JPH02152241A - 集積回路装置 - Google Patents

集積回路装置

Info

Publication number
JPH02152241A
JPH02152241A JP63306395A JP30639588A JPH02152241A JP H02152241 A JPH02152241 A JP H02152241A JP 63306395 A JP63306395 A JP 63306395A JP 30639588 A JP30639588 A JP 30639588A JP H02152241 A JPH02152241 A JP H02152241A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
circuit device
electrode
collector
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63306395A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisashi Funakoshi
久士 船越
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63306395A priority Critical patent/JPH02152241A/ja
Publication of JPH02152241A publication Critical patent/JPH02152241A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は集積回路装置に関し、特にトランジスター素子
のコレクタ抵抗を低減することを目的としたものである
〔従来の技術〕
従来、この種の集積回路装置は、埋込拡散層上にエピタ
キシャル層を有し、埋込拡散層から電極をとり出す時は
、エピタキシャル層を介して、埋込拡散層と同じ導電型
の不純物を埋込拡散層まで拡散し、この拡散層からAu
等の金属により電極をとり出す構造となっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の集積回路装置は埋込拡散層とコレクタ電
極の間に拡散層を有するため、この拡散層の抵抗成分が
無視できないという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の集積回路装置は、埋込拡散層に直接A1等金属
の電極が接続されたコレクタ電極を有している。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の断面図である。集積回路装
置内のNPN)ランジスタに適用した例である。P型基
板1にn+埋込層2を形成した後、エピタキシャル層3
を成長させる。ベース5を形成した後、コレクタ電極1
0となる部分をSfエツチングする。このエツチングは
n+埋込層2のところまで行なう。次に酸化等により絶
縁物7′を形成し、n+埋込層2と接する部分の絶縁物
を除去する。次にエミッタ6を形成する。この時同時に
コレクタコンタクト(n”)4も形成される。その後、
蒸着等の方法によりコレクタ電極110′を形成し最後
にベース電極、エミッタ電、極、コレクタ電極II  
10を形成する。第2図は本発明の他の実施例2の断面
図である。集積回路装置内の縦型PNP )ランジスタ
のコレクタ電極に適用した例である。構成については実
施例1のNPNトランジスタと重複するため省略する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は直接AA等の金属により電
極を引き出す事によって、コレクタ電極■直下の抵抗を
大幅に低減できる効果がある。例えば、コレクタ引き出
し拡散層は通常10Ω/口の層抵抗であり、コレクタ電
極■にA4を使った場合20mΩ/口の層抵抗である。
このことから本発明の場合、コレクタ電極■直下の抵抗
は従来の17500に低減できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例1の断面図、第2図は本発明の
実施例2の断面図である。 1・・・・・・P型基板、2・・・・・・n+埋込層、
3・・・・・・エピタキシャル層、4・・・・・・コレ
クタコンタクト(口゛)、訃・・・・・ベース、6・・
・・・・エミッタ、7・・・・・・絶縁物、7′・・・
・・・絶縁物、8・・・・・・ベース電極、9・・・・
・・エミッタ電極、1o・・・・・・コレクタ電極n、
10’ ・・・・・・コレクタ電極■、11・・・・・
・P+埋込層、12・・・・・・コレクタコンタクト(
P”)、13・・・・・・エミッタ、14・・・・・・
ベース、15・・・・・・エミッタ’[116・・・・
・・ベース電極、17・・・・・・コレクタ引き出し拡
散層、18・・・・・・コレクタコンタクト拡散層。 代理人 弁理士  内 原   晋

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体層内に埋込領域を有し、この埋込に達する溝を前
    記半導体層に有し、この溝を介して前記埋込領域に電極
    が形成されていることを特徴とする集積回路装置。
JP63306395A 1988-12-02 1988-12-02 集積回路装置 Pending JPH02152241A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63306395A JPH02152241A (ja) 1988-12-02 1988-12-02 集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63306395A JPH02152241A (ja) 1988-12-02 1988-12-02 集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02152241A true JPH02152241A (ja) 1990-06-12

Family

ID=17956501

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63306395A Pending JPH02152241A (ja) 1988-12-02 1988-12-02 集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02152241A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100832716B1 (ko) * 2006-12-27 2008-05-28 동부일렉트로닉스 주식회사 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법
KR101004801B1 (ko) * 2002-12-26 2011-01-04 매그나칩 반도체 유한회사 반도체 바이폴라 제조 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5396766A (en) * 1977-02-04 1978-08-24 Nec Corp Semiconductor device
JPS61265867A (ja) * 1985-05-20 1986-11-25 Nec Corp 半導体装置
JPS6386476A (ja) * 1986-09-29 1988-04-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置の製造方法
JPS63204649A (ja) * 1987-02-19 1988-08-24 Nec Corp 半導体装置
JPS63237471A (ja) * 1987-03-26 1988-10-03 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5396766A (en) * 1977-02-04 1978-08-24 Nec Corp Semiconductor device
JPS61265867A (ja) * 1985-05-20 1986-11-25 Nec Corp 半導体装置
JPS6386476A (ja) * 1986-09-29 1988-04-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置の製造方法
JPS63204649A (ja) * 1987-02-19 1988-08-24 Nec Corp 半導体装置
JPS63237471A (ja) * 1987-03-26 1988-10-03 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101004801B1 (ko) * 2002-12-26 2011-01-04 매그나칩 반도체 유한회사 반도체 바이폴라 제조 방법
KR100832716B1 (ko) * 2006-12-27 2008-05-28 동부일렉트로닉스 주식회사 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법
US7816763B2 (en) 2006-12-27 2010-10-19 Dongbu Hitek Co., Ltd. BJT and method for fabricating the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02152241A (ja) 集積回路装置
JPH01123440A (ja) 半導体装置
JPS63204649A (ja) 半導体装置
JPS5882562A (ja) 半導体装置
JPH027527A (ja) トランジスター
JPS63185063A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS6116569A (ja) 半導体集積回路装置
JPS5869942U (ja) 半導体装置
JPS58111953U (ja) バイポ−ラ保護回路
JPH0766218A (ja) バイポーラトランジスタ及びその製造方法
JPS58168149U (ja) トランジスタ
JPS59101449U (ja) 半導体装置
JPS63108774A (ja) 半導体装置
JPS6068627A (ja) 半導体集積回路装置
JPS62190861A (ja) 半導体装置
JPH0396268A (ja) 半導体集積回路装置
JPS60194562A (ja) 半導体集積回路装置
JPH02205075A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0567624A (ja) 半導体装置
JPH04275432A (ja) 半導体装置
JPS63177466A (ja) 半導体装置
JPS58158960A (ja) 半導体集積回路装置
JPS60261170A (ja) 半導体スイツチ
JPH08125132A (ja) 半導体装置
JPS6016562U (ja) シヨツトキ障壁形半導体装置