混合ガスを用い、混合ガス中の各元素の濃度比
をBa:Y:Cu=1:10:1とし、基板温度を50
0℃とし、酸素分圧と薄膜生成物との関係を第3表に示
す。
第 2 表
()は少量 O印超伝導性を示す。
第 3 表
()は少量 ○印超伝導性を示す。
第2図には、Y(らH3)3、Cu (C5H?02)
2およびBa (C5HF602) 2を用いて上記
実施例にて作製されたYBa2fl:t+307なる組
成の超伝導体薄膜のX線回折パターンを示す。 これに
よれば、YBa2Cus07の(013)、(113)
、(006)面などによる回折線ピークが存在し、超伝
導体薄膜が生成していることが判明した。
2およびBa (C5HF602) 2を用いて上記
実施例にて作製されたYBa2fl:t+307なる組
成の超伝導体薄膜のX線回折パターンを示す。 これに
よれば、YBa2Cus07の(013)、(113)
、(006)面などによる回折線ピークが存在し、超伝
導体薄膜が生成していることが判明した。
この様にして作製した薄膜の電気抵抗の温度依存性を第
3図に示す。 電気抵抗は70に近傍から急激に減少し
はじめ、58にで抵抗がほぼゼロとなり、超伝導性が証
明された。
3図に示す。 電気抵抗は70に近傍から急激に減少し
はじめ、58にで抵抗がほぼゼロとなり、超伝導性が証
明された。
(実施例4)
第1図に示す構成の装置を用い、キャリアガスとしてA
rガスを、さらに基板として5rTiOsを用い、アル
カリ土類金属の有機金属化合物ガスとして、ジシクロペ
ンタジェン・バリウムガス、■■a属元素の有機金属化
合物ガスとして、トリ・シクロペンタジェン・イツトリ
ウムガス、遷移金属の有機金属化合物ガスとしてジアセ
チルアセトン銅ガスを用い、種々の混合比で混合し、混
合ガスを原料ガスとして、酸素分圧200 Torr、
基板温度600℃で基板上に薄膜を作製した。
rガスを、さらに基板として5rTiOsを用い、アル
カリ土類金属の有機金属化合物ガスとして、ジシクロペ
ンタジェン・バリウムガス、■■a属元素の有機金属化
合物ガスとして、トリ・シクロペンタジェン・イツトリ
ウムガス、遷移金属の有機金属化合物ガスとしてジアセ
チルアセトン銅ガスを用い、種々の混合比で混合し、混
合ガスを原料ガスとして、酸素分圧200 Torr、
基板温度600℃で基板上に薄膜を作製した。
薄膜の生成物と原料ガス混合比との関係を第4表に示す
。 ガス混合比は混合ガス中の各元素の濃度比で示した
。
。 ガス混合比は混合ガス中の各元素の濃度比で示した
。
生成物の確認はX線回折によった。
第 4 表
(())は微量
(実施例5)
実施例1と同様な装置を用い、原料ガスとして、ジシク
ロペンタジェン・バリウムガス、トリ・シクロペンタジ
ェン・イツトリウムガスおよびジアセチルアセトン銅ガ
スの混合ガスを用い、混合ガス中の各元素の濃度比をY
:Ba:Cu=1:10:0.1とし、酸素分圧が20
0 Torrにおける、基板温度と薄膜生成物との関係
を第5表に示す。
ロペンタジェン・バリウムガス、トリ・シクロペンタジ
ェン・イツトリウムガスおよびジアセチルアセトン銅ガ
スの混合ガスを用い、混合ガス中の各元素の濃度比をY
:Ba:Cu=1:10:0.1とし、酸素分圧が20
0 Torrにおける、基板温度と薄膜生成物との関係
を第5表に示す。
(実施例6)
実施例1と同様な装置を用い、原料ガスとして、ジシク
ロペンタジェン・バリウム、トリ・シクロペンタジェン
・イツトリウム、およびジアセチルアセトン銅の混合ガ
スを用い、混合ガス中の各元素の濃度比をY:Ba:C
u=1:10:0.1とし、基板温度を700℃とし、
酸素分圧と薄膜生成物との関係を第6表に示す。
ロペンタジェン・バリウム、トリ・シクロペンタジェン
・イツトリウム、およびジアセチルアセトン銅の混合ガ
スを用い、混合ガス中の各元素の濃度比をY:Ba:C
u=1:10:0.1とし、基板温度を700℃とし、
酸素分圧と薄膜生成物との関係を第6表に示す。
第 5 表
()は少量 (())は微量
○印超伝導性を示す。
第 6 表
()は少量 (())は微量
O印超伝導性を示す。
(実施例7)
第1図に示す構成の装置を用い、キャリアガスとしてA
rガスを、さらに基板として、5rTIQ、を用い、原
料ガス中のLn、Ba、Cuの組成比を次の様な範囲で
変化さた。
rガスを、さらに基板として、5rTIQ、を用い、原
料ガス中のLn、Ba、Cuの組成比を次の様な範囲で
変化さた。
Ln:Ba:Cua*1 :0. 1 :O,l
〜 l :40 : 40 (Lnを1として規
格化)且つ、酸素分圧を0.1〜300 Torrの範
囲で変化させた。 また、基板温度は、300〜900
℃の間で変化させた。
〜 l :40 : 40 (Lnを1として規
格化)且つ、酸素分圧を0.1〜300 Torrの範
囲で変化させた。 また、基板温度は、300〜900
℃の間で変化させた。
第4図はLa(CsHs)s、Cu (acac) 2
およびSrI2を用いて作製した薄膜のX線回折パター
ンを示す。 (La□、 5sro1.)CaO2の
(111)、(200)、(220)面等による回折線
ピークが存在しくt、ao、 5Sro、 5)(:L
104薄膜が生成している事が判明した。
およびSrI2を用いて作製した薄膜のX線回折パター
ンを示す。 (La□、 5sro1.)CaO2の
(111)、(200)、(220)面等による回折線
ピークが存在しくt、ao、 5Sro、 5)(:L
104薄膜が生成している事が判明した。
この様にして作製した薄膜の電気抵抗の温度依存性を第
5図に示す。 電気抵抗は30に近傍から急激に減少し
はじめ、18にで抵抗がほぼゼロとなった。
5図に示す。 電気抵抗は30に近傍から急激に減少し
はじめ、18にで抵抗がほぼゼロとなった。
また、成膜後原料の供給を止め、酸素含有ガスフロ 0
Torrで基板温度を600〜800℃の間で数時間
熱処理を行うと、第6図に示す様に抵抗は35に近傍か
ら減少し、23にで抵抗ゼロとなり、明らかにTcが改
善された。
Torrで基板温度を600〜800℃の間で数時間
熱処理を行うと、第6図に示す様に抵抗は35に近傍か
ら減少し、23にで抵抗ゼロとなり、明らかにTcが改
善された。
また、有機配位子を弗素化物で置換したもの例えば、L
a ()−リフルオロアセチルアセトン)、を用いると
酸化膜の酸素の一部が弗素で置換される。 これによっ
て膜のTcが数に程度改善された。
a ()−リフルオロアセチルアセトン)、を用いると
酸化膜の酸素の一部が弗素で置換される。 これによっ
て膜のTcが数に程度改善された。
(実施例8)
実施例フと同じ装置を用い、有機化合物として、La
(Cm)Is) s、Cu (C8H?02) 2、S
r (C8H8) 2を用いて種々の条件下で作製した
薄膜の生成物と成膜条件の関係を第7表に示す。
(Cm)Is) s、Cu (C8H?02) 2、S
r (C8H8) 2を用いて種々の条件下で作製した
薄膜の生成物と成膜条件の関係を第7表に示す。
第 7 表
以上の結果から、La+−xSr)ccu04の組成を
持つ超伝導薄膜を作製する為には、La : Sr :
Cuの比が小さい場合、高い酸素分圧下、高い基板温度
下で反応させる。 またT=a:Sr:Cuの比が大き
い場合は、低い酸素分圧下で、高い基板温度下で反応さ
せれば良い事がわかる。
持つ超伝導薄膜を作製する為には、La : Sr :
Cuの比が小さい場合、高い酸素分圧下、高い基板温度
下で反応させる。 またT=a:Sr:Cuの比が大き
い場合は、低い酸素分圧下で、高い基板温度下で反応さ
せれば良い事がわかる。
Tcを改善する為Agをドープするには、融点の低い、
例えば、AgzCO3(+n、p、−218℃)やAg
、O(m、p、−100℃)を加熱蒸発させて反応ガス
中に混合し生成物に添加する。
例えば、AgzCO3(+n、p、−218℃)やAg
、O(m、p、−100℃)を加熱蒸発させて反応ガス
中に混合し生成物に添加する。
この様にして薄膜に添加したAgは、膜全面に均一に分
布していることがX線マイクロアナライザー測定により
確認された。 このことから、従来の超伝導物質を作
製するスパッタ法や固相反応性に比べ、本発明方法は、
不純物の分布に偏りがなく均一であり、非常に不純物添
加法としてすぐれていることを示している。
布していることがX線マイクロアナライザー測定により
確認された。 このことから、従来の超伝導物質を作
製するスパッタ法や固相反応性に比べ、本発明方法は、
不純物の分布に偏りがなく均一であり、非常に不純物添
加法としてすぐれていることを示している。
なお、本発明の実施にあたり、好適に使用される装置は
、第1図の構成のものにのみ限定されるものではないこ
とは言うまでもない。
、第1図の構成のものにのみ限定されるものではないこ
とは言うまでもない。
〈発明の効果〉
アルカリ土類金属とアセチルアセトンのような有機化合
物(一部ハロゲン元素で置換されたものも含まれる)と
の錯化合物はMOCVD法において基板温度が低くても
酸化物超伝導体薄膜の形成に寄与する。
物(一部ハロゲン元素で置換されたものも含まれる)と
の錯化合物はMOCVD法において基板温度が低くても
酸化物超伝導体薄膜の形成に寄与する。
この錯化合物またはアルカリ土類金属の有機化合物のガ
スと、111 a属元素の有機化合物のガスと、遷移金
属の有機化合物のガスとの混合ガスを、基板近傍にて吐
出される酸素含有ガスと所定の条件で反応させると、基
板上にMOCVD法により超伝導体の薄膜が簡便に形成
される。
スと、111 a属元素の有機化合物のガスと、遷移金
属の有機化合物のガスとの混合ガスを、基板近傍にて吐
出される酸素含有ガスと所定の条件で反応させると、基
板上にMOCVD法により超伝導体の薄膜が簡便に形成
される。
第1図は、本発明の超伝導体薄膜の形成に使用して装置
の線図である。 第2図は、実施例1〜3で作製された超伝導体薄膜のX
線回折パターンを示す線図である。 第3図は、実施例1〜3で作製された超伝導体薄膜の電
気抵抗の温度依存性を示すグラフである。 第4図はLa (CsHs) s、Cu (acac)
2および5r12を用いて作製した薄膜のX線回折パ
ターンを示す線図である。 第5図は、本発明実施例により形成された薄膜の電気抵
抗の温度依存性示す図である。 第6図は、本発明実施例による有機金属化合物ガスの供
給を止めた後、基板を熱処理した場合の電気抵抗の温度
依存性示す図である。 符号の説明 1・・・ガス流量計、 2・・・有機金属化合物ボンベ、 3・・・加熱装置、 4・・・ガス導入管、 5・・・反応管、 6・・・酸素含有ガス誘導管、 7・・・基板、 8・・・加熱装置、 9・・・基板保持装置、 10・・・基板加熱装置、 11・・・排気装置 X線弦埋 (任!強度) FIG、3 !jL 度T(に) FIG、4 2<3(度) FIG、5 温 度T(に)
の線図である。 第2図は、実施例1〜3で作製された超伝導体薄膜のX
線回折パターンを示す線図である。 第3図は、実施例1〜3で作製された超伝導体薄膜の電
気抵抗の温度依存性を示すグラフである。 第4図はLa (CsHs) s、Cu (acac)
2および5r12を用いて作製した薄膜のX線回折パ
ターンを示す線図である。 第5図は、本発明実施例により形成された薄膜の電気抵
抗の温度依存性示す図である。 第6図は、本発明実施例による有機金属化合物ガスの供
給を止めた後、基板を熱処理した場合の電気抵抗の温度
依存性示す図である。 符号の説明 1・・・ガス流量計、 2・・・有機金属化合物ボンベ、 3・・・加熱装置、 4・・・ガス導入管、 5・・・反応管、 6・・・酸素含有ガス誘導管、 7・・・基板、 8・・・加熱装置、 9・・・基板保持装置、 10・・・基板加熱装置、 11・・・排気装置 X線弦埋 (任!強度) FIG、3 !jL 度T(に) FIG、4 2<3(度) FIG、5 温 度T(に)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)配位子として▲数式、化学式、表等があります▼
なる構造を 有する有機化合物と、アルカリ土類金属との錯化合物で
あって、前記有機化合物の内の3個または6個のプロト
ンがハロゲンに置換されていることを特徴とする酸化物
超伝導体薄膜形成用錯化合物。 (2)前記有機化合物がアセチルアセトンである請求項
1に記載の錯化合物。 (3)前記アルカリ土類金属がBaまたはSrである請
求項1または2に記載の錯化合物。 (4)前記ハロゲンがFまたはClである請求項1〜3
のいずれかに記載の錯化合物。 で、前記アルカリ土類金属がBaまたはSrで、前記ハ
ロゲンがFまたはClである請求項1〜4のいずれかに
記載の錯化合物。 (6)請求項1〜5のいずれかに記載の錯化合物のガス
と、IIIa属元素の少なくとも1種の有機金属化合物お
よび/またはそのハロゲン化物のガスと、遷移金属の少
なくとも1種の有機金属化合物および/またはそのハロ
ゲン化物のガスとを不活性ガスとともに混合し、さらに
この混合ガスに所定の酸素分圧となるように酸素含有ガ
スを混合し、この混合ガスを基板上で熱分解することに
より基板上に複合酸化物の薄膜を形成することを特徴と
する酸化物超伝導薄膜の形成方法。 (7)前記遷移金属はCu、NiおよびAgよりなる群
から選ばれた少なくとも1種の金属である請求項6に記
載の酸化物超伝導薄膜の形成方法。 (8)前記混合ガスの基板上での熱分解は反応の活性化
エネルギーを供給しながら行う請求項6または7に記載
の酸化物超伝導薄膜の形成方法。 (9)前記反応の活性化エネルギーの供給は基板の熱ま
たは基板への光照射により行う請求項8に記載の酸化物
超伝導薄膜の形成方法。 (10)前記ガス中の各金属の組成比が、アルカリ土類
金属:IIIa属元素:遷移金属=1:0.5〜100:
0.5〜1.5であり、酸素分圧が50Torr以上3
00Torr以下、基板の温度が450℃以上800℃
以下である請求項6〜9のいずれかに記載の酸化物超伝
導薄膜の形成方法。 (11)アルカリ土類金属の少なくとも1種の有機金属
化合物のガスと、IIIa属元素の少なくとも1種の有機
金属化合物および/またはそのハロゲン化物のガスと、
遷移金属の少なくとも1種の有機金属化合物および/ま
たはそのハロゲン化物のガスとを不活性ガスとともに混
合し、さらにこの混合ガスに所定の酸素分圧となるよう
に酸素含有ガスを混合し、この混合ガスを基板上で熱分
解することにより基板上に複合酸化物の薄膜を形成する
ことを特徴とする酸化物超伝導薄膜の形成方法。 (12)前記遷移金属はCu、NiおよびAgよりなる
群から選ばれた少なくとも1種の金属である請求項11
に記載の酸化物超伝導薄膜の形成方法。 (13)前記混合ガスの基板上での熱分解は反応の活性
化エネルギーを供給しながら行う請求項11または12
に記載の酸化物超伝導薄膜の形成方法。 (14)前記反応の活性化エネルギーの供給は基板の加
熱または基板への光照射により行う請求項13に記載の
酸化物超伝導薄膜の形成方法。 (15)前記ガス中の各金属の組成比が、IIIa属元素
:アルカリ土類金属:遷移金属=1:0.1〜100:
0.01〜40であり、酸素分圧が50Torr以上3
00Torr以下、基板の温度が450℃以上950℃
以下である請求項11〜14のいずれかに記載の酸化物
超伝導薄膜の形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63147525A JP2786200B2 (ja) | 1987-06-16 | 1988-06-15 | 酸化物超伝導体薄膜形成用原料混合物および酸化物超伝導体薄膜の形成方法 |
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|---|---|---|---|
| JP14797587 | 1987-06-16 | ||
| JP62-147975 | 1987-06-16 | ||
| JP63147525A JP2786200B2 (ja) | 1987-06-16 | 1988-06-15 | 酸化物超伝導体薄膜形成用原料混合物および酸化物超伝導体薄膜の形成方法 |
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| JP9315017A Division JP2818751B2 (ja) | 1987-06-16 | 1997-11-17 | 酸化物超伝導体薄膜の形成方法 |
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|---|---|
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| US5466084A (en) * | 1994-06-16 | 1995-11-14 | Dana Corporation | Dust boot retainer ring |
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| KR100464810B1 (ko) * | 2001-06-30 | 2005-01-05 | 한국화학연구원 | 유기 알칼리토금속 착화합물 |
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1988
- 1988-06-15 WO PCT/JP1988/000575 patent/WO1988010499A1/ja not_active Ceased
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- 1988-06-15 DE DE8888905417T patent/DE3880816T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-06-15 EP EP88905417A patent/EP0325659B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-06-15 WO PCT/JP1988/000574 patent/WO1988010323A1/ja not_active Ceased
- 1988-06-15 EP EP88905418A patent/EP0319585B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-06-15 JP JP63147525A patent/JP2786200B2/ja not_active Expired - Fee Related
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