JPH02265867A

JPH02265867A - パッケージの異常部検出方法

Info

Publication number: JPH02265867A
Application number: JP1085497A
Authority: JP
Inventors: Kenichi Inada; 稲田　健一; Tetsuji Masai; 哲司正井
Original assignee: Murata Machinery Ltd
Current assignee: Murata Machinery Ltd
Priority date: 1989-04-04
Filing date: 1989-04-04
Publication date: 1990-10-30
Also published as: IT9047819A1; IT1239626B; DE4010884A1; US5138151A; IT9047819A0; DE4010884C3; DE4010884C2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は巻糸機で生産された巻糸パッケージの検査方法
に関し、特に糸の一部がパブケージ端面から綾外れした
綾落ちパッケージの如き異常部を検査すう方法に関する
。

〔従来の技術〕

近年紡績工場では、ワイングーで巻き上がったパッケー
ジの搬送及び梱包の自動化が実現されているが、この工
程上で欠かせないパッケージの品質検査だけは、目視検
査に頼っているのが現状である。

現在、紡績工場で行われている検査の項目は、（１）パ
ンチ巻有無、（２）綾落ち、（３）品種混合、（４）重
量、（５）段巻き・菊巻き、（６）リボン巻きなどで、
これらは工場によっても種々検査内容を異にする。

従来、この検査は、ワイングーで巻き上げられたパッケ
ージを自動梱包ロボットへ搬送するまでのパッケージ搬
送コンベア上で行われ、目視などで不良とされた不良パ
ッケージは、搬送コンベア上から払出され、検査に合格
したパッケージのみ自動梱包ロボットに搬送するように
している。

上記のような目視による検査には限界があり、このため
、光学的手段によって上記各種検査を自動化す装置が種
々提案されている。

出願人も先に、特開昭６２−６２９３８号公報、特開昭
６３−１３５５３２号公報に開示した自動検査方法、装
置等を提案している。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記検査方法によっても、特に綾落ちした５１本の糸を
検出するのに検出ミスがあり、未だ十分な信頼性が得ら
れていない。

特に、綾落ちがコーンパッケージの大径側に生じた場合
には、綾落ちした糸は糸層端面の表面に接した状態とな
る。即ち小径側の綾落ちした糸は糸層端面の表面から浮
上がる状態となり、この場合は光による影が糸層表面に
表われるため、従来装置である程度の綾落ちは検出でき
ていた。

しかしながら上記大径側の綾落ち糸は影が出ないため従
来装置では検出ミスを生じることがあった。

また、小径側で生じた綾落ちは解じょの際は糸は小径側
の方向に解じょされるため実質上の問題はｔいが、大径
側で生じたＩｎ落ちは糸屑じょ時に糸切れを招く原因と
なる。

従って本発明は上記問題点を解決することを目的とし、
特にコーンパッケージの大径側の綾落ちの検出に効果的
な検出方法を提供するが勿論、小径側の綾落ちあるいは
段巻等の糸層表面に生じる微少な凸凹をも検出できる方
法を提供するものである。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、パッケージ表面に対して、糸層表面と略平行
な光軸を有する光線を照射し、糸層表面上の異常糸に反
射した光を受光する受光素子を上記反射光が最大となる
位置に設けて異常糸を検出するようにしたものである。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面に従って説明する。

第１図はパッケージの表面検査装置の一例を示す。

第１図において、（１）はワイングー（図示せず）で巻
き上げられたパッケージ（Ｐ）を移送する搬送ベルトコ
ンベアなどの搬送ラインであり、パッケージ（Ｐ）はト
レイ　（２）に挿着されて移送される。この搬送ライン
（１）に検査ボックス３が配置される。

検査ボックス（３）は、搬送ライン（１）を挿通すると
共に、そのライン（１）上のｔ４ッケージ（Ｐ）を通す
出入口（４）が形成され、その出入口に観音開きの開閉
扉（５）が設けられる。この検査ボックス（３）は開閉
Ｒ（５）が閉のとき、その内が暗室となり、その内のパ
ッケージ（Ｐ）の各不良項目を可視光線や紫外線など種
々の光を用いて検査するための検出手段（６）が設けら
れる。

この検出手段（６）は、例えばパッケージ（Ｐ）の表面
に紫外線を当てて、その品種混合を検出するための品種
混合カメラ（６ａ）、可視光線で段巻きを検出するカメ
ラ（６ｂ）、光源から光を照射し、その反射光から綾落
ちの有無を検出するカメラ（６Ｃ）などが設けられる。

また、この他トレイ　（２）ごとノくツケージ（Ｐ）の
重量を検出する重量検出手段や段巻き・菊巻き或いはリ
ボン巻きなどをも検出する検出手段が適宜設けられてい
る。また検査ボックス（３）内の搬送ライン（１）上に
はトレイ　（２）の外周と当接し、そのトレイ　（２）
を介してパッケージ（Ｐ）を回転させて、そのパッケー
ジ（Ｐ）の全周の不良個所を検出するためのガイドロー
ラ（９）。

（９）と駆動ローラ（１０）とが設けられる。

この検査ボックス（３）の出口側の搬送ライン（１）に
は、その搬送ライン（１）と直交して払出コンベアなど
の払出ライン（１１）が設けられ、その搬送ライン（１
）と払出ライン（１１）間に不良のパッケージ（Ｐ）を
搬送ライン（１）から払出ライン（１１）に移すための
回動レバー（１２）などからなる払出手＆　（１３）が
設けられる。

この払出手段（１３）は制御手段（１４）からの不良排
除信号（１５）にて駆動される。

制御手段（１４）は、検査手段（６）で検出したパッケ
ージ（Ｐ）の各種不良信号（１６）が入力され、その不
良信号（１６）が人力されたとき検査ボックス（３）か
ら出た不良のパッケージ（Ｐ）を払出ライン（１１）に
払出すべく払出手段（１３）に不良排除信号（１５）を
出力するようになっている。

次に、大径側の綾落ちを検出する方法について、第２図
〜第５図において説明する。

トレイ　（２）に挿着されたパッケージＣＰ）の大径側
端面の糸層表面（Ｐａ）の半径線上の検出エリア（１７
）に対して略直角方向から光線（１８）を照射する光源
（７）が設けられる。上記光Ｒ（７）はスリット（１９
）を有し、該スリットから照射される略平行光線（１８
）の糸層表面（Ｐａ）とのなす角〈第５図θ）ができる
限り小さくなるように設けられる。上記角度（θ）は綾
落ちした糸（Ｙ）に照射して反射する反射光量が大きく
なるように可及的に小さく設定され、装置の構成上、あ
るいはパッケージ形状によって最適位置に設けられる。

さらに受光部にはＣＣＤ等の受光素子を有するカメラ（
６Ｃ）が、第４図の如く綾落ちした糸に反射して得られ
る反射光（２１）の最大反射光を入射できる位置に設け
られる。

第４図の如く、上記実施例の場合、照射光の光軸（２１
）と平面的にみて略９０°となる位置にカメラの入射光
軸が位置するように設置される。なお、第４図、第５図
において示した直線（Ｙ）は綾落ちした一本の糸を意味
し該直線（Ｙ）は必ずパッケージの軸心を中心とするあ
る半径の円弧の接線上に生じる。

このような装置によると、第６図〜第８図のように、パ
ッケージを矢印（２０）方向にゆっ（す１回転させ、矢
印（１８）を照射光の方向、（６Ｃ）を受光カメラ、破
線のわく（１７）を検出エリアとすると、稜落ちした糸
（Ｙ）の一端（Ａ）と他端（Ｂ）が第６図のような状態
では、綾落ち糸（Ｙ）による反射光が大きく、カメラで
得られる検出エリアの光情報レベルの一部が突出する如
くなる。

パッケージをさらに回転させると、第７図のように綾落
ち糸（Ｙ）と照射光（１８）の光軸が平行になる状態で
は綾落ち糸による反射光は生じず、照射光はそのまま通
過する。この時は光量レベルには突出部が生じない。さ
らにパッケージを回転させ、綾落ち糸（Ｙ）が第８図の
状態になると、糸（Ｙ）に照射される光の反射光（２１
ａ）はカメラ（６Ｃ）と反対側に反射し、やはり光量レ
ベルに突出部が生じず、逆に薄い影として逆にやや突出
したレベルが得られる。

上記の装置で光情報は、例えば第９図の光情報の処理・
分＋ｆｒ装置（３０）によって分析されて綾落ちが検出
される。

即ち、撮像素子（３１）で得られるパッケージの半径線
上の光情報はフィルター（３２）サンプルホールド回路
（３３）、自動利得制御回路（３４）、増幅器（３５）
を経て、さらにアナログ・デジタル変換器（３６）によ
りデジタル信号として、分析装置（３７）に入力される
。

上記デジタル信号は、差分回路（３８）により差分処理
が施され、第１Ｏ図に示す信号線（β１）〜（ｉｎ）が
得られる。各１本の線は１走査分で、図の場合はパッケ
ージの１回転中、６０回走査した場合である。

このようなグラフ化したものは人間の目で見れば特ｗｋ
部分（Ｆ）が認識でき、綾落ちが発生していることが大
略判断できるが、判定を自動化する場合はさらに信号の
処理が必要である。

即ち、上記差分処理された信号は２値化回路（３９）に
より「０」　「１」の信号に変化し、設定レベル以下の
微少な信号は削除され、さらに圧縮回路（４０）により
撮像素子（３１）の走査方向に圧縮され、データの間引
きが行われ、処理スピードの高速化を促進する。第１０
図の信号線を２筺化後、圧縮した信号が第１１図に示さ
れる。

即ち、各走査ラインの信号が「０」　「１」で表され、
一つのブロック（Ｂ１）がある走査ライン上に表れる反
射光量レベルが設定レベルより大きい位置を示すのであ
る。従って、中央部分に斜めに表れたブロックの連り部
分（Ｆｌ）が綾落ち糸によるものと目視で大略判断でき
る。

さらに自動判定のために、さらに、第９図の特徴抽出回
路（４１）に第１０図示の信号が人力され、所定の処理
方式に従って演算処理され、不要部分が抹消される。即
ち、本実施例の場合は、１単位ブロックの斜め上下方向
に他のブロックが有るかないかの判断を全てのブロック
についである演算式により演算すると、第１２図の如き
特徴部分（Ｆ２）のみが抽出されたデータが得られるの
である。

この結果、当該パッケージには綾落ちが生じていると判
定（第９図（４２＞）Ｌ、不良パッケージ信号が出力（
４３）され、プリントアウト（４４）、画面表示（４５
）等で表示され、あるいは上記不良パッケージ信号に基
づいてパッケージ払出し信号が出力され、第１図の回動
レバー（１２）が作動し、正常パッケージと不良パッケ
ージが選別移送される。

なお、上記第１２図の唆落ちを表す特徴部分（Ｆ２）は
、ｊｌ！６〜８図で示したように実際の綾落ち糸（Ｙ）
の半分の長さが特徴部分として表れたものである。また
、第１２図の他の部分（ｆ　ｌ）　　（ｆ　ｉ）は綾落
ちではないが、糸層表面に生じた凹凸部あるいはゴミ等
の付着物によるもので、連続ブロックの数が設定値以下
であるので、不良パッケージの判断要因から除外される
。

〔発明の効果〕

以上のように、本発明では、パッケージ端面に表れる欠
陥部を極めて明確に検出できるので、１本の糸が綾落ち
しているような欠陥が確実に検出できるようになった。

【図面の簡単な説明】

第１図はパッケージ検査装置の一例を示す概略構成斜視
図、第２図は本発明方法を実施するための装置を示す正
面図、第３図は同側面図、第４図は同平面図、第５図は
要部拡大図、第６図〜第８図は稜落糸と反射光の関係を
示す模式説明図、第９図は上記装置によって得られる光
信号の処理・分析装置の一例を示すブロック図、第１０
図は同装置による差分処理後の線図、第１１図は２値化
圧縮処理後のデータ図、第１２図は特徴抽出後のデータ
図である。（６）・・・カメラ　（７）・・・光源（１８）・・照
射光（２１）・・反射光（３０）・・処理・分析装置（Ｐ）　　・・・パッケージ

Claims

【特許請求の範囲】パッケージ表面に対して、糸層表面と略平行な光軸を有する光線を照射し、糸層表面上の異常糸に
直接照射された光の反射光を受光し、該受光した光情報
を処理・分析してパッケージ端面の欠陥を検出すること
を特徴とするパッケージの異常部検出方法。