JPH02152241A - 集積回路装置 - Google Patents
集積回路装置Info
- Publication number
- JPH02152241A JPH02152241A JP63306395A JP30639588A JPH02152241A JP H02152241 A JPH02152241 A JP H02152241A JP 63306395 A JP63306395 A JP 63306395A JP 30639588 A JP30639588 A JP 30639588A JP H02152241 A JPH02152241 A JP H02152241A
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- JP
- Japan
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- integrated circuit
- circuit device
- electrode
- collector
- layer
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 11
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
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Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Bipolar Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は集積回路装置に関し、特にトランジスター素子
のコレクタ抵抗を低減することを目的としたものである
。
のコレクタ抵抗を低減することを目的としたものである
。
従来、この種の集積回路装置は、埋込拡散層上にエピタ
キシャル層を有し、埋込拡散層から電極をとり出す時は
、エピタキシャル層を介して、埋込拡散層と同じ導電型
の不純物を埋込拡散層まで拡散し、この拡散層からAu
等の金属により電極をとり出す構造となっていた。
キシャル層を有し、埋込拡散層から電極をとり出す時は
、エピタキシャル層を介して、埋込拡散層と同じ導電型
の不純物を埋込拡散層まで拡散し、この拡散層からAu
等の金属により電極をとり出す構造となっていた。
上述した従来の集積回路装置は埋込拡散層とコレクタ電
極の間に拡散層を有するため、この拡散層の抵抗成分が
無視できないという欠点がある。
極の間に拡散層を有するため、この拡散層の抵抗成分が
無視できないという欠点がある。
本発明の集積回路装置は、埋込拡散層に直接A1等金属
の電極が接続されたコレクタ電極を有している。
の電極が接続されたコレクタ電極を有している。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の断面図である。集積回路装
置内のNPN)ランジスタに適用した例である。P型基
板1にn+埋込層2を形成した後、エピタキシャル層3
を成長させる。ベース5を形成した後、コレクタ電極1
0となる部分をSfエツチングする。このエツチングは
n+埋込層2のところまで行なう。次に酸化等により絶
縁物7′を形成し、n+埋込層2と接する部分の絶縁物
を除去する。次にエミッタ6を形成する。この時同時に
コレクタコンタクト(n”)4も形成される。その後、
蒸着等の方法によりコレクタ電極110′を形成し最後
にベース電極、エミッタ電、極、コレクタ電極II
10を形成する。第2図は本発明の他の実施例2の断面
図である。集積回路装置内の縦型PNP )ランジスタ
のコレクタ電極に適用した例である。構成については実
施例1のNPNトランジスタと重複するため省略する。
置内のNPN)ランジスタに適用した例である。P型基
板1にn+埋込層2を形成した後、エピタキシャル層3
を成長させる。ベース5を形成した後、コレクタ電極1
0となる部分をSfエツチングする。このエツチングは
n+埋込層2のところまで行なう。次に酸化等により絶
縁物7′を形成し、n+埋込層2と接する部分の絶縁物
を除去する。次にエミッタ6を形成する。この時同時に
コレクタコンタクト(n”)4も形成される。その後、
蒸着等の方法によりコレクタ電極110′を形成し最後
にベース電極、エミッタ電、極、コレクタ電極II
10を形成する。第2図は本発明の他の実施例2の断面
図である。集積回路装置内の縦型PNP )ランジスタ
のコレクタ電極に適用した例である。構成については実
施例1のNPNトランジスタと重複するため省略する。
以上説明したように本発明は直接AA等の金属により電
極を引き出す事によって、コレクタ電極■直下の抵抗を
大幅に低減できる効果がある。例えば、コレクタ引き出
し拡散層は通常10Ω/口の層抵抗であり、コレクタ電
極■にA4を使った場合20mΩ/口の層抵抗である。
極を引き出す事によって、コレクタ電極■直下の抵抗を
大幅に低減できる効果がある。例えば、コレクタ引き出
し拡散層は通常10Ω/口の層抵抗であり、コレクタ電
極■にA4を使った場合20mΩ/口の層抵抗である。
このことから本発明の場合、コレクタ電極■直下の抵抗
は従来の17500に低減できる効果がある。
は従来の17500に低減できる効果がある。
第1図は本発明の実施例1の断面図、第2図は本発明の
実施例2の断面図である。 1・・・・・・P型基板、2・・・・・・n+埋込層、
3・・・・・・エピタキシャル層、4・・・・・・コレ
クタコンタクト(口゛)、訃・・・・・ベース、6・・
・・・・エミッタ、7・・・・・・絶縁物、7′・・・
・・・絶縁物、8・・・・・・ベース電極、9・・・・
・・エミッタ電極、1o・・・・・・コレクタ電極n、
10’ ・・・・・・コレクタ電極■、11・・・・・
・P+埋込層、12・・・・・・コレクタコンタクト(
P”)、13・・・・・・エミッタ、14・・・・・・
ベース、15・・・・・・エミッタ’[116・・・・
・・ベース電極、17・・・・・・コレクタ引き出し拡
散層、18・・・・・・コレクタコンタクト拡散層。 代理人 弁理士 内 原 晋
実施例2の断面図である。 1・・・・・・P型基板、2・・・・・・n+埋込層、
3・・・・・・エピタキシャル層、4・・・・・・コレ
クタコンタクト(口゛)、訃・・・・・ベース、6・・
・・・・エミッタ、7・・・・・・絶縁物、7′・・・
・・・絶縁物、8・・・・・・ベース電極、9・・・・
・・エミッタ電極、1o・・・・・・コレクタ電極n、
10’ ・・・・・・コレクタ電極■、11・・・・・
・P+埋込層、12・・・・・・コレクタコンタクト(
P”)、13・・・・・・エミッタ、14・・・・・・
ベース、15・・・・・・エミッタ’[116・・・・
・・ベース電極、17・・・・・・コレクタ引き出し拡
散層、18・・・・・・コレクタコンタクト拡散層。 代理人 弁理士 内 原 晋
Claims (1)
- 半導体層内に埋込領域を有し、この埋込に達する溝を前
記半導体層に有し、この溝を介して前記埋込領域に電極
が形成されていることを特徴とする集積回路装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63306395A JPH02152241A (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63306395A JPH02152241A (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 集積回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02152241A true JPH02152241A (ja) | 1990-06-12 |
Family
ID=17956501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63306395A Pending JPH02152241A (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02152241A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100832716B1 (ko) * | 2006-12-27 | 2008-05-28 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법 |
| KR101004801B1 (ko) * | 2002-12-26 | 2011-01-04 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 반도체 바이폴라 제조 방법 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5396766A (en) * | 1977-02-04 | 1978-08-24 | Nec Corp | Semiconductor device |
| JPS61265867A (ja) * | 1985-05-20 | 1986-11-25 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPS6386476A (ja) * | 1986-09-29 | 1988-04-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置の製造方法 |
| JPS63204649A (ja) * | 1987-02-19 | 1988-08-24 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPS63237471A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-03 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
-
1988
- 1988-12-02 JP JP63306395A patent/JPH02152241A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5396766A (en) * | 1977-02-04 | 1978-08-24 | Nec Corp | Semiconductor device |
| JPS61265867A (ja) * | 1985-05-20 | 1986-11-25 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPS6386476A (ja) * | 1986-09-29 | 1988-04-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置の製造方法 |
| JPS63204649A (ja) * | 1987-02-19 | 1988-08-24 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPS63237471A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-03 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101004801B1 (ko) * | 2002-12-26 | 2011-01-04 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 반도체 바이폴라 제조 방법 |
| KR100832716B1 (ko) * | 2006-12-27 | 2008-05-28 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법 |
| US7816763B2 (en) | 2006-12-27 | 2010-10-19 | Dongbu Hitek Co., Ltd. | BJT and method for fabricating the same |
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