JPH02303060A - 混成集積回路装置 - Google Patents
混成集積回路装置Info
- Publication number
- JPH02303060A JPH02303060A JP1123902A JP12390289A JPH02303060A JP H02303060 A JPH02303060 A JP H02303060A JP 1123902 A JP1123902 A JP 1123902A JP 12390289 A JP12390289 A JP 12390289A JP H02303060 A JPH02303060 A JP H02303060A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- substrate
- microcomputer
- socket
- hybrid integrated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
Landscapes
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は集積回路基板に樹脂封止型の不揮発性メモリ、
例えばEFROM(紫外線消去形プログラマブル・リー
ド・オンリ・メモリー)を実装してなるEFROM内蔵
型の混成集積回路装置に関する。
例えばEFROM(紫外線消去形プログラマブル・リー
ド・オンリ・メモリー)を実装してなるEFROM内蔵
型の混成集積回路装置に関する。
(ロ)従来の技術
紫外線を照射することによって既に書込まれた記憶情報
を消去し、再書込みが可能な紫外線照射窓を有するEP
ROM素子は、各種電子機器に好んで用いられている。
を消去し、再書込みが可能な紫外線照射窓を有するEP
ROM素子は、各種電子機器に好んで用いられている。
このEPROM素子は、制御用或は駆動用集積回路と共
に現在、その殆んどがプリント配線板に実装されており
、一旦書込んだ情報をその後書き直すために通常、着脱
容易なプリント配線板に実装されている。各種電子機器
で小型軽量化が要求される機器は、チップ・オン・ボー
ドと称される技法によってプリント配線板に半導体集積
回路(IC)チップが直接搭載され、所要の配線が施さ
れた後この配線部分を含んで前記ICチップが合成樹脂
によって被覆され、極めて小形軽量化が達成されている
。
に現在、その殆んどがプリント配線板に実装されており
、一旦書込んだ情報をその後書き直すために通常、着脱
容易なプリント配線板に実装されている。各種電子機器
で小型軽量化が要求される機器は、チップ・オン・ボー
ドと称される技法によってプリント配線板に半導体集積
回路(IC)チップが直接搭載され、所要の配線が施さ
れた後この配線部分を含んで前記ICチップが合成樹脂
によって被覆され、極めて小形軽量化が達成されている
。
一方紫外線照射窓を必要と、するEPROMチップは、
この照射窓がネックとなり未だサーディツプ型パッケー
ジに組込まれて製造され、プリント配線板に実装されて
いるため小型軽量化が図れない。
この照射窓がネックとなり未だサーディツプ型パッケー
ジに組込まれて製造され、プリント配線板に実装されて
いるため小型軽量化が図れない。
かかる従来のEPROM素子の実装構造を第14図に従
って説明すると、第14図は従来のEPROM素子の一
部断面を有する斜視図であって、主表面上に導電性配線
パターン(41)が形成されたガラス・エポキシ樹脂な
どから構成された絶縁性基板(42)のスルーホール(
43)にサーディツプ型パッケージに組込まれEPRO
M素子(44)が搭載されている。このEPROM素子
(44)はヘッダー(45)およびキャップ(46)を
有し、前記ヘッダー(45)はセラミック基材(47)
に外部導出リード(48)か低融点ガラス材で接着され
ている。又このヘッダー(45)はガラスに金粉が多量
に混入したいわゆる金ペーストを焼結した素子搭載部(
50)が前記低融点ガラス材上或はセラミック基材(4
7)上に接着されており、この素子搭載部(50)にE
PROM°チップ(51)が紫外線照射面を上にして装
着され、このチップ(51)の電極と前記外部導出リー
ド(48)とが金属線!(52)によって接続されてい
る。前記キャップ(46)は蓄部材であって、前記EP
ROMチップ(51)の紫外線照射面と対向する部分に
窓(53)を有するセラミック基材(54)を含み、こ
のキャップ(46)は低融点ガラスによってヘッダーく
45)に配置されたEPROMチップ(51)を密封し
ている。この様にEPROMチップ(51)を密封した
EPROM素子(44)は、前記絶縁性基板(42)の
スルーホール(43)に外部導出リード(48)を挿通
啓せ半田によって固定される。このスルーホール(43
)は導電性配線パターン(41)によって所要の配線引
回しが施され、前記絶縁性基板の端部に設けられた雄型
コネクタ端子部(55)から図示しない雌型コネクタへ
と接続される。
って説明すると、第14図は従来のEPROM素子の一
部断面を有する斜視図であって、主表面上に導電性配線
パターン(41)が形成されたガラス・エポキシ樹脂な
どから構成された絶縁性基板(42)のスルーホール(
43)にサーディツプ型パッケージに組込まれEPRO
M素子(44)が搭載されている。このEPROM素子
(44)はヘッダー(45)およびキャップ(46)を
有し、前記ヘッダー(45)はセラミック基材(47)
に外部導出リード(48)か低融点ガラス材で接着され
ている。又このヘッダー(45)はガラスに金粉が多量
に混入したいわゆる金ペーストを焼結した素子搭載部(
50)が前記低融点ガラス材上或はセラミック基材(4
7)上に接着されており、この素子搭載部(50)にE
PROM°チップ(51)が紫外線照射面を上にして装
着され、このチップ(51)の電極と前記外部導出リー
ド(48)とが金属線!(52)によって接続されてい
る。前記キャップ(46)は蓄部材であって、前記EP
ROMチップ(51)の紫外線照射面と対向する部分に
窓(53)を有するセラミック基材(54)を含み、こ
のキャップ(46)は低融点ガラスによってヘッダーく
45)に配置されたEPROMチップ(51)を密封し
ている。この様にEPROMチップ(51)を密封した
EPROM素子(44)は、前記絶縁性基板(42)の
スルーホール(43)に外部導出リード(48)を挿通
啓せ半田によって固定される。このスルーホール(43
)は導電性配線パターン(41)によって所要の配線引
回しが施され、前記絶縁性基板の端部に設けられた雄型
コネクタ端子部(55)から図示しない雌型コネクタへ
と接続される。
さて、かかる従来のEPROM素子の実装構造は、EP
ROMチップ(51)に比ベパッケージ外形が極めて大
きく、平面占有率もさることながら三次元、つまり高さ
もチップの高さの数倍となり、薄型化に極めて不利であ
る。更にスルーホール(43)に外部導出リードを挿通
した後、半田などで固定する必要も生ずる。更に特筆す
べき大きな欠点は、絶縁性基板への実装に先立ってEP
ROM素子を一部パッケージに組立てることである。E
PROM素子は紫外a照射用の窓を有するが故、そのパ
ッケージは、セラミックスを基材としたサーディツプ型
パッケージに組立てられるが、このパッケージは低融点
ガラスにより封止される為、高温(400〜500℃)
シールとなり、EPROMチップの電極(アルミニウム
)と外部導出リードとを接続する金属細線を同種材料で
構成しないとアロイ化が起り配!l抵抗の増加を来した
り、断線を生じたりする。この様な事態を回避する目的
で通常アルミニウム細線が用いられるが、このEPRO
Mチップはサブストレートを接地電位にする必要上、E
P RO’Mチップの接地電極を金ペーストで形成さ
れたチップ搭載部とワイヤ接続する。ここに於ても金ペ
ースト中の金或はおよび箔等の金属と前記アルミニウム
とで二次或は多元合金反応が進むことから、グランドダ
イスと呼ばれる頭部にアルミニウムが被着されたシリコ
ン小片をEPROMチップと別個に前記金ペーストより
成るチップ搭載部に固着させ、このグランドダイス頭部
とEPROMチップの接地電極とを接続するという極め
て煩雑な作業を伴う等、従来の実装構造は、小型、軽量
、低価格のいずれも不満足なものである。
ROMチップ(51)に比ベパッケージ外形が極めて大
きく、平面占有率もさることながら三次元、つまり高さ
もチップの高さの数倍となり、薄型化に極めて不利であ
る。更にスルーホール(43)に外部導出リードを挿通
した後、半田などで固定する必要も生ずる。更に特筆す
べき大きな欠点は、絶縁性基板への実装に先立ってEP
ROM素子を一部パッケージに組立てることである。E
PROM素子は紫外a照射用の窓を有するが故、そのパ
ッケージは、セラミックスを基材としたサーディツプ型
パッケージに組立てられるが、このパッケージは低融点
ガラスにより封止される為、高温(400〜500℃)
シールとなり、EPROMチップの電極(アルミニウム
)と外部導出リードとを接続する金属細線を同種材料で
構成しないとアロイ化が起り配!l抵抗の増加を来した
り、断線を生じたりする。この様な事態を回避する目的
で通常アルミニウム細線が用いられるが、このEPRO
Mチップはサブストレートを接地電位にする必要上、E
P RO’Mチップの接地電極を金ペーストで形成さ
れたチップ搭載部とワイヤ接続する。ここに於ても金ペ
ースト中の金或はおよび箔等の金属と前記アルミニウム
とで二次或は多元合金反応が進むことから、グランドダ
イスと呼ばれる頭部にアルミニウムが被着されたシリコ
ン小片をEPROMチップと別個に前記金ペーストより
成るチップ搭載部に固着させ、このグランドダイス頭部
とEPROMチップの接地電極とを接続するという極め
て煩雑な作業を伴う等、従来の実装構造は、小型、軽量
、低価格のいずれも不満足なものである。
斯る問題を解決するために第15図に示したEPROM
実装構造がある。
実装構造がある。
以下に第15図に示したEPROM実装構造について説
明する。
明する。
主表面(60a)に導電性配線パターン(60b)が形
成されたガラス・エポキシ樹脂板などの絶縁性基板(6
0)は、EPROMチップ(61)を載置するチップ搭
載エリヤ(60c)を有し、前記配線パターン(60b
)は、このエリヤ近傍から主表面(60a)上を引回さ
れて図示しない雄型コネクタ端子部に接続されている。
成されたガラス・エポキシ樹脂板などの絶縁性基板(6
0)は、EPROMチップ(61)を載置するチップ搭
載エリヤ(60c)を有し、前記配線パターン(60b
)は、このエリヤ近傍から主表面(60a)上を引回さ
れて図示しない雄型コネクタ端子部に接続されている。
前記エリヤ(60c)には、EPROMチップ(61)
が搭載され、このチップ(61)の表面電極と前記配線
パターン(60b)とが金属細線(62)により接続さ
れている。勿論金属細線(62)の1本は前記チップク
ロ1)のサブストレートと接続する為に、このチップ(
61)が搭載された配線パターン(60b)とワイヤリ
ングされている。前記EPROMチップ(61)の紫外
線照射面(61a)上には紫外線透過性樹脂(63)
(例えば東し社製、型名TX−978)を介して、紫外
線透過性窓材(64)が固着されている。この窓材(6
4)は、石英、透明アルミナ等、公知の紫外線透過性材
料である。そして、前記窓材(64)の頂部面(64a
)は、EPROMチップ<61)の紫外線照射面に光を
導入する面であるから、この頂部面(64a)を除いた
残余の窓材(64)部分と、金属細線(62)と、この
金属細線(62)と前記配線パターン(60b)との接
続部分とが合成樹脂(65)(例えば日東電工社製、型
名MP−10)で被覆されている。もし、絶縁性基板(
60)と、E P−ROMチップ(61)と窓材(64
)とを加えた総合厚さ寸法を更に低くする必要があれば
、前記基板(60)のチップ搭載エリヤ(60c)をザ
グリ穴としてこの基板(60)の厚さの半分程度握れば
良い、又この様なザグリ穴としておけば、合成樹脂(6
5)の流れ止めダムが形成され湿気などの浸入に対して
有効に作用する。
が搭載され、このチップ(61)の表面電極と前記配線
パターン(60b)とが金属細線(62)により接続さ
れている。勿論金属細線(62)の1本は前記チップク
ロ1)のサブストレートと接続する為に、このチップ(
61)が搭載された配線パターン(60b)とワイヤリ
ングされている。前記EPROMチップ(61)の紫外
線照射面(61a)上には紫外線透過性樹脂(63)
(例えば東し社製、型名TX−978)を介して、紫外
線透過性窓材(64)が固着されている。この窓材(6
4)は、石英、透明アルミナ等、公知の紫外線透過性材
料である。そして、前記窓材(64)の頂部面(64a
)は、EPROMチップ<61)の紫外線照射面に光を
導入する面であるから、この頂部面(64a)を除いた
残余の窓材(64)部分と、金属細線(62)と、この
金属細線(62)と前記配線パターン(60b)との接
続部分とが合成樹脂(65)(例えば日東電工社製、型
名MP−10)で被覆されている。もし、絶縁性基板(
60)と、E P−ROMチップ(61)と窓材(64
)とを加えた総合厚さ寸法を更に低くする必要があれば
、前記基板(60)のチップ搭載エリヤ(60c)をザ
グリ穴としてこの基板(60)の厚さの半分程度握れば
良い、又この様なザグリ穴としておけば、合成樹脂(6
5)の流れ止めダムが形成され湿気などの浸入に対して
有効に作用する。
第14図および第15図で示したEPROM実装構造は
特開昭60−83393号公報(HO5に1/18)に
記載されている。
特開昭60−83393号公報(HO5に1/18)に
記載されている。
(ハ)発明が解決しようとする課題
第15図で示したEPROM実装構造ではEFROMの
チップをプリント基板上にダイボンディングしているた
め、小型化となることはいうまでもない、しかしながら
、ここでいう小型化はあくまでEPROM自体の小型化
である。即し、第15図からは明らかにされていないが
EFROMの周辺に固着されているマイクロコンピュー
タおよびその周辺回路素子はディスクリート等の電子部
品で構成されているために、EFROMを搭載しタブリ
ント基板用の集積回路としてのシステム全体を見た場合
なんら小型化とはならず従来通りプリント基板の大型化
、即らシステム全体が大型化になる問題がある。更に第
1.5図に示したEFROM構造ではEFROMのプロ
グラムデータを消去する場合、プリント基板上に紫外線
を照射し消去した後、EFROMから延在された引回し
線の導電パターン上にプローブ等の書込み用の端子を当
接して再書込みを行わなければならず、従来の一般的な
ROMライターを使用することができずEFROMの再
書込みという点で煩雑となる問題がある。
チップをプリント基板上にダイボンディングしているた
め、小型化となることはいうまでもない、しかしながら
、ここでいう小型化はあくまでEPROM自体の小型化
である。即し、第15図からは明らかにされていないが
EFROMの周辺に固着されているマイクロコンピュー
タおよびその周辺回路素子はディスクリート等の電子部
品で構成されているために、EFROMを搭載しタブリ
ント基板用の集積回路としてのシステム全体を見た場合
なんら小型化とはならず従来通りプリント基板の大型化
、即らシステム全体が大型化になる問題がある。更に第
1.5図に示したEFROM構造ではEFROMのプロ
グラムデータを消去する場合、プリント基板上に紫外線
を照射し消去した後、EFROMから延在された引回し
線の導電パターン上にプローブ等の書込み用の端子を当
接して再書込みを行わなければならず、従来の一般的な
ROMライターを使用することができずEFROMの再
書込みという点で煩雑となる問題がある。
また、第14図に示したEPROM実装構造では消去後
の再書込みという点ではEFROMをプリント基板から
着脱することが可能であるために、一般的なROMライ
ターを用いての書込みが行えるために比較的容易に行え
る。しかしながら、第12図に示した実装構造において
も第14図と同様にEFROMの周辺の回路、即ち、マ
イクロコンピュータやその゛周辺LSI、IC等の回路
素子がディスクリート等の電子部品で構成されているた
め、プリント基板の大型化、即ちシステム全体が大型化
となりユーザが要求される軽薄短小のEPROM搭載の
集積回路を提供することができない大きな問題がある。
の再書込みという点ではEFROMをプリント基板から
着脱することが可能であるために、一般的なROMライ
ターを用いての書込みが行えるために比較的容易に行え
る。しかしながら、第12図に示した実装構造において
も第14図と同様にEFROMの周辺の回路、即ち、マ
イクロコンピュータやその゛周辺LSI、IC等の回路
素子がディスクリート等の電子部品で構成されているた
め、プリント基板の大型化、即ちシステム全体が大型化
となりユーザが要求される軽薄短小のEPROM搭載の
集積回路を提供することができない大きな問題がある。
更に第14図および第15図で示したEPROM実装構
造では、上述した様にシステム全体が大型化になると共
にEFROMおよびその周辺の回路素子を互いに接続す
る導電パターンが露出されているため信頼性が低下する
問題がある。
造では、上述した様にシステム全体が大型化になると共
にEFROMおよびその周辺の回路素子を互いに接続す
る導電パターンが露出されているため信頼性が低下する
問題がある。
更に第14図および第15図で示したEPROM実装構
造ではEFROMと、その周辺のマイクロコンピュータ
およびIC,LSI等の回路素子が露出されているため
、基板上面に凹凸が生じて取扱いにくく作業性が低下す
る問題がある。
造ではEFROMと、その周辺のマイクロコンピュータ
およびIC,LSI等の回路素子が露出されているため
、基板上面に凹凸が生じて取扱いにくく作業性が低下す
る問題がある。
り二)課題を解決するための手段
本発明は上述した課題に鑑みて為されたものであり、基
板の所定位置に孔を設け、その孔内に基板上に形成され
た導電路と接続されたソケットを固着し、そのソケット
にシングルインライン型の不揮発性メモリーを挿入して
不揮発性メモリーだけを露出する様に、マイクロコンピ
ュータおよび他の全ての回路素子を基板とケース材とで
形成された封止空間に封止する構造を特徴とする。
板の所定位置に孔を設け、その孔内に基板上に形成され
た導電路と接続されたソケットを固着し、そのソケット
にシングルインライン型の不揮発性メモリーを挿入して
不揮発性メモリーだけを露出する様に、マイクロコンピ
ュータおよび他の全ての回路素子を基板とケース材とで
形成された封止空間に封止する構造を特徴とする。
従ってEFROMを搭載した混成集積回路を小型化でし
かも高密度実装のEFROM内蔵の混成集積回路装置を
提供することができる。また、不揮発性メモリーは孔が
設けられた基板の露出面の孔内に固着されたソケットに
挿入されて実装されているため不揮発性メモリーの挿脱
が自由自在に行える。
かも高密度実装のEFROM内蔵の混成集積回路装置を
提供することができる。また、不揮発性メモリーは孔が
設けられた基板の露出面の孔内に固着されたソケットに
挿入されて実装されているため不揮発性メモリーの挿脱
が自由自在に行える。
(*)作用
この様に本発明に依れば、基板の所定位置に孔を設け、
その孔に固着させ基板上に形成された導電路と接続され
たソケットにシングルインライン型の不揮発性メモリー
を挿入して導電路との接続を行っているため、シングル
インライン型の不揮発性メモリーの載置位置を任意に設
定でき、内蔵するマイクロコンピュータとの電気的接続
を考慮して、効率良<EFROMとマイクロコンピュー
タとを接続することができ、信号線即ち導電路の引回し
線を不要にすることができる。
その孔に固着させ基板上に形成された導電路と接続され
たソケットにシングルインライン型の不揮発性メモリー
を挿入して導電路との接続を行っているため、シングル
インライン型の不揮発性メモリーの載置位置を任意に設
定でき、内蔵するマイクロコンピュータとの電気的接続
を考慮して、効率良<EFROMとマイクロコンピュー
タとを接続することができ、信号線即ち導電路の引回し
線を不要にすることができる。
更にEFROMの隣接する位置に最も関連の深いマイク
ロコンピュータを配置でき、EFROMとマイクロコン
ピュータ間のデータのやりとりを行うデータ線を最短距
離あるいは最小距離で実現でき、データ線の引回しによ
る実装密度のロスを最小限に抑制することになり、高密
度の実装が行える。
ロコンピュータを配置でき、EFROMとマイクロコン
ピュータ間のデータのやりとりを行うデータ線を最短距
離あるいは最小距離で実現でき、データ線の引回しによ
る実装密度のロスを最小限に抑制することになり、高密
度の実装が行える。
更に本発明では不揮発性メモリーだけが基板の所定位置
に設けた孔に固着されたソケットに挿入されて外部に露
出されており、他の全ての回路素子は基板とケース材で
形成された封止空間内に収納されているため小型化で高
密度実装の混成集積回路装置を提供することができる。
に設けた孔に固着されたソケットに挿入されて外部に露
出されており、他の全ての回路素子は基板とケース材で
形成された封止空間内に収納されているため小型化で高
密度実装の混成集積回路装置を提供することができる。
(へ)実施例
以下に第1図乃至第13図に示した実施例に基づいて本
発明の混成集積回路装置を詳細に説明する。
発明の混成集積回路装置を詳細に説明する。
第1図乃至第3図には、本発明の一実施例の混成集積回
路装置(1)が示されている。この混成集積回路装置(
1)は独立した電子部品として用いられコンピュータ等
の幅広い分野で機能を独立して有する集積回路として用
いられる。
路装置(1)が示されている。この混成集積回路装置(
1)は独立した電子部品として用いられコンピュータ等
の幅広い分野で機能を独立して有する集積回路として用
いられる。
この混成集積回路装置(1〉は第1図乃至第3図に示す
様に、集積回路基板り2)と、集積回路基板(2)の所
定位置に設けられた孔〈4〉と、集積回路基板(2)上
に形成された所望形状の導電路(5)と、孔(4)に固
着され導電路(5)と接続されたソケット(16)と、
ソケット(16)に挿入され導電路(5)と接続された
シングルインライン型樹脂モールドされた不揮発性メモ
リー(6)と、そのメモリー(6)からデータを供給さ
れたマイクロコンピュータ(7)およびその周辺の回路
素子(8)と、基板(2)と一体化するケース材(9)
とをから構成される。
様に、集積回路基板り2)と、集積回路基板(2)の所
定位置に設けられた孔〈4〉と、集積回路基板(2)上
に形成された所望形状の導電路(5)と、孔(4)に固
着され導電路(5)と接続されたソケット(16)と、
ソケット(16)に挿入され導電路(5)と接続された
シングルインライン型樹脂モールドされた不揮発性メモ
リー(6)と、そのメモリー(6)からデータを供給さ
れたマイクロコンピュータ(7)およびその周辺の回路
素子(8)と、基板(2)と一体化するケース材(9)
とをから構成される。
集積回路基板(2)はセラミックス、ガラスエポキシあ
るいは金属等の硬質基板が用いられ、本実施例では放熱
性および機械的強度に優れた金属基板を用いるものとす
る。
るいは金属等の硬質基板が用いられ、本実施例では放熱
性および機械的強度に優れた金属基板を用いるものとす
る。
金属基板としては例えば0.5〜1.0111!l厚の
アルミニウム基板を用いる。その基板(2)の表面には
第4図に示す如く、周知の陽極酸化により酸化アルミニ
ウム膜(9)(アルマイト層)が形成され、その−主面
側に10〜70μ厚のエポキシおよびポリイミド等の絶
縁樹脂層(10)が貼着される。更に絶縁樹脂層(10
)上には10〜70μ厚の銅箔(11)が絶縁樹脂層(
10)と同時にローラーあるいはホットプレス等の手段
により貼着されている。
アルミニウム基板を用いる。その基板(2)の表面には
第4図に示す如く、周知の陽極酸化により酸化アルミニ
ウム膜(9)(アルマイト層)が形成され、その−主面
側に10〜70μ厚のエポキシおよびポリイミド等の絶
縁樹脂層(10)が貼着される。更に絶縁樹脂層(10
)上には10〜70μ厚の銅箔(11)が絶縁樹脂層(
10)と同時にローラーあるいはホットプレス等の手段
により貼着されている。
基板(2)の−主面上に設けられた銅箔(11)表面上
にはスクリーン印刷によって所望形状の導電路を露出し
てレジストでマスクされ、貴金属(金、銀、白金)メッ
キ層が銅箔〈11)表面にメッキされる。然る後、レジ
ストを除去して貴金属メッキ層をマスクとして銅箔(1
1)のエツチングを行い所望の導電路(5)が形成され
る。ここでスクリーン印刷による導電路(5)の細さは
o、sunが限界であるため、極細配線パターンを必要
とするときは周知の写真蝕刻技術に依り約2μまでの極
細導電路(5)の形成が可能となる。
にはスクリーン印刷によって所望形状の導電路を露出し
てレジストでマスクされ、貴金属(金、銀、白金)メッ
キ層が銅箔〈11)表面にメッキされる。然る後、レジ
ストを除去して貴金属メッキ層をマスクとして銅箔(1
1)のエツチングを行い所望の導電路(5)が形成され
る。ここでスクリーン印刷による導電路(5)の細さは
o、sunが限界であるため、極細配線パターンを必要
とするときは周知の写真蝕刻技術に依り約2μまでの極
細導電路(5)の形成が可能となる。
基板(2)上の導電路(5)にはシングルインライン型
の不揮発性メモリー(6)とそのメモリー(6)からデ
ータを供給されるマイクロコンピュータ(7)およびそ
の周辺の回路素子<8)が搭載されている。
の不揮発性メモリー(6)とそのメモリー(6)からデ
ータを供給されるマイクロコンピュータ(7)およびそ
の周辺の回路素子<8)が搭載されている。
また基板(2)の−側辺あるいは対向する側辺周端部に
導電路(5)が延在され外部リード端子(12)を固着
するための複数のパッドが形成されている。
導電路(5)が延在され外部リード端子(12)を固着
するための複数のパッドが形成されている。
このパッドには外部リード端子(12)が半田によって
固着され、水平に導出されてその中央部分で略直角に折
曲られている。
固着され、水平に導出されてその中央部分で略直角に折
曲られている。
不揮発性メモリー<6)としてE P ROM (Er
as−able Programable Read
0nly Memory)が用いられる(以下不揮発性
メモリー(6)をEFROMという)、このE F R
OM(6)は周知の如く、EFROM(6)のペレット
に形成されているフローティングゲートに蓄積されてい
る電子(プログラム・データ)を光を照射して励起させ
て未記憶状態のベレットに戻し再書込みして利用できる
素子である。
as−able Programable Read
0nly Memory)が用いられる(以下不揮発性
メモリー(6)をEFROMという)、このE F R
OM(6)は周知の如く、EFROM(6)のペレット
に形成されているフローティングゲートに蓄積されてい
る電子(プログラム・データ)を光を照射して励起させ
て未記憶状態のベレットに戻し再書込みして利用できる
素子である。
一般的なEFROM<6)の構造は第5図および第6図
に示す様に5IP(シングル・イン・ライン)型であり
、大別すると樹脂モールド型パッケージタイプとセラミ
ックス型パッケージタイプとがある。樹脂モールド型あ
るいはセラミックス型のいずれのタイプにおいてもペレ
ット(14)のメモリーを消去するために光を照射する
必要があるため、ベレット(14)の上面にあたる部分
で樹脂モールドの側面にはエネルギーの高い光(紫外線
)を透過する透過部材〈15)が配置されている。
に示す様に5IP(シングル・イン・ライン)型であり
、大別すると樹脂モールド型パッケージタイプとセラミ
ックス型パッケージタイプとがある。樹脂モールド型あ
るいはセラミックス型のいずれのタイプにおいてもペレ
ット(14)のメモリーを消去するために光を照射する
必要があるため、ベレット(14)の上面にあたる部分
で樹脂モールドの側面にはエネルギーの高い光(紫外線
)を透過する透過部材〈15)が配置されている。
本実施例ではSIP型のEFROM(6)であれば樹脂
モールド型あるいはセラミックス型のどちらのタイプの
パッケージを用いてもよい、この様なEFROM装置は
特開昭53−74358号公報および特開昭62−29
0160号公報に開示されている。
モールド型あるいはセラミックス型のどちらのタイプの
パッケージを用いてもよい、この様なEFROM装置は
特開昭53−74358号公報および特開昭62−29
0160号公報に開示されている。
一方、本発明では、基板(2)の所定位置に孔(4)が
設けられている。この孔(4)は第1図および第2図か
ら明らかな如く、SIP型EFROM(6)のリードピ
ンの導出方向と同じ数だけの孔(4)が設けられている
。即ち、本実施例で用いるEFROM(6)はSIP型
タイプのために、基板(2)には1つの長形状の孔(4
)が形成されている。この孔(4)は上述で説明した導
電路(5)の形成前にブレス打抜工程によって形成され
て、いるものとする。
設けられている。この孔(4)は第1図および第2図か
ら明らかな如く、SIP型EFROM(6)のリードピ
ンの導出方向と同じ数だけの孔(4)が設けられている
。即ち、本実施例で用いるEFROM(6)はSIP型
タイプのために、基板(2)には1つの長形状の孔(4
)が形成されている。この孔(4)は上述で説明した導
電路(5)の形成前にブレス打抜工程によって形成され
て、いるものとする。
その孔(4)には後述するソケット(16)の一部分が
嵌合されて基板(2)と一体化される。斯る孔(4)の
周端部には基板(2)上に形成された一部分の導電路(
5)の先端部が延在して形成されており、その導電路(
5)の先端部とソケット<16)の電極は所定の半田リ
フロ一工程により半田(17)で固着接続されている。
嵌合されて基板(2)と一体化される。斯る孔(4)の
周端部には基板(2)上に形成された一部分の導電路(
5)の先端部が延在して形成されており、その導電路(
5)の先端部とソケット<16)の電極は所定の半田リ
フロ一工程により半田(17)で固着接続されている。
ソケット(16)は第2図に示す如く、突出した1つの
突出部(18)が孔(4)内に嵌合されすき間ができる
こと無く完全にハメチックシールされている。そのソケ
ット(16)の接続用電極は孔(4)の周端部に延在形
成された導電路(5)と半田(17〉で接続される。孔
(4)内にソケット(16)を嵌合するとソケット(1
6)の突出部(18)の上面は基板(2)の上面と同一
面かあるいは若干突出する様に配置設定されている。S
IP型EPROM(6)は断るソケット(16)の突出
部(18)に挿入されて導電路(5)と接続されること
になる。更にSIP型EPROM(6)はリードピンを
90°折り曲げてソケット(16)に差し込まれており
、透過部材(15)を下面にして基板(2)と平行で且
つ当接する様に配置される。
突出部(18)が孔(4)内に嵌合されすき間ができる
こと無く完全にハメチックシールされている。そのソケ
ット(16)の接続用電極は孔(4)の周端部に延在形
成された導電路(5)と半田(17〉で接続される。孔
(4)内にソケット(16)を嵌合するとソケット(1
6)の突出部(18)の上面は基板(2)の上面と同一
面かあるいは若干突出する様に配置設定されている。S
IP型EPROM(6)は断るソケット(16)の突出
部(18)に挿入されて導電路(5)と接続されること
になる。更にSIP型EPROM(6)はリードピンを
90°折り曲げてソケット(16)に差し込まれており
、透過部材(15)を下面にして基板(2)と平行で且
つ当接する様に配置される。
一方、SIP型EFROM(6)のプログラム・データ
を選択して供給されるマイクロコンピュータ(7)およ
びその周辺の回路素子(8)のIC,トランジスタ、チ
ップ抵抗およびチップコンデンサー等はチップ部品で所
望の導電路(5)上に半田付けあるいはAgペースト等
のろう材によって付着され、マイクロコンピュータ(7
)および回路素子(8)は近傍の導電路(5)にボンデ
ィング接続されている。更に導電路(5)間にはスクリ
ーン印刷によるカーボン抵抗体あるいはニッケルメッキ
によるニッケルメッキ抵抗体が抵抗素子として形成され
ている。
を選択して供給されるマイクロコンピュータ(7)およ
びその周辺の回路素子(8)のIC,トランジスタ、チ
ップ抵抗およびチップコンデンサー等はチップ部品で所
望の導電路(5)上に半田付けあるいはAgペースト等
のろう材によって付着され、マイクロコンピュータ(7
)および回路素子(8)は近傍の導電路(5)にボンデ
ィング接続されている。更に導電路(5)間にはスクリ
ーン印刷によるカーボン抵抗体あるいはニッケルメッキ
によるニッケルメッキ抵抗体が抵抗素子として形成され
ている。
基板(2)はケース材(9)と固着一体化される。
ケース材(9)は絶縁部材としての熱可塑性樹脂から形
成され、第2図及び第3図に示す如く、基板(2)と固
着した際空間部が形成される様に箱状に形成されている
。その箱状のケース材(9)の周端部は基板(2)の略
周端部に配置されて接着性を有したシール剤(Jシート
:商品名)によって基板(2)と強固に固看一体化され
る。この結果、基板(2)とケース材(9)間に所定の
封止空間部(21)が形成されることになる。
成され、第2図及び第3図に示す如く、基板(2)と固
着した際空間部が形成される様に箱状に形成されている
。その箱状のケース材(9)の周端部は基板(2)の略
周端部に配置されて接着性を有したシール剤(Jシート
:商品名)によって基板(2)と強固に固看一体化され
る。この結果、基板(2)とケース材(9)間に所定の
封止空間部(21)が形成されることになる。
ところで、孔(4)の周端部には上述した様に複数の導
電路(5)の一端が延在され、その導電路(5)と孔(
4)内に嵌合されたSIP型EPROM<6)が挿入さ
れるソケット(16)が固着される。ソケッ1〜(16
)が固着された導電路(5)の他端はマイクロコンピュ
ータ(7)の近傍に延在されチップ状のマイクロコンピ
ュータ(7)とボンディングワイヤで電気的に接続され
ている。
電路(5)の一端が延在され、その導電路(5)と孔(
4)内に嵌合されたSIP型EPROM<6)が挿入さ
れるソケット(16)が固着される。ソケッ1〜(16
)が固着された導電路(5)の他端はマイクロコンピュ
ータ(7)の近傍に延在されチップ状のマイクロコンピ
ュータ(7)とボンディングワイヤで電気的に接続され
ている。
ここでE F ROM<6)とマイクロコンピュータ(
7)との位置関係について述べる。第7図はSIP型E
FROM<6)を挿入するソケット(16)とマイクロ
コンピュータ(7)とを基板(2)上に配置したときの
要部拡大図であり、SIP型EFROM(6)が挿入さ
れるソケット〈16)とチップ状のマイクロコンピュー
タ(7〉とは第7図に示す如く、多数本の導電路(5)
を介して接続されるため、その導電路(5)の引回しを
短くするためにSIP型EPROM(6)を挿入するソ
ケット(16)とマイクロコンピュータ(7)は夫々、
隣接する位置かあるいはできるだけ近傍に位置する様に
配置される。
7)との位置関係について述べる。第7図はSIP型E
FROM<6)を挿入するソケット(16)とマイクロ
コンピュータ(7)とを基板(2)上に配置したときの
要部拡大図であり、SIP型EFROM(6)が挿入さ
れるソケット〈16)とチップ状のマイクロコンピュー
タ(7〉とは第7図に示す如く、多数本の導電路(5)
を介して接続されるため、その導電路(5)の引回しを
短くするためにSIP型EPROM(6)を挿入するソ
ケット(16)とマイクロコンピュータ(7)は夫々、
隣接する位置かあるいはできるだけ近傍に位置する様に
配置される。
従ってSIP型EFROM(6)を挿入するソケット(
16)とマイクロコンピュータ(7)との導電路(5)
の引回しは最短距離で形成でき基板上の実装面積を有効
に使用することができる。SIP型EFROM(6)と
その近傍あるいは隣接した位置に配置されたチップ状の
マイクロコンピュータ(7)は第7図の如く、マイクロ
コンピュータ(7)の近傍に延在された導電路(5)先
端部とワイヤ線によってボンディング接続されEFRO
M(6)を挿入するソケット(16)と電気的に接続さ
れる。
16)とマイクロコンピュータ(7)との導電路(5)
の引回しは最短距離で形成でき基板上の実装面積を有効
に使用することができる。SIP型EFROM(6)と
その近傍あるいは隣接した位置に配置されたチップ状の
マイクロコンピュータ(7)は第7図の如く、マイクロ
コンピュータ(7)の近傍に延在された導電路(5)先
端部とワイヤ線によってボンディング接続されEFRO
M(6)を挿入するソケット(16)と電気的に接続さ
れる。
ところで、SIP型E F ROM(6)はソケット(
16)に挿入されて基板(2)の露出面上に搭載される
ことになり、SIP型EFROM(6)の全体が外部に
露出することになる。即ち、SIP型EPROM(6)
だけが基板外に搭載されることになり、SIP型E F
ROM(6)以外のマイクロコンピュータ(7)およ
びその周辺回路素子(8)は基板(2)とケース材(9
)とで形成された封止空間(21)内に配置されること
になる。
16)に挿入されて基板(2)の露出面上に搭載される
ことになり、SIP型EFROM(6)の全体が外部に
露出することになる。即ち、SIP型EPROM(6)
だけが基板外に搭載されることになり、SIP型E F
ROM(6)以外のマイクロコンピュータ(7)およ
びその周辺回路素子(8)は基板(2)とケース材(9
)とで形成された封止空間(21)内に配置されること
になる。
上述の如く、SIP型EFROM(6)と接続されるマ
イクロコンピュータ(7)およびその周辺の回路素子(
8)は基板(2)とケース材(9)で形成された封止空
間部(21)に配置する様に設定されている。更に述べ
ると、チップ状の電子部品および印刷抵抗、メッキ抵抗
等の抵抗素子の全ての素子が封と空間部(21)内に設
けられている。
イクロコンピュータ(7)およびその周辺の回路素子(
8)は基板(2)とケース材(9)で形成された封止空
間部(21)に配置する様に設定されている。更に述べ
ると、チップ状の電子部品および印刷抵抗、メッキ抵抗
等の抵抗素子の全ての素子が封と空間部(21)内に設
けられている。
一方、E F ROM(6)の全体が露出されているが
、透過部材(15)を基板(2)と対向させることによ
り光を完全に遮光できる。
、透過部材(15)を基板(2)と対向させることによ
り光を完全に遮光できる。
本実施例でEFROM(6)のデータ消去を行う場合は
ソケット(16)からEFROM(6)を離脱して紫外
線を照射するケースがある。また、再占込みの場合はE
FROM(6)をソケットから離脱して一般的なROM
ライターを使用して電気的に書込みを行い、書込み後、
ソケット(16)に挿入すればよい。
ソケット(16)からEFROM(6)を離脱して紫外
線を照射するケースがある。また、再占込みの場合はE
FROM(6)をソケットから離脱して一般的なROM
ライターを使用して電気的に書込みを行い、書込み後、
ソケット(16)に挿入すればよい。
以下に本発明を用いたモデム用の混成集積回路装置の具
体例を示す。
体例を示す。
先ず、モデム(MODEM)とはパーソナルコンピュー
タなどのデータ端末が扱うデジタル化されたデータを電
話回線を使って、お互に離れたところでデータ送受を行
うデータ通信のためにモデムが存在する。モデムの機能
はデジタル化されたデータを電話回線で使用できる周波
数を使って、データによる変調を行いアナログ信号にし
て電話回線に乗せることと、相手方から送られて来たデ
ータで変調されるアナログ信号を復調してデジタル化し
たデータに戻す機能を持つ。
タなどのデータ端末が扱うデジタル化されたデータを電
話回線を使って、お互に離れたところでデータ送受を行
うデータ通信のためにモデムが存在する。モデムの機能
はデジタル化されたデータを電話回線で使用できる周波
数を使って、データによる変調を行いアナログ信号にし
て電話回線に乗せることと、相手方から送られて来たデ
ータで変調されるアナログ信号を復調してデジタル化し
たデータに戻す機能を持つ。
第9図に示したブロック図に基づいてモデムを簡単に説
明する。
明する。
第9図は集積回路基板(2)上にモデムを搭載したとき
のブロック図である。
のブロック図である。
モデムはパソコンより送信されたデータを内蔵するメモ
リー内に蓄積してそのデータを出力するDTEインター
フェース<31)と、DTEインターフェース(31)
より出力された、データに基づいて所定の出力信号を出
力するマイクロコンピュータ(7)と、マイクロコンピ
ュータ(7)からアドレスされるデータを内蔵したE
P ROM(6)と、マイクロコンピュータ(7)から
の出力信号を変復調しNCU(NETWORK C0
NTR0L UNIT)に出力する第1および第2の
変復調回路(32)(33)と、マイクロコンピュータ
(7)からの出力信号に応じて所望のDTMF信号(ト
ーン信号)を発生するDTMF発生器(34)とをから
構成されている。
リー内に蓄積してそのデータを出力するDTEインター
フェース<31)と、DTEインターフェース(31)
より出力された、データに基づいて所定の出力信号を出
力するマイクロコンピュータ(7)と、マイクロコンピ
ュータ(7)からアドレスされるデータを内蔵したE
P ROM(6)と、マイクロコンピュータ(7)から
の出力信号を変復調しNCU(NETWORK C0
NTR0L UNIT)に出力する第1および第2の
変復調回路(32)(33)と、マイクロコンピュータ
(7)からの出力信号に応じて所望のDTMF信号(ト
ーン信号)を発生するDTMF発生器(34)とをから
構成されている。
DTEインターフェース(31)は例えば5TC961
0(セイコーエプソン)等のICより成り、第10図の
如く、パソコンの出力信号を供給し、その出力信号を内
蔵メモリー内に蓄積してマイクロフンピユータ(7)へ
出力する送信メモリ一部(35)と、マイクロコンピュ
ータ(7)からの出力信号が供給される信号を内蔵メモ
リー内に蓄積してパソコン(38)へ出力する受信メモ
リ一部(36)と、送信メモリ一部(35)および受信
メモリ一部(36)を介して入出力される夫々の信号を
切替える制御部(37)とからなり、パソコン(3g)
とマイクロコンピュータ(7)とを接続するための所定
の機能を有するものである。
0(セイコーエプソン)等のICより成り、第10図の
如く、パソコンの出力信号を供給し、その出力信号を内
蔵メモリー内に蓄積してマイクロフンピユータ(7)へ
出力する送信メモリ一部(35)と、マイクロコンピュ
ータ(7)からの出力信号が供給される信号を内蔵メモ
リー内に蓄積してパソコン(38)へ出力する受信メモ
リ一部(36)と、送信メモリ一部(35)および受信
メモリ一部(36)を介して入出力される夫々の信号を
切替える制御部(37)とからなり、パソコン(3g)
とマイクロコンピュータ(7)とを接続するための所定
の機能を有するものである。
マイクロコンピュータ(7)は例えば5TC9620(
セイコーエプソン)等のICより成り、第11図の如く
、DTEインターフェース(31)から出力される出力
信号を認識するコマンド認識部と、コマンド認識部によ
って認識された出力信号を解読するコマンド解読部と、
コマンド解読部で解読された信号に基づいてメモリ一部
のデータと比較し変復調回路へデータを供給するコマン
ド実行部と、コマンド解読部のデータとメモリ一部内の
データとの比較結果、誤ったデータがコマンド実行部に
供給された際にDTEインターフェース(31)に出力
信号を出力する応答コード生成部とからなる。
セイコーエプソン)等のICより成り、第11図の如く
、DTEインターフェース(31)から出力される出力
信号を認識するコマンド認識部と、コマンド認識部によ
って認識された出力信号を解読するコマンド解読部と、
コマンド解読部で解読された信号に基づいてメモリ一部
のデータと比較し変復調回路へデータを供給するコマン
ド実行部と、コマンド解読部のデータとメモリ一部内の
データとの比較結果、誤ったデータがコマンド実行部に
供給された際にDTEインターフェース(31)に出力
信号を出力する応答コード生成部とからなる。
変復調回路(38)はマイクロコンピュータ(7)から
送信されるデジタル信号をアナログ信号に変換してNC
U部に送信する。また反対にNCU部から送信されたア
ナログ信号を、デジタル信号に変換してマイクロコンピ
ュータ(7)へ送信するものであり、低速および中速夫
々のタイプの回路を備えている。第1の変復調回路(3
2)は300bpsの低速変復調回路であり、第2の変
復調回路〈33)は1200bpSの中速変復調回路で
ある。夫々の第1および第2の変復調回路(32)(3
3)はマイクロコンピュータ(7)により、いずれか一
方の変復調回路が選択される。
送信されるデジタル信号をアナログ信号に変換してNC
U部に送信する。また反対にNCU部から送信されたア
ナログ信号を、デジタル信号に変換してマイクロコンピ
ュータ(7)へ送信するものであり、低速および中速夫
々のタイプの回路を備えている。第1の変復調回路(3
2)は300bpsの低速変復調回路であり、第2の変
復調回路〈33)は1200bpSの中速変復調回路で
ある。夫々の第1および第2の変復調回路(32)(3
3)はマイクロコンピュータ(7)により、いずれか一
方の変復調回路が選択される。
DTMF発生器(34)はマイクロコンピュータ(7)
のコマンド実行部より出力されたデータをCOL、RO
W夫々の入力端子に入力することで所定のDTMF信号
を発生し送信AMP(39)に出力して電話回線へ信号
を供給する。
のコマンド実行部より出力されたデータをCOL、RO
W夫々の入力端子に入力することで所定のDTMF信号
を発生し送信AMP(39)に出力して電話回線へ信号
を供給する。
EFROM(6)内にはモデムの各種のモードを設定す
るためのプログラムデータがメモリーされており、マイ
クロコンピュータ(7)のアドレスに基づいてマイクロ
コンピュータ(7)に供給される。
るためのプログラムデータがメモリーされており、マイ
クロコンピュータ(7)のアドレスに基づいてマイクロ
コンピュータ(7)に供給される。
次にモデムの動作について簡単に説明する。
先ず、パソコン通信を開始するに当り、マイクロコンピ
ュータ〈38)からの読出し信号に基づいて制御スイッ
チ(40)が動作し、所定のアドレスデータがEFRO
M(7)に供給され、そのアドレスに基づいたEFRO
M(6)のプログラム・データがマイクロコンピュータ
(7)に供給され、通信を行う夫々のモデムの通信規格
(BELL/CCITT規格)、通信速度(300/1
200bps)、データファーマットの一致、デツプス
イッチモードの切替等の各種のモードが一致しているか
が確認される。
ュータ〈38)からの読出し信号に基づいて制御スイッ
チ(40)が動作し、所定のアドレスデータがEFRO
M(7)に供給され、そのアドレスに基づいたEFRO
M(6)のプログラム・データがマイクロコンピュータ
(7)に供給され、通信を行う夫々のモデムの通信規格
(BELL/CCITT規格)、通信速度(300/1
200bps)、データファーマットの一致、デツプス
イッチモードの切替等の各種のモードが一致しているか
が確認される。
各種のモードが一致しているとすると、パソコンに応答
側のモデムの電話番号をキー人力する。
側のモデムの電話番号をキー人力する。
その電話番号はパソコンとのインターフェース用のDT
Eインターフェース(31)に入力され、電話番号を解
読する為にマイクロコンピュータ(7)に転送跡れる。
Eインターフェース(31)に入力され、電話番号を解
読する為にマイクロコンピュータ(7)に転送跡れる。
その解読した結果をDTMF発生器(34)に送信し、
DTMF発生器り34)からDTMF信号が発信されそ
の信号は送信AMP(39)、ライントランス(41)
を介して一般電話回線へ転送される。
DTMF発生器り34)からDTMF信号が発信されそ
の信号は送信AMP(39)、ライントランス(41)
を介して一般電話回線へ転送される。
転送されたDTMF信号は応答側のモデムに対して呼出
し信号を送出し、応答側のモデムは呼出し信号を受信し
て自動看信する。すると応答側のモデムは接続手順の為
のアンサ−トーンを起呼側のモデムに対して送出する。
し信号を送出し、応答側のモデムは呼出し信号を受信し
て自動看信する。すると応答側のモデムは接続手順の為
のアンサ−トーンを起呼側のモデムに対して送出する。
起呼側のモデムではライントランス(41)、受信アン
プ(42)を通り低速変復調回路(32)でそのアンサ
−トーンが起呼側のモデムに対して所定のアンサ−トー
ンであるか否かを検出する。所定のアンサ−トーンであ
れば通信状態に入る。
プ(42)を通り低速変復調回路(32)でそのアンサ
−トーンが起呼側のモデムに対して所定のアンサ−トー
ンであるか否かを検出する。所定のアンサ−トーンであ
れば通信状態に入る。
通信状態となると、起呼側のパソコンのキーボードから
の所定のキー人力信号に基づいてパソコンからのパラレ
ルデータをDTEインターフェース(31)に入力し、
そのデータをマイクロコンピュータ(7)に転送する。
の所定のキー人力信号に基づいてパソコンからのパラレ
ルデータをDTEインターフェース(31)に入力し、
そのデータをマイクロコンピュータ(7)に転送する。
ここでパラレルデータをシリアルデータに変換する。シ
リアルデータに変換されたデジタル信号は低速変復調回
路り32)に送信される。ここでデジタル信号はアナロ
グ信号に変換され、それに対応した通信規格に基づいて
周波数変調FSXされ、送信AMP(39)、ライント
ランス(41)を介して応答側のモデムに送信される。
リアルデータに変換されたデジタル信号は低速変復調回
路り32)に送信される。ここでデジタル信号はアナロ
グ信号に変換され、それに対応した通信規格に基づいて
周波数変調FSXされ、送信AMP(39)、ライント
ランス(41)を介して応答側のモデムに送信される。
一方、応答側のパソコンのキー人力信号によって送出し
た周波数変調のアナログ信号は起呼側のモデムに送出さ
れ、ライントランス(41〉、受信AM P (42)
を介して低速変復調回路(32)に入力される。ここで
アナログ信号はデジタル信号に変換されDTEインター
フェース(31)に入力され、シリアルデジタル信号か
らパラレルデジタル信号に変換されて起呼側のパソコン
に入力される。その結果起呼側ヘパソコンと応答側のパ
ソコンは全二重通信ができる様になりパソコン通信が実
現する。
た周波数変調のアナログ信号は起呼側のモデムに送出さ
れ、ライントランス(41〉、受信AM P (42)
を介して低速変復調回路(32)に入力される。ここで
アナログ信号はデジタル信号に変換されDTEインター
フェース(31)に入力され、シリアルデジタル信号か
らパラレルデジタル信号に変換されて起呼側のパソコン
に入力される。その結果起呼側ヘパソコンと応答側のパ
ソコンは全二重通信ができる様になりパソコン通信が実
現する。
第12図は第9図で示したモデム回路を本実施例で用い
た基板〈2)上に実装した場合の平面図でありミ実装さ
れる回路素子の符号は同一番号とする。EPROM(6
)とマイクロコンピュータ(7)との接続はパスライン
で示す。尚、複数の回路素子を接続する導電路は煩雑の
ため省略する。
た基板〈2)上に実装した場合の平面図でありミ実装さ
れる回路素子の符号は同一番号とする。EPROM(6
)とマイクロコンピュータ(7)との接続はパスライン
で示す。尚、複数の回路素子を接続する導電路は煩雑の
ため省略する。
第12図に示す如く、基板(2)の対向する周端部には
外部リード端子(12)が固着される複数の固着用バッ
ド(5a)が設けられている。固着パッド(5a)から
延在される導電路(5)上所定位置には複数の回路素子
(8)およびEPROM(6)を搭載するソケッ)(1
6)が固着される。斯る基板(2)上にはEPROM<
6)以外のマイクロコンピュータ(7)を含む複数の回
路素子(8)が固着されており、(31)はDTEイン
ターフェース、<32)(33)は第1および第2の変
復調回路、(34)はDTMF発生回路、(40〉はE
F ROM(6)を制御する制御スイッチ、(7)は
マイクロコンピュータ、(8)はコンデンサー等のチッ
プ部品である。
外部リード端子(12)が固着される複数の固着用バッ
ド(5a)が設けられている。固着パッド(5a)から
延在される導電路(5)上所定位置には複数の回路素子
(8)およびEPROM(6)を搭載するソケッ)(1
6)が固着される。斯る基板(2)上にはEPROM<
6)以外のマイクロコンピュータ(7)を含む複数の回
路素子(8)が固着されており、(31)はDTEイン
ターフェース、<32)(33)は第1および第2の変
復調回路、(34)はDTMF発生回路、(40〉はE
F ROM(6)を制御する制御スイッチ、(7)は
マイクロコンピュータ、(8)はコンデンサー等のチッ
プ部品である。
第12図に示す如く、マイクロコンピュータ(7)の近
傍あるいは隣接する位置にSIP型EFROM(6)が
搭載されるソケット(16)が固着される。マイクロコ
ンピュータ(7)の近傍あるいは隣接する位置にソケッ
ト(16)、を固着することで、マイクロコンピュータ
(7)とEPROM(6)とのパスライン、即ち導電路
(6〉の引回し線の距離を最短でしかも最小の距離で引
回すことができ、他の実装パターンを有効に使用できる
と共に高密度実装が行える。尚、一点鎖線で囲まれた領
域は接着シートでケース材(9)が固着される領域を示
す。
傍あるいは隣接する位置にSIP型EFROM(6)が
搭載されるソケット(16)が固着される。マイクロコ
ンピュータ(7)の近傍あるいは隣接する位置にソケッ
ト(16)、を固着することで、マイクロコンピュータ
(7)とEPROM(6)とのパスライン、即ち導電路
(6〉の引回し線の距離を最短でしかも最小の距離で引
回すことができ、他の実装パターンを有効に使用できる
と共に高密度実装が行える。尚、一点鎖線で囲まれた領
域は接着シートでケース材(9)が固着される領域を示
す。
第13図は第12図で示した基板(2)上にケース材(
9)を固着したときのモデム用の混成集積回路装置の完
成品の平面図であり、基板(2)の上面からはSIP型
EFROM(6)だけが露出跡れた状態となる。即ち、
EFROM(6)以外の他の素子は全てケース材(9)
と基板(2)とで形成された封止空間(21)内に封止
されEFROM(6)だけが基板外に搭載されるのでS
IP型EFROM(6)の挿脱が必要に応じて自由自在
に行うことができる。
9)を固着したときのモデム用の混成集積回路装置の完
成品の平面図であり、基板(2)の上面からはSIP型
EFROM(6)だけが露出跡れた状態となる。即ち、
EFROM(6)以外の他の素子は全てケース材(9)
と基板(2)とで形成された封止空間(21)内に封止
されEFROM(6)だけが基板外に搭載されるのでS
IP型EFROM(6)の挿脱が必要に応じて自由自在
に行うことができる。
以上に詳述したモデム用の混成集積回路装置のEFRO
M(6)には製品仕様の多様化に備え、仕向地、OEM
、自社販売等セットメーカ(ユーザ)が要望する仕様変
更に対して容易に対応することができる。即ち、EFR
OM(6)以外の回路構成はあらかじめ各種の仕様変更
に対応する様に設計されていたが、特定のユーザの仕様
に基づいて混成集積回路を設計すると1、他のユーザ仕
様と一致しないことがあった場合、従来では混成集積回
路自体の設計を見なおす必要があった。
M(6)には製品仕様の多様化に備え、仕向地、OEM
、自社販売等セットメーカ(ユーザ)が要望する仕様変
更に対して容易に対応することができる。即ち、EFR
OM(6)以外の回路構成はあらかじめ各種の仕様変更
に対応する様に設計されていたが、特定のユーザの仕様
に基づいて混成集積回路を設計すると1、他のユーザ仕
様と一致しないことがあった場合、従来では混成集積回
路自体の設計を見なおす必要があった。
しかし本発明の混成集積回路装置ではSIP型EFRO
M(6)がソケット(16)を介して基板(2)の露出
表面上に搭載されているため、SIP型EFROM (
6)の離脱が行えるのでユーザ側でEFROMを選択し
て実装するだけで1つの混成集積回路装置で多機種の混
成集積回路装置の実現が行える。
M(6)がソケット(16)を介して基板(2)の露出
表面上に搭載されているため、SIP型EFROM (
6)の離脱が行えるのでユーザ側でEFROMを選択し
て実装するだけで1つの混成集積回路装置で多機種の混
成集積回路装置の実現が行える。
断る本発明に依れば、基板(2)の所望位置に孔(4)
を設け、導電路(5)と接続すると共に孔(4)内にリ
ードビン挿入部が外側方向になる様にソウ′ツ)−(1
6)を嵌合し、そのソケット(16)にSIP型EPR
OM(6)を挿入して基板〈2〉とケース材(9)とで
形成された封止空間(21)にマイクロコンピュータ(
7)およびその他の回路素子(8)を配置することによ
り、混成集積回路とEFROMとが一体化し且つ小型化
となるシステムが提供できると共にEFROM(6)の
挿脱が自由自在に行える。
を設け、導電路(5)と接続すると共に孔(4)内にリ
ードビン挿入部が外側方向になる様にソウ′ツ)−(1
6)を嵌合し、そのソケット(16)にSIP型EPR
OM(6)を挿入して基板〈2〉とケース材(9)とで
形成された封止空間(21)にマイクロコンピュータ(
7)およびその他の回路素子(8)を配置することによ
り、混成集積回路とEFROMとが一体化し且つ小型化
となるシステムが提供できると共にEFROM(6)の
挿脱が自由自在に行える。
(ト)発明の効果
以上に詳述した如く、本発明に依れば、第1に基板(2
)の所望位置に孔(4)を設け、その孔(4)に固着し
基板(2)上の所望の導電路(5)に接続された’)
’y ット(16)4: S I P型EPROM(6
)を挿入接続しているノーc’、SIP型EPROM(
6)(7)載置位置を任意に選定できる利点を有する。
)の所望位置に孔(4)を設け、その孔(4)に固着し
基板(2)上の所望の導電路(5)に接続された’)
’y ット(16)4: S I P型EPROM(6
)を挿入接続しているノーc’、SIP型EPROM(
6)(7)載置位置を任意に選定できる利点を有する。
このため内蔵するマイクロコンピュータ(7)との電気
的接続を考慮して、効率良<EFROM(6)とマイク
ロコンピュータ(7)とを接続でき信号線の引回しを不
要にできる。更に詳述すると、EPROM(6)の隣接
する位置に最も関連の深いマイクロコンピュータ(7)
を配置でき、その結果EFROM(6)とマイクロコン
ピュータ(7)間のデータのやりとりを行うデータ線を
最短距離あるいは最も設計容易なレイアウトで実現でき
、データ線の引回しによる実装密度のロスを最小限に抑
制できる。
的接続を考慮して、効率良<EFROM(6)とマイク
ロコンピュータ(7)とを接続でき信号線の引回しを不
要にできる。更に詳述すると、EPROM(6)の隣接
する位置に最も関連の深いマイクロコンピュータ(7)
を配置でき、その結果EFROM(6)とマイクロコン
ピュータ(7)間のデータのやりとりを行うデータ線を
最短距離あるいは最も設計容易なレイアウトで実現でき
、データ線の引回しによる実装密度のロスを最小限に抑
制できる。
第2に基板(2)の所望位置の孔〈4)に嵌合されたソ
ケット(16)にSIP型E F ROM(6)を挿入
配置しているので、一体化した小型の混成集積回路装置
として取り扱える利点を、有する。更に集積回路基板(
2)上の組み込むマイクロコンピュータおよびその周辺
回路素子の実装密度を向上することにより、従来必要と
されたプリント基板を廃止でき、1つの小型化されたS
IP型EFROM(6)を着脱自在に内蔵する混成集積
回路装置を実現できる。更にSIP型E F ROM(
6)が基板露出面上に配置されることになり、EFRO
M着脱が容易に行える。
ケット(16)にSIP型E F ROM(6)を挿入
配置しているので、一体化した小型の混成集積回路装置
として取り扱える利点を、有する。更に集積回路基板(
2)上の組み込むマイクロコンピュータおよびその周辺
回路素子の実装密度を向上することにより、従来必要と
されたプリント基板を廃止でき、1つの小型化されたS
IP型EFROM(6)を着脱自在に内蔵する混成集積
回路装置を実現できる。更にSIP型E F ROM(
6)が基板露出面上に配置されることになり、EFRO
M着脱が容易に行える。
第3に集積回路基板(2)として金属基板を用いること
により、その放熱効果をプリント基板に比べて大幅に向
上でき、より実装密度の向上に寄与できる。また導電路
(5)として銅箔(11)を用いることにより、導電路
(5)の抵抗値を導電ペーストより大幅に低減でき、実
装される回路をプリント基板と同等以上に拡張できる。
により、その放熱効果をプリント基板に比べて大幅に向
上でき、より実装密度の向上に寄与できる。また導電路
(5)として銅箔(11)を用いることにより、導電路
(5)の抵抗値を導電ペーストより大幅に低減でき、実
装される回路をプリント基板と同等以上に拡張できる。
第4にEFROM(6)としてシングルインライン型を
用いることができるので、混成集積回路装置へのEFR
OM(6)の実装が極めて容易に実現でき且つE P
ROM(6)の透過部材(15〉を基板(2)と当接き
せて遮光できる利点を有する。
用いることができるので、混成集積回路装置へのEFR
OM(6)の実装が極めて容易に実現でき且つE P
ROM(6)の透過部材(15〉を基板(2)と当接き
せて遮光できる利点を有する。
第5にEFROM(6)と接続されるマイクロコンピュ
ータ(7)およびその周辺回路素子(8)はケース材(
9)と集積回路基板(2)とで形成される封止空間(2
1)にダイ形状あるいはチップ形状で組み込まれるので
、従来のプリント基板の様に樹脂モールドしたものに比
較して極めて占有面積が小さくなり、実装密度の大幅に
向上できる利点を有する。
ータ(7)およびその周辺回路素子(8)はケース材(
9)と集積回路基板(2)とで形成される封止空間(2
1)にダイ形状あるいはチップ形状で組み込まれるので
、従来のプリント基板の様に樹脂モールドしたものに比
較して極めて占有面積が小さくなり、実装密度の大幅に
向上できる利点を有する。
第6にケース材(9)と集積回路基板(2)の周端を実
質的に一致させることにより、集積回路基板(2)のほ
ぼ全面を封止空間(21)として利用でき、実装密度の
向上と相まって極めてコンパクトな混成集積回路装置を
実現できる。
質的に一致させることにより、集積回路基板(2)のほ
ぼ全面を封止空間(21)として利用でき、実装密度の
向上と相まって極めてコンパクトな混成集積回路装置を
実現できる。
第7に集積回路基板(2)の−辺あるいは相対向する辺
から外部リード端子(12)を導出でき、極めて多ビン
の混成集積回路装置を実現できる利点を有する。
から外部リード端子(12)を導出でき、極めて多ビン
の混成集積回路装置を実現できる利点を有する。
第1図は本実施例を示す斜視図、第2図は第1図のI−
I断面図、第3図は第1図のn−I断面図、第4図は本
実施例で用い、る基板断面図、第5図は本実施例で用い
るEFROMを示す斜視図、第6図は第5図の断面図、
第7図はEFROMが挿入されるソケットとマイクロコ
ンビエータとの位置関係を示す斜視図、第8図は第7図
で示した他の実施例を示す斜視図、第9図は本実施例で
用いるモデム回路を示すブロック図、第10図は第9図
で示したモデムのDTEインターフェースを示すブロッ
ク図、第11図は第9図で示したモデムのマイクロコン
ピュータを示すブロック図、第12図は第9図で示した
ブロック図を基板上に実装したときの平面図、第13図
は第12図で示した基板上にケース材を介して他方の基
板を同者したときの平面図、第14図および第15図は
従来のEPROM実装構造を示す斜視図である。 (1)・・・混成集積回路装置、 (2)・・・集積回
路基板、 り5)・・・導電路、 (6)・・・SIP
型EPROM、 (7)・・・マイクロコンピュータ
、(8)・・・回路素子、 (4)・・・孔、 (9)
・・・ケース材、 (16)・・・ソケット。
I断面図、第3図は第1図のn−I断面図、第4図は本
実施例で用い、る基板断面図、第5図は本実施例で用い
るEFROMを示す斜視図、第6図は第5図の断面図、
第7図はEFROMが挿入されるソケットとマイクロコ
ンビエータとの位置関係を示す斜視図、第8図は第7図
で示した他の実施例を示す斜視図、第9図は本実施例で
用いるモデム回路を示すブロック図、第10図は第9図
で示したモデムのDTEインターフェースを示すブロッ
ク図、第11図は第9図で示したモデムのマイクロコン
ピュータを示すブロック図、第12図は第9図で示した
ブロック図を基板上に実装したときの平面図、第13図
は第12図で示した基板上にケース材を介して他方の基
板を同者したときの平面図、第14図および第15図は
従来のEPROM実装構造を示す斜視図である。 (1)・・・混成集積回路装置、 (2)・・・集積回
路基板、 り5)・・・導電路、 (6)・・・SIP
型EPROM、 (7)・・・マイクロコンピュータ
、(8)・・・回路素子、 (4)・・・孔、 (9)
・・・ケース材、 (16)・・・ソケット。
Claims (8)
- (1)集積回路基板と、 前記基板の一主面に形成された所望パターンを有する導
電路と、 前記導電路に接続されたシングルインライン型樹脂モー
ルドされた不揮発性メモリーと、 前記メモリーからデータを供給され且つ前記基板上の導
電路と接続されたマイクロコンピュータおよびその周辺
回路素子と、 前記基板に一体化されたケース材とを具備し、前記基板
の所望位置に孔を設け、前記孔に固着し前記基板上の所
望の導電路に接続されたソケットに前記不揮発性メモリ
ーを挿入し、前記基板と前記ケース材で形成された封止
空間に前記マイクロコンピュータおよびその周辺回路素
子を配置したことを特徴とする混成集積回路装置。 - (2)前記集積回路基板として表面を絶縁した金属基板
を用いたことを特徴とする請求項1記載の混成集積回路
装置。 - (3)前記導電路として銅箔を用いたことを特徴とする
請求項1記載の混成集積回路装置。 - (4)前記孔と前記ソケットはハメチックシールされて
いることを特徴とする請求項1記載の混成集積回路装置
。 - (5)前記マイクロコンピュータは前記導電路上にダイ
形状で組み込まれることを特徴とする請求項1記載の混
成集積回路装置。 - (6)前記周辺回路素子としてチップ抵抗、チップコン
デンサーを用いることを特徴とする請求項1記載の混成
集積回路装置。 - (7)前記ケース材の周端部を前記基板の周端部とほぼ
一致させたことを特徴とする請求項1記載の混成集積回
路装置。 - (8)前記ソケットは前記導電路と接続されていること
を特徴とする請求項1記載の混成集積回路装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12390289A JPH0680780B2 (ja) | 1989-05-17 | 1989-05-17 | 混成集積回路装置 |
| US07/510,468 US5159433A (en) | 1989-04-20 | 1990-04-18 | Hybrid integrated circuit device having a particular casing structure |
| DE69031142T DE69031142T2 (de) | 1989-04-20 | 1990-04-19 | Integrierte Hybridschaltungsanordnung |
| EP90107445A EP0393671B1 (en) | 1989-04-20 | 1990-04-19 | Hybrid integrated circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12390289A JPH0680780B2 (ja) | 1989-05-17 | 1989-05-17 | 混成集積回路装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02303060A true JPH02303060A (ja) | 1990-12-17 |
| JPH0680780B2 JPH0680780B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=14872167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12390289A Expired - Lifetime JPH0680780B2 (ja) | 1989-04-20 | 1989-05-17 | 混成集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680780B2 (ja) |
-
1989
- 1989-05-17 JP JP12390289A patent/JPH0680780B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0680780B2 (ja) | 1994-10-12 |
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