JPH0212933A - 半導体集積回路用セラミックパッケージ - Google Patents
半導体集積回路用セラミックパッケージInfo
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- JPH0212933A JPH0212933A JP63164322A JP16432288A JPH0212933A JP H0212933 A JPH0212933 A JP H0212933A JP 63164322 A JP63164322 A JP 63164322A JP 16432288 A JP16432288 A JP 16432288A JP H0212933 A JPH0212933 A JP H0212933A
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- semiconductor integrated
- bonding
- wirings
- semiconductor chip
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/071—Connecting or disconnecting
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/07551—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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- H10W72/931—Shapes of bond pads
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- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路のセラミックパッケージに関す
る。
る。
従来、セラミックパッケージは気密性に優れているので
、高信頼性の半導体集積回路のパッケージとして用いら
れてきた。
、高信頼性の半導体集積回路のパッケージとして用いら
れてきた。
第3図は従来の半導体集積回路装置の断面図を示す。こ
の装置のセラミック本体1は、グリーンシート法により
未焼結セラミックシートを複数枚製作し、それぞれの外
形を加工し、これらのシート面に金属ペーストをパター
ン印刷して配線8、外部リード6、半導体チップ2及び
金属シールリング4aの固着用金属層をそれぞれに形成
し、それらセラミックシートを重ねて焼成し形成する。
の装置のセラミック本体1は、グリーンシート法により
未焼結セラミックシートを複数枚製作し、それぞれの外
形を加工し、これらのシート面に金属ペーストをパター
ン印刷して配線8、外部リード6、半導体チップ2及び
金属シールリング4aの固着用金属層をそれぞれに形成
し、それらセラミックシートを重ねて焼成し形成する。
また、パターン印刷で形成された配線及び固着用金属層
は焼成後に金めつき層で被覆される。このセラミック本
体1の中央の窪みには半導体チップ2が固着金属層には
んだ付けされている。更に、この半導体チップ2が搭載
された窪みの周囲を囲む平面に形成された配線8とこの
配線に対応する半導体チップ上の電極パッドとはワイヤ
ボンディング装置によりボンディングワイヤ5で接続さ
れている。外部回路と接続される外部リード6はセラミ
ック本体1の配線8の固着用金属層と連なる側面の固着
金属層にはんだ付けされている。蓋3は固着金属層に接
合された金属シールリング4でセラミック本体1に溶接
される。
は焼成後に金めつき層で被覆される。このセラミック本
体1の中央の窪みには半導体チップ2が固着金属層には
んだ付けされている。更に、この半導体チップ2が搭載
された窪みの周囲を囲む平面に形成された配線8とこの
配線に対応する半導体チップ上の電極パッドとはワイヤ
ボンディング装置によりボンディングワイヤ5で接続さ
れている。外部回路と接続される外部リード6はセラミ
ック本体1の配線8の固着用金属層と連なる側面の固着
金属層にはんだ付けされている。蓋3は固着金属層に接
合された金属シールリング4でセラミック本体1に溶接
される。
上述した従来のセラミックパッケージは、半導体チップ
の電極パッドの面とセラミック本体を塞ぐ蓋の接合面と
の高さの差と、電極パッドと配線との水平方向の距離と
の比が大きく、このため製造上程々の問題が発生する。
の電極パッドの面とセラミック本体を塞ぐ蓋の接合面と
の高さの差と、電極パッドと配線との水平方向の距離と
の比が大きく、このため製造上程々の問題が発生する。
第4図はワイヤボンディング装置のボンディングツール
と半導体集積回路装置との相対位置を示す半導体集積回
路装置の部分断面図である。同図に示すように、この半
導体集積回路装置の半導体チップ2の電極パッド7とを
ボンディングワイヤ5で接続する際に、ボンディングワ
イヤ5が金属シールリング4の角部9に引掛かり、ボン
ディングワイヤ5がボンディングツール10より抜ける
という問題がある。特に、ワイヤボンディング装置のボ
ンディングツールが超音波振動子と接続されている場合
は、ボンディングツールの先端にボンディングワイヤの
ボールを作らないので、ボンディングワイヤが抜けやす
い。このようにボンディングワイヤが抜けると、製造中
断になり多大な工数を浪費するという問題が起きる。
と半導体集積回路装置との相対位置を示す半導体集積回
路装置の部分断面図である。同図に示すように、この半
導体集積回路装置の半導体チップ2の電極パッド7とを
ボンディングワイヤ5で接続する際に、ボンディングワ
イヤ5が金属シールリング4の角部9に引掛かり、ボン
ディングワイヤ5がボンディングツール10より抜ける
という問題がある。特に、ワイヤボンディング装置のボ
ンディングツールが超音波振動子と接続されている場合
は、ボンディングツールの先端にボンディングワイヤの
ボールを作らないので、ボンディングワイヤが抜けやす
い。このようにボンディングワイヤが抜けると、製造中
断になり多大な工数を浪費するという問題が起きる。
本発明の目的は半導体チップの電極パッドとセラミック
本体の配線との接続が円滑に行われる構造を有する半導
体集積回路用セラミックパッケージを提供するこにある
。
本体の配線との接続が円滑に行われる構造を有する半導
体集積回路用セラミックパッケージを提供するこにある
。
本発明の半導体集積回路用セラミックパッケージは、半
導体集積回路が形成された半導体チップを載置する窪み
を有するとともに前記窪みの周囲を囲み前記半導体チッ
プの電極パッドと対応してボンディングワイヤで接続さ
れる配線が形成された第1の面と、前記第1の面を囲む
前記第1の面より高い第2の面に蓋を固着してなる半導
体集積回路用セラミックパッケージにおいて、前記第1
の面が前記半導体チップに向って降る傾斜面に形成され
たことを含んで構成される。
導体集積回路が形成された半導体チップを載置する窪み
を有するとともに前記窪みの周囲を囲み前記半導体チッ
プの電極パッドと対応してボンディングワイヤで接続さ
れる配線が形成された第1の面と、前記第1の面を囲む
前記第1の面より高い第2の面に蓋を固着してなる半導
体集積回路用セラミックパッケージにおいて、前記第1
の面が前記半導体チップに向って降る傾斜面に形成され
たことを含んで構成される。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す半導体集積回路装置の
断面図、第2図はワイヤボンディング装置のボンディン
グツールと半導体集積回路装置との相対位置を示す半導
体集積回路装置の部分断面図である。この半導体集積回
路装置のセラミック本体1の配線8が設けられた面が半
導体チップ2に向って降る傾斜をもつように形成されて
いる。それ以外の構造は従来例と同じである。
断面図、第2図はワイヤボンディング装置のボンディン
グツールと半導体集積回路装置との相対位置を示す半導
体集積回路装置の部分断面図である。この半導体集積回
路装置のセラミック本体1の配線8が設けられた面が半
導体チップ2に向って降る傾斜をもつように形成されて
いる。それ以外の構造は従来例と同じである。
この構造にしたことにより、第2図に示すように、配線
が配置された面が傾斜をもっているので、配線8にボン
ディングワイヤ5を接続する際は、まず、ボンディング
ツール10とこの面が垂直に押し付けられように、セラ
ミック本体1を積載するステージ(図示せず)を傾けて
、ボンディングツール10を配線8に押し付はボングワ
イヤ5を接続する。この接続の際に、ボンディングワイ
ヤ5は半導体チップ2の面に対して垂直に張られていて
、このセラミック本体1を傾けるこにより、金属シール
リング4に接触することはない。また、半導体チップ2
の電極パッド7にボンディングワイヤ5を接続する場合
にも、電極パッド2と金属シールリング4とは十分かけ
離れているのでボンディングワイヤ5は金属シールリン
グ4に接触することはない。
が配置された面が傾斜をもっているので、配線8にボン
ディングワイヤ5を接続する際は、まず、ボンディング
ツール10とこの面が垂直に押し付けられように、セラ
ミック本体1を積載するステージ(図示せず)を傾けて
、ボンディングツール10を配線8に押し付はボングワ
イヤ5を接続する。この接続の際に、ボンディングワイ
ヤ5は半導体チップ2の面に対して垂直に張られていて
、このセラミック本体1を傾けるこにより、金属シール
リング4に接触することはない。また、半導体チップ2
の電極パッド7にボンディングワイヤ5を接続する場合
にも、電極パッド2と金属シールリング4とは十分かけ
離れているのでボンディングワイヤ5は金属シールリン
グ4に接触することはない。
この実施例は配線を有する面が一段の場合について説明
したが、複数の階段の面をもつ場合でも同様にそれぞれ
の面に傾斜をもたせれば本発明の目的を得ることが出来
る。
したが、複数の階段の面をもつ場合でも同様にそれぞれ
の面に傾斜をもたせれば本発明の目的を得ることが出来
る。
以上説明したように本発明は、セラミックパッケージの
セラミック本体に、半導体チップに向って降る傾斜をも
つように配線が配置された面を形成したので、ワイヤボ
ンディング作業中にボンディングワイヤがセラミック本
体に接触することなく円滑に配線接続が出来る構造を有
する半導体集積回路用セラミックパッケージが得られる
という効果がある。
セラミック本体に、半導体チップに向って降る傾斜をも
つように配線が配置された面を形成したので、ワイヤボ
ンディング作業中にボンディングワイヤがセラミック本
体に接触することなく円滑に配線接続が出来る構造を有
する半導体集積回路用セラミックパッケージが得られる
という効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す半導体集積回路装置の
断面図、第2図はワイヤボンディング装置のボンディン
グツールと半導体集積回路装置との相対位置を示す半導
体集積回路装置の部分断面図、第3図は従来の半導体集
積回路装置の断面図、第4図はワイヤボンディング装置
のボンディングツールと半導体集積回路装置との相対位
置を示す半導体集積回路装置の部分断面図である。 1・・・セラミック本体、2・・・半導体チップ、3・
・・蓋、4・・・金属シールリング、5・・・ボンディ
ングワイヤ、6・・・外部リード、7・・・電極パッド
、8・・・配線、9・・・角部、10.10a・・・ボ
ンディングツール。
断面図、第2図はワイヤボンディング装置のボンディン
グツールと半導体集積回路装置との相対位置を示す半導
体集積回路装置の部分断面図、第3図は従来の半導体集
積回路装置の断面図、第4図はワイヤボンディング装置
のボンディングツールと半導体集積回路装置との相対位
置を示す半導体集積回路装置の部分断面図である。 1・・・セラミック本体、2・・・半導体チップ、3・
・・蓋、4・・・金属シールリング、5・・・ボンディ
ングワイヤ、6・・・外部リード、7・・・電極パッド
、8・・・配線、9・・・角部、10.10a・・・ボ
ンディングツール。
Claims (1)
- 半導体集積回路が形成された半導体チップを載置する窪
みを有するとともに前記窪みの周囲を囲み前記半導体チ
ップの電極パッドと対応してボンディングワイヤで接続
される配線が形成された第1の面と、前記第1の面を囲
む前記第1の面より高い第2の面に蓋を固着してなる半
導体集積回路用セラミックパッケージにおいて、前記第
1の面が前記半導体チップに向って降る傾斜面に形成さ
れたことを特徴とする半導体集積回路用セラミックパッ
ケージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63164322A JPH0212933A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 半導体集積回路用セラミックパッケージ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63164322A JPH0212933A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 半導体集積回路用セラミックパッケージ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0212933A true JPH0212933A (ja) | 1990-01-17 |
Family
ID=15790957
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63164322A Pending JPH0212933A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 半導体集積回路用セラミックパッケージ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0212933A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996003020A1 (en) * | 1994-07-19 | 1996-02-01 | Olin Corporation | Integrally bumped electronic package components |
| US9406576B2 (en) | 2012-11-19 | 2016-08-02 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device |
-
1988
- 1988-06-30 JP JP63164322A patent/JPH0212933A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996003020A1 (en) * | 1994-07-19 | 1996-02-01 | Olin Corporation | Integrally bumped electronic package components |
| US5629835A (en) * | 1994-07-19 | 1997-05-13 | Olin Corporation | Metal ball grid array package with improved thermal conductivity |
| US9406576B2 (en) | 2012-11-19 | 2016-08-02 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device |
| JP6024759B2 (ja) * | 2012-11-19 | 2016-11-16 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
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